关于提高电子元器件使用可靠性的思考发布时间：2021-12-15T05:09:20.641Z 来源：《当代电力文化》2021年第20期作者：成文斌1 蒋娜2[导读] 随着科技发展的日新月异，电子产品已经彻底融入了人们的生活与工作，成文斌1 蒋娜21身份证：142621*********102身份证：132825**********21摘要：随着科技发展的日新月异，电子产品已经彻底融入了人们的生活与工作，带来了极大的改变。
电子元器件是各类电子产品中核心组成部分，是各类电子产品发挥功用的重要支撑。
电子元器件的可靠性对电子产品而言是至关重要的，但是纵观现阶段电子元器件的使用情况来看，其中还是存在一些不可靠因素，对最终的产品寿命和使用效果产生影响。
本文主要以阐述提升电子元器件可靠性的意义，分析导致电子元器件可靠性受损的因素，最终提出提升电子元器件使用可靠性的可行性策略。
关键词：电子元器件；可靠性；提高引言：电子产品通常出现故障的原因，大多是内部电子元器件丧失功能，由此可见电子元器件的使用可靠性对于电子产品来说至关重要。
尤其是在当今社会环境下，电子产品的应用场景日益增大，无论是大型工程的自动化设备，还是人们日常生活中的手机、电脑等电子产品都会频繁的使用电子元器件。
电子元器件可靠性只有满足各方面的需求，才能获得更好的发展，因此应从各个方面进行分析，找出实际症结并予以解决，提升电子元器件的可靠性，确保其在电子产品中可以稳定的发挥功能。
一、提升电子元器件可靠性的意义电子产品都是由大量的电子元器件组成，产品的功能越多元，则电子元器件的数量就越多，而在使用过程中，任何一个电子元器件出现故障，都会影响电子产品的功用，因此提升电子元器件使用可靠性是一件必然措施。
电子元器件的可靠性主要可以通过两个方面进行概述，即自身可靠性以及使用可靠性。
自身可靠性，主要靠生产决定，通常不可靠的原因为电子元器件本身固件质量不达标。
而使用可靠性，则具体指电子元器件在投入使用后的情况，其更多的是取决于电子元器件在电子产品中的分布是否科学，使用人员的操作是否得当等。
电子元器件的可靠性与寿命评估：方法与工具电子元器件的可靠性和寿命评估是电子工程师和产品设计师在进行产品设计和制造过程中不可忽视的重要环节。
本文将详细介绍电子元器件可靠性和寿命评估的方法和工具，包括可靠性测试、加速寿命试验、失效模式与失效机理分析等。
一、可靠性测试可靠性测试是通过对元器件进行长时间不间断、高负载的工作，以模拟实际工作环境，获取元器件在运行过程中的可靠性指标。
可靠性测试可以分为环境应力测试和可靠性固有测试两种。
1. 环境应力测试环境应力测试是在电子元器件所处的环境条件下，对其进行工作负载测试，以评估其在实际工作环境下的可靠性。
常用的环境应力测试包括温度循环测试、湿度试验和振动冲击试验等。
- 温度循环测试：将元器件置于高温和低温交替的环境中，观察元器件在温度变化下的可靠性表现。
- 湿度试验：将元器件置于高湿度或低湿度环境中，观察元器件在湿度变化下的可靠性表现。
- 振动冲击试验：通过对元器件进行振动或冲击，观察元器件在振动或冲击下的可靠性表现。
2. 可靠性固有测试可靠性固有测试是通过对元器件在正常工作条件下进行长时间运行，观察其在实际工作环境下的可靠性表现。
常用的可靠性固有测试包括静电放电测试、高电压测试和电流波形测试等。
- 静电放电测试：通过在元器件上施加静电放电，观察元器件在静电放电下的可靠性表现。
- 高电压测试：通过在元器件上施加高电压，观察元器件在高电压下的可靠性表现。
- 电流波形测试：通过观察元器件在工作电流波形下的表现，评估其在实际工作环境中的可靠性。
二、加速寿命试验加速寿命试验是一种通过提高元器件运行环境中的应力水平，以缩短测试时间并模拟元器件长时间使用下的疲劳和老化过程的方法。
加速寿命试验可以分为温度加速寿命试验和电压加速寿命试验两种。
1. 温度加速寿命试验温度加速寿命试验通过提高元器件工作温度，加速元器件的老化过程。
常用的温度加速寿命试验方法包括高温老化试验和高温高湿老化试验。
航天电子元器件可靠性设计与分析摘要：电子元器件作为航天产品基础组成部分，其质量与可靠性是影响航天产品研发成败的重要因素之一。
提高航天型号产品可靠性，必须提高电子元器件的可靠性。
本文概述了国内外电子元器件可靠性的研究进程，同时对电子元器件的固有可靠性设计和使用可靠性设计进行分析并制定措施，进一步提高电子元器件的可靠性，从根本上保证今后航天型号产品的高可靠性。
关键词：航天电子元器件；可靠性设计；分析1国内电子元器件可靠性研究情况20世纪70年代，航天部门率先提议严格电子元器件筛选。
1978年，鉴于型号任务的需要，航天工业部编制了《电子元器件优选手册》。
1993年，由于通信卫星工程及武器型号研制的需要，航天工业总公司编制了《电子元器件选用目录》。
1997年，根据载人航天工程和型号任务的需要，航天工业总公司编制了新版的《电子元器件选用目录》。
2000年1月6日，中国航天科技集团公司元器件可靠性专家组在北京召开成立大会。
该专家组的成立，促进了元器件可靠性的发展，对今后元器件的高可靠性具有深远意义。
为了编制新的适应当前型号任务需要的电子元器件选用目录，通过调研各院所和生产单位，收集并分析大量资料和手册，于2003年7月2日，航天科技集团公司发布《航天型号电子元器件选用目录》。
在源头上将元器件的选用规范化落到实处，提高型号质量及可靠性。
2航天对电子元器件的特殊要求2.1高可靠性根据元器件环境试验的数据，如果某批电子元器件在实验室条件下出现故障的可能性为1，那么在飞机使用条件下的可能性则为6.5，而在火箭使用条件下则为80。
正是这种使用条件的不同，对电子元器件失效率要求也不同，家用电视机要求器件失效率为100非特～500非特，地面通讯设备要求器件失效率为20非特～200非特，而航天飞行器按照长期、中期、短期工作寿命而要求器件失效率分别为1非特，10非特，100非特。
因此，实现元器件的高可靠性，是航天工程和国防建设的需要。
