焦平面探测器典型知识
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红外焦平面探测器介绍红外焦平面探测器(Infrared Focal Plane Array Detector,以下简称IRFPA)是一种用于探测红外辐射的器件,可广泛应用于航天、军事和民用领域。
它能够实时、高效地探测并转换红外辐射能量为电信号,从而实现红外图像的获取和处理。
工作原理IRFPA的工作原理基于红外辐射与物体表面的相互作用。
当红外辐射照射在IRFPA上时,它会导致IRFPA内的感光元件产生电子-空穴对。
感光元件通常由半导体材料制成,如硒化铟(InSb)、硫化镉汞(CdHgTe)等。
这些电子-空穴对随后在感光元件中分离并转换为电信号。
IRFPA的关键组件是焦平面阵列(Focal Plane Array,以下简称FPA),它由大量排列成矩阵的感光元件组成。
每个感光元件都对应于焦平面上的一个像素,因而整个FPA可以同时探测多个红外像素。
这些像素的信号经过放大和处理后,可以生成红外图像。
型号和特性IRFPA的型号和特性各不相同,取决于其应用领域和需求。
以下是一些常见的IRFPA型号和相应的特性:1.分辨率:IRFPA的分辨率指的是其能够探测到的最小单位像素数量。
一般而言,分辨率越高,探测到的红外图像越清晰。
常见的分辨率有320x240、640x480等。
2.帧率:IRFPA的帧率是指其每秒能够获取和处理的红外图像数量。
较高的帧率可以捕捉到快速移动的物体,对于一些动态场景非常重要。
3.波段范围:不同的IRFPA可以探测不同波长范围的红外辐射,如近红外(NIR),短波红外(SWIR),中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)。
选择适当波段范围的IRFPA取决于具体的应用需求。
4.灵敏度:IRFPA的灵敏度是指其能够探测到的最小红外辐射强度。
较高的灵敏度意味着IRFPA可以探测到较微弱的红外辐射,对于一些低信噪比场景非常重要。
应用领域IRFPA在多个领域具有广泛的应用。
以下是一些常见的应用领域:1.热成像:IRFPA可以通过探测物体表面的红外辐射,用于热成像和温度分布检测。
二类超晶格红外焦平面探测器载流子收集结构引言红外焦平面探测器在军事、航天、安防等领域具有广泛的应用。
二类超晶格红外焦平面探测器是一种新型的红外探测器,具有高灵敏度、高分辨率等优点。
其中,载流子收集结构是实现红外焦平面探测器高性能的关键之一。
本文将深入探讨二类超晶格红外焦平面探测器的载流子收集结构。
二类超晶格红外焦平面探测器简介二类超晶格红外焦平面探测器是一种基于超晶格结构的红外探测器。
它采用了二类超晶格结构的探测单元,可以实现在较宽的波长范围内高效率地探测红外辐射。
二类超晶格红外焦平面探测器的载流子收集结构对于提高探测器的性能至关重要。
载流子收集结构的意义载流子收集结构是红外焦平面探测器中的关键组成部分,它主要负责收集探测单元中产生的载流子,并将它们传递到输出电路中。
良好的载流子收集结构可以提高探测器的灵敏度和响应速度,同时降低噪声和暗电流。
常见的载流子收集结构1.金属收集结构:金属收集结构是最常见的载流子收集结构之一。
它利用金属电极将产生的载流子引导到输出电路中。
金属收集结构具有简单、成本低等优点,但由于金属电极的存在,会对红外辐射的探测产生遮挡效应,降低探测器的灵敏度。
2.掺杂区收集结构:掺杂区收集结构采用了掺杂区域来收集载流子。
通过在探测单元的表面或内部形成掺杂区,可以有效地收集载流子。
掺杂区收集结构具有较高的灵敏度和较低的暗电流,但制备工艺较为复杂。
3.引入电场的收集结构:引入电场的收集结构通过引入外加电场的方式,将产生的载流子收集到输出电路中。
它可以提高载流子的移动速度,从而提高探测器的响应速度和灵敏度。
然而,引入电场的收集结构需要额外的电源供应,增加了系统的复杂性。
优化载流子收集结构的方法1.优化电极设计:通过优化金属电极的形状和尺寸,可以减小金属电极对红外辐射的遮挡效应,提高探测器的灵敏度。
2.优化掺杂区设计:通过调节掺杂区的深度和浓度,可以实现更高的载流子收集效率和更低的暗电流。
二类超晶格红外焦平面探测器载流子收集结构二类超晶格红外焦平面探测器载流子收集结构简介二类超晶格红外焦平面探测器是一种用于红外光学系统中的关键元件,用于检测和转换红外辐射为电信号。
其中,载流子收集结构是该探测器的重要组成部分。
载流子收集结构是用于收集探测器中电子和空穴这两种载流子的组织体系。
它的主要作用是有效地收集产生的载流子,并将它们传送到输出电极,从而产生电信号。
在二类超晶格红外焦平面探测器中,常见的载流子收集结构包括PN结、金属-绝缘体-半导体(MIS)结和顶面金属透明电极(TME)。
这些结构的设计都旨在提高载流子的收集效率和响应速度。
PN结是最常见的载流子收集结构之一。
它通过在探测器中形成正负电荷势垒来收集和分离载流子。
当红外辐射进入探测器时,它会促使产生电子和空穴。
这些载流子会受到PN结中的电场作用,被有效地收集到不同的区域,进而形成电信号。
MIS结是另一种常用的载流子收集结构。
它包括金属、绝缘体和半导体三个层次。
当红外光照射到探测器表面时,产生的载流子会在绝缘体和半导体之间形成电荷层。
通过对金属电极的调节,可以控制电荷的收集和传输,进而产生电信号。
顶面金属透明电极(TME)结构是一种通过改变透明电极上的能带结构来实现载流子收集的方法。
这种结构可以提高载流子的传输效率和能量转换效率,从而提高探测器的灵敏度和响应速度。
总之,二类超晶格红外焦平面探测器中的载流子收集结构起着至关重要的作用。
不同的结构设计可以在提高载流子收集效率的同时,保持较高的光电转换效率和响应速度,从而实现更好的红外光检测性能。
红外焦平面探测器的国内外技术现状和发展趋势一、焦平面APD探测器的背景及特点焦平面APD探测器主要是由:APD阵列和读出电路(ROIC)两部分组成,其中APD是核心元件。
1、APD雪崩光电二极管(APD)是一种具有内部增益的半导体光电转换器件,具有量子响应度高、响应速度快、线性响应特性好等特点,在可见光波段和近红外波段的量子效率可达90%以上,增益在10~100倍,新型APD材料的最大增益可达200倍,有很好的微弱信号探测能力。
2、APD阵列的分类按照APD的工作的区间可将其分为:Geiger-modeAPD(反向偏压超过击穿电压)和线性模式APD(偏压低于击穿电压)两种。
(1)Geiger-modeAPD阵列的特点优点:1)极高的探测灵敏度,单个光子即可触发雪崩效应,可实现单光子探测;2)GM-APD输出信号在100ps量级,即有高的时间分辨率,进而有较高的距离分辨率,厘米量级;3)较高的探测效率,采用单脉冲焦平面阵列成像方式;4)较低的功耗,体积小,集成度高;5)GM-APD输出为饱和电流,可以直接进行数字处理,读出电路(ROIC)不需要前置放大器和模拟处理模块,即更简单的ROIC。
缺点:1)存在死时间效应:GM-APD饱和后需要一定时间才能恢复原来状态,为使其可以连续正常工作需要采用淬火电路对雪崩进行抑制。
2)GM-APD有极高的灵敏度,其最噪声因素更加敏感,通道之间串扰更严重。
(2)线性模式APD阵列的特点优点:1)光子探测率高,可达90%以上;2)有较小的通道串扰效应;3)具有多目标探测能力;4)可获取回波信号的强度信息;5)相比于GM-APD,LM-APD对遮蔽目标有更好的探测能力。
缺点:1)灵敏度低于GM-APD;(现今已经研制出有单光子灵敏度的LM-APD)2)读出电路的复杂度大于GM-APD(需对输入信号进行放大、滤波、高速采样、阈值比较、存储等操作)。
(其信号测量包括强度和时间测量两部分)按照基底半导体材料APD可分为:SiAPD、GeAPD、InGaAsAPD、HgCdTeAPD。
四、红外焦平面器件红外焦平面器件(IRFPA)就是将CCD、CMOS技术引入红外波段所形成的新一代红外探测器,是现代红外成像系统的关键器件。
IRFPA建立在材料、探测器阵列、微电子、互连、封装等多项技术基础之上。
1. IRFPA的工作条件IRFPA通常工作于1~3μm、3~5μm和8~12μm的红外波段并多数探测300K背景中的目标。
典型的红外成像条件是在300K背景中探测温度变化为0.1K的目标。
用普朗克定律计算的各个红外波段300K背景的光谱辐射光子密度:随波长的变长,背景辐射的光子密度增加。
通常光子密度高于1013/cm2s的背景称为高背景条件,因此3~5μm 或8~12μm波段的室温背景为高背景条件。
上表同时列出了各个波段的辐射对比度,其定义为:背景温度变化1K所引起光子通量变化与整个光子通量的比值。
它随波长增长而减小。
IRFPA工作条件:高背景、低对比度。
2. IRFPA的分类按照结构可分为单片式和混合式按照光学系统扫描方式可分为扫描型和凝视型按照读出电路可分为CCD、MOSFET和CID等类型按照制冷方式可分为制冷型和非制冷型按照响应波段与材料可分为1~3μm波段(代表材料HgCdTe—碲镉汞)3~5μm波段(代表材料HgCdTe、InSb—锑化铟和PtSi—硅化铂)8~12μm 波段(代表材料HgCdTe)。
3. IRFPA的结构IRFPA由红外光敏部分和信号处理部分组成。
红外光敏部分——材料的红外光谱响应信号处理部分——有利于电荷的存储与转移目前没有能同时很好地满足二者要求的材料——IRFPA结构多样性(1)单片式IRFPA单片式IRFPA主要有三种类型:非本征硅单片式IRFPA主要缺点是:要求制冷,工作于8~14μm的器件要制冷到15~30K,工作于3~5μm波段的器件要制冷到40~65K;量子效率低,通常为5%~30%;由于掺杂浓度的不均匀,使器件的响应度均匀性较差。
本征单片式IRFPA将红外光敏部分与转移部分同作在一块窄禁带宽度的本征半导体材料上。
制冷型红外焦平面探测器原理制冷型红外焦平面探测器是一种用于红外光谱测量和红外成像的关键元件。
它可以将红外辐射转化为电信号,通过信号处理和放大,最终得到红外图像或光谱信息。
本文将从原理角度来介绍制冷型红外焦平面探测器的工作原理。
制冷型红外焦平面探测器的工作原理基于光电效应和热电效应。
当红外辐射照射到焦平面探测器上时,光电效应使得光子被吸收,激发探测器中的载流子。
然后,载流子在电场的作用下被分离,形成电荷。
这些电荷将被电极收集,产生一个电信号。
然而,由于热噪声的存在,红外探测器本身会产生一定的噪声信号,从而降低探测器的灵敏度。
为了提高探测器的性能,制冷型红外焦平面探测器采用了制冷技术,通常是通过热电制冷或制冷机制冷来降低探测器的工作温度。
降低温度可以减少热噪声,提高探测器的信号噪声比和灵敏度。
制冷型红外焦平面探测器通常由多个像素组成,每个像素都是一个微小的探测单元。
每个像素都包含一个红外探测器和相关的电子学元件。
当红外辐射通过透镜聚焦到焦平面探测器上时,每个像素都会产生一个电信号,这些电信号可以表示红外辐射的强度和分布情况。
为了进一步提高探测器的性能,制冷型红外焦平面探测器通常还包括一些辅助功能。
例如,探测器通常配备有滤波器,用于选择特定波长范围内的红外辐射。
滤波器可以通过光学设计来选择所需的波长范围,并将其他波长的辐射阻挡掉,从而提高探测器的选择性能。
探测器还包括信号处理电路和放大电路。
这些电路可以对探测器产生的微弱电信号进行放大和处理,以提高信号质量和稳定性。
信号处理电路可以对信号进行滤波、放大、调制等操作,以适应不同的应用需求。
制冷型红外焦平面探测器在很多领域都有广泛的应用。
例如,在军事领域,它可以用于夜视仪、导弹导航系统、无人机等设备中,提供夜间或低能见度环境下的图像信息。
在工业领域,它可以用于红外热成像仪,用于检测设备的故障和异常情况。
在医疗领域,它可以用于红外体温计、红外医学成像等应用,用于监测人体温度和诊断疾病。
红外焦平面探测器的国内外技术现状和发展趋势一、焦平面APD探测器的背景及特点焦平面APD探测器主要是由:APD阵列和读出电路(ROIC)两部分组成,其中APD是核心元件。
1、APD雪崩光电二极管(APD)是一种具有内部增益的半导体光电转换器件,具有量子响应度高、响应速度快、线性响应特性好等特点,在可见光波段和近红外波段的量子效率可达90%以上,增益在10~100倍,新型APD材料的最大增益可达200 倍,有很好的微弱信号探测能力。
2、APD阵列的分类按照APD的工作的区间可将其分为:Geiger-mode APD(反向偏压超过击穿电压)和线性模式APD(偏压低于击穿电压)两种。
(1)Geiger-mode APD阵列的特点优点:1)极高的探测灵敏度,单个光子即可触发雪崩效应,可实现单光子探测;2)GM-APD输出信号在100ps量级,即有高的时间分辨率,进而有较高的距离分辨率,厘米量级;3)较高的探测效率,采用单脉冲焦平面阵列成像方式;4)较低的功耗,体积小,集成度高;5)GM-APD输出为饱和电流,可以直接进行数字处理,读出电路(ROIC)不需要前置放大器和模拟处理模块,即更简单的ROIC。
缺点:1)存在死时间效应:GM-APD饱和后需要一定时间才能恢复原来状态,为使其可以连续正常工作需要采用淬火电路对雪崩进行抑制。
2)GM-APD有极高的灵敏度,其最噪声因素更加敏感,通道之间串扰更严重。
(2)线性模式APD阵列的特点优点:1)光子探测率高,可达90%以上;2)有较小的通道串扰效应;3)具有多目标探测能力;4)可获取回波信号的强度信息;5)相比于GM-APD,LM-APD对遮蔽目标有更好的探测能力。
缺点:1)灵敏度低于GM-APD;(现今已经研制出有单光子灵敏度的LM-APD)2)读出电路的复杂度大于GM-APD(需对输入信号进行放大、滤波、高速采样、阈值比较、存储等操作)。
(其信号测量包括强度和时间测量两部分)按照基底半导体材料APD可分为: Si APD、Ge APD、InGaAs APD、HgCdTe APD。
一、焦平面APD探测器的背景及特点焦平面APD探测器主要是由:APD阵列和读出电路(ROIC)两部分组成,其中APD是核心元件。
1、APD雪崩光电二极管(APD)是一种具有内部增益的半导体光电转换器件,具有量子响应度高、响应速度快、线性响应特性好等特点,在可见光波段和近红外波段的量子效率可达90%以上,增益在10~100倍,新型APD材料的最大增益可达200 倍,有很好的微弱信号探测能力。
2、APD阵列的分类按照APD的工作的区间可将其分为:Geiger-mode APD(反向偏压超过击穿电压)和线性模式APD(偏压低于击穿电压)两种。
(1)Geiger-mode APD阵列的特点优点:1)极高的探测灵敏度,单个光子即可触发雪崩效应,可实现单光子探测;2)GM-APD输出信号在100ps量级,即有高的时间分辨率,进而有较高的距离分辨率,厘米量级;3)较高的探测效率,采用单脉冲焦平面阵列成像方式;4)较低的功耗,体积小,集成度高;5)GM-APD输出为饱和电流,可以直接进行数字处理,读出电路(ROIC)不需要前置放大器和模拟处理模块,即更简单的ROIC。
缺点:1)存在死时间效应:GM-APD饱和后需要一定时间才能恢复原来状态,为使其可以连续正常工作需要采用淬火电路对雪崩进行抑制。
2)GM-APD有极高的灵敏度,其最噪声因素更加敏感,通道之间串扰更严重。
(2)线性模式APD阵列的特点优点:1)光子探测率高,可达90%以上;2)有较小的通道串扰效应;3)具有多目标探测能力;4)可获取回波信号的强度信息;5)相比于GM-APD,LM-APD对遮蔽目标有更好的探测能力。
缺点:1)灵敏度低于GM-APD;(现今已经研制出有单光子灵敏度的LM-APD)2)读出电路的复杂度大于GM-APD(需对输入信号进行放大、滤波、高速采样、阈值比较、存储等操作)。
(其信号测量包括强度和时间测量两部分)按照基底半导体材料APD可分为: Si APD、Ge APD、InGaAs APD、HgCdTe APD。
红外焦平面阵列红外测量技术2009-12-08 21:07:23 阅读110 评论0 字号:大中小订阅1、红外焦平面阵列原理焦平面探测器的焦平面上排列着感光元件阵列,从无限远处发射的红外线经过光学系统成像在系统焦平面的这些感光元件上,探测器将接受到光信号转换为电信号并进行积分放大、采样保持,通过输出缓冲和多路传输系统,最终送达监视系统形成图像。
2、红外焦平面阵列分类(1)根据制冷方式划分根据制冷方式,红外焦平面阵列可分为制冷型和非制冷型。
制冷型红外焦平面目前主要采用杜瓦瓶/快速起动节流致冷器集成体和杜瓦瓶/斯特林循环致冷器集成体[5]。
由于背景温度与探测温度之间的对比度将决定探测器的理想分辨率,所以为了提高探测仪的精度就必须大幅度的降低背景温度。
当前制冷型的探测器其探测率达到~1011cmHz1/2W-1,而非制冷型的探测器为~109cmHz1/2W-1,相差为两个数量级。
不仅如此,它们的其他性能也有很大的差别,前者的响应速度是微秒级而后者是毫秒级。
(2)依照光辐射与物质相互作用原理划分依此条件,红外探测器可分为光子探测器与热探测器两大类。
光子探测器是基于光子与物质相互作用所引起的光电效应为原理的一类探测器,包括光电子发射探测器和半导体光电探测器,其特点是探测灵敏度高、响应速度快、对波长的探测选择性敏感,但光子探测器一般工作在较低的环境温度下,需要致冷器件。
热探测器是基于光辐射作用的热效应原理的一类探测器,包括利用温差电效应制成的测辐射热电偶或热电堆,利用物体体电阻对温度的敏感性制成的测辐射热敏电阻探测器和以热电晶体的热释电效应为根据的热释电探测器。
这类探测器的共同特点是:无选择性探测(对所有波长光辐射有大致相同的探测灵敏度),但它们多数工作在室温条件下[6]。
(3)按照结构形式划分红外焦平面阵列器件由红外探测器阵列部分和读出电路部分组成。
因此,按照结构形式分类,红外焦平面阵列可分为单片式和混成式两种[7]。
第六章红外热成像器件与技术6.4 红外焦平面探测器◆焦平面的概念与基本结构◆肖特基势垒探测器◆量子阱与量子点探测器◆倒装互连技术红外焦平面探测器6.4 红外焦平面探测器6.4.1 焦平面的基本概念与结构类型焦平面的概念和结构类型红外焦平面阵列探测器由红外探测器和具有扫描功能的信号读出器组合而成的红外焦平面阵列,是凝视型红外热成像系统的核心。
红外焦平面阵列包括光敏元件和信号处理两个部分,可采用不同的光子探测器、信号电荷读出器及多路传输。
具有里程碑意义的几项技术:半导体精密光刻技术:使探测器技术由单元向多元线列探测器迅速发展,即后来称为第一代探测器。
Si集成电路技术:Si读出电路与光敏元大面阵耦合,诞生了所谓第二代的大规模红外焦平面列阵(IRFPA)探测器,更进一步有Z平面和灵巧型智能探测器等新品种。
先进的薄层材料生长技术:分子束外延(MBE)、金属有机化学气相淀积(MOCVD)和液相外延(LPE)等技术,可重复、精密控制生长大面积高度均匀材料,使制备大规模红外焦平面列阵成为可能,也是量子阱探测器出现的前提。
制冷技术:高性能探测器的低温要求,驱动微型制冷机的开发,制冷技术又促进了探测器的研制和应用。
红外焦平面阵列探测器有缘学习更多+谓ygd3076考证资料或关注桃报:奉献教育(店铺)红外焦平面阵列探测器-单片式❖CCD材料本身就对红外敏感,故集探测、转移功能于一体;❖红外探测器与CCD做在同一基底上,基底通常为Si,而探测器部分常用非本征材料,基本结构为金属-绝缘物-半导体。
❖典型情况分:本征窄带半导体IR-CCD非本征半导体IR-CCD肖特基势垒IR-CCD红外焦平面阵列探测器-混合式❖主要特点:把探测器和CCD移位寄存器(或CMOS)分开,CCD(或CMOS)仍用普通硅制成,工艺相对成熟,而对几个重要的红外波段,都已经发展了性能优良的本征红外探测器。
因此,将两者耦合起来组成混合焦平面技术,能获得高量子效率高性能的红外FPA。
红外焦平面阵列红外焦平面阵列原理、分类1、红外焦平面阵列原理焦平面探测器的焦平面上排列着感光元件阵列,从无限远处发射的红外线经过光学系统成像在系统焦平面的这些感光元件上,探测器将接受到光信号转换为电信号并进行积分放大、采样保持,通过输出缓冲和多路传输系统,最终送达监视系统形成图像。
2、红外焦平面阵列分类(1)根据制冷方式划分根据制冷方式,红外焦平面阵列可分为制冷型和非制冷型。
制冷型红外焦平面目前主要采用杜瓦瓶/快速起动节流致冷器集成体和杜瓦瓶/斯特林循环致冷器集成体[5]。
由于背景温度与探测温度之间的对比度将决定探测器的理想分辨率,所以为了提高探测仪的精度就必须大幅度的降低背景温度。
当前制冷型的探测器其探测率达到~1011cmHz1/2W-1,而非制冷型的探测器为~109cmHz1/2W-1,相差为两个数量级。
不仅如此,它们的其他性能也有很大的差别,前者的响应速度是微秒级而后者是毫秒级。
(2)依照光辐射与物质相互作用原理划分依此条件,红外探测器可分为光子探测器与热探测器两大类。
光子探测器是基于光子与物质相互作用所引起的光电效应为原理的一类探测器,包括光电子发射探测器和半导体光电探测器,其特点是探测灵敏度高、响应速度快、对波长的探测选择性敏感,但光子探测器一般工作在较低的环境温度下,需要致冷器件。
热探测器是基于光辐射作用的热效应原理的一类探测器,包括利用温差电效应制成的测辐射热电偶或热电堆,利用物体体电阻对温度的敏感性制成的测辐射热敏电阻探测器和以热电晶体的热释电效应为根据的热释电探测器。
这类探测器的共同特点是:无选择性探测(对所有波长光辐射有大致相同的探测灵敏度),但它们多数工作在室温条件下[6]。
(3)按照结构形式划分红外焦平面阵列器件由红外探测器阵列部分和读出电路部分组成。
因此,按照结构形式分类,红外焦平面阵列可分为单片式和混成式两种[7]。
其中,单片式集成在一个硅衬底上,即读出电路和探测器都使用相同的材料,如图1所示。
红外焦平面探测器原理-概述说明以及解释1.引言1.1 概述红外焦平面探测器是一种具有广泛应用价值的光电探测器,它能够对红外辐射进行高效、高灵敏度的检测和测量。
红外焦平面探测器的原理是基于材料的红外辐射响应特性以及焦平面阵列的工作原理。
红外焦平面探测器在许多领域中具有重要的应用,包括军事、安防、医疗、航空航天等。
它能够实现夜视、目标探测、温度测量等功能,在战争、反恐、火灾救援等工作中发挥着不可替代的作用。
红外焦平面探测器的工作原理是利用材料与红外辐射的相互作用,将红外辐射转化成电信号。
通过光学系统将红外辐射聚焦到焦平面阵列上,每个像素都能够独立地检测和测量红外辐射信号。
这些信号经过放大和处理后,可以得到目标的红外辐射分布情况和强度。
红外焦平面探测器的核心部件是焦平面阵列,它由众多微小的探测单元组成。
这些探测单元通常采用半导体材料,如硅基或砷化镓等。
它们具有很高的响应度和灵敏度,能够在较低的红外辐射强度下实现可靠的探测和测量。
随着红外焦平面探测技术的不断发展,红外焦平面探测器的性能和应用领域也在不断扩展。
新的材料和工艺的应用使得红外焦平面探测器具有更高的灵敏度、更快的响应速度和更广的波段范围。
未来,红外焦平面探测器有望在军事侦察、航空航天探测、医疗诊断等领域取得更多的突破和应用。
1.2文章结构文章结构部分的内容可以按照以下方式编写:1.2 文章结构本文主要围绕红外焦平面探测器的原理展开论述,共分为以下几个部分:第二部分:红外焦平面探测器的基本原理这一部分将介绍红外焦平面探测器的基本概念及其组成结构。
首先会对红外辐射的特性进行简要描述,为后续理解红外焦平面探测器的工作原理打下基础。
然后,将详细介绍红外焦平面探测器的组成结构,包括光学系统、红外感光器件等部分,以帮助读者了解其工作原理的关键要素。
第三部分:红外焦平面探测器的工作原理这一部分将深入探讨红外焦平面探测器的工作原理。
首先会对红外焦平面探测器的工作过程进行整体概述,包括信号采集、信号处理等环节。
红外焦平面探测器的国内外技术现状和发展趋势一、焦平面APD探测器的背景及特点焦平面APD探测器主要是由:APD阵列和读出电路(ROIC)两部分组成,其中APD是核心元件。
1、APD雪崩光电二极管(APD)是一种具有内部增益的半导体光电转换器件,具有量子响应度高、响应速度快、线性响应特性好等特点,在可见光波段和近红外波段的量子效率可达90%以上,增益在10~100倍,新型APD材料的最大增益可达200 倍,有很好的微弱信号探测能力。
2、APD阵列的分类按照APD的工作的区间可将其分为:Geiger-mode APD(反向偏压超过击穿电压)和线性模式APD(偏压低于击穿电压)两种。
(1)Geiger-mode APD阵列的特点优点:1)极高的探测灵敏度,单个光子即可触发雪崩效应,可实现单光子探测;2)GM-APD输出信号在100ps量级,即有高的时间分辨率,进而有较高的距离分辨率,厘米量级;3)较高的探测效率,采用单脉冲焦平面阵列成像方式;4)较低的功耗,体积小,集成度高;5)GM-APD输出为饱和电流,可以直接进行数字处理,读出电路(ROIC)不需要前置放大器和模拟处理模块,即更简单的ROIC。
缺点:1)存在死时间效应:GM-APD饱和后需要一定时间才能恢复原来状态,为使其可以连续正常工作需要采用淬火电路对雪崩进行抑制。
2)GM-APD有极高的灵敏度,其最噪声因素更加敏感,通道之间串扰更严重。
(2)线性模式APD阵列的特点优点:1)光子探测率高,可达90%以上;2)有较小的通道串扰效应;3)具有多目标探测能力;4)可获取回波信号的强度信息;5)相比于GM-APD,LM-APD对遮蔽目标有更好的探测能力。
缺点:1)灵敏度低于GM-APD;(现今已经研制出有单光子灵敏度的LM-APD)2)读出电路的复杂度大于GM-APD(需对输入信号进行放大、滤波、高速采样、阈值比较、存储等操作)。
(其信号测量包括强度和时间测量两部分)按照基底半导体材料APD可分为: Si APD、Ge APD、InGaAs APD、HgCdTe APD。
焦平面探测器典型知识
红外焦平面阵列(IRFPA)技术已经成为当今红外成像技术发展的主要方向。
红外焦平面阵列像元的灵敏度高,能够获取更多的信息以及更高的可变帧速率。
红外焦平面阵列探测器对入射的红外能量进行积分,然后产生视频图像,经过调节后被提供给视频显示器,以供人观察。
焦平面阵列每个像元的输出是一种模拟信号,它是与积分时间内入射在该元件上的红外能量成正比的。
但是由于制造工艺和使用环境的影响,即使对温度均匀的背景,焦平面背景中所有像元产生的输出信号也是不一致的,即红外焦平面阵列器件的非均匀性(Nonuniformity,NU)。
为了满足成像系统的使用要求,需要对红外焦平面阵列探测器进行非均匀性校正。
从生产工艺而言,单纯从提高焦平面阵列质量的角度来降低其非均匀性,不仅困难而且造价昂贵。
因此,通过校正算法减小非均匀性对红外焦平面阵列成像质量的影响,提高成像质量,不仅是必须的,同时具有很高的经济价值和应用价值。
目前,对红外图像质量的改善,一般是根据红外焦平面阵列对于温度响应的不一致性,采用非均匀性校正的方法,提高红外图像的质量。
主要有两类校正方法:基于红外参考辐射源的非均匀性校正算法和基于场景的自适应校正方法。
在实际应用中,普遍采用的是基于红外参考辐射源定标的校正方法。
但是,采用参考辐射源定标的校正方法校正的红外图像,因红外焦平面阵列器件由于长时间的工作,受到时间、环境等因素的影响,红外图像质量逐渐下降,出现类似细胞状和块状的斑纹,影响了红外图像的质量。
所以,需要在基于参考辐射源定标的校正方法的基础上,对于红外图像的质量进行改善。