材料分析化学期末考试试题
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阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 1 A 一、 名词解释(共20分,每小题2分。) 1.辐射的发射 2.俄歇电子 3.背散射电子 4.溅射 5.物相鉴定 6.电子透镜7.质厚衬度 8.蓝移 9.伸缩振动 10.差热分析 二、填空题(共20分,每小题2分。) 1. 电磁波谱可分为三个部分,即长波部分、中间部分和短波部分,其中中间部分包括( )、( )和( ),统称为光学光谱。 2. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。光谱按强度对波长的分布(曲线)特点(或按胶片记录的光谱表观形态)可分为( )光谱、( )光谱和( )光谱3类。 3. 分子散射是入射线与线度即尺寸大小远小于其波长的分子或分子聚集体相互作用而产生的散射。分子散射包括( )与( )两种。 4. X射线照射固体物质(样品),可能发生的相互作用主要有( )、 ( )( )和( )等。 5. 多晶体(粉晶)X射线衍射分析的基本方法为( )和( )。 6. 依据入射电子的能量大小,电子衍射可分为( )电子衍射和( )电子衍射。依据电子束是否穿透样品,电子衍射可分为( )电子衍射与( )电子衍射。 7. 衍射产生的充分必要条件是( )。 8. 透射电镜的样品可分为( )样品和( )样品。 9. 单晶电子衍射花样标定的主要方法有( )和( )。 10. 扫描隧道显微镜、透射电镜、X射线光电子能谱、差热分析的英文字母缩写分别是( )、( )、( )、( )。 阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 2 三、判断题,表述对的在括号里打“√”,错的打“×”(共10分,每小题1分) 1. 干涉指数是对晶面空间方位与晶面间距的标识。晶面间距为d110/2的晶面其干涉指数为(220)。( ) 2. 倒易矢量r*HKL的基本性质为:r*HKL垂直于正点阵中相应的(HKL)晶面,其长度r*HKL
等于(HKL)之晶面间距dHKL的2倍。( )倒数
3. 分子的转动光谱是带状光谱。( ) 4. 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率低。( )高 5. 一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。( ) 6. 俄歇电子能谱不能分析固体表面的H和He。( ) 7. 低能电子衍射(LEED)不适合分析绝缘固体样品的表面结构。( ) 8. d-d跃迁受配位体场强度大小的影响很大,而f-f跃迁受配位体场强度大小的影响很小。( ) 9. 红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱必须有分子极化率的变化。( ) 10. 样品粒度和气氛对差热曲线没有影响。( )
四、 单项选择题(共10分,每小题1分。) 1. 原子吸收光谱是( )。 A、线状光谱 B、带状光谱 C、连续光谱 2. 下列方法中,( )可用于测定方解石的点阵常数。 A、 X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱 3. 合金钢薄膜中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定,可以选择( )。 A、X射线衍射线分析 B、紫外可见吸收光谱 C、差热分析 D、多功能透射电镜 4. 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析,可以选择( )。 A、红外光谱 B、俄歇电子能谱 C、扫描电镜 D、扫描隧道显微镜 阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 3 5. 下列( )晶面不属于[100]晶带。 A、(001) B、(100) C、(010) D、(001) 6. 某半导体的表面能带结构测定,可以选择( )。 A、 红外光谱 B、透射电镜 C、X射线光电子能谱 D 紫外光电子能谱 7. 要分析钢中碳化物成分和基体中碳含量,一般应选用( )电子探针仪,A、波谱仪型 B、能谱仪型 8. 要测定聚合物的熔点,可以选择( )。 A、红外光谱 B、紫外可见光谱 C、差热分析 D、X射线衍射 9. 下列分析方法中,( )不能分析水泥原料的化学组成。 A、红外光谱 B、X射线荧光光谱 C、等离子体发射光谱 D、原子吸收光谱 10. 要分析陶瓷原料的矿物组成,优先选择( )。 A、原子吸收光谱 B、原子荧光光谱 C、X射线衍射 D、透射电镜
五、简答题(共40分,每小题8分) 1. 简述分子能级跃迁的类型,比较紫外可见光谱与红外光谱的特点。 2. 简述布拉格方程及其意义。 3. 为什么扫描电镜的分辨率和信号的种类有关?试将各种信号的分辨率高低作一比较。 4. 要在观察断口形貌的同时,分析断口上粒状夹杂物的化学成分,选择什么仪器?简述具体的分析方法。 5. 简述影响红外吸收谱带的主要因素。 B
一、 名词解释(共20分,每小题2分。) 11.弯曲振动 12.二次离子 13.系统消光 14.衍射衬度 15.复型 16.物相分析 17.暗场像 18.质厚衬度 阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 4 19.特征振动频率 20.差示扫描量热法 二、填空题(共20分,每小题2分。) 11. 电磁波谱可分为( )、( )和( )3个部分。 12. 光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。吸收光谱与发射光谱按发生作用的物质微粒不同可分为( )光谱和( )光谱等。 13. X射线等谱域的辐射照射晶体,电子是散射基元。晶体中的电子散射包括( )和( )两种。 14. 电子束与固体物质(样品)相互作用可能产生的信息主要有( )( )、( )和( )。 15. 单晶体X射线衍射分析的基本方法为( )和( )。 16. 电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法,最常用的主要有( )、( )和( )三种。 17. 红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱,必须有分子偶极矩的变化。只有发生偶极矩变化的分子振动,才能引起可观测到的红外吸收光谱带,称这种分子振动为( ),反之则称为( )。 18. 电子透镜有( )和( )两种类型。 19. 透射电镜的两种基本操作是( )和( )。 20. 紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别是( )、 ( )、( )、( )。 三、判断题,表述对的在括号里打“√”,错的打“×”(共10分,每小题1分) 五、 干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面,即干涉指数表示的晶面上不阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 5 一定有原子分布。( ) 六、 倒易矢量r*HKL的基本性质为:r*HKL垂直于正点阵中相应的(HKL)晶面,其长
度r*HKL等于(HKL)之晶面间距dHKL的倒数。( )
七、 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率高。( ) 八、 一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。( ) 九、 低能电子衍射(LEED)适合于分析所有固体样品的表面结构。( ) 十、 俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。( ) 十一、 X射线光电子能谱可用于固体表面元素的定性、定量和化学状态分析。( ) 十二、 d-d跃迁和f-f跃迁受配位体场强度大小的影响都很大。( ) 十三、 分子的振-转光谱是连续光谱。( ) 十四、 无论测试条件如何,同一样品的差热分析曲线都应是相同的。( ) 四、 单项选择题(共10分,每小题1分。) 11. 电子光谱是( )。 A、线状光谱 B、带状光谱 C、连续光谱 12. 下列方法中,( )可用于测定Ag的点阵常数。 A、 X射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱 13. 某薄膜(样品)中极小弥散颗粒(直径远小于1m)的物相鉴定,可以选择( )。 A、X射线衍射线分析 B、紫外可见吸收光谱 C、差热分析 D、多功能透射电镜 14. 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析,可以选择( )。 A、红外光谱 B、俄歇电子能谱 C、扫描电镜 D、扫描隧道显微镜 15. 下列( )晶面属于[110]晶带。 A、(110) B、(011) C、(101) D、(011) 16. 某半导体的表面能带结构测定,可以选择( )。 阅读使人充实,会谈使人敏捷,写作使人精确。 有勇气承担命运这才是英雄好汉。 6 A、 红外光谱 B、透射电镜 C、X射线衍射 D 紫外光电子能谱 17. 要分析铁中碳化物成分和基体中碳含量,一般应选用( )。 A、波谱仪型电子探针仪 B、能谱仪型电子探针仪 C、原子发射光谱 D、原子吸收光谱 18. 要测定聚合物的熔点,可以选择( )。 A、红外光谱 B、扫描电镜 C、差热分析 D、X射线衍射 19. 下列分析方法中,( )不能分析固体表面元素的含量。 A、俄歇电子能谱 B、X射线光电子能谱 C、紫外光电子能谱 20. 要鉴定某混合物中的硫酸盐矿物,优先选择( )。 A、原子吸收光谱 B、原子荧光光谱 C、红外光谱 D、透射电镜 五、简答题(共40分,每小题8分) 6. X射线照射固体物质时可能产生哪些信息?据此建立了哪些分析方法? 7. 从原理及应用方面指出X射线衍射、透射电透中的电子衍射在材料结构分析中的异同点(8分) 8. 简述波谱仪和能谱仪在进行微区化学成分分析时的优缺点(8分) 9. 简述有机、无机化合物电子光谱的主要类型(8分) 10. 简述差热分析中放热峰和吸热峰产生的原因。(8分) 答案 A