“超声波探伤仪-斜探头自动校准”流程示意图

HS610e 型数字式超声波探伤仪基本操作（中科）1）准备工作：按键，进入参数列表，按键将光标移到探头类型栏，按键将探头类型改为斜探头，再将光标移到试块选择栏,把试块选择栏改为IA CSK -。

按键返回探伤界面。

2）斜探头自动校准： 按键进入自动校准功能，屏幕右上角显示“自动校准”字样且两闸门自动套在IA CSK -试块50mm 和100mm 的距离坐标处。

将斜探头放置在IA CSK -试块的R50和R100的圆心处，找到R50和R100的最高回波后按键将波形调整到满刻度的80％高度，稳住探头不动，按键开始自动校准， “自动校准完毕！”后 “请用钢尺测前沿：0.0”，将探头前沿值改为实测数值后，按键。

此时仪器提示“是否重校”，按键重新校准，按其他任意键进入K 值测试。

3)斜探头K 值测试: 仪器会自动进入K 值测试状态，屏幕下方显示“进入K 值测试”，闸门自动默认锁定K2.0探头回波显示区间。

将探头标K2.0刻槽靠向Φ50一侧，前后移动探头找出孔波最高回波，按键，屏幕下方显示“所测K 值为：X.XX ”。

按键K 值测试完毕，再按键重新校准，按其它键进入下一步。

4)曲线制作：按键，再按制 作对应的，仪器出现提示：请使用闸门锁定测试点！提示消失后进入波形采样阶段。

屏幕右上角出现“测试点01”闪烁。

此时把探头放在CSK-ⅢA 试块上 。

例如测试10mm 深的孔，将探头对准10mm 深孔，按方向键将“闸门”套住回波，按锁定回波“测试点01”停止闪烁，移动探头找出最高波回波，按回波到80%，按完成第一点；此时显示测试点的序号向后顺延，并闪烁，表示进入下一个测试点的采样。

按照上面的步骤锁定下一个测试点（30mm 、50mm......）。

最少做3个点。

制作完最后一点后，连按2次键，屏幕上出现“请输入工件厚度：0.0 mm ”，输入后，按键，屏幕出现“请输入表面补偿:0.0 dB ”根据实际情况输入表面补偿，按键。

TS-V6e型数字探伤仪斜探头详细调试方法第一步选着频道:按频道键用右侧∧∨键选着调试频道。

选好频道后按左侧∧键选着频道（确定），然后按→键选着到清除频道，然后按左侧∧键确认清除。

第二部选着探头：按发射键然后按右侧∧∨键将探头调成斜探头，然后按→选着晶片尺寸，按右侧∧∨键参照探头调试。

第三部零点校测：首先按阀门键按右侧∧∨键将a阀门移动到屏幕右侧。

然后按基本键按右侧∧∨将探测范围调到125mm在按→选着到材料声速调成3240m/s 。

最后把探头置于CSK-I A试块上，耦合必须良好。

移动探头使R100的一次反射回波最高，按左侧∧∨键增益使回波高度为满屏的80％左右探头就不要动了，用尺子量下探头前沿的距离以后要用。

按→选着探头零点用右侧∧∨键进行调整，直到声程距离等于100。

此时探头零点校测完成。

第四步探头前沿校测：按计算键再按→选着探头前沿用右侧∧∨键调整到量得的数字。

探头前沿校测完成。

第五步探头K值校测：首先按阀门键将a阀门移动到屏幕左侧，然后把探头置于CSK-I A试块上，按左侧∧∨键调节仪器增益使直径1.5mm的孔一次反射回波高度为满屏的80％左右探头就不要动了。

（在调试的时候最好用尺子量一下数值和机子是否对照）最后按计算键再按→键移动到探头角度用右侧∧∨键调整声程垂直等于15就OK了。

斜探头DAC曲线制作：选着试块CSK-IIIA。

首先选着10mm深直径1.5mm的孔，将探头与试块耦合前后移动探头，按左侧∧∨键增益回波达到满屏的90％左右。

按DAC键然后按右侧∧键激活DAC定点功能，（如果定点错误的话按左侧∧退出DAC定点）按阀门键按右侧∧∨移动阀门到合适位子。

找到10mm深直径1.5mm孔满屏90％的反射波探头不要动,按冻结键第一个DAC回波顶峰出现一个十字小点参考点确认。

然后依次完成至少3个参考点，分别20mm深和30mm 深。

完成后按→屏幕回波区显示母线。

按DAC键再按→键移动光标，按右侧∧∨键调试RL偏移量+05.0，SL偏移量-03.0，EL偏移量-09.0.，DAC补偿03dB。

斜探头横波自动校准斜探头横波入射零点自动校准操作：1.将探头与仪器连接好，如图所示将探头放置在CSK－1A试块上。

2.按键或转动旋钮将光标移到探头类型栏，按或单击旋钮将探头类型改为斜探头。

（如果参数中探头已经是斜探头类型，则无需改变）按退出栏单击，返回探伤界面。

3.进行自动校准①按自动校准”的字样。

并且依次滚动出下面的相关校准参数：·请输入材料声速：3240 m/s 按或单击旋钮·请输入起始距离：50 mm 按或单击旋钮·请输入终止距离：100 mm 按或单击旋钮*注：相关校准参数滚出后按键或单击旋钮进入，按键或左右调节旋钮输入该参数的大小。

再按键或单击旋钮进入下一个校准参数。

②输入相关的校准参数后，仪器通过计算处理相关参数。

并且将检测范围改成输入的终止距离。

根据输入的起始距离和终止距离计算出闸门的起始位置。

③将斜探头放置在CSK-ⅠA试块的R50和R100的圆心处，来回移动探头，直到R50和R100的反射回波同时出现在波形显示区内。

寻找R100弧面最高反射回波，（如果波形不在屏幕内时可按范围对应的按键或左右调节旋钮将波形移动到屏幕内，当回波高度超出满刻度时可按R50弧面的回波是否在屏幕上高于20％。

若低于此高度，可将探头平行地向Ｒ50的弧面横向移动，直至R50的弧面回波高度在满刻度的20%以上。

④再按键或者键或右转旋钮到自动调校栏单击开始自动校准。

校准完之后，滚动出一个提示信息：“自动校准完毕！”⑤完毕后手仍固定探头不动，用钢尺测量探头前端到CSK－1A试块R100端边的距离X，然后用100-X所得到的数值就是探头的前沿值。

按参数键或右转旋钮到参数栏，单击旋钮进入参数列表，用或左右调节旋钮将光标移动到探头前沿栏按确认键或单击旋钮进入参数修改状态，使用或左右调节旋钮将前沿值输入后，按确认或单将探头前沿值改为实测数值斜探头“K”值测量下面利用CSK-1A标准试块的Ø50的孔为例（孔径为Ø50，离探测面的垂直距离为30mm）对K值或探头角度进行测量。

TIME 1100超声波探伤仪操作规程一、操作方法1、斜探头检测1 ）打开电源开关。

2 ）设置仪器的初始参数：探测范围、声速、延迟、重复频率、发射方式、阻尼、厚度（“基本”菜单中）。

3）探头校准探头校准通常需要以下步骤:1、校准入射点(探头前沿)；2、校准探头角度(K 值)；3、校准材料声速；4、校准探头零点。

1、校准入射点(探头前沿)：用IIW试块(又称荷兰试块)或CSK-IA试块测探头零点，首选将仪器声速调节为3230m/s，显示范围为150mm，然后开始测试，用户将探头放在试块上并移动，使得R100mm的圆弧面的反射体回波达到最高，用直尺量出探头前端面和试块R100mm弧圆心距离，此值即为该探头的前沿值，R 100 mm弧圆心对应探头上的位置即为探头的入射点。

2、校准探头角度(K值)：用角度值标定的探头可用IIW试块校准，如果是用K 值标定的探头，可用CSK-IA试块校准。

这两种试块上有角度或K值的标尺，按探头标称值选择合适的标尺(右图所示，在IIW试块上侧可校准60-76度的探头，下侧可校准74-80度的探头，CSK-IA试块上侧可校准K2.0、K2.5、K3.0的探头，下侧可校准K1.0、K1.5的探头。

按试块上的标定值选择用合适的校准试块及校准方法)。

如放置探头，左右移动使得反射体回波达到最高，此时入射点对应的刻度就是探头的角度或K值。

3、校准材料声速按照1中所述找到R100mm的最高反射波，调节显示范围使得屏幕上能显示该弧面的二次回波，选择闸门方式为双闸门，调节A闸门与一次回波相交，调节B闸门与二次回波相交，调节声速值使得状态行中声程测量值(S)为100，此时得到的声速值即为该材料的实际声速值。

4、校准探头零点保持上面的测量状态，将闸门方式改为正或负，调节探头零点使得状态行中声程测量值(S)再次为100，此时得到的探头零点值即为该探头的零点值。

4）DAC曲线应用方法1、调整显示范围通过翻页键及功能键<<F1>选择基本功能组，调整显示范围，使DAC曲线标定制作时不会超出该显示范围。

欧能达系列数字式超声波探伤仪基本操作一，开机。

按【电源】1秒指示灯松开。

二，看工件，选择合适探头。

目的是超声波所发射方向要与缺陷方向相交叉（相切）如：1.单晶直探头——用来检测被检测厚度＞30mm以上工件（锻件、圆棒、中厚板等）2.双晶直探头——用来检测被检测厚度＞1m----50mm左右工件（薄板、薄铸件等）3.斜探头——用来检测焊缝，焊缝熔深＞2.5mm以上（钢板焊缝）三，打开预先保存通道。

打开通道步骤：按【返回】3次→左上角红色箭头3次→按【+】或【—】→按【打开通道】→【返回】四，设置【声程】1.用直探头时【声程】大于被检厚度，注意不要让始波不要超过第一格。

——按【声程】（vj=0、10、20、50、100四档循环）→“数字”→【回车】2.用斜探头时，【声程】设置为母材厚度2倍或以上即可。

五，调整【增益】1.用直探头时，先把探头放在工件上用手稳住，按【增益】（vj=0.1、1、2、6四档循环）→【+】或【—】（使杂波高出水平线即可）。

也可用公式直接算出2.用斜探头时，做DAC曲线时dB值为准六，【定量】——冻结当前屏幕，按【+】（后移）或【—】（前移）移动黄色光标（黄点）到所要缺陷波顶端，此时S a值就是该缺陷波位置。

再按【定量】1次恢复采集七，【退格】——为删除八，【回车】——为确定九，【返回】——为返回上一菜单十，【输入法】——为输入大小写字母，保存波形数据的文件名需要字母时用十一，【Ｓａ】――距离【Ｘａ】――水平【Ｙａ】――深度【幅ａ】――红色波的高度【ＲＬａ】――缺陷当量值或缺陷ｄＢ值一、纵波直探头调校（A VG【DGS】曲线制作快捷步骤）1.开机后按【超声探伤】→按【探伤调节】→按【通道选择】→按【通道号】→按“+”或“—”→按【打开通道】→【返回】2.按【探头参数】键，将【探头类型】用【+】/ 【—】键调整为直探头。

（注：探头类型改成直探头后，【探头K值】和【探头角度】自动默认为0）→按【返回】3.按【声速设定】，选择【钢直声速】,5900m/s按【返回】。

超声波探伤仪操作步骤公司标准化编码 [QQX96QT-XQQB89Q8-NQQJ6Q8-MQM9N]步骤一：校准（显示区只显示A扫图像）（1）声速校准(可同时计算出楔块延时和前沿距离)1 、直探头（以厚度校准为例）①范围：根据工件的厚度确定。

将一起检测范围调节到大于工件厚度的2倍。

②声速：5950m/s。

③探头角度：0度。

④增益：调节选择适当的增益。

⑤输入参考点1和参考点2的值。

（如下图，参考点1的值为100，参考点2的值为200）⑥移动闸门A，套住第一次底波，按压校准键，则回波1已校准。

⑦移动闸门A，套住第二次底波，按压校准键，则回波2已校准。

（计算公式：v=(s2−s1)t）同时可计算出楔块延时：t delay=s2v −2(s2−s1)v2、斜探头（以半径校准为例）①范围：根据工件的厚度确定。

如上图，将扫描范围调节到大于100mm。

②声速：5950m/s。

（是否按横波和纵波）③探头角度：先输入角度参考值，稍后在校正，角度在这里没有影响。

④增益：调节选择适当的增益。

⑤移动探头，找到R100圆弧面的最高反射波，输入参考点1和参考点2的值。

（如上图，参考点1的值为50，参考点2的值为100）。

平移探头到试块带R50圆弧面的一侧，使得R50圆弧面的反射波具有一定高度。

移动闸门A，选中R50圆弧面回波，按压校准键，则回波1已校准。

移动闸门A，选中R100圆弧面回波，按压校准键，则回波2已校准。

（计算公式：v =(s 2−s 1)t）同时可计算出楔块延时：t delay =s 2v−2(s 2−s 1)v找到R100圆弧面的最高反射波，则前沿距离x=100-L 。

（2）斜探头角度（K 值）校准现在范围已调整好，声速及楔块延时已校准。

① 进入K 值校准菜单② 输入孔深：（如下图，30mm ） ③ 输入孔径：（如下图，50mm ）④ 增益：调节选择适当的增益。

⑤ 移动探头，找到?50mm 圆孔最高反射波。

超声波探伤仪操作步骤 The manuscript was revised on the evening of 2021步骤一：校准（显示区只显示A扫图像）（1）声速校准(可同时计算出楔块延时和前沿距离)1 、直探头（以厚度校准为例）①范围：根据工件的厚度确定。

将一起检测范围调节到大于工件厚度的2倍。

②声速：5950m/s。

③探头角度：0度。

④增益：调节选择适当的增益。

⑤输入参考点1和参考点2的值。

（如下图，参考点1的值为100，参考点2的值为200）⑥移动闸门A，套住第一次底波，按压校准键，则回波1已校准。

⑦移动闸门A，套住第二次底波，按压校准键，则回波2已校准。

（计算公式：v=(s2−s1)t）同时可计算出楔块延时：t delay=s2v −2(s2−s1)v2、斜探头（以半径校准为例）①范围：根据工件的厚度确定。

如上图，将扫描范围调节到大于100mm。

②声速：5950m/s。

（是否按横波和纵波）③探头角度：先输入角度参考值，稍后在校正，角度在这里没有影响。

④增益：调节选择适当的增益。

⑤移动探头，找到R100圆弧面的最高反射波，输入参考点1和参考点2的值。

（如上图，参考点1的值为50，参考点2的值为100）。

平移探头到试块带R50圆弧面的一侧，使得R50圆弧面的反射波具有一定高度。

移动闸门A，选中R50圆弧面回波，按压校准键，则回波1已校准。

移动闸门A，选中R100圆弧面回波，按压校准键，则回波2已校准。

（计算公式：v=(s2−s1)t）同时可计算出楔块延时：t delay=s2v −2(s2−s1)v找到R100圆弧面的最高反射波，则前沿距离x=100-L。

（2）斜探头角度（K值）校准现在范围已调整好，声速及楔块延时已校准。

①进入K值校准菜单②输入孔深：（如下图，30mm）③输入孔径：（如下图，50mm）④增益：调节选择适当的增益。

⑤移动探头，找到50mm圆孔最高反射波。

⑥输入试块上入射点与试块上对齐的K值，按校准键确认。

1目的对超声波探伤仪进行内部校准，确保其准确度、精密度符合使用要求。

2适用范围本规适用于本公司新购置和使用中的超声波探伤仪与探头的系统性能的检验。

3校验基准标准试块CSK-ⅠA试块及200/Ф2平底孔试块。

所用试块必须是具有相应认证企业生产，并具有合格证书4环境条件常温、干燥环境，无特殊要求。

5校准步骤5.1垂直线性5.1.1用5MH Z或其它频率的常用直探头，用压块将探头固定在200/Ф2平底孔试块上并对准Φ2孔（或其它试块25mm底面）。

调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），作为“0”dB，且衰减器至少有30dB余量；5.1.2调节增益，依次记下每衰减2dB时相应的波高值 H i，并将实测相对波高值填入表1中，直至底波消失。

上表中：理论相对波高%=H i（衰减△dB后波高）/ H0（衰减0dB时波高）×100%；实测相对波高%=10（- △i/20）×100%。

5.1.3计算垂直线性误差D= （|d(+)|+|d(-)|）×100%式中 d(+)——最大正偏差；d(-)——最大负偏差。

5.2水平线性5.2.1将直探头置于CSK-ⅠA上，对准25mm厚的大平底面。

5.2.2调节探伤仪使示波屏上出现六次底波B1到B6，且使B1前沿对准0，B6对准10.0。

记录B2、B3、B4、B5与水平刻度值20、40、60、80的偏差值α2、α3、α4、α5。

5.2.3计算水平线性误差│/0.8b×100%δ=│αm a x式中αmax——α2、α3、α4、α5最大者；b———示波屏水平满刻度值。

5.3动态范围调[抑制]至"0"。

将满幅度100%某波高用[衰减器]衰减到刚能识别的最小值所需衰减的分贝值就是动态范围。

5.4灵敏度余量5.4.1仪器与直探头灵敏度余量的测试a)仪器[增益]至最大，[抑制]至"0"，[发射强度]至"强"，连接探头，并使探头悬空，调[衰减器]使电噪声电平≤10%，记下此时的[衰减器]的读数N1dB。