下载文档原格式
霍尔效应及其应用实验报告一、实验目的。
本实验旨在通过实验观察和数据分析，探究霍尔效应的基本原理及其在实际应用中的意义和作用。
二、实验原理。
霍尔效应是指当导电体中有电流通过时，放置在导电体中的磁场中，会在导电体的横向产生电动势。
这一现象被称为霍尔效应，其数学表达式为E=KBI，其中E为霍尔电动势，K为霍尔系数，B为磁感应强度，I为电流。
三、实验仪器和材料。
1. 霍尔元件。
2. 恒定电流源。
3. 磁场调节装置。
4. 数字示波器。
5. 电源。
6. 万用表。
7. 磁铁。
8. 直流电流表。
9. 直尺。
10. 实验导线。
11. 笔记本电脑。
四、实验步骤。
1. 将霍尔元件固定在实验台上，并连接好电路。
2. 通过磁场调节装置，调整磁场的强度和方向。
3. 通过数字示波器和万用表，测量霍尔元件在不同磁场下的霍尔电动势和电流。
4. 记录实验数据，并进行数据分析和处理。
5. 根据实验数据，探究霍尔效应的规律，并分析其在实际应用中的意义和作用。
五、实验结果与分析。
通过实验数据的测量和分析，我们发现在不同磁场下，霍尔电动势与电流呈线性关系，且霍尔电动势的大小与磁场的强度和电流的大小均有关。
这一结论与霍尔效应的基本原理相吻合。
六、实验应用。
霍尔效应在实际应用中有着广泛的意义和作用。
例如在传感器领域，霍尔元件可以用来测量电流、磁场和速度，广泛应用于汽车、航空航天、电子设备等领域。
另外，霍尔元件还可以用于磁场测量、磁场探测和磁场传感等方面，具有很高的实用价值。
七、实验总结。
通过本次实验，我们深入了解了霍尔效应的基本原理和实际应用，通过实验数据的测量和分析，验证了霍尔效应的存在，并探究了其在实际应用中的意义和作用。
同时也加深了我们对电磁学知识的理解和掌握。
八、实验心得。
通过本次实验，我对霍尔效应有了更深入的了解，实验过程中也锻炼了我的实验操作能力和数据处理能力，使我对电磁学知识有了更加直观和深刻的认识。
以上就是本次实验的全部内容，希望能对大家有所帮助。
霍尔效应及其应用实验报告数据处理一、实验目的本次实验的主要目的是通过测量霍尔电压、电流等物理量，深入理解霍尔效应的原理，并探究其在实际中的应用。
同时，通过对实验数据的处理和分析，提高我们的科学研究能力和数据处理技巧。
二、实验原理霍尔效应是指当电流垂直于外磁场通过导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差，这一现象称为霍尔效应。
假设导体中的载流子为电子，其电荷量为 e，平均定向移动速度为v，导体宽度为 b，厚度为 d，外加磁场的磁感应强度为 B。
则电子受到的洛伦兹力为 F ＝ e v B，在洛伦兹力的作用下，电子会向导体的一侧偏转，从而在导体两侧产生电势差，即霍尔电压 UH 。
根据霍尔效应的基本公式：UH ＝ RH I B ／ d ，其中 RH 为霍尔系数。
三、实验仪器霍尔效应实验仪、直流电源、毫安表、伏特表、特斯拉计等。
四、实验步骤1、连接实验仪器，将霍尔元件放入磁场中，确保磁场方向与霍尔元件平面垂直。
2、调节直流电源，给霍尔元件通入恒定电流 I ，并记录电流值。
3、用特斯拉计测量磁场的磁感应强度 B ，并记录。
4、测量霍尔元件两端的霍尔电压 UH ，改变电流和磁场的方向，多次测量取平均值。
五、实验数据记录以下是一组实验数据示例：｜电流 I （mA) ｜磁场 B （T) ｜霍尔电压 UH （mV) ｜｜｜｜｜｜ 500 ｜ 050 ｜ 250 ｜｜ 500 ｜ 100 ｜ 500 ｜｜ 500 ｜ 150 ｜ 750 ｜｜ 1000 ｜ 050 ｜ 500 ｜｜ 1000 ｜ 100 ｜ 1000 ｜｜ 1000 ｜ 150 ｜ 1500 ｜六、数据处理方法1、计算霍尔系数 RH根据公式 UH ＝ RH I B ／ d ，可得 RH ＝ UH d ／（I B) 。
由于 d 为霍尔元件的厚度，在实验中为已知量，因此可以通过测量不同电流和磁场下的霍尔电压，计算出霍尔系数 RH 。
大物实验报告霍尔效应【霍尔效应及其应用】霍尔效应是1879年美国物理学家霍尔读研究生期间在做研究载流子导体在磁场中受力作用实验时发现的。
阐述了霍尔效应的原理，霍尔元件的特点和分类以及在各个领域中的应用。
霍尔效应霍尔元件应用一、霍尔效应原理霍尔效应是1879年美国物理学家霍尔读研究生期间在做研究载流子导体在磁场中受力作用实验时发现的。
霍尔效应是载流试样在与之垂直的磁场中由于载流子受洛仑兹力作用发生偏转而在垂直于电流和磁场方向的试样的两个端面上出现等量异号电荷而产生横向电势差UH的现象。
电势差UH称为霍尔电压，EH称为霍尔电场强度。
此时的载流子既受到洛伦兹力作用又受到与洛伦兹力方向相反的霍尔电场力作用，当载流子所受的洛伦兹力与霍尔电场力相等时，霍尔电压保持相对稳定。
二、霍尔元件的特点和分类1.霍尔元件的特点。
霍尔元件的结构牢固，体积小，重量轻，寿命长，安装方便，功耗小，频率高（可达1MHZ），耐震动，不怕灰尘、油污、水汽及盐雾等的污染或腐蚀，调试方便等。
霍尔元件和永久磁体都能在很宽的温度范围(-40℃～1 50℃)、很强的振动冲击条件下工作，且磁场不受一般介质的阻隔。
另外它的变换器组件能够和相关的信号处理电路集成到同一片硅片上，体积小，成本低，且具有较好的抗电磁干扰性能。
2.霍尔元件的分类。
按照霍尔元件的结构可分为：一维霍尔元件、二维霍尔元件和三维霍尔元件。
一维霍尔元件又被称为单轴霍尔元件，它的主要参数是灵敏度、工作温度和频率响应。
运用此类器件时，就可将与适当的小磁钢一起运动的物体的位置、位移、速度、角度等信息以电信号的形式传感出来，达到了自动测量与控制的目的。
二维霍尔元件的结构是二维平面，也被称为平面霍尔元件；三维霍尔元件通常被称为非平面霍尔元件。
霍尔元件按功能可分为：线形元件、开关、锁存器和专用传感器。
三、霍尔效应的应用人们在利用霍尔效应原理开发的各种霍尔元件已广泛应用于精密测磁、自动化控制、通信、计算机、航天航空等工业部门及国防领域。
实验报告霍尔效应原理及其应用范文一、实验目的1.掌握霍尔效应的基本原理。
2.学习如何测量霍尔电压。
3. 理解霍尔元件在磁场中的行为。
4. 了解霍尔效应的应用。
二、实验原理当一块半导体板通过一恒定电流时，板的两端会出现电压VH，即霍尔电压，其方向垂直于板和当前通过板的电流方向。
2.霍尔电压得出公式VH = BIL/ne其中B为磁场强度，I为电流强度，L为元件长度，e为元件载流子密度，n为载流子电荷数。
当元件置于磁场中时，霍尔电压会随着磁场的改变而线性变化。
磁场的强度越强，霍尔电压也越大。
霍尔效应可以应用于测量磁场、磁场传感器、磁传动、自动控制系统等领域。
三、实验材料1.霍尔元件2.磁铁3.电压表4.电流表5.恒流源6.导线四、实验步骤1.将霍尔元件固定在导轨上，并连接电路。
2.将电压表连接到霍尔元件的输出端，并将恒流源连接到元件的输入端。
3.用绿色磁铁靠近元件，然后再用蓝色磁铁靠近元件，观察电表显示。
4.改变恒流源的电流大小，再次使用磁铁观察电表的显示。
5.多次重复步骤3和4，记录数据。
五、实验结果通过实验可得，当恒定电流增加时，霍尔电压随之增加；当磁场强度增加时，电压也会增加。
当磁场方向改变时，霍尔电压的方向也会改变。
利用这些变化，可以测量磁场的强度和方向。
本实验通过观察霍尔效应，学习了如何测量霍尔电压和了解了霍尔元件在磁场中的行为。
同时，实验还介绍了霍尔效应的应用。
通过实验得出数据，验证了霍尔电压与电流、磁场强度之间的关系，并且可以得到准确的磁场测量结果。
霍尔效应的应用实验报告一、实验目的本实验旨在通过对霍尔效应的研究，了解霍尔电压与外磁场、电流和材料性质的关系，掌握霍尔效应在实际应用中的基本原理和方法。
二、实验原理1. 霍尔效应简介当一定强度的电流通过一个导体时，如果该导体放置在一个垂直于电流方向的磁场中，则在导体两侧会产生一定大小的电势差，这种现象被称为“霍尔效应”。
2. 霍尔元件结构霍尔元件由一块n型半导体芯片组成，芯片上有四个电极：两个为输入端，两个为输出端。
输入端通过金属引线连接到外部电路，输出端则与示波器相连。
3. 霍尔电压计算公式根据霍尔效应的原理可得：VH = B × I × RH。
其中，VH为霍尔电压，B为外磁场强度，I为通过芯片的电流强度，RH为材料特性参数。
三、实验步骤1. 接线：将霍尔元件与示波器相连，并将输入端与稳压直流电源相连。
2. 调节：调节稳压直流电源的输出电压，使其保持在一定值。
3. 测量：记录芯片两侧的电压差，即为霍尔电压。
4. 改变磁场：通过改变外部磁场的方向和大小，测量不同条件下的霍尔电压。
四、实验结果分析1. 霍尔电压与外磁场强度的关系当外磁场强度增加时，霍尔电压也会随之增加。
这是因为外磁场会影响导体内部载流子的运动方向和速度，从而影响霍尔电势差的大小。
2. 霍尔电压与电流强度的关系当通过芯片的电流强度增加时，霍尔电压也会随之增加。
这是因为在相同外磁场条件下，通过芯片的载流子数量增多，产生的霍尔效应也会相应增大。
3. 霍尔常数测量结果根据实验数据计算得到芯片材料的霍尔常数RH约为0.05m³/C。
五、实验误差分析1. 外部磁场不均匀对实验结果产生一定影响。
2. 实验过程中可能存在接触不良或者线路松动等因素，导致测量结果产生误差。
六、实验结论通过本实验的研究，我们了解了霍尔效应的基本原理和方法，并掌握了霍尔电压与外磁场、电流和材料性质的关系。
同时，我们还成功测量得到了芯片材料的霍尔常数RH约为0.05m³/C。
霍尔效应原理及其应用实验报告霍尔效应是指在导电材料中，当有电流通过时，垂直于电流方向的磁场会产生一种电压差，这种现象被称为霍尔效应。
霍尔效应的发现者是美国物理学家爱德温·霍尔，他在1879年首次观察到了这一现象。
霍尔效应在现代科技中有着广泛的应用，尤其在传感器、电子设备和测量仪器中起着重要作用。
霍尔效应的原理非常简单，当导电材料中有电流通过时，电子会受到磁场的作用而产生偏转，这会导致材料的一侧产生正电荷，另一侧产生负电荷，从而形成电压差。
这个电压差被称为霍尔电压，它与电流、磁场强度和材料本身的特性有关。
为了更直观地理解霍尔效应，我们进行了一系列的实验。
首先，我们准备了一块导电材料，如硅片或镁锂铝合金片。
然后我们在材料上施加一定大小的电流，并在材料的一侧放置一块磁铁，产生垂直于电流方向的磁场。
接下来，我们使用电压表测量材料两侧的电压差，通过改变电流大小和磁场强度，我们记录了一系列数据，并进行了分析。
实验结果表明，霍尔电压与电流成正比，与磁场强度成正比，与材料本身的特性有关。
我们还发现，当改变磁场方向时，霍尔电压的极性也会发生变化。
这些实验结果验证了霍尔效应的基本原理，也为我们进一步应用霍尔效应提供了重要的参考。
在实际应用中，霍尔效应被广泛用于传感器和测量仪器中。
例如，霍尔传感器可以用来检测电流、磁场和位置，它具有灵敏度高、响应速度快、耐用等优点，因此在汽车、电子设备、工业自动化等领域得到了广泛应用。
另外，霍尔元件还可以用于制造霍尔开关、霍尔电流计等设备，为工程技术提供了重要支持。
总之，霍尔效应是一种重要的物理现象，它不仅有着深刻的理论意义，还有着广泛的应用前景。
通过实验我们对霍尔效应有了更深入的了解，相信在未来的科研和工程实践中，霍尔效应会发挥越来越重要的作用。
课程名称：大学物理实验（二）实验名称：霍尔效应及其应用
图3.3 霍尔器件输出特性测量仪器实物图
仪器操作注意事项
1、测试仪开关机前将I S和I M旋钮逆时针转到底，防止输出电流过大；
2、I S和I M接线不可颠倒，以防烧坏霍尔片；
3、式样应置于螺旋线圈/铁芯气隙内磁场均匀处（即尽量处于中心）。
4、电压表调零
，测试仪功能选择置于“V H”，然后调节I M=0.5A,d=0.5mm
K，单位为千高斯/安(KGs/A)
表5.1 V H—I S曲线图
表5.2测绘曲线V H—I M数据记录表
/mV V2/mV V3/mV V4/mV V
Is-B，+Is-B，-Is+B，-Is
-4.52 4.53-4.80
-6.07 6.11-6.36
-7.637.64-7.92
-9.199.20-9.47
-10.7510.76-11.03
-12.3112.32-12.60
图5.2V H—I M曲线图
测量螺线管轴线上磁场分布
图5.3螺线管轴线上磁场分布
I S曲线的数据处理如下
=0.500A，K=3.94(KGS/A)
V H1=V1−V2+V3−V4
4=2.64−(−2.54)+2.55−(−2.63)
4
=2.59(mV)
5.1；
B=KI M=0.394×0.5=0.197(T)。
霍尔效应及其应用实验报告摘要：霍尔效应是指当电流通过垂直于电场和磁场的导体时，会产生一种垂直于电流流向和磁场方向的电势差，这种现象称为霍尔效应。
本实验通过测量霍尔电势差和电流的关系，验证了霍尔效应的存在，并研究了其在磁通密度和电流变化下的性质。
最后，通过实验结果的分析，探讨了霍尔效应在实际应用中的潜力。
关键词：霍尔效应、霍尔电势差、磁通密度、导体、应用引言：霍尔效应是19世纪中叶由美国物理学家爱德华·霍尔首先发现的一种电磁现象。
霍尔效应不仅可以用于测量磁场的强度，还可以用于测量导体材料的电导率和载流子浓度。
因此，它在电子学领域有着广泛的应用。
实验目的：1.验证霍尔效应的存在。
2.研究霍尔电势差和电流的关系。
3.了解霍尔效应在磁通密度和电流变化下的性质。
4.探讨霍尔效应在实际应用中的潜力。
实验仪器和材料：1.霍尔效应实验装置（包括霍尔探头、恒流电源、磁铁等）。
2.电流表和电压表。
3.导线、电池等。
实验原理和步骤：1.实验原理：当电流通过垂直于电场和磁场的导体时，会产生一种垂直于电流流向和磁场方向的电势差，这种现象称为霍尔效应。
霍尔电势差与电流和磁通密度成正比。
2.实验步骤：(1)将霍尔探头连接到实验装置上，并调节磁铁的位置，使得磁场垂直于电流和导线。
(2)打开电源，设定一定的电流强度，并测量电压和电流的值。
(3)调整磁铁的位置，记录不同磁通密度下的电压和电流值。
(4)分析实验结果，得出霍尔电势差与电流和磁通密度的关系。
实验结果与分析：1.实验数据记录表：（略）2.实验结果分析：通过实验数据的分析，可以得出霍尔电势差与电流和磁通密度成正比的关系。
并且，在一定范围内，电流越大，霍尔电势差越大。
当磁通密度增加时，霍尔电势差也会随之增加。
实验结论：1.实验验证了霍尔效应的存在，证明了电流通过垂直于电场和磁场的导体时会产生霍尔电势差的现象。
2.实验结果表明，霍尔电势差与电流和磁通密度成正比。
3.霍尔效应具有测量磁场强度、导体电导率和载流子浓度等应用价值。
霍尔效应实验报告优秀4篇实验四霍尔效应篇一实验原理1．液晶光开关的工作原理液晶的种类很多，仅以常用的TN（扭曲向列）型液晶为例，说明其工作原理。
TN型光开关的结构：在两块玻璃板之间夹有正性向列相液晶，液晶分子的形状如同火柴一样，为棍状。
棍的长度在十几埃（1埃＝10-10米），直径为4～6埃，液晶层厚度一般为5-8微米。
玻璃板的内表面涂有透明电极，电极的表面预先作了定向处理（可用软绒布朝一个方向摩擦，也可在电极表面涂取向剂），这样，液晶分子在透明电极表面就会躺倒在摩擦所形成的微沟槽里；电极表面的液晶分子按一定方向排列，且上下电极上的定向方向相互垂直。
上下电极之间的那些液晶分子因范德瓦尔斯力的作用，趋向于平行排列。
然而由于上下电极上液晶的定向方向相互垂直，所以从俯视方向看，液晶分子的排列从上电极的沿－45度方向排列逐步地、均匀地扭曲到下电极的沿＋45度方向排列，整个扭曲了90度。
理论和实验都证明，上述均匀扭曲排列起来的结构具有光波导的性质，即偏振光从上电极表面透过扭曲排列起来的液晶传播到下电极表面时，偏振方向会旋转90度。
取两张偏振片贴在玻璃的两面，P1的透光轴与上电极的定向方向相同，P2的透光轴与下电极的定向方向相同，于是P1和P2的透光轴相互正交。
在未加驱动电压的情况下，来自光源的'自然光经过偏振片P1后只剩下平行于透光轴的线偏振光，该线偏振光到达输出面时，其偏振面旋转了90°。
这时光的偏振面与P2的透光轴平行，因而有光通过。
在施加足够电压情况下(一般为1～2伏)，在静电场的作用下，除了基片附近的液晶分子被基片“锚定”以外，其他液晶分子趋于平行于电场方向排列。
于是原来的扭曲结构被破坏，成了均匀结构。
从P1透射出来的偏振光的偏振方向在液晶中传播时不再旋转，保持原来的偏振方向到达下电极。
这时光的偏振方向与P2正交，因而光被关断。
由于上述光开关在没有电场的情况下让光透过，加上电场的时候光被关断，因此叫做常通型光开关，又叫做常白模式。
成都信息工程学院物理实验报告姓名： 专业： 班级： 学号： 实验日期： 2006-09-03一段 实验教室： 5206 指导教师：一、实验名称： 霍尔效应原理及其应用二、实验目的：1、了解霍尔效应产生原理；2、测量霍尔元件的H s V I -、H m V I -曲线，了解霍尔电压H V 与霍尔元件工作电流s I 、直螺线管的励磁电流mI 间的关系；3、学习用霍尔元件测量磁感应强度的原理和方法，测量长直螺旋管轴向磁感应强度B 及分布；4、学习用对称交换测量法（异号法）消除负效应产生的系统误差。
三、仪器用具：YX-04型霍尔效应实验仪（仪器资产编号）四、实验原理：1、霍尔效应现象及物理解释霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力B f 作用而引起的偏转。
当带电粒子（电子或空穴）被约束在固体材料中，这种偏转就导致在垂直于电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积，从而形成附加的横向电场。
对于图１所示。
半导体样品，若在ｘ方向通以电流s I ，在ｚ方向加磁场B ，则在ｙ方向即样品Ａ、Ａ′电极两侧就开始聚积异号电荷而产生相应的电场H E ，电场的指向取决于样品的导电类型。
显然，当载流子所受的横向电场力E B f f <时电荷不断聚积，电场不断加强，直到E B f f =样品两侧电荷的积累就达到平衡，即样品Ａ、Ａ′间形成了稳定的电势差（霍尔电压）H V 。
设H E 为霍尔电场，v 是载流子在电流方向上的平均漂移速度；样品的宽度为b ，厚度为d ，载流子浓度为n ，则有：s I nevbd= （1－1）因为E H f eE =，B f evB =，又根据E B f f =，则1s s H H H I BI B V E b R ne d d =⋅=⋅= （1－2）其中1/()H R ne =称为霍尔系数，是反映材料霍尔效应强弱的重要参数。
只要测出H V 、B 以及知道s I 和d ，可按下式计算3(/)H R m c ：H H s V dR I B =（1－3）B I U K S H H /= （1—4）H K 为霍尔元件灵敏度。
根据ＲH 可进一步确定以下参数。
（１）由H V 的符号（霍尔电压的正负）判断样品的导电类型。
判别的方法是按图１所示的s I 和B 的方向（即测量中的＋s I ，＋B ），若测得的H V ＜０（即Ａ′的电位低于Ａ的电位），则样品属Ｎ型，反之为Ｐ型。
（２）由H V 求载流子浓度n ，即1/()H n K ed =。
应该指出，这个关系式是假定所有载流子都具有相同的漂移速度得到的。
严格一点，考虑载流子的速度统计分布，需引入3/8π的修正因子（可参阅黄昆、谢希德著《半导体物理学》）。
（３）结合电导率的测量，求载流子的迁移率μ。
电导率σ与载流子浓度n 以及迁移率μ之间有如下关系：ne σμ= （1－5）2、霍尔效应中的副效应及其消除方法上述推导是从理想情况出发的，实际情况要复杂得多。
产生上述霍尔效应的同时还伴随产生四种副效应，使H V 的测量产生系统误差，如图２所示。
（１）厄廷好森效应引起的电势差E V 。
由于电子实际上并非以同一速度ｖ沿ｙ轴负向运动，速度大的电子回转半径大，能较快地到达接点３的侧面，从而导致３侧面较４侧面集中较多能量高的电子，结果３、４侧面出现温差，产生温差电动势E V 。
可以证明E s V I B ∞。
E V 的正负与s I 和B 的方向有关。
图２ 在磁场中的霍尔元件（２）能斯特效应引起的电势差N V 。
焊点１、２间接触电阻可能不同，通电发热程度不同，故１、２两点间温度可能不同，于是引起热扩散电流。
与霍尔效应类似，该热扩散电流也会在３、４点间形成电势差N V 。
若只考虑接触电阻的差异，则N V 的方向仅与磁场B 的方向有关。
（３）里纪-勒杜克效应产生的电势差RV 。
上述热扩散电流的载流子由于速度不同，根据厄廷好森效应同样的理由，又会在３、４点间形成温差电动势RV 。
RV 的正负仅与B 的方向有关，而与s I 的方向无关。
（４）不等电势效应引起的电势差0V 。
由于制造上的困难及材料的不均匀性，３、４两点实际上不可能在同一等势面上，只要有电流沿x 方向流过，即使没有磁场B ，３、４两点间也会出现电势差0V 。
0V 的正负只与电流s I 的方向有关，而与B 的方向无关。
综上所述，在确定的磁场B 和电流s I 下，实际测出的电压是霍尔效应电压与副效应产生的附加电压的代数和。
可以通过对称测量方法，即改变s I 和磁场B 的方向加以消除和减小副效应的影响。
在规定了电流s I 和磁场B 正、反方向后，可以测量出由下列四组不同方向的sI 和B 组合的电压。
即：+B ，s I +：10H E N R V V V V V V =+++++ +B ，s I -：20H E N R V V V V V V =--++- -B ，s I -：30H E N R V V V V V V =++--- -B ，s I +：40H E N R V V V V V V =----+然后求1V ，2V ，3V ，4V 的代数平均值得： 12344()H E V V V V V V -+-=+通过上述测量方法，虽然不能消除所有的副效应，但E V 较小，引入的误差不大，可以忽略不计，因此霍尔效应电压H V 可近似为12341()4H V V V V V ≈-+- （1－6）3、直螺线管中的磁场分布1、以上分析可知，将通电的霍尔元件放置在磁场中，已知霍尔元件灵敏度H K ，测量出s I 和H V ，就可以计算出所处磁场的磁感应强度B 。
H H sV B K I =⋅ （1－7）2、直螺旋管离中点x 处的轴向磁感应强度理论公式：221/2221/200222[][]22s x L Lxx NI B L L L x r x r μ⎧⎫-+⎪⎪=+⎨⎬⎪⎪-+++⎩⎭（）（） （1－8）式中，μ是磁介质的磁导率，N 为螺旋管的匝数，s I 为通过螺旋管的电流，L 为螺旋管的长度，0r 是螺旋管的内径，x 为离螺旋管中点的距离。
X=0时，螺旋管中点的磁感应强度0221/20(4)sNI B L r μ=+ （１－9）五、实验内容：测量霍尔元件的H s V I -、H m V I -关系；1、将测试仪的“s I 调节”和“m I 调节”旋钮均置零位（即逆时针旋到底），极性开关选择置“0”。
2、接通电源，电流表显示“0.000”。
有时，s I 调节电位器或m I 调节电位器起点不为零，将出现电流表指示末位数不为零，亦属正常。
电压表显示“0.0000”。
3、测定H s V I -关系。
取m I ＝900mA ，保持不变；霍尔元件置于螺旋管中点（二维移动尺水平方向14.00cm 处与读数零点对齐）。
顺时针转动“s I 调节”旋钮，s I 依次取值为1.00，2.00，…，10.00mA ，将s I 和m I 极性开关选择置“＋” 和“－”改变s I 与m I 的极性，记录相应的电压表读数i V 值，填入数据记录表1。
4、以H V 为横坐标，s I 为纵坐标作H s V I -图，并对H s V I -曲线作定性讨论。
5、测定H m V I -关系。
取s I =10 mA ,保持不变；霍尔元件置于螺旋管中点（二维移动尺水平方向14.00cm 处与读数零点对齐）。
顺时针转动“mI 调节”旋钮，mI 依次取值为0，100，200，…，900 mA ，将s I 和m I 极性开关择置“＋” 和“－”改变s I 与m I 的极性，记录相应的电压表读数i V 值，填入数据记录表2。
6、以H V 为横坐标，m I 为纵坐标作H m V I -图，并对H m V I -曲线作定性讨论。
测量长直螺旋管轴向磁感应强度B 1、取s I =10 mA ，m I ＝900mA 。
2、移动水平调节螺钉，使霍尔元件在直螺线管中的位置x （水平移动游标尺上读出），先从14.00cm 开始，最后到0cm 点。
改变s I 和m I 极性，记录相应的电压表读数i V 值，填入数据记录表3，计算出直螺旋管轴向对应位置的磁感应强度B 。
3、以x 为横坐标，B 为纵坐标作B x -图，并对B x -曲线作定性讨论。
4、用公式（1－8）计算长直螺旋管中心的磁感应强度的理论值，并与长直螺旋管中心磁感应强度的测量值14B 比较，用百分误差的形式表示测量结果。
式中70410/H m μπ-=⨯,其余参数详见仪器铭牌所示。
六、注意事项：1、为了消除副效应的影响，实验中采用对称测量法，即改变s I 和m I 的方向。
2、霍尔元件的工作电流引线与霍尔电压引线不能搞错；霍尔元件的工作电流和螺线管的励磁电流要分清，否则会烧坏霍尔元件。
3、实验间隙要断开螺线管的励磁电流mI 与霍尔元件的工作电流s I ，即m I 和s I 的极性开关置0位。
4、霍耳元件及二维移动尺容易折断、变形，要注意保护，应注意避免挤压、碰撞等，不要用手触摸霍尔元件。
七、数据记录：K H =23.09，N=3150匝，L=280mm,r=13mm表1H s V I -关系 （m I =900mA ）（mV ）表2H m V I -关系 （s I =10.00mA ）-关系s I=10.00mA，m I=900mA 表3 B x八、数据处理：（作图用坐标纸）九、实验结果：实验表明：霍尔电压H V 与霍尔元件工作电流s I 、直螺线管的励磁电流m I 间成线性的关系。
长直螺旋管轴向磁感应强度：B I U K S H H /B=U H /K H *I S =1.33x10-2T理论值比较误差为: E=5.3% 十、问题讨论（或思考题）： 思考题：1、若磁场不恰好与霍尔元件片底法线一致，对测量结果有何影响，如果用实验方法判断B 与元件发现是否一致？答：若磁场方向与法线不一致，载流子不但在上下方向受力，前后也受力（为洛仑兹力的两个分量）；而我们把洛仑兹力上下方向的分量当作合的洛仑兹力来算，导致测得的Vh 比真实值小。
从而，RH 偏小，n 偏大；σ偏大；μ不受影响。
可测量前后两个面的电势差。
若不为零，则磁场方向与法线不一致。
2、能否用霍尔元件片测量交变磁场？答：不能，电荷交替在上下面积累，不会形成固定的电势差，所以不可能测量交变的磁场。
.专业.专注. . word可编辑.。
