荧光光谱仪用的滤光片

滤光片的截止波长
滤光片的截止波长是指滤光片开始透过或阻挡特定波长的光线的临界点。

滤光片可以设计成透明特定波长范围的光，同时阻挡其他波长的光。

不同类型的滤光片有不同的截止波长。

以下是一些常见的滤光片类型及其截止波长：
1.红外滤光片：截止波长在可见光范围内，通常在700纳米左右。

这样的滤光片会阻挡红外辐射，使得相机或其他光学设备主要感应可见光。

2.紫外滤光片：截止波长通常在400纳米左右。

这样的滤光片用于阻挡紫外线，只透过可见光。

3.蓝光滤光片：用于减少眩光和蓝光辐射，截止波长一般在450纳米左右。

这样的滤光片在眼镜或屏幕上使用，有助于保护眼睛。

4.荧光滤光片：用于观察荧光材料发射的荧光信号，截止波长取决于所观察的荧光颜色。

5.带通滤光片：不同类型的带通滤光片有不同的截止波长，通常设计成透过某个窄带的波长。

这些波长的选择取决于特定应用的需求。

在科学、工业、医学和摄影等领域，滤光片的设计都根据具体的光学要求进行优化。

手持式光谱仪的滤光片对测样结果有什么影响？在手持式光谱仪厂商提供的参数表中，会有一项叫做“滤光片”的参数，往往会写一些元素名称，比如铝Al, 钨W等。

在诸如检测铝合金、土壤等材料的过程中，经常会听到“滋~滋~”声，这其实是手持式光谱仪内部电机转动的声音，在切换不同的滤光片。

那么，滤光片对我们检测的材料，检测的元素到底有什么影响？森沙仪器手持式光谱仪HX-5中光管、滤光片、样品三者的结构示意图森沙仪器手持式光谱仪HX-5X射线荧光的简单原理是光管发出X射线，照射到样品表面产生荧光，由探测器检测样品发出的荧光，根据其特性来判断所含哪些元素及其含量。

而从X射线光管发出的X射线对检测结果具有非常重要的作用。

首先X射线光管决定了这台手持式X射线荧光光谱仪能够检测哪些元素。

森沙XRF知识介绍：原子具有波动性和粒子性，每种元素的波动性就用波长nm来表示，粒子性就用能量KeV来表示。

手持式光谱仪测的是粒子元素。

下面这张图就是一张用元素粒子能量来表示的元素周期表，元素越往后，能量越高。

光管发出的X射线不是无限的，而是有固定能量的，比如森沙仪器HX-5设定的光管电压为45 KeV，那么上图中，凡是元素周围四个能量中有一个小于45 KeV，这个元素就能够被HX-5手持式光谱仪检测。

如果四个能量都高于光管设定的电压，那么这个元素就测不了了。

但是能测并不代表测得准，测得低。

对于有些含量很低的样品，要有办法能够把检测元素的噪声降低，这样才能分辨清楚检测的元素。

对于含量比较高但是对检测稳定性有要求的元素，又要有办法把元素的信号提高，这样才能稳定。

所以滤光片就是一种非常好的解决问题的手段。

下面这张图是森沙仪器工程师用Ag靶的光管采用不同滤光片得到的X射线光管谱图。

编号1这张谱图是没有用滤光片得到的。

因为Ag靶的原因，在最左侧的低能量区域有个很高的峰，这个峰就影响了比如镁Mg，铝Al，硅Si这些元素的检出限，因为只有元素的峰高于编号1这段线才能被仪器读出有这个元素的峰，而这么高的峰往往含量是较高的。

荧光光谱仪结构
荧光光谱仪是一种用于测量物质荧光光谱的仪器，其主要结构包括以下部分：
1. 光源：荧光光谱仪通常采用氙灯、汞灯或激光器等作为光源，其发出的光通过一系列光学元件使其能够较为均匀地照射到样品上。

2. 入射系统：入射系统包括准直透镜和滤光片等组成，其主要功能是调节光源的光线方向和选择特定波长的光以照射到样品上。

3. 样品室：样品室是装置样品的地方，通常包括一个样品槽和一个样品台。

样品槽用于容纳样品（通常为液体样品），样品台用于放置固体样品。

4. 检测系统：检测系统包括一个光电二极管（或光电倍增管）、光栅或光学滤波器等组成。

荧光光谱仪通过检测样品中荧光物质发射的光信号，并使用光电二极管（或光电倍增管）将光信号转化为电信号，然后通过光栅或光学滤波器选择特定波长范围内的荧光光信号进行检测和测量。

5. 数据处理系统：数据处理系统用于接收和处理检测到的荧光光信号。

通常，荧光光谱仪会将检测到的荧光强度与波长相关的数据进行收集和记录，并提供相应的数据分析和处理功能。

综上所述，荧光光谱仪的主要结构包括光源、入射系统、样品
室、检测系统和数据处理系统。

这些组成部分共同协作，使荧光光谱仪能够准确地测量和分析荧光物质的光谱信息。

能量色散型X 射线荧光分析装置
(SHIMADZU EDX-7000/8000)
能量色散型X 射线荧光分析装置
EDX-7000/8000是用X 射线照射样品，
通过对产生的X 射线荧光能量（波长）
和强度分析，得到样品组成元素种类和
含量的分析仪器。

1. 轻松应对轻元素的高灵敏度检测；
2. 满足从初学者到专家的高操作性能；
3. 自动保存样品图像；
4. 配置高性能半导体检测器，实现无与伦比的分析性能。

测定原理：
X 射线荧光分析法
测定方法：
能量色散型 测定对象：
固体、液体、粉末 测定范围：
11Na~92U(EDX-7000) 6C~92U(EDX-8000) 样品室尺寸：
最大300(W)*275(D)*约100(H)mm(但不包括R 部分) 照射面积：
1、3、5、10mm Φ：4种自动切换 1次滤光片：
5种(含OPEN 为6种)自动切换 样品观察：
CMOS 图像装置 定量分析：
工作曲线法、共存元素校正FP 法、薄膜FP 法、背景FP 法 主机尺寸：
460(W)*590(D)*360(H)mm 主机重量：
约45KG EDX-7000/8000。

原子荧光光谱仪组成及应用_20240817125148原子荧光光谱仪（Atomic Fluorescence Spectrometer，AFS）是一种能够检测微量金属元素的仪器。

它使用原子荧光法（Atomic Fluorescence）进行分析，通过激发样品中的金属原子，使其发射荧光，然后测量荧光的强度来确定金属元素的存在和浓度。

该技术具有高选择性、高灵敏度、宽量程和广泛的应用范围等优点，因此在环境、食品、医药、冶金、石油等领域得到广泛应用。

1.光源：光源主要用于激发样品中的金属原子，常用的有汞灯、氩离子激光等。

2.样品系统：样品系统包括进样装置和雾化器，用于将待测样品引入光路。

进样装置的类型有多种，常见的包括液体进样器和气体进样器。

而雾化器则是将样品转化为气态的关键部件，常用的雾化器有电石墨炉和电感耦合等离子体等。

3.光学系统：光学系统用于分离和收集荧光信号，其主要由光栅、透镜、滤光片、光电倍增管等组成。

光栅用于分散入射光束，滤光片用于滤除杂散光。

透镜和光电倍增管用于捕捉和增强荧光信号。

4.信号处理系统：信号处理系统用于接收、放大和处理荧光信号。

它主要由放大器、数据采集卡和计算机组成。

放大器用于放大荧光信号，数据采集卡用于将信号转化为数字信号，并发送给计算机。

计算机则用于数据的处理、分析和显示。

1.环境监测：原子荧光光谱仪可用于水质、大气和土壤中的金属元素检测，如重金属污染物（铅、汞、镉等）的监测。

2.食品安全：原子荧光光谱仪可用于食品中的金属元素检测，如水产品中的汞含量、蔬菜中的铅含量等，有助于确保食品的安全和质量。

3.药物分析：原子荧光光谱仪可用于药物的金属元素含量测定，如中药材中的微量金属元素含量、药品中的重金属残留等。

4.冶金和矿产勘探：原子荧光光谱仪可用于冶金和矿产勘探中的金属元素分析，如矿石中的贵金属含量、冶金过程中的微量杂质监测等。

5.医学研究：原子荧光光谱仪可用于医学研究中的金属元素检测，如血液中的微量元素、体液中的重金属等。

荧光滤光片安全操作及保养规程荧光滤光片作为一种重要的实验用具，被广泛应用于生物学、药学、化学、材料科学、光学等领域的教学和科研中，其安全使用和保养具有重要意义。

安全操作规程1. 禁止空载使用荧光滤光片不仅对荧光显微镜的成像质量有重要作用，而且在使用时应选配适当的激发光源。

空载时使用荧光滤光片会发生光退火，会严重损伤荧光滤光片的性能，制造出成像有色差的现象。

因此，在使用荧光滤光片时，务必在激发光源的照射下进行，否则不仅影响成像效果，还会危害人体健康。

2. 避免强烈阳光暴晒荧光滤光片内含有特定的荧光成分，这些成分对阳光等紫外线较强的光线非常敏感，容易发生退色和劣化。

因此，在存储和使用时，需要远离阳光暴晒的地方进行存储。

3. 禁止使用过期的荧光滤光片荧光滤光片使用时间越长，其使用寿命就越短。

在使用之前需要检查荧光滤光片是否已过期，如果已经过期，则需要更换。

使用过期的荧光滤光片可能会影响成像效果以及影响研究结果的准确性。

4. 避免长时间使用长时间使用荧光滤光片会导致荧光滤光片受热变形、老化、退色和损坏等现象。

因此，在使用荧光滤光片时需要避免过度使用。

5. 禁止随意清洁荧光滤光片表面通常带有反光镀膜，这种反光镀膜非常脆弱，使用不当容易磨损。

因此，需要避免使用超声波清洗和酸碱性溶液清洗，使用干净柔软的棉织物擦拭荧光滤光片表面即可。

6. 储存注意事项荧光滤光片需要存储在温度适宜的环境下，避免存放在潮湿、高温、阳光直射或有振动的环境中。

存储的温度一般不超过25摄氏度。

保养规程1. 周期性检查荧光滤光片使用过程中，需要进行周期性检查。

通过定期检查荧光滤光片的状况，及时发现问题，避免对实验的影响。

2. 小心摆放荧光滤光片需要在干净平整的地方摆放，避免与其它实验用具混杂在一起，避免受到其它物品的磕碰、压力等可能导致损坏的情况。

3. 避免碰撞和摩擦荧光滤光片表面比较脆弱，容易磨损和划伤。

因此，在平常使用和存储过程中，需要注意避免与实验用具产生碰撞和摩擦。

荧光光谱仪光谱分析的过程光谱仪工作原理荧光光谱仪接受复合滤光片（多金属复合材料）设计，简化分析操作，削减了X光的损失，形成对于特定元素的较佳信号接受，同时保证对元素周期表中Mg—Th的全部元素均有较佳的激发效果。

荧光光谱仪复合滤光片显著削减更换滤波片造成的分析时间的挥霍，削减操作人员接受辐照的时间，有助于削减X射线对操作人员的损害，同时大大提高分析多种元素的效率。

荧光光谱仪光谱分析的过程:1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化（变化成气态原子），并使气态原子的外层电子激发至高能态。

当从较高的能级跃迁到较低的能级时，原子将释放出多余的能量而发射出特征谱线。

这一过程称为蒸发、原子化和激发，需借助于激发光源来实现。

2．把原子所产生的辐射进行色散分光，按波长次序记录在感光板上，就可呈现出有规定的光谱线条，即光谱图。

荧光光谱仪借助于摄谱仪器的分光和检测装置来实现。

3．依据所得光谱图进行定性鉴定或定量分析。

由于不同元素的原子结构不同，当被激发后发射光谱线的波长不尽相同，即每种元素都有其特征的波长，故依据这些元素的特征光谱就可以精准无误的辨别元素的存在（定性分析），而这些荧光光谱仪光谱线的强度与试样中该元素的含量有关，因此还可利用这些谱线的强度来测定元素的含量（定量分析）。

拉曼光谱仪在高分子材料的实在应用拉曼光谱仪是一种散射光谱。

拉曼光谱分析法是讨论分子振动、转动的光谱分析方法，在有机化学方面紧要用作有机物质的结构鉴定和分子相互作用手段，和红外光谱作用相互补充，可以辨别特别的结构特征和特征基团。

在高分子的讨论中，拉曼光谱可供应聚合物材料结构方面的很多紧要信息。

如分子结构与构成、立体规整性、结晶与去向、分子相互作用，以及表面和界面的结构等。

拉曼光谱仪在高分子材料的实在应用：1、化学结构和立构性判定：高分子中的C＝C、C—C、S—S、C—S、N—N等骨架对拉曼光谱特别敏感，常用来讨论高分子的化学组份和结构。

2、组分定量分析：拉曼散射强度与高分子的浓度成线性关系，给高分子组分含量分析带来便利。