1米平面光栅摄谱仪检定记录

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一米平面光栅摄谱仪检定记录
仪器名称
型号
相板号
制造厂家
出厂编号
检定员
检定单位
温度
检定日期
检定证书号
湿度
校核人
1、全谱面质量
质量描述:
摄谱条件:
2、谱线黑度均匀性
铁谱线波长
(nm)
Si
S
△Si



上Hale Waihona Puke 中下Fe 256.347
Fe298.729
Fe337.079
3、分辨率
铁谱线线对
(nm)
Ii
I
I0
0.19I0
I1
I2
I3
Fe 256.830—Fe 234.809
Fe 308.011—Fe 307.999
Fe 350.506—Fe 350.487
4、色散率
铁谱线线对
(nm)
Li(mm)
△L
(mm)
△λ
(mm)
D=△λ/△L
L2
L1
Fe 282.328—Fe 283.244
5、常用元素出现浓度
元素
光栅闪耀波长300nm
仪器出厂检定值
检查结果
测定线波长nm
出现浓度%
出现浓度%
Ni
341.48
0.003
Pb
283.30
0.0003
Sn
317.00
0.0001
Bi
306.71
0.0001
Co
345.30
0.003
检定结果
项目或参数
检定结果评述
全谱面质量
谱线黑度均匀性
分辨率
色散率
常用元素出现浓度
密封性
外观