溅射靶材说明
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共聚焦磁控溅射-概述说明以及解释1.引言1.1 概述共聚焦磁控溅射是一种先进的表面处理技术,通过在真空环境中利用磁场和离子轰击等方法,将材料蒸发并沉积在基材表面上,从而形成具有特定性能和功能的薄膜。
这项技术被广泛应用于电子、光学、材料等领域,具有高效、环保和高质量等优势。
本文将介绍共聚焦磁控溅射的原理、应用领域和优势,旨在深入探讨该技术在现代工业中的重要性和发展前景。
1.2 文章结构本文将首先介绍共聚焦磁控溅射的概念和原理,包括其基本工作原理和操作流程。
接着将详细介绍共聚焦磁控溅射在实际应用领域中的具体应用,包括但不限于材料表面涂覆、薄膜制备等方面的应用案例。
最后,将探讨共聚焦磁控溅射技术相对于传统溅射技术的优势和特点,以及未来发展的趋势和展望。
通过对这些内容的介绍和分析,旨在帮助读者更好地了解和应用共聚焦磁控溅射技术。
1.3 目的:本文旨在深入探讨共聚焦磁控溅射技术,分析其原理、应用领域和优势。
我们将详细介绍共聚焦磁控溅射的工作原理,探讨其在材料表面涂层、薄膜制备等领域的广泛应用,以及相对于传统溅射技术的优势之处。
通过本文的阐述,读者可以更全面地了解共聚焦磁控溅射技术的特点和潜力,为相关领域的研究和应用提供参考和启发。
2.正文2.1 共聚焦磁控溅射原理共聚焦磁控溅射是一种先进的薄膜沉积技术,其原理基于磁场与离子束交互作用的方式。
在共聚焦磁控溅射系统中,通常会使用多极磁控极的磁场来控制离子束的方向和密度,同时利用聚焦透镜来聚焦离子束,从而使其沉积在靶材表面上形成均匀的薄膜。
具体而言,共聚焦磁控溅射技术通过在真空室中施加较高的电场和磁场,使靶材上的原子或分子被激发成离子并形成离子束。
这些离子束被聚焦透镜聚焦后,以高速撞击在基底表面上,将靶材表面原子或分子释放并沉积在基底表面上,形成薄膜。
共聚焦磁控溅射技术具有高效、均匀、高质量的薄膜沉积特点。
通过合理设计磁场和离子束的参数,可以控制薄膜的成分、厚度和结构,实现对薄膜性能的精确调控。
ecr磁控溅射原理ECR磁控溅射原理什么是ECR磁控溅射?ECR磁控溅射(Electron Cyclotron Resonance Magnetron Sputtering)是一种常用的薄膜制备技术,它利用电子回旋共振效应和磁控溅射技术相结合,能够在低温下制备高质量的薄膜。
下面将介绍ECR磁控溅射的工作原理及其应用。
电子回旋共振效应电子回旋共振效应是指当带有准确频率的外加射频电场作用于等离子体中自由电子时,电子会在磁场的引导下形成一个稳定的轨道运动。
这种回旋共振现象可以让电子获得足够的能量和速度,从而具备溅射衬底表面的能力。
磁控溅射技术磁控溅射是利用电子轨道高度控制的特点,通过磁场将惰性气体(如氩气)离子化,形成等离子体,并加速氩离子轰击靶材产生溅射。
溅射的靶材会被氩离子击中并释放出原子或分子,然后在真空中沉积到衬底表面形成薄膜。
ECR磁控溅射原理ECR磁控溅射利用强大的射频电磁场与静磁场相互作用,使电子在磁场中回旋共振,得到足够的能量后,将能量传递给惰性气体成为等离子体。
在等离子体的作用下,靶材表面的原子或分子被离子击中并溅射,最终形成薄膜。
ECR磁控溅射的优势•低温制备:ECR磁控溅射的工作温度相对较低,可以制备高熔点材料薄膜。
•高纯度薄膜:由于只有靶材物质被击中溅射,薄膜的纯度较高。
•高沉积速率:ECR磁控溅射能够提供较高的离子能量和流密度,导致较高的沉积速率。
•薄膜质量优良:ECR磁控溅射制备的薄膜具有较高的致密性、较好的附着力和较小的残余应力。
ECR磁控溅射的应用ECR磁控溅射技术广泛应用于微电子器件、光学薄膜、磁性薄膜、超硬涂层等领域。
各种功能薄膜的制备都可以采用ECR磁控溅射技术进行,如导电膜、阻障膜、光学反射膜等,满足了不同应用领域对薄膜性能要求的多样化需求。
ECR磁控溅射技术的发展不仅拓展了薄膜制备的领域,还为多种先进功能材料的研究提供了强有力的工具和手段。
未来随着技术的不断进步和应用领域的不断拓展,ECR磁控溅射必将发挥更加重要的作用。
磁控溅射氧化镍工艺资料磁控溅射氧化镍工艺是一种常用的制备氧化镍薄膜的方法。
氧化镍薄膜具有良好的电学、光学和磁学性能,在能源存储、催化、传感器等领域有着广泛的应用。
磁控溅射是一种物理气相沉积方法,通过气体离子化和溅射靶材,将靶材原子或离子沉积到基底上形成薄膜。
在磁控溅射氧化镍工艺中,通常使用镍金属作为靶材,通过氩气等惰性气体形成气体离子,施加磁场使离子得以聚集并加速,最终沉积到基底上。
该工艺的优点之一是能够制备均匀致密的氧化镍薄膜。
在磁控溅射过程中,离子轰击靶材表面会产生热量,使靶材表面部分溶解并形成蒸汽。
在磁场的作用下,这些蒸汽会向基底方向运动,并在基底表面冷凝成薄膜。
由于磁控溅射过程中离子的高速运动和磁场的作用,薄膜的沉积速率较高,能够快速形成均匀致密的氧化镍薄膜。
磁控溅射氧化镍工艺还具有较高的控制性能。
通过调节溅射功率、气体流量、沉积时间等工艺参数,可以对薄膜的厚度、晶体结构、表面形貌等进行精确控制。
在磁控溅射氧化镍工艺中,靶材的纯度和结构对薄膜性能具有重要影响。
一般情况下,使用高纯度的镍靶材可以提高薄膜的质量和稳定性。
同时,靶材的晶体结构也会影响薄膜的晶体结构。
通常情况下,使用多晶镍靶材可以制备出多晶氧化镍薄膜,而使用单晶镍靶材则可以制备出具有优良晶体结构的氧化镍薄膜。
磁控溅射氧化镍工艺是制备氧化镍薄膜的一种重要方法。
该工艺具有制备速度快、薄膜致密均匀以及可控性强等优点。
通过调节工艺参数和靶材的性质,可以制备出具有不同厚度、结构和性能的氧化镍薄膜,满足不同应用领域的需求。
随着科学技术的不断进步,磁控溅射氧化镍工艺在未来的应用前景将更加广阔。
磁控溅射工作原理磁控溅射一条摆线。
若为环形磁场,则电子就以近似摆线形式在靶表面做圆周运动,它们的运动路径不仅很长,而且被束缚在靠近靶表面的等离子体区域内,并且在该区域中电离出大量的Ar来轰击靶材,从而实现了高的沉积速率。
随着碰撞次数的增加,二次电子的能量消耗殆尽,逐渐远离靶表面,并在电场E的作用下最终沉积在基片上。
由于该电子的能量很低,传递给基片的能量很小,致使基片温升较低。
磁控溅射是入射粒子和靶的碰撞过程。
入射粒子在靶中经历复杂的散射过程,和靶原子碰撞,把部分动量传给靶原子,此靶原子又和其他靶原子碰撞,形成级联过程。
在这种级联过程中某些表面附近的靶原子获得向外运动的足够动量,离开靶被溅射出来。
种类磁控溅射包括很多种类。
各有不同工作原理和应用对象。
但有一共同点:利用磁场与电子交互作用,使电子在靶表面附近成螺旋状运行,从而增大电子撞击氩气产生离子的概率。
所产生的离子在电场作用下撞向靶面从而溅射出靶材。
靶源分平衡和非平衡式,平衡式靶源镀膜均匀,非平衡式靶源镀膜膜层和基体结合力强。
平衡靶源多用于半导体光学膜,非平衡多用于磨损装饰膜。
磁控阴极按照磁场位形分布不同,大致可分为平衡态和非平衡磁控阴极。
平衡态磁控阴极内外磁钢的磁通量大致相等,两极磁力线闭合于靶面,很好地将电子/等离子体约束在靶面附近,增加碰撞几率,提高了离化效率,因而在较低的工作气压和电压下就能起辉并维持辉光放电,靶材利用率相对较高,但由于电子沿磁力线运动主要闭合于靶面,基片区域所受离子轰击较小.非平衡磁控溅射技术概念,即让磁控阴极外磁极磁通大于内磁极,两极磁力线在靶面不完全闭合,部分磁力线可沿靶的边缘延伸到基片区域,从而部分电子可以沿着磁力线扩展到基片,增加基片磁控溅射区域的等离子体密度和气体电离率.不管平衡非平衡,若磁铁静止,其磁场特性决定一般靶材利用率小于30%。
为增大靶材利用率,可采用旋转磁场。
但旋转磁场需要旋转机构,同时溅射速率要减小。
第1篇一、准备工作1. 确认设备状态:在操作前,检查磁控溅射设备是否处于正常工作状态,包括电源、控制系统、真空系统、溅射源等。
2. 环境要求:操作区域应保持清洁,无尘,避免溅射过程中污染薄膜。
3. 材料准备:准备所需溅射靶材,确保靶材表面清洁,无油污、尘埃等杂质。
4. 工艺参数设定:根据实验需求,设定溅射功率、工作气体流量、真空度等工艺参数。
二、操作步骤1. 开启设备:按下设备电源开关,启动控制系统,进入操作界面。
2. 启动真空系统:打开真空泵,逐步降低设备内部压力,达到设定真空度。
3. 加热靶材:开启靶材加热装置,将靶材加热至设定温度。
4. 溅射过程:a. 打开工作气体阀门,调节气体流量至设定值。
b. 打开溅射源,启动磁控溅射过程。
c. 监控真空度、气体流量、溅射功率等参数,确保溅射过程稳定。
5. 溅射结束:a. 关闭溅射源,降低溅射功率至零。
b. 关闭工作气体阀门,停止气体供应。
c. 维持真空度一段时间,确保设备内部无残留气体。
6. 关闭设备:a. 关闭靶材加热装置。
b. 关闭真空泵,释放设备内部压力。
c. 关闭设备电源,结束操作。
三、注意事项1. 操作过程中,严格遵守安全操作规程,确保人身安全。
2. 操作人员应熟悉设备结构、工作原理及各项参数。
3. 溅射过程中,密切监控设备运行状态,发现问题及时处理。
4. 保持溅射室清洁,避免污染薄膜。
5. 定期检查设备,确保设备正常运行。
6. 溅射结束后,对设备进行清洁和维护,延长设备使用寿命。
四、实验记录1. 记录实验日期、时间、操作人员、设备型号、靶材种类、溅射功率、气体流量、真空度等参数。
2. 记录实验过程中出现的问题及处理措施。
3. 记录薄膜性能测试结果,如厚度、成分、结构等。
通过以上操作规程,确保磁控溅射实验顺利进行,提高薄膜制备质量。
第2篇磁控溅射操作规程一、准备工作1. 设备检查:在开始操作前,确保磁控溅射设备处于良好状态,包括电源、控制系统、真空系统、溅射源等。
次要的溅射方法:直流溅射,射频溅射,磁控溅射,反应溅射.之相礼和热创作不停流溅射又称阴极溅射或二极溅射溅射条件:工作气压10pa,溅射电压3000V,靶电流密度0.5mA/cm2,薄膜堆积速率低于0.1m/min.工作原理:先让惰性气体(通常为Ar气)发生辉光放电征象发生带电的离子;带电离子紧电场加速撞击靶材概况,使靶材原子被轰击而飞出来,同时发生二次电子,再次撞击气体原子从而构成更多的带电离子;靶材原子携带着充足的动能到达被镀物(衬底)的概况进行堆积.随着气压的变更,溅射法薄膜堆积速率将出现一个极大值,但气压很低的条件下,电子的自在程较长,电子在阴极上消散的几率较大,经过碰撞过程惹起气体分子电离的几率较低,离子在阳极上溅射的同时发射出二次电子的几率又由于气压较低而绝对较小,这些均导致低气压条件下溅射的速率很低.在压力1Pa时甚至不容易维持自持放电!随着气压的降低,电子的均匀自在程减小,原子的电离几率添加,溅射电流添加,溅射速率添加.改进:三极溅射工作条件:工作气压0.5pa,溅射电压1500V,靶电流密度 2.0 mA/cm2,,薄膜堆积速率0.3m/min.三级溅射的缺陷:难于获得大面积的且分布均匀的等离子体,且其进步薄膜堆积速率的才能无限,二射频溅射定义:射频溅射是利用射频放电等离子体中的正离子轰击靶材、溅射出靶材原子从而堆积在接地的基板概况的技术.工作原理:人们将直流电源换成交流电源.由于交流电源的正负性发生周期交替,当溅射靶处于正半周时,电子流向靶面,中和其概况积存的正电荷,而且积存电子,使其概况呈现负偏压,导致在射频电压的负半周期时吸收正离子轰击靶材,从而完成溅射.由于离子比电子质量大,迁移率小,不像电子那样很快地向靶概况集中,以是靶概况的点位上升缓慢,由于在靶上会构成负偏压,以是射频溅射安装也可以溅射导体靶.在射频溅射安装中,等离子体中的电子容易在射频场中吸取能量并在电场内振荡,因而,电子与工作气体分子碰撞并使之电离发生离子的概率变大,故使得击穿电压、放电电压及工作气压明显降低.工作条件:射频溅射可以在1Pa左右的低压下进行,溅射电压1000V,靶电流密度1.0 mA/cm2,薄膜堆积速率0.5m/min.优点:1、可在低气压下进行,溅射速率高.2、不但可溅射金属靶,也可溅射尽缘靶,可以把导体,半导体,尽缘体中的恣意材料薄膜化.3、必须非常留意接地成绩.三磁控溅射工作原理:电子在电场的作用下加速飞向基片的过程中与氩原子发生碰撞,电离出大量的氩离子和电子,电子飞向基片.氩离子在电场的作用下加速轰击靶材,溅射出大量的靶材原子,呈中性的靶原子(或分子)堆积在基片上成膜.磁控溅射一样平常分为直流溅射和射频溅射,其中直流溅射设备原理简单,在溅射金属是速率较快.而射频溅射的适用范围更广泛,除可溅射到导电材料外,也可溅射非导电的材料,同时还可进行反应溅射制备氧化物、氮化物和碳化物等化合物.优点:堆积速率较高,工作气体压力较低,由于在溅射安装中引入磁场,既可以降低溅射过程的气体压力,也可以在异样的电流和气压的条件下明显的进步溅射速率!溅射速率高的缘故原由:1磁场中电子的电离服从较高,无效的进步了靶电流密度和溅射服从;2在较低的气压下溅射原子被气体分子散射的几率较小.缺陷:对靶材的溅射不均匀,不得当于铁磁性材料的溅射.四反应溅射定义:反应溅射是指在存在反应气体的状况下,溅射靶材时,靶材会与反应气体反应构成化合物(如氮化物或氧化物),在惰性气体溅射化合物靶材时由于化学不波动性每每导致薄膜较靶材少一个或更多组分,此时假如加上反应气体可以抵偿所短少的组分,或者采取纯金属作为靶材,在工作气体中混入过量的活性气体如O2 N2 NH3 CH4等方法,使金属原子与活性气体在溅射堆积的同时生成所需的化合物,这种溅射称为反应溅射.优点:补偿了平凡溅射法制备化合物薄膜时化学成分与靶材有很大差此外缺陷:随着活性气体压力的添加,靶材概况也可能构成一层相应的化合物,并导致溅射和薄膜堆积速率的降低,称为靶中毒. PVD:利用某物理过程,完成物质原子从源物质到薄膜的可控转移过程.CVD:利用气态的先驱反应物,经过原子、分子间化学反应的途径生成固态薄膜的技术.在完好的单晶衬底上连续生长单晶薄膜的方法被称为内涵生长.暗影效应:蒸发出来的物质将被停滞物拦截而不克不及堆积到衬底上.害处:毁坏薄膜堆积的均匀性、遭到蒸发源方向性限定,形成某些地位没有物质堆积.利用:目的性运用肯定外形的掩膜,完成薄膜选择性的堆积.单质、化合物蒸发存在的成绩及处理:成分毛病,易于蒸发的组元优先蒸发将形成该组元的不竭贫化,进而蒸发率不竭下降.处理: 1,运用较多的物质作为蒸发源,即尽量减少组元成分的绝对变更率.2,向蒸发源不竭大批添加被蒸发物质(使物质组元得到霎时同步蒸发)3,利用加热至分歧温度的双蒸发源或多蒸发源的方法,分别操纵和调理每个组元的蒸发速率.蒸发堆积纯度取决于:1蒸发源物质的纯度2加热安装,坩埚等可能形成的净化3真空零碎中的残留气体.。
阴极溅射原理阴极溅射阴极溅射是一种常用的物理气相沉积(PVD)技术,用于在固体表面形成薄膜。
它被广泛应用于微电子、光电子、材料科学、表面工程等领域。
原理概述阴极溅射是通过在真空环境中使用离子束轰击金属阴极,使阴极表面的原子溅射到靶材上,并在靶材表面形成薄膜。
整个过程涉及多个重要的步骤。
1. 真空环境阴极溅射需要在高真空环境下进行,以避免气体分子与靶材碰撞或阴极表面氧化反应。
通常使用反应室或真空舱来实现所需真空度。
2. 高能离子轰击阴极通常使用高能离子束轰击金属阴极,以剥离阴极表面原子。
这些离子可以来自于离子源,如离子枪,通过加速器加速并聚焦形成束流。
3. 靶材表面薄膜生成当高能离子击中阴极后,会使阴极表面的原子溅射,并以高速沉积到靶材上,形成薄膜。
溅射的原子经过扩散、质量选择过滤和击穿沉积等过程,最终在靶材表面进行均匀的沉积。
4. 排除杂质和控制成分在阴极溅射过程中,通常需要使用阴极辅助加热以排除阴极表面的气体和杂质,并控制薄膜的组成和结构。
同时,也可以通过调节离子束能量、击穿沉积时间和压力等参数来达到所需的沉积效果。
应用领域阴极溅射技术具有许多优点,使其在不同领域得到了广泛应用。
•微电子:阴极溅射可以制备半导体、金属和绝缘体薄膜,用于制造集成电路、光电子器件和显示器件等。
•光电子:阴极溅射可以制备透明导电薄膜,用于太阳能电池、液晶显示器和柔性显示器等。
•材料科学:阴极溅射可制备多层薄膜、纳米结构和合金薄膜,用于材料表面改性、功能材料制备等。
•表面工程:阴极溅射可制备耐磨、耐腐蚀和具有特殊性能的薄膜,用于表面涂层、防护等。
总结阴极溅射是一种重要的物理气相沉积技术,可以在固体表面形成薄膜。
通过在高真空环境中使用离子束轰击金属阴极,然后将阴极表面的原子溅射到靶材上,最终形成薄膜。
这种技术在微电子、光电子、材料科学和表面工程等领域具有广泛应用。
优点与挑战阴极溅射技术有许多优点,使其成为一种受欢迎的薄膜制备方法。
真空溅射的原理
真空溅射是一种常用的薄膜制备技术,主要用于在基底表面沉积均匀、致密、附着力良好的薄膜。
其原理基于靶材表面的原子或分子在真空条件下被激发,从而将其喷射到基底表面上形成薄膜。
在真空溅射过程中,需要使用真空室将气体抽取至低压状态,以减少空气分子的碰撞对靶材和沉积薄膜的影响。
靶材放置在真空室内的靶架上,通过直流或射频电源施加电压,使靶材带有负电荷。
在电场的作用下,靶材表面的原子或分子被加速并被激发至高能态。
这些高能态的原子或分子有可能发生碰撞并散射,最终有些会到达基底表面,并在那里沉积下来形成薄膜。
在真空溅射过程中,还要使用一个衬底来接收被溅射到基底表面上的靶材原子或分子。
衬底通常是放置在与靶材相对的位置,而且需要被精心选择,以确保沉积薄膜的质量和性能。
真空溅射技术具有一些优点,如制备薄膜的成本较低、可实现多种材料的沉积以及薄膜的厚度和成分可以通过控制靶材和衬底的距离、电压和沉积时间进行调节。
它被广泛应用于电子器件、太阳能电池、光学薄膜以及装饰涂层等领域。
溅射靶材说明
磁控溅射镀膜是一种物理气相镀膜方式,现技术已较为成熟,主要应用于以下领域:
装饰薄膜靶材,建筑玻璃、汽车玻璃、低辐射玻璃,平面显示器,光通讯/光学工业,
光数据存储工业,光数据存储工业,磁数据存储工业。
一、磁控溅射原理
在被溅射的靶极(阴极)与阳极之间加一个正交磁场和电场,在高真空室中充入所需
要的惰性气体(通常为Ar氩气),永久磁铁在靶材料表面形成250~350高斯的磁场,同
高压电场组成正交电磁场。在电场的作用下,Ar气电离成正离子和电子,靶上加有一定
的负高压,从靶极发出的电子受磁场的作用与工作气体的电离几率增大,在阴极附近形
成高密度的等离子体,Ar离子在洛仑兹力的作用下加速飞向靶面,以很高的速度轰击靶
面,使靶上被溅射出来的原子遵循动量转换原理以较高的动能脱离靶面飞向基片淀积成
膜。 磁控溅射一般分为二种:支流溅射和射频溅射,其中支流溅射设备原理简单,在
溅射金属时,其速率也快。而射频溅射的使用范围更为广泛,除可溅射导电材料外,也
可溅射非导电的材料,同时还司进行反应溅射制备氧化物、氮化物和碳化物等化合物材
料。若射频的频率提高后就成为微波等离子体溅射,目前常用的有电子回旋共振(ECR)
型微波等离子体溅射。
二、磁控溅射镀膜靶材
按照形状分可分为圆片靶,圆柱靶,台阶圆靶,矩形靶,薄片靶,台阶片靶,环状
靶,管状靶。
按照材质可分为:金属靶材、合金靶材、陶瓷靶材等。
材料的纯度按照需求,可从99.9%到99.999%。
详细资料可参考 (http://www.mat-world.com/Cn/Cn_Sputtering_Target.html)
三、晶方使用靶材AlCu4 Target
现使用的是铝铜合金靶材,供应商为瑞士Umicore,主要成分为纯度为99.9995%
的铝(96%)和铜(4%)。应用在半导体硅晶片的真空射频溅镀制程,使用设备为瑞
士Oerlicon公司LLS EVO II Sputtering System。作用是在硅晶片表面利用铝铜进行镀
层,以便制作导电线路,连结和导通CMOS芯片pad与表面锡球。
1)Oerlicon Sputtering System
2) AlCu4靶材使用前:
3)AlCu4靶材使用后:
晶方半导体科技(苏州)有限公司
2008-07-29
新靶表面平整,
净重在
中间铝铜材料已经被消
耗,残靶重量在1.2公斤
左右