塞尺校验指导书
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塞尺校验指导书
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2011/03/30 / 系统文件新制定 4 A/0 / /
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塞尺校验指导书
1.目的:
藉由定期校正使仪器维持其稳定性,确保产品质量。
2.范围:
用于厚薄规、PIN GAUGE的校验。
3.校正环境条件:
3.1温度:23℃±5℃。
3.2相对湿度:55% ±20% RH。
4.校正周期:
一年
5.作业内容:
5.1校正所需设备:
名 称 厂 牌 型 号 附 件
千分尺 MITUTOYO 293.340 无
5.2校正项目:
5.2.1厚薄规:厚度。
5.2.2 PIN GAUGE:直径。
5.3校正前应准备事项:
5.3.1阅读待校件相关文件,如:使用手册、说明书…等。
5.3.2校正用设备及待校件需先置于仪校室内1hr以上。
5.3.3确认校正环境在合格的状态下。
5.4校正方法:
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5.4.1以酒精擦拭标准件,来回全程推动数次。
5.4.2将标准件做归零调整。
5.4.3待校件擦拭清洁。
5.4.4以标准件直接量测待校件,每个尺寸量测3次并记录下来。
5.5校正后之处理:
5.5.1将校正使用设备收归定位。
5.5.2判定该仪器是否合格:
5.5.2.1合格:贴上校验合格卷标,通知使用单位领回。
5.5.2.2不合格:贴上暂停使用卷标,通知该仪器使用单位领回安排检修。
5.5.2.3整理校正报告并将该仪器此次校正日期、有效日期及校验结果登
录于校验记录中供判定用。
5.6注意事项:
5.6.1校验过程中必须戴手套。
5.6.2避免待测件掉落及量测面的磨损。
5.6.3校验时待测件与标准件的量测面要保持垂直,以避免产生余弦误差。
6.判定标准:
±0.01mm