砷化镓微波功率场效应晶体管及其集成电路与RF MEMS习题集
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半导体集成电路练习题一、基础知识类1. 填空题1.1 半导体材料主要包括________、________和________。
1.2 PN结的正向特性是指________,反向特性是指________。
1.3 MOS晶体管的三个工作区分别是________、________和________。
2. 判断题2.1 半导体集成电路的导电性能介于导体和绝缘体之间。
()2.2 N型半导体中的自由电子浓度高于P型半导体。
()2.3 CMOS电路具有静态功耗低的特点。
()二、数字电路类1. 选择题1.1 TTL与非门电路中,当输入端全部为高电平时,输出为()。
A. 高电平B. 低电平C. 不确定D. 无法判断A. 与门B. 或门C. 非门D. 异或门A. PMOS管导通时,NMOS管截止B. PMOS管截止时,NMOS管导通C. PMOS管和NMOS管同时导通D. PMOS管和NMOS管同时截止2. 填空题2.1 数字电路中的逻辑门主要有________、________、________和________等。
2.2 半加器是由________和________组成的。
2.3 全加器的三个输入端分别是________、________和________。
三、模拟电路类1. 选择题A. 非反相比例运算放大器B. 反相比例运算放大器C. 电压跟随器D. 差分放大器1.2 在运算放大器电路中,虚短是指________。
()A. 输入端短路B. 输出端短路C. 输入端与地之间短路D. 输入端与输出端之间短路A. 低通滤波器允许低频信号通过,抑制高频信号B. 高通滤波器允许低频信号通过,抑制高频信号C. 带通滤波器允许一定频率范围的信号通过D. 带阻滤波器允许一定频率范围的信号通过2. 填空题2.1 模拟信号的特点是________、________和________。
2.2 运算放大器的主要参数有________、________和________。
半导体试题及答案一、单项选择题(每题2分,共20分)1. 半导体材料的导电性介于金属和绝缘体之间,这是因为:A. 半导体材料内部存在大量的自由电子B. 半导体材料内部存在大量的空穴C. 半导体材料的能带结构D. 半导体材料的晶格结构答案:C2. 下列哪种掺杂方式可以增加半导体的导电性?A. N型掺杂B. P型掺杂C. 同时进行N型和P型掺杂D. 不进行任何掺杂答案:A3. 半导体的PN结在正向偏置时,其导通的原因是:A. 电子从P区注入N区B. 空穴从N区注入P区C. 电子和空穴的复合D. 电子和空穴的注入答案:D4. 半导体器件中,晶体管的放大作用主要依赖于:A. 基极电流B. 发射极电流C. 集电极电流D. 所有电流的总和5. 下列哪种材料不适合作为半导体材料?A. 硅B. 锗C. 铜D. 砷化镓答案:C6. 半导体器件的最小特征尺寸缩小,可以带来以下哪些好处?A. 降低成本B. 提高速度C. 减少功耗D. 所有以上答案:D7. 在半导体工艺中,光刻技术主要用于:A. 制造晶体管B. 制造集成电路C. 制造绝缘体D. 制造导线答案:B8. 半导体的能带理论中,价带和导带之间的区域被称为:A. 能隙B. 能级C. 能带D. 能区答案:A9. 下列哪种半导体器件具有记忆功能?B. 晶体管C. 存储器D. 逻辑门答案:C10. 半导体器件的热稳定性主要取决于:A. 材料的热导率B. 器件的散热设计C. 器件的制造工艺D. 所有以上答案:D二、多项选择题(每题3分,共15分)1. 半导体材料的特性包括:A. 导电性B. 绝缘性C. 半导体性D. 磁性答案:AC2. 下列哪些因素会影响半导体器件的性能?A. 温度B. 湿度C. 光照D. 电压答案:ABC3. 半导体器件的类型包括:A. 二极管B. 晶体管C. 集成电路D. 电阻答案:ABC4. 下列哪些是半导体材料的掺杂元素?A. 硼B. 磷C. 铜D. 锗答案:AB5. 在半导体工艺中,下列哪些步骤是必要的?A. 清洗B. 氧化C. 蒸发D. 抛光答案:ABC三、填空题(每题2分,共20分)1. 半导体材料的导电性主要依赖于______。
砷化镓微波功率场效应晶体管及其集成电路与RF MEMS习题集
1.GaAs器件及电路的主要优点是什么?p4
2.晶体中电子运动的一般规律是什么?请写出其关系式,并作简要说明。
P7
3.画出FET结构示意图和伏安特性,并作简要说明。
P9
4.简述FET设计内容与要求。
P12
5.画出FET等效电路,并说明图中各参量及其表达式以及表达式中各参数的物理意义。
P14-15
6.如何从FET的几何参数、物理参数求得微波参数?p16-21
7.如何从微波参数了解对物理参数、几何参数的要求与限制?p22-26
8.为什么功率FET设计要信号均衡分配,微波传输对FET尺寸有何限制?p27-29
9.功率FET设计应把握哪五大要素?p33
10.功率FET可靠性主要涉及哪几方面问题。
P41-47
11.用于FET GaAs材料单晶抛光片基本要求有哪些?p78
12.半绝缘单晶形成有源层方法一般有几种?离子注入方法有何特点?p79-89
13.分子束外延方法有何特点?p95-104
14.GaAs FET工艺特点是什么?p112
15.欧姆接触工艺途径是什么?p177 如何测量欧姆接触?p181
16.肖特基势垒形成主要通过那些工艺?p186-194
17.GaAs FET钝化的方法和作用是什么?p194
18.简述干法腐蚀工艺特点。
P220
19.简述空气桥和通路孔工艺特点。
P242-251
20.内匹配技术特点和作用是什么?p277-278
21.内匹配技术常用的元件有哪几种?内匹配常用的电路设计技术和基本原理建立在什么理
论基础上?预匹配和内合成基本框架是什么?它由哪几部分组成?p278-292
22.GaAs单片集成电路的特点是什么?与微波混合集成电路的主要区别有哪些?p299-302
23.GaAs单片集成电路主要应用有哪些?p302
24.GaAs MMIC设计主要考虑那些问题?p303-310
25.MMIC无源集总元件主要有哪些?p311-330
26.MMIC偏置电路设计主要作用有哪些?一般有哪几种偏置方式,各有何特点?p330-333
27.简述单片电路制作工艺。
P333-339
28.简述微波探针测试系统的作用与特点。
P339-345
29.行波放大器基本原理是什么?有何特点?p353-354
30.MMIC移相器有哪几种形式?各有何特点?p370-378
31.宽带改进型MMIC衰减器特点是什么?p383-385
32.FET和MMIC的技术进步主要表现在哪几个方面?p388
33.GaAs FET和MMIC微波封装特点有哪些?MMIC封装分为哪三个层次?p395-396
34.MMIC封装主要考虑哪些因素?p397-404
35.管壳设计主要考虑哪些因素?p405-409
36.简述管壳制造工艺。
P409-414
37.多芯片组件特点是什么?p460-461
38.简述相控阵雷达T/R组件基本要求及其在相控阵雷达中的作用。
P468-473
39.PHEMT中文意思是什么?与HEMT相比有何优点?p476-483
40.RF MEMS与半导体控制器件(PIN二极管和MESFET)相比有何优缺点?RF MEMS主要应用是什么?。