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实验一TTL和CMOS集成门电路参数测试实验原理：TTL和CMOS集成门电路的工作原理不同。
TTL采用双晶体管作为开关，利用基极电流来控制集电极电流。
CMOS则通过P型和N型金属-氧化物-半导体场效应晶体管（PMOS和NMOS）来实现逻辑门功能。
TTL电路的主要特点是速度快，但功耗相对较高；而CMOS电路功耗低，但速度较慢。
实验步骤：1.实验器材准备：TTL和CMOS集成门电路，功率源、万用表、数字逻辑分析仪等。
2.将TTL和CMOS集成门电路与电源连接，通过万用表测量电路的电压和电流。
3.测量功耗：通过电流表测量TTL和CMOS电路的输入功率和输出功率，计算功耗。
4.测量延迟时间：使用数字逻辑分析仪测量输入信号到输出信号之间的延迟时间，分别对比TTL和CMOS电路的延迟时间。
5.测量噪声容限：在输入信号上加入噪声，并测量输出信号的变化情况，分别对比TTL和CMOS电路的噪声容限。
实验结果和讨论：1.功耗比较：通过实验可以得到TTL电路的功耗相对较高，一般为几十毫瓦，而CMOS电路的功耗相对较低，一般为几毫瓦。
2.延迟时间比较：TTL电路的延迟时间一般在几纳秒至十几纳秒，而CMOS电路的延迟时间一般在几十纳秒至百纳秒。
3.噪声容限比较：TTL电路的噪声容限较小，输入信号受到的干扰较敏感；而CMOS电路的噪声容限较大，输入信号受到的干扰较不敏感。
实验结论：TTL和CMOS集成门电路在功耗、延迟时间和噪声容限方面有所不同。
TTL电路功耗较高，速度较快，但噪声容限较小；CMOS电路功耗较低，速度较慢，但噪声容限较大。
根据应用的具体要求选择适合的电路类型。
实验一TTL门电路的逻辑功能测试一、实验目的：1.了解TTL门电路的基本原理和逻辑功能；2.掌握TTL门电路的实验方法；3.学会使用逻辑分析仪测试TTL门电路的逻辑功能。
二、实验原理：TTL（Transistor-Transistor Logic）是一种基于晶体管的数字集成电路。
TTL门电路由NPN型和PNP型晶体管构成，通过输入端的电平状态控制输出端的电平状态。
常用的TTL门电路有与门、或门、非门、与非门、或非门等。
1. 与门（AND gate）：只有当所有输入端都为高电平（逻辑1）时，输出端才为高电平；否则输出端为低电平（逻辑0）；2. 或门（OR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端就为高电平；否则输出端为低电平；3. 非门（NOT gate）：输出端与输入端的电平相反；4. 异或门（XOR gate）：当输入端的逻辑状态不同时，输出端为高电平；否则输出端为低电平；5. 与非门（NAND gate）：当所有输入端都为高电平时，输出端为低电平；否则输出端为高电平；6. 或非门（NOR gate）：只要有任意一个输入端为高电平，输出端为低电平。
三、实验仪器和器件：1.实验仪器：逻辑分析仪、示波器、直流电源、万用表；2.实验器件：TTL芯片（具体选用与门、或门、非门、与非门、或非门等）。
四、实验步骤：1.确定使用的TTL芯片，并查阅该芯片的技术手册，了解其引脚的功能和使用要求；2.将TTL芯片插入到实验面包板或焊接板上，根据技术手册连接相应的电源、输入端和输出端；3.打开逻辑分析仪，并将TTL芯片的输出端连接到逻辑分析仪的输入端，将TTL芯片的输入端连接到逻辑分析仪的输出端；4.打开逻辑分析仪的电源，并设置逻辑分析仪的采样频率和采样时间；5.根据TTL芯片的引脚定义和逻辑功能，设计特定的输入信号，并观察逻辑分析仪输出的波形；6.根据逻辑功能的定义，验证TTL芯片的输出是否与预期一致；7.记录实验数据，并分析实验结果。
一种面向TTL集成电路的小型检测仪设计孙韩;朱军【摘要】The design is based on MCS51 MCU,construct the digital ICs trouble testing system design for the TTL. This system can test logic function of TTL series digital logic chip fast and accurate,judge the quality and model of the chip. The use of the detector can reduce the test time,improve the detection efficiency,reduce the labor intensity. The detector has good transplantation and expansibility.%本文基于MCS51单片机，构建了一种面向TTL集成短路芯片的小型检测仪。
该检测仪能快速、准确地对TTL系列数字逻辑芯片的逻辑功能进行检测，从而判断芯片的好坏和型号。
该检测仪的使用，能减少了测试时间，提高了检测效率，降低了劳动强度。
该检测仪具有良好的移植和扩展性。
【期刊名称】《办公自动化（综合版）》【年(卷),期】2015(000)008【总页数】2页(P35-36)【关键词】集成电路;故障检测;MCS51单片机【作者】孙韩;朱军【作者单位】安徽大学电子信息工程学院合肥 230601;安徽大学电子信息工程学院合肥 230601【正文语种】中文【中图分类】TN431.2;TH89集成电路（IC）是二十世纪发展起来的高技术产业。
自1958年德州仪器公司制造出第一块集成电路以来，集成电路产业就以惊人的速度发展。
到目前为止，集成电路仍然基本遵循摩尔定律，集成度几乎每18个月增长一倍。
集成电路芯片测试仪（A题）一、任务设计制作一个集成电路芯片测试仪，能对常用的74系列逻辑芯片进行逻辑功能测试，以确定芯片的好坏和型号。
二、要求1.基本要求（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的00/02/04/08/10/11/20/21/27/30十种组合逻辑芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列的组合逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和逻辑表达式。
2.发挥部分将上述三项基本要求扩展到74系列时序电路：74/109/160/245等。
（1）通过键盘输入型号，可以对74系列的74/109/160/245等芯片进行逻辑功能测试，确定其功能正确性；（2）通过键盘输入管腿特性，可以确定上述74系列时序逻辑芯片的型号；（3）显示上述芯片的逻辑符号和状态转换图；（4）其它特色与创新。
1三、评分标准四、说明要求用单片机或DSP模块做成一个相对独立的整体，不能用PC机实现。
2LED显示棒（B题）一、任务设计制作一个依靠摇动能显示字符、图形的LED显示棒。
二、要求1.基本要求（1）设计一个基于LED的显示棒，LED灯必须线状排列，至少使用16只。
（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“A”字符。
（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出“电”字。
（4）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出国际奥委会五环图形。
（5）用按键实现显示切换，用电池供电。
2.发挥部分（1）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出英文单词“Welcome”。
（2）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出汉字词组“美亚”。
（3）摇动时形成的亮灯扇形区域能够让人分辨出北京奥运会会徽图形。
（4）其它特色与创新。
三、评分标准3四、说明不得用LED棒专用芯片实现。
4具有实时语音播报的超声波测距测速仪（C题）一、任务设计并制作一台具有实时语音播报的超声波测距测速仪，被测物为一块面积不大于30cmX20cm的实物（可以和小车装在一起）。
基于单片机的74系列数字芯片检测器的设计翟丽杰【摘要】In order to quickly identify unknown chip type, design a MCS-51 microcontroller as the core, using manual button control operation, LCD display test results of digital chip detector. The chip detector can complete the detection of 14 foot chip such as 74LS02, 74LS08, 74LS14, 74LS00,74LS74, 74LS86, etc. The test results show that the design can accurately detect the model and function of the chip, the operation is simple, the test speed is fast, the results are intuitive, the accuracy is high, and the cost is low.%为了快速识别未知芯片的类型,设计了以MCS-51单片机为核心,可以完成对74LS00、74LS02、74LS08、74LS14、74LS74、74LS86等14脚芯片的型号检测的数字芯片检测器.该芯片检测器利用手动按键进行控制操作,液晶显示屏显示检测结果.测试结果表明,该设计能够准确地检测出芯片的型号和功能完整性,操作简易,测试速度快,结果直观,准确率高,成本低.【期刊名称】《电子设计工程》【年(卷),期】2016(024)014【总页数】3页(P149-151)【关键词】集成电路测试;74系列(14脚)芯片;MCS-51单片机;芯片识别【作者】翟丽杰【作者单位】渭南师范学院物理与电气工程学院, 陕西渭南 714099【正文语种】中文【中图分类】TN602随着电子行业的蓬勃发展数字集成芯片的应用越来越多，近几年高校电子类专业的学生在实验中对于中小规模的数字集成芯片需求量越来越大［1］。
电子工艺制作TTL集成门电路逻辑功能测试电子工艺制作TTL集成门电路逻辑功能测试TTL是指晶体管-晶体管逻辑，是数字逻辑电路家族中最常用、最广泛的一种电路。
TTL电路具有工作稳定、速度快、功耗低等优点，因此在工控、通讯、计算机等领域都有着广泛的应用。
为了保证TTL电路的正常工作，需要对其进行逻辑功能测试以确保其输出的正确性。
本文将主要介绍TTL集成门电路的逻辑功能测试过程。
一、TTL集成门电路的逻辑功能测试TTL集成门电路是由晶体管、电阻、电容等元器件组成的数字逻辑电路，在实际应用中有着广泛的用途。
为了确保TTL电路的正常工作，需要对其进行逻辑功能测试。
逻辑功能测试是通过对输入信号进行干扰，观察输出信号变化特征，从而判断电路是否符合设计要求的测试过程。
TTL集成门电路的逻辑功能测试需要通过以下步骤完成：1.准备测试仪器进行逻辑功能测试时需要准备基本测试仪器，包括信号源、示波器和数字万用表等。
信号源产生输入信号，示波器用于观察信号的波形特征，数字万用表则用于测试电路的输出电平。
2.确定逻辑功能测试方案在进行逻辑功能测试之前，首先需要确定测试方案。
测试方案的设计应该充分考虑到电路的逻辑功能，确定输入信号的幅值和频率等参数。
同时，需要根据电路的实际应用情况，确定输出信号的测试方法和判断标准。
3.进行逻辑功能测试实验根据测试方案进行实验。
将信号源连接到电路的输入端口，将示波器连接到电路的输出端口。
在输入信号的情况下，观察输出信号的变化特征，同时使用数字万用表测试输出信号的电压。
通过观察和测量，判断电路的输出是否符合设计要求。
4.记录实验数据在逻辑功能测试实验过程中，需要记录测试数据。
记录的数据应该包括输入信号的幅值、频率、输出电平等参数，同时需要记录测试结果和分析。
5.分析和评估实验数据对记录的数据进行分析和评估，根据实验结果确定电路是否正常工作。
二、TTL集成门电路逻辑功能测试实验操作在进行TTL集成门电路逻辑功能测试实验操作时，需要掌握以下操作技巧：1.使用信号源信号源是进行逻辑功能测试的重要仪器，不同类型的信号源可能具有不同的特点。
一种实用的集成芯片测试仪的设计
在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。
目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS 数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学生人手一台；另外，该测试仪器是面向工程单位的，不能测试实验室中很多数字芯片。
因此，从节约经费、提高利用率的角度出发，我们采用AT89C52 单片机设计了集成芯片测试系统。
该测试系统能够实现对高校实验室中常用的TTL、CMOS 系列芯片及一些常用按键开关的功能检测，同时通过RS232 串行口与PC 机相连，可以在PC 机上直接对测试系统进行操作。
1 系统组成框图由图1 可知，该测试仪的硬件电路由AT89C52 单片机，并行扩展接口8155，显示驱动，键盘输入，看门狗和复位电路以及串行接口电路组成。
按照芯片测试插座旁边的指向，插入待测的数字芯片或按键；通过键盘输入指令或数字，单片机经过键盘扫描从8155 读回键值，根据键值执行相应的子程序。
假设输入测试命令键，单片机将调用测试子程序，并将测试结果送到显示器上显示（“good”or“bad”）；假设输入数字键，单片机会自动将输入的数字
显示到显示器上；假设输入其它命令键，单片机将调用相应的功能子程序，执行相应的命令。
2 系统硬件设计
2.1 单片机
单片机采用美国ATMEL 公司生产的AT89C52 单片机。
该芯片不仅具有MCS-51 系列单片机的所有特性，而且片内集有8K 字节的电擦除闪速存储器（Flash ROM），价格低。
由于使用片内程序存储器，所以，EA/VP 接高电平；AT89C52 的最大工作频率为24MHz，系统利用单片机的内部振荡器加石英晶。
集成TTL门电路实验报告1. 实验目的本实验旨在通过搭建和测试集成TTL门电路，加深对数字电路和集成电路工作原理的理解，并掌握实验仪器的操作。
2. 实验器材和材料•集成TTL门电路芯片（例如74LS00）•面包板•连接线•电路原件（例如电阻、电容等）•逻辑分析仪3. 实验原理集成TTL门电路是一种常用的数字电路，由多个晶体管和其他电子元件组成。
本实验将使用74LS00芯片，该芯片包含4个与非门，每个与非门有两个输入端（A和B）和一个输出端（Y）。
与非门的输出是输入端A和输入端B的逻辑“非”运算结果。
具体而言，当输入A和输入B都为低电平（0）时，输出Y为高电平（1）；否则，输出Y为低电平（0）。
4. 实验步骤步骤1: 连接集成TTL芯片将74LS00芯片插入面包板中，确保芯片的引脚对齐面包板的电气网格。
使用连接线将芯片的引脚与其他电路元件连接起来。
步骤2: 连接输入信号将输入信号接入与非门的输入端A和输入端B。
可以使用电压源模拟输入信号，或者通过开关来实现高低电平切换。
步骤3: 连接输出信号将与非门的输出端Y连接到逻辑分析仪或示波器上，以观察输出信号变化。
步骤4: 调试和观察通过改变输入信号的状态，观察与非门的输出信号变化。
记录每种输入组合下的输出结果，并进行观察和分析。
步骤5: 实验结果分析根据实验记录和观察结果，可以总结与非门的逻辑运算规律。
例如，当输入A 和输入B都为低电平时，输出Y为高电平；否则，输出Y为低电平。
5. 实验注意事项•在进行实验前，应确保实验仪器和电路连接正确，以避免损坏设备或导致不准确的实验结果。
•实验过程中应注意使用正确的电压和电流，以保护电路元件和设备。
•实验结束后，应将实验仪器和电路拆除，保持实验室的整洁和安全。
6. 实验结论通过本次实验，我们成功搭建了集成TTL门电路，并观察并分析了与非门的逻辑运算规律。
实验结果表明，与非门可以实现输入信号的逻辑“非”运算。
实验的成功完成加深了我们对数字电路和集成电路工作原理的理解，并提升了我们对实验仪器操作的熟练程度。
实验一TTL集成逻辑门的测试与仪器的使用一、实验目的1．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数测试方法。
2．掌握TTL器件的使用规则3．熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法。
4．进一步熟悉实验仪器仪表的使用二、实验原理本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑符号及引脚排列如图1(a)、1(b)、1(c)所示。
图1(a) 图1(b) 图1(c)原电子工业部标准国家标准（GB）74LS20引脚排列（SJ）逻辑符号逻辑符号1.与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“l”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为Y＝⋅⋅⋅AB2.TTL与非门的主要参数（l）低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH。
与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，电源提供器件的电流。
通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件最大的功耗为PCCL =VCCLICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的源电流和总的功耗。
ICCL 和ICCH测试电路如图2（a）、（b）所示。
[注意]: TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在±5v ±10%的范围内工作，超过5.5v 将损坏器件；低于4.5v 器件的逻辑功能将不正常。
图 2 TTL 与非门静态参数测试电路图（2）低电平输入电流I iL 与高电平输入电流I iHI iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中， I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。
摘要集成电路（IC）测试是伴随着电子技术的发展而来的，数字集成芯片在使用过程中容易被损坏，用肉眼不易观察。
早期的人工测试方法对一些集成度高，逻辑复杂的数字集成电路显得难于入手，因而逐渐被自动测试所取代，因此很需要设计一种能够方便测试常用芯片好坏的仪器。
本系统以单片机AT89C52为核心,由芯片测试插座、独立按键、74HC573驱动8位数码管显示、5V直流电源控制模块等组成。
根据数字集成芯片的引脚特性以及集成芯片的真值表编写测试程序。
该系统能完成14脚以内常用TTL74、54系列数字集成芯片的功能测试。
关键字：测试仪；数字集成电路；单片机ABSTRACTIntegrated circuit (IC) test is accompanied with the development of electronic technology, Digital integrated chip is easily damaged during use, and difficult to observe with the naked eye. Early manual test methods for some high integration, the logic of complex digital integrated circuits become difficult，thus gradually replaced by automated testing, so it is necessary to design a testing instrument to distinguish the Common chips is good or bad conveniently.The system is with AT89C52 microcontroller at the core, including the chip test socket，the independent button, 74HC573drives an 8-bit digital display, 5V DC power supply control module and other components, etc. According to the characteristics of digital IC pins and the truth table write integrated chip test program. The system can be completed within 14 feet common TTL74, 54 series digital integrated chip functional test.Keywords: tester; digital integrated circuit; microprocessor control unit目录1系统总体方案 (1)2 系统硬件电路设计 (2)2.1硬件系统电路原理框图 (2)2.2硬件系统电路各模块设计 (2)2.2.1 MCS-52单片机最小系统 (2)2.2.2 独立按键模块 (3)2.2.3 芯片测试模块 (4)2.2.4 显示模块 (5)2.2.5 电源供电模块 (7)3 系统软件设计 (8)3.1 测试对象TTL74系列芯片简介 (8)3.2 测试原理 (8)3.3 程序流程图 (9)3.4 模块程序关键代码 (11)3.4.1 主程序 (11)3.4.2 独立按键扫描程序 (11)3.4.3 74HC573控制数码管显示程序 (15)3.4.4 信号检测程序 (17)4 系统仿真测试 (19)总结 (21)致谢 (22)参考文献 (23)附录 (24)附录A 源程序 (24)附录B 元件清单 (35)附录C 整体电路图 (36)1系统总体方案在数字集成电路的设计、制造和应用阶段，不可避免地会出现故障，为了保证数字集成电路工作的可靠性，需要对其进行必要的测试。
设计门电路自动测试仪目的在于能够方便检测数字集成芯片的好坏。
然而，由于常用的TTL系列芯片种类繁多，不同型号的数字集成芯片其逻辑功能不同、引脚排列不同、甚至哪些引脚作为输入，哪些引脚作为输出都不固定，也就是说，某个型号的集成芯片的其中一只引脚是输入脚，而另一个型号的集成芯片的同一只引脚却可能是输出脚了。
在进行硬件电路设计时，必须要有这样的接口电路：和集成芯片引脚连接的检测端口既可作为输入，又可作为输出。
正由于上述原因，本方案设计一套数字集成电路测试装置，能够实现对指定几种14脚常见的74系列数字电路测试。
芯片有74LS00、74LS04、74LS20、74LS74、74LS86。
对数字系统进行测试基本方法是：从数字集成电路的原始输入端施加若干输入矢量作为激励信号，观察由此产生的输出响应，并与预期的正确结果进行比较，一致则表示芯片完好，不一致则表示芯片有故障。
因此判断一个集成电路芯片是否存在故障，可用该芯片被检测出来的功能是否同设计规范的功能一致来判断。
要让测试结果直观明了，就需设计一个显示模块显示对应测试结果，在此系统中我选用8位数码管来显示芯片型号和两个发光二极管显示测试结果。
此外，由于集成芯片的型号不同，为了提高测试的效率，还需设计一个独立按键模块用于输入检测芯片的型号，方便操作。
综合以上所涉及的几个问题，完整的门电路自动测试仪应包括按键输入模块，显示模块，芯片测试插座模块，结合单片机最小系统来加以控制。
在确立硬件结构的基础上，结合软件完成。
软件部分主要由数据检测程序和显示驱动程序，以及按键子程序三大部分组成。
在设计过程中，首先使用Protel和Proteus仿真软件作为开发平台来进行硬件电路的设计，并运用软件Keil uVision编写程序完成系统的仿真实现，结合软、硬件完成系统的整体调试。
2 系统硬件电路设计2.1硬件系统电路原理框图该测试系统的原理框图如下图1所示。
图1 测试仪原理框图此次所设计的数字集成电路检测系统由单片机控制单元，独立按键输入单元，信号检测单元，数码管显示单元和电源供电单元组成。
2.2硬件系统电路各模块设计2.2.1 MCS-52单片机最小系统MCS-52单片机内部主要由CPU，存储器，可编程I/O口，定时器/计数器，串行口，中断控制系统，时钟电路等组成。
52系列单片机应用广泛，成本低，控制应用等电路成熟。
此系统中，我选择单片机AT89C52最小系统进行控制，，它的P0、P1、P2、P3端口是准双向I/O口：既可作为输入口，又可作为输出口,为信号的检测控制奠定了重要的基础。
其连接如图2所示。
图2 AT89C52单片机最小系统单片机在电路中起到控制整个系统的作用，无论是信号检测，还是数码管显示，都通过编程完成控制。
2.2.2 独立按键模块采用独立按键的优点是控制程序和硬件电路都很简单，缺点是如果每个按键都要占用一个I/O口，当按键较多时占用I/O口较多。
但考虑到本次设计只需要三个按键：检测型号键、复位键、自动检测键。
因此在实际的测试中分别对应P3.0\P3.1\P3.2通过按键查询就可以简单的起到控制输入的目的。
值得注意的是，在用单片机对按键处理的时候涉及到了一个重要的过程，那就是按键的去抖动。
当用手按下一个键时，按键并不会立刻稳定地接通，在释放一个键时，也不会立刻断开。
因而在闭合和断开的瞬间都会伴随着一连串的抖动。
抖动的持续时间随按键材料和操作员而异，不过通常总是不5-10ms。
这种抖动对于单片机来说是完全可以感觉到的，所以必须消除抖动。
通常有两种方法可以消除抖动，一种是硬件方法，需要硬件电路，另一种是软件方法，用软件方法可以很容易地解决抖动问题，只需通过延迟10ms 来等待抖动消失这之后，在读入按编码值。
所以，我们采用软件消抖法。
独立按键电路如图3所示。
图3 独立按键与单片机连接图2.2.3芯片测试模块结合单片机的I/O口使用情况，以及设计的局限，在该系统中我选用了16脚的通用IC紧锁座作为芯片测试插座，能够测试14脚以下的常用数字集成芯片。
根据AT89C52中P0口与P2口的特点，本设计采用AT89C52的P1口和P2口连接测试芯片接口，单片机的P0口的P0.0—P0.7，P2口中的P2.0—P2.5共14条通用I/O线和检测插座构成了检测电路，其中，P2口中P2.7用于控制14管脚电源地转换，因为规则芯片的右上脚都为电源(Vcc)，左下脚都为地(GND)。
测试插座优先考虑14脚的通用测试情况。
单片机与测试插座之间的连接如图4所示。
图4 单片机与测试插座连接图在单片机与紧锁座之间需串接470Ω（或510Ω）的电阻。
串接电阻目是对AT89C52起限流保护作用，假设，P2.0输出高电平，此时，测试芯片又为非门，那么将引起灌电流现象，致使P2.0口线上电流非常大，对AT89C52有害。
2.2.4显示模块（1）数码管显示模块在系统中，由于系统的独立按键模块和测试插座模块已经使用了单片机的P1,P2和P3口，只剩下一组I/O口可供选择。
74HC573是8数据锁存器。
主要用于数码管、按键等的控制，至此，我选用一块芯片74HC573直接控制8位数码管。
有效的节省了单片机的I/O口的使用，极大地简化了硬件电路。
由5片芯片74HC573和4个7段共阴极数码管构成了显示电路，用于向用户提供按键输入信息及输出检测结果等。
通过单片机的三个I/O口来控制信号输入。
74HC573与AT89C52单片机的硬件连接如图6所示，74HC573锁存器的数据输入端连接单片机的P0口，P0口同时加了上拉电阻，数码管中的C1，C2，C3，C4是它们的位选端。
图674HC573驱动8位数码（2）发光二极管显示模块为了使测试结果直观明了，分别在单片机的两个I/O口P3.6和P3.7分别串接两分别显示芯片好坏两种状态，发光二极管与单片机连接图个红、绿色发光二极管连接图如图7所示。
图7 发光LED指示灯与单片机连接图2.2.5 电源供电模块在该设计系统中，所需电压都为直流5V，它由电源变压器，桥式整流电路（4个二极管D1～D4构成），滤波电容，防止自激电容和一只固定式三端稳压器(LM7805)极为简捷方便地搭成的，为了保证输入LM7805电压的稳定性，在7805之前我使用一只7812保证电流稳定输入12V。
如图8所示，220V交流电通过电源变压器变换成交流低压，再经过桥式整流电路BR1和滤波电容C6的整流和滤波，在固定式三端稳压器LM7812和LM7805的Vin和GND两端形成一个并不十分稳定的直流电压(该电压常常会因为市电电压的波动或负载的变化等原因而发生变化)，此直流电压经过LM7812和LM7805的稳压和C4,C5的滤波便在稳压电源的输出端产生了精度高、稳定度好的直流输出电压。
