(2) 说明理由 晶体结构得稳定性与配位多面体共顶、共棱和 共面有关,涉及到两个正离子之间距离长短与 稳定性得关系: 两个正离子之间距离长,斥力小,结构稳定。 两个正离子之间距离短,斥力大,结构不稳定。
以四面体和八面体配位为例子:
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大家有疑问的,可以询问和交流
可以互相讨论下,但要小声点
设R1、 R2、 R3分别为共顶、共棱、共面时,中心正离 子之间距离;f1、 f2、 f3分别为共顶、共棱、共面时两个正 离子之间斥力:
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Pauling第三规则——
负离子多面体共用顶、棱和面得规则
内容:在配位型得晶体结构中,配位多面体共用棱, 特别共用面得存在会降低这个结构得稳定性, 对于高电价低配位得正离子,这种效应特别大。
说明: (1) 在硅酸盐结构中得[SiO4]、[MgO6]、 [AlO6]
各个之间共顶、共棱、共面连接,那种连结 方式稳定得问题。一般来说共顶连接最稳定, 共棱、共面连接不大稳定,对于[SiO4]只能 共顶连接,而[MgO6]、 [AlO6] 既可以共顶 10 连接,也可以共棱连接,甚至还可以共面连接。
(3) 空间格子: 属于面心立方格子。
(4) 质点得空间坐标: Cl-:0 0 0, ½ ½ 0,½ 0 ½,0 ½ ½ ; Na+:0 0 ½ ,½ 0 0,0 ½ 0, ½ ½ ½。
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(5) 正负离子堆积情况: 以半径大得Cl-作面心立方紧密堆积,形成n个 八面体空隙和2n个四面体空隙,根据Na+离子半径 大小以及正负离子之间结合得稳定性,Na+离子 就是填入全部得八面体空隙中。
说明: (1) 在晶体结构中正离子与负离子之间连接方式 越少越好; (2) 每种连接方式要满足静电价规则。