第二章 能谱测量系统信号处理
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实验六能谱仪成分分析一、实验目的1.了解能谱仪的原理、结构。
2.运用扫描电子显微镜/能谱仪进行样品微观形貌观察及微区成分的分析。
3.掌握扫描电镜及能谱仪的样品制备方法。
二、实验原理能谱仪(EDS)是利用X光量子有不同的能量,由Si(li)探测器接收后给出电脉冲讯号,经放大器放大整形后送入多道脉冲分析器,然后在显像管上把脉冲数-脉冲高度曲线显示出来,这就是X光量子的能谱曲线。
1.简介特征X射线分析法是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析,特别适用于分析试样中微小区域的化学成分。
其原理是用电子探针照射在试样表面待测的微小区域上,来激发试样中各元素的不同波长(或能量)的特征X射线(或荧光X射线)。
然后根据射线的波长或能量进行元素定性分析,根据射线强度进行元素的定量分析。
2.了解EX-250能谱仪的原理及构造X 射线的产生是由于入射电子于样品发生非弹性碰撞的结果,当高能电子与原子作用时, 它可能使原子内层电子被激发,原子处于激发状态,内层出现空位,此时,可能有外层电子向内层跃迁,外层和内层电子的能量差就以光子的形式释放出来,它就是元素的特征X射线。
1)分析原理高能电子束与样品原子相互作用,可引起一个内层电子的发射,使原子处于高能激发态。
在原子随后的去激过程中,即外层的电子发生跃迁时,会发射出某个能量的特征X-射线或俄歇电子,使原子降低能量。
若以辐射特征X-射线的形式释放能量,则λ=hc/E λ=hc/EK -EL2式中,λ-特征X射线的波长;E -特征X射线的能量;h —普朗克常数;c —光子。
元素的特征 X 射线能量和波长各有其特征值。
莫塞莱定律确定了特征 X-射线波长与元素的原子序数Z之间的关系:λ= P(Z −σ)-2式中,P —对特定始、终态的跃迁过程P为常数;σ—核屏蔽系数,K系谱线时σ=1。
2)能谱仪构造能谱仪主要由控制及指令系统、X射线信号检测系统、信号转换及储存系统、数据输出及显示系统组成。
数字信号处理习题解答 第二章 数据采集技术基础2.1 有一个理想采样系统,其采样角频率Ωs =6π,采样后经理想低通滤波器H a (j Ω)还原,其中⎪⎩⎪⎨⎧≥Ω<Ω=Ωππ30321)(,,j H a 现有两个输入,x 1(t )=cos2πt ,x 2(t )=cos5πt 。
试问输出信号y 1(t ),y 2(t )有无失真?为什么?分析:要想时域采样后能不失真地还原出原信号,则采样角频率Ωs 必须大于等于信号谱最高角频率Ωh 的2倍,即满足Ωs ≥2Ωh 。
解:已知采样角频率Ωs =6π,则由香农采样定理,可得 因为x 1(t )=cos2πt ,而频谱中最高角频率πππ32621=<=Ωh ,所以y 1(t )无失真;因为x 2(t )=cos5πt ,而频谱中最高角频率πππ32652=>=Ωh ,所以y 2(t )失真。
2.2 设模拟信号x (t )=3cos2000πt +5sin6000πt +10cos12000πt ,求:(1) 该信号的最小采样频率;(2) 若采样频率f s =5000Hz,其采样后的输出信号; 分析:利用信号的采样定理及采样公式来求解。
错误!采样定理采样后信号不失真的条件为:信号的采样频率f s 不小于其最高频率f m 的两倍,即f s ≥2f m错误!采样公式)()()(s nT t nT x t x n x s===解:(1)在模拟信号中含有的频率成分是f 1=1000Hz,f 2=3000Hz ,f 3=6000Hz∴信号的最高频率f m =6000Hz由采样定理f s ≥2f m ,得信号的最小采样频率f s =2f m =12kHz (2)由于采样频率f s =5kHz ,则采样后的输出信号⎪⎪⎭⎫⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛=⎪⎪⎭⎫⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛-⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛=⎪⎪⎭⎫⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛++⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛-+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛=⎪⎪⎭⎫⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛+⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛⎪⎭⎫ ⎝⎛=⎪⎪⎭⎫⎝⎛====n n n n n n n n n n n f n x nT x t x n x s s nTt s522sin 5512cos 13512cos 10522sin 5512cos 35112cos 105212sin 5512cos 3562cos 10532sin 5512cos 3)()()(πππππππππππ 说明:由上式可见,采样后的信号中只出现1kHz 和2kHz 的频率成分,即kHzf f f kHzf f f ss 25000200052150001000512211======,,若由理想内插函数将此采样信号恢复成模拟信号,则恢复后的模拟信号()()t t t f t f t y ππππ4000sin 52000cos 132sin 52cos 13)(21-=-=可见,恢复后的模拟信号y (t ) 不同于原模拟信号x (t ),存在失真,这是由于采样频率不满足采样定理的要求,而产生混叠的结果。
如何使用光电效应探测器进行能谱测量使用光电效应探测器进行能谱测量引言:光电效应探测器是一种常用的科学仪器,用于测量光的能谱分布。
它通过光电效应将光信号转化为电信号,进而得到光的能量分布信息。
本文将讨论如何使用光电效应探测器进行能谱测量,并介绍其原理、应用和实验步骤。
什么是光电效应探测器?光电效应探测器是一种能够将光信号转化为电信号的仪器。
它基于光电效应的原理,即光子入射到物质表面时,会使物质中的电子被激发并逸出,形成电流。
光电效应探测器可以将这种电流信号放大并测量,从而得到光的能谱分布信息。
光电效应探测器的原理:光电效应探测器的工作原理可以简单描述为以下几个步骤:光子入射→电子激发→电子逸出→电流产生。
当光子入射到探测器表面时,其能量被吸收,使得光电子被激发并获得足够的能量逸出物质表面。
逸出的光电子会形成电流,并由探测器内部的电路放大并测量。
通过测量电流的大小,可以得到不同波长或能量的光的能谱分布信息。
光电效应探测器的应用:光电效应探测器在许多科学研究领域中有广泛应用,例如光谱学、光化学、光谱分析等。
以光谱学为例,光电效应探测器可以用于测量和分析各种物质的发射光谱或吸收光谱。
通过分析光谱数据,可以获得物质的结构和性质等信息。
在光化学研究中,光电效应探测器可以用于研究光反应的动力学过程,如光解离、激发态动力学等。
此外,光电效应探测器还广泛应用于激光技术、太阳能研究等领域。
如何使用光电效应探测器进行能谱测量:使用光电效应探测器进行能谱测量需要一定的实验装置和步骤。
下面将介绍一种常见的实验方法。
实验装置:1. 光源:用于产生要测量的光信号。
可使用激光、灯泡或其他光源。
2. 光电效应探测器:将光信号转化为电信号的仪器。
可选择合适的探测器类型,例如光电二极管、光电倍增管等。
3. 光谱仪:用于分析光的波长或能量分布。
可选择光栅光谱仪、干涉光谱仪等。
4. 电路放大器和测量仪器:用于放大和测量光电效应探测器产生的电流信号。