9-2-4 短、窄沟道效应对阈值电压的影响2
窄沟道效应 现象:图1-1-9, W方向,电场的边缘效应使W增加 分析:耗尽层体积增加--使栅压控制的耗尽层电荷增加--使阈值电压增加 公式:1-2-30 其它 场区注入使Vt增加 漏感应势垒降低效应使Vt下降 综合公式:1-2-31
9-3 电流方程
MOS晶体管的瞬态特性
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9-1,MOS晶体管工作原理
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9-1-1 MOS晶体管的基本结构 MOS晶体管--- MOSFET,金属-氧化物-半导体场效应晶体管 基本结构:源区,漏区,沟道区,图1-1-2,图1-1-1, 主要结构参数: 沟道长度(1-1-2,栅极图形沟道长度poly,实际沟道长度S-D) 沟道宽度W (1-1-3, W= W1 +W2 +W3) 栅氧化层厚度tox 源漏区结深 Xj (见图1-1-1 )
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9-2-2 体效应对阈值电压的影响
Vbs不是0时,产生体效应。
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例:对 nmos管 Vbs <0,源和漏PN结反偏-- QBm 增加--阈值电压增加
计算:公式1-2-11和1-2-13(下页)
理论结果: Vbs增加,则阈值电压增加 衬底浓度增加,则阈值电压增加
实验结果:图1-2-1
1,材料: 金属类型фMS ,氧化层中的电荷QOX 半导体沟道区掺杂浓度NA 半导体材料参数 ni ; εi 2,氧化层厚度:越厚则阈值电压越大 衬底参杂高,则阈值电压越大 3,温度:温度上升,阈值电压下降 4,和器件的横向尺寸无关 调整考虑: 降低。以便降低芯片耗电。 控制器件类型 平衡对偶器管子(CMOS)