高功率微波传输通道击穿诊断研究
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・高功率微波源・ 高功率微波传输通道击穿诊断研究 常 超 ,郭乐田 ,孙 钧 ,魏福利 ,周海生 ,刘彦升 ,曹亦兵 ,曾 鹏 ,王东阳 ,谢 晋 (1.西北核技术研究所高功率微波技术重点国家级实验室,陕西西安710024; 2.西安交通大学 电子物理与器件教育部重点实验室,陕西西安710049)
Diagnostic Research on Vacuum Breakdown in High Power Microwave Transmission Waveguide
CHANG chao ,GUO Le—tian ,SUN Jun ,WEI Fu—li ,ZHOU Hai-sheng , LIU Yan—sheng ,CAO Yi—bing ,ZENG Peng ,WANG Dong—yang ,XIE Jin (1.Science and Technology on High Pouer Microwave Laboratory,Northwest Institute of Nuclear
.Technology,Xi an 710024,China; 2.Key Laboratory of Physical Electronics and Devices of the Ministry of Education,Xi an Jiaotong University,X an 710049,China)
Abstract:The vacuum breakdown in high power microwave(HPM)devices in strong electromagnetic field is one of the main factors limiting the power capacity of HPM systems。and it is also an internationa1 technical challenge and the bottleneck in HPM technology progress.The plasma discharge of nanosecond and giga—watt HPM pulse in transmission waveguides was studied.By using nanosecond response four— frame intensified charge—coupled device and photomultiplier tube,temporal and spatial rules between the plasma visible light and X—ray emission was investigated.The experiments showed that intense visible light was discovered in waveguide during the transmission of nanosecond HPM pulse.A possible reason is that the spent electron beam of HPM source bombards the metal surface of the collector which generates con— tinuous—spectrum photons by Bremsstrahlung Radiation,and the photons are reflected repeatedly in the channel leading to the bright visible light.Using the photomultiplier tube,the X—ray amplitude distribu— tion of the H PM source was detected which confirmed the existence of high energy X—ray on collectors. Key words-High power microwave,Transmission waveguide,Breakdown,Diagnostic
摘要:高功率微波(HPM)器件在强电磁场作用下的击穿是限制HPM系统功率容量的主要因素之一,是HPM技术进步 的瓶颈和国际性的技术挑战。本文开展了纳秒脉冲宽度、吉瓦高功率微波传输通道内击穿发光诊断实验,通过纳秒级响应的 四分幅ICCD相机和光电倍增管研究了等离子体可见光和x射线发射的时间及空问发展规律。实验发现HPM通道在传输 纳秒微波脉冲时有大量可见光,可能的原因是HPM源的乏电子束轰击收集极的金属表面轫致辐射连续谱的光子在波导内多 次反射的结果。通过光电倍增管探测了微波源X射线幅度分布,确认了收集极存在较高能量x射线的结果。 关键词:高功率微波;传输通道;击穿;诊断 中图分类号:TN015 文献标识码:A 文章编号:1002—8935(2015)02—0013—05
高功率微波(High Power Microwave,HPM)是 指峰值功率超过100 Mw,频率300 MHz~300 GHz的电磁辐射Ⅲ。HPM在科研、民用和国防领 域具有非常广阔的应用前景。如何获得高功率的微 波输出是高功率微波技术进步的关键,也始终是世 界HPM研究的热点和科技前沿。随着HPM源产 生功率的不断提高,HPM源和传输设备在强电磁 场作用下的击穿成为限制HPM系统功率容量的决 定性因素之一,是HPM技术进步的瓶颈和国际性 的技术挑战 。提高HPM击穿阈值的途径已成
2015-02 1 光电倍增管前加7 cm厚铅砖,X射线幅度进一 步变小,如图7(c)所示,通过7 cm厚铅砖仍能测到 x射线,表明其峰值能量在1 MeV量级。随着注入 功率的提高,峰值从0.544提高到0.856 V,半高宽 约22并保持不变。从图7可以分析得出,X射线峰 值能量可达1 MeV、脉宽与微波脉宽相当。
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(a)加2.5 cm厚铅硅
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(b)加4,5 cm厚铅硅
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(c)加7 cm厚铅硅
图7 不同微波功率下x射线、x射线与可见光混合和分幅相机的快门信号变化规律 调整探测器位置,将探测器移到正对收集极(整 个小推车移至收集极前),倍增管前加5.3 cm铅砖。 测得x射线峰值0.7 V,半宽12.5 ns。将小车转动 约45。,使倍增管前端正对弯波导处,则不能触发, 固 曼二 说明x射线被屏蔽,因此可以判断X射线主要来自 收集极,可能的原因是HPM源的乏电子束轰击收 集极的金属表面发生轫致辐射,高能x射线穿透金 属壁向自由空间辐射,而低能光子在波导壁内多次