覆层测厚仪原理及影响测量精度的因素

涂层测厚仪工作原理宝子们，今天咱们来唠唠涂层测厚仪这个超有趣的小玩意儿的工作原理。

咱先来说说那种磁性测厚仪。

你看啊，这涂层测厚仪就像一个超级敏感的小侦探。

对于磁性测厚仪来说呢，它主要是利用了磁性原理。

当这个测厚仪靠近有涂层的金属表面时，就像两个有特殊关系的小伙伴在互动。

金属本身是有磁性的，而涂层呢，就像给金属穿上了一件衣服。

磁性测厚仪能感觉到从金属表面传过来的磁性的变化。

如果涂层厚一点呢，就相当于衣服厚，那磁性的传导就会受到更多的阻碍，测厚仪就能捕捉到这个变化，然后通过它内部超级聪明的小芯片之类的东西，把这个变化转化成我们能看懂的涂层厚度的数据。

就好像它在悄悄地跟你说：“这个涂层啊，有这么厚呢！”再说说那种利用涡流原理的涂层测厚仪。

这个涡流可神奇啦。

当这个测厚仪靠近金属表面的涂层时，它会产生一个交变磁场。

这个交变磁场就像一个调皮的小精灵，在金属里开始搞事情。

如果没有涂层呢，这个交变磁场在金属里产生的涡流是一种情况。

但是一旦有了涂层，就像给这个小精灵设置了一些小障碍。

涂层越厚，这个小精灵能在金属里自由玩耍的空间就越小，产生的涡流的变化也就越大。

测厚仪呢，就像一个敏锐的观察者，能精准地发现这个涡流的变化，然后再把这个变化换算成涂层的厚度。

这就好像它在跟你分享一个小秘密：“你知道吗，这个涂层的厚度我可都清楚着呢！”还有一种情况呢，有些涂层测厚仪是可以同时适用于磁性和非磁性的基体材料的。

这种测厚仪就更厉害了，它就像是一个全能选手。

它内部有不同的检测模式或者是有更复杂的感应系统。

它能够根据基体材料的性质自动调整自己的检测方式。

就好比它有一双能自动切换功能的眼睛。

如果是磁性基体，它就开启类似磁性检测的那种模式；如果是非磁性基体，它就切换到适合非磁性基体检测的模式，比如涡流检测之类的。

不管是哪种情况，它都是为了准确地告诉我们涂层到底有多厚。

咱再想象一下，这个涂层测厚仪就像一个小小的健康检查官。

涂层就像是我们身体上的一层保护膜。

提升镀锌层测厚仪校准精准度有隐秘测厚仪常见问题解决方法镀锌层测厚仪是是用电池供电的便携式测量仪器，接受电涡流原理。

测量方法合乎国内规范ISO2360和 gou家规范GB4957、它接受计算机技术，无损检测技术等多项先进技术，无需损伤被测体就能jing确地测量出它的厚度。

Nf型探头可测量非导磁金属基体上的绝缘包裹层厚度，如铝、铜、锌、无磁不锈钢等资料外表上的油漆、塑料、橡胶涂层，也可测量铝或铝合金资料的阳极氧化层厚度。

本仪器宽泛利用于制作业、金属加工业、化工业、商检等检测畛域；是资料珍惜业余必备的仪器，是测量非导磁资料上绝缘包裹层的厚度。

镀锌层测厚仪校准方法：1、按住开关机键不松手直到显示器呈现”CAL”（此进程大约必需4秒钟）,显示器会显示”F:H”,此时轻按校零键确认（探头确定要悬空）2、按住开关机键不松手直到显示器呈现”Ln” （此进程大约必需9秒钟）显示器会呈现”0.8XX”的数字,假如在测试中发觉高端数据偏大,也就是说127um正确,而420um左右的膜片偏大,可将该数字加大（用”+”键）,反之将该数字减小（用”—“键）.大约该数字每加大0.001,420um左右会相应减小2um.而后按校零键确认. （探头确定要悬空）3、无论是操作一步和第二步完结后,均应在操作完结后从新校零.注意传感器插头的方法.开机后将探头压到铁基上,轻按校零键.将规范膜片（127um左右）放到铁基上,如测量后果不在127um左右,可经过加减键调整.127um左右膜片调整后,别离测量52um和420um 左右的膜片,看能否在允许误差范畴内.假如发觉一切膜片值根本正确,则校准胜利.以上是介绍镀锌层测厚仪校准方法，希望本文对大家有帮忙！覆层测厚仪有哪些使用参数？覆层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。

可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

新款覆层测厚仪测量原理覆层测厚仪是新研发的新产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍。

功能、数据、操作、显示全部是中文。

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。

覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。

为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。

这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。

因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。

X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。

β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。

电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

测量原理一、磁吸力测量原理及测厚仪永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。

利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。

鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。

不同的型号有不同的量程与适用场合。

这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。

二、磁感应测量原理采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。

也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。

覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。

一般要求基材导磁率在500以上。

如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。

时代TT220数字式覆层测厚仪使用说明书目录第一章概述 (2)一、适用范围二、基本原理三、基本配置及仪器结构第二章技术参数 (3)一、性能指标二、主要功能第三章使用方法 (4)一、基本测量步骤二、各项功能及操作方法⒈测量方式（单次测量⇔连续测量）⒉工作方式（直接方式⇔成组方式）⒊删除⒋统计计算⒌打印⒍关于“MODE”键第四章仪器的校准 (7)一、校准标准片二、基体三、校准方法第五章与仪器使用有关的注意事项 (9)一、影响测量精度的因素及有关说明二、使用仪器时应当遵守的规定三、关于测量结果的说明第六章保养与维修 (11)第一章概述一、适用范围本仪器是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。

可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

二、基本原理本仪器采用了磁性测厚法、可无损伤地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。

基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的厚度。

三、基本配置及仪器结构⒈基本配置TT220主机1台标准样片1盒标准基体1块充电器1个⒉选购件TA210打印机1台⒊仪器结构本仪器基本组成部分见图1。

⒈测头⒉液晶显示屏幕⒊▲键⒋▼键⒌ MODE键⒍ ON/C键⒎充电插座⒏打印机插座⒐外壳图1一、 性能指标⒈ 测量范围及测量误差（见表一）表一示值误差（µm ） 型号 工作原理测量范围（µm ） 低限分辨力（µm ）零点校准 二点校准TT220 磁感应0~1250 1±（3%H+1） ±[（1%~3%）H+1]型号 待测基体 最小曲率半径 （mm ） 基体最小面积的直径（mm ）基体临界厚度（mm ）TT220 凸1.5 凹9∅7 0.5注：H —标称值⒉ 使用环境：温度：0~40℃ 湿度：20%～75% 无强磁场环境⒊ 电源：镍镉电池3.6 V 二节⒋ 外型尺寸：150mm ×55.5mm ×23mm ⒌ 重量：150g 二、 主要功能● 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；● 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE ）和单次测量方式（SINGLE ）；● 具有两种工作方式：直接方式和成组方式；● 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；● 设有五个统计量：平均值（MEAN ）、最大值（MAX ）、最小值（MIN ）、测试次数（NO ．）、标准偏差（S ．DEV ）； ● 具有打印功能，可打印测量值、统计值； ● 具有欠压指示功能； ● 操作过程有蜂鸣声提示； ● 具有错误提示功能； ● 具有自动关机功能。

影响涂层测厚仪测量的若干因素测厚仪是如何工作的1，基体金属磁性磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为时细小的）。

为了避开热处理、冷加工等因素的影响，应使用与试件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校准。

2，基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。

大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

3，边缘效应本仪器对试片表面形状的陡变敏感。

因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不牢靠的。

4，曲率试件的曲率对测量有影响，这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。

因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。

5，表面粗糙度基体金属何覆盖层的表面粗糙度对测量有影响。

粗糙度增大，影响增大。

粗糙表面会引起系统误差何偶然误差。

每次测量时，在不同位置上应加添测量的次数，以克服这种偶然误差。

假如基体金属粗糙，还必需在未屠夫的粗糙度相像佛的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐蚀性的溶液除去基体金属覆盖层，再校对仪器的零点。

6，磁场四周各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。

7，附着物质本仪器对那些阻拦探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。

因此必需清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。

8，探头压力探头置于试件上施加的压力大小会影响测量的读数。

因此本仪器探头用弹簧保持一个基本恒定的压力。

9，探头的放置探头的放置方式对测量有影响。

在测量中，应当使探头与试样表面保持垂直。

10，试件的变形探头使软覆盖层试件变形。

因此在这些试件上会测出不太牢靠的数据。

读数次数通常仪器的每次读数并不完全相同。

因此必需在每一测量面积内取几个读数，覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量。

表面粗糙时更应如此涂层测厚仪测量结果不准的原因涂层测厚仪测量结果不精准紧要是由下面几种原因引起：1、强磁场的干扰。

当仪器在强电磁场相近工作时，测量会受到严重的干扰。

假如离电磁场特别近时还有可能会发生死机现象。

涂层测厚仪原理
涂层测厚仪原理是根据科学的物理原理进行测量的。

其工作原理依赖于电磁感应原理，即根据涂层材料对电磁波的吸收和反射程度来确定涂层的厚度。

测厚仪由一个发送器和一个接收器组成。

发送器发出一个脉冲电磁波信号，然后涂层会对这个信号进行反射。

接收器接收到反射回来的信号，并通过测量信号的时间延迟来确定涂层的厚度。

具体地说，涂层测厚仪使用的是一种称为电涡流的效应。

当电磁波信号通过涂层表面时，会感应出涡流。

涡流的大小和密度受到涂层厚度的影响，厚度越大，涡流越大。

测厚仪接收到这些反射回来的涡流信号，并根据信号的幅度和延迟来计算出涂层的厚度。

此外，涂层测厚仪还可以使用磁感应原理进行测量。

原理与电磁感应类似，只是使用的是磁场而不是电磁波信号。

涂层测厚仪通过发送一个磁场，并测量磁感应强度的变化来确定涂层的厚度。

总而言之，涂层测厚仪的原理是利用电磁感应或磁感应的物理效应，通过测量信号的反射、幅度和延迟来确定涂层的厚度。

这些原理在测量工业生产中非常有用，可以帮助确保涂层的质量和厚度符合要求。

测厚仪原理及故障分析随着科学技术的不断发展，各种新型测量仪器也应运而生。

其中一种比较常见的仪器就是测厚仪。

那么，究竟什么是测厚仪？测厚仪有哪些应用？它的原理是什么？如果遇到故障该怎么处理？下面，本文将为大家一一解答。

一、测厚仪的应用测厚仪是一种用于测量金属、非金属材料、塑料等物体的表面厚度的仪器。

它广泛应用于工业制造、汽车、造船、航空航天、锅炉、化工、建筑等领域。

比如，在建筑行业中，测厚仪可以用于测量建筑物表面的油漆、墙壁、屋顶等处的厚度，从而保证建筑工程的质量；在造船行业中，测厚仪可以用于检测船舶的外壳是否达到安全要求。

二、测厚仪的原理测厚仪的原理主要是利用超声波在材料中的传播速度和反射强度来计算出材料的厚度。

具体地说，测厚仪通过超声波探头向被测物体表面发送一系列超声波信号，当这些信号穿过被测物体的表面到达另一侧时，它们会被分散、反射或穿过物体。

接着，测厚仪会通过接收探头所接收到的反射强度和时间来计算出被测物体的厚度。

一般而言，测厚仪的测量精度可以达到0.01毫米以上。

三、测厚仪的故障分析测厚仪与其他仪器一样，偶尔也会遇到故障。

下面，我们来看看测厚仪可能出现的故障类型以及处理方法。

1. 电池电量不足由于使用频率高，测厚仪很容易出现电池电量不足的情况。

此时，最好的方法就是更换新电池。

不要使用不同型号的电池，否则可能会对测厚仪造成损坏。

2. 探头与被测物体之间存在间隙如果使用过程中出现探头与被测物体之间存在间隙的情况，那么结果就会偏差很大。

可以通过调整探头与被测物体之间的距离或者更换更合适的探头来解决此问题。

3. 测厚仪读数异常如果测厚仪读数异常，那么可以考虑将探头与被测物体置于另一处进行测量。

如果此时读数变正常，那么可以断定原先的那个位置可能存在某种缺陷或问题。

总之，测厚仪作为一种精密仪器，需要我们在使用过程中时刻注意仪器是否正常运转，以确保精度和安全性，同时，当出现故障时，可根据具体情况采取一些简单的措施来解决问题。

薄膜涂层测厚仪原理
薄膜涂层测厚仪原理是通过测量薄膜涂层的反射光的光程差来确定薄膜的厚度。

在薄膜涂层测厚仪中，通常使用一束光照射在薄膜表面上，一部分光线被薄膜反射回来，一部分光线穿过薄膜进入基底材料中。

当光线穿过薄膜时，由于光在不同介质中的传播速度不同，会发生折射现象，导致光程差的产生。

这种光程差可以通过测量入射光和反射光之间的相位差来衡量。

薄膜涂层测厚仪中常用的方法有干涉法和散射法。

在干涉法中，测厚仪通过构建一个干涉系数来测量薄膜的厚度。

干涉系数是由入射光和反射光之间的相位差决定的，相位差与光程差成正比。

测厚仪通常使用一束强度连续的单色光照射在薄膜表面上，部分光线会被薄膜反射回来，经过干涉后形成干涉条纹。

干涉条纹的间距和薄膜的厚度成正比，通过测量干涉条纹的间隔或相位延迟来计算薄膜的厚度。

散射法的原理是利用入射光和散射光之间的光程差来测量薄膜的厚度。

在散射法中，测厚仪使用一束光照射在薄膜上，一部分光线会被薄膜散射。

通过测量薄膜散射光的强度随角度的变化，可以推断出薄膜的厚度。

由于薄膜的厚度决定了散射光的相位差，因此可以通过测量散射光的幅度和相位来确定薄膜的厚度。

除了干涉法和散射法，薄膜涂层测厚仪中还可以使用其他的方法，如电子束法、
X射线法等来测量薄膜的厚度。

这些方法的原理都是基于入射光和反射光之间的相位差来计算薄膜的厚度。

总之，薄膜涂层测厚仪通过测量薄膜反射光的光程差来确定薄膜的厚度。

通过使用干涉法、散射法或其他方法，可以准确快速地测量薄膜的厚度，满足工业生产和科学研究的需要。

1, 测厚仪的原理射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。

对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。

一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。

测厚仪主要类型激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。

它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。

它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。

主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。

薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

X射线测厚仪：适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。

影响涂层测厚仪测量值精度的因素测厚仪是如何工作的影响涂层测厚仪测量值精度的因素1.影响因素的有关说明a基体金属磁性质磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是细小的），为了避开热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准.b 基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。

使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准.c 基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。

大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响.d边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。

因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不牢靠的.e曲率试件的曲率对测量有影响。

这种影响总是随着曲率半径的削减明显地增大。

因此，在弯曲试件的表面上测量是不牢靠的.f 试件的变形测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出牢靠的数据.g 表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。

粗糙程度增大，影响增大。

粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应加添测量的次数，以克服这种偶然误差。

假如基体金属粗糙，还必需在未涂覆的粗糙度相像佛的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点.g磁场四周各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作.h附着物质些阻拦测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必需清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触.i 测头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定j 测头的取向测头的放置方式对测量有影响。

在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直.2.使用仪器时应当遵守的规定 a 基体金属特性对于磁性方法，标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相像.对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相像.b基体金属厚度检查基体金属厚度是否超过临界厚度，假如没有，可接受 3.3中的某种方法进行校准.c边缘效应不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量.d曲率不应在试件的弯曲表面上测量.e读数次数通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必需在每一测量面积内取几个读数。