发行日期 可靠性测试内容 文件编码：BELTER-WI-QC-
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作业指导书
0 初版发行 / 2013/9/1
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为了评价分析电子产品可靠性而进行的试验称为可靠性试验。试验目的通常有如下几方面：
1. 在新产品研发、试产、批量生产阶段用以暴露产品各方面的缺陷,评价产品可靠性达到预定指标的情况;
2. 生产阶段为监控生产过程提供信息;
3. 对定型产品进行可靠性鉴定或验收;
4. 暴露和分析产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理;
5. 为改进产品可靠性,制定和改进可靠性试验方案,为用户选用产品提供依据。
对于不同的产品,为了达到不同的目的,可以选择不同的可靠性试验方法。可靠性试验有多种分类方法.
1. 如以环境条件来划分,可分为包括各种应力条件下的模拟试验和现场试验;
2. 以试验项目划分,可分为环境试验、寿命试验、加速试验和各种特殊试验;
3. 若按试验目的来划分,则可分为筛选试验、鉴定试验和验收试验;
4. 若按试验性质来划分,也可分为破坏性试验和非破坏性试验两大类。
5. 但通常惯用的分类法,是把它归纳为五大类:
A. 环境试验 发行日期 可靠性测试内容 文件编码：BELTER-WI-QC-
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B. 寿命试验
C. 筛选试验
D. 现场使用试验
E. 鉴定试验
1. 环境试验是考核产品在各种环境（振动、冲击、离心、温度、热冲击、潮热、盐雾、低气压等）条件下的适应能力,是评价产品可靠性的重要试验方法之一。
可靠性試驗培训考核測試题
姓名 工號 部門 單位 進廠日期 測試日期
No 內容 得分
01 耐焊接熱試驗
1) 所用試備名稱﹕錫爐
2) 試驗條件﹕溫度﹕260℃±5℃ ﹐浸漬時間10±1秒
3) 參考標准﹕GB2423.28-82
4) 簡述試驗步驟﹕
02 振動試驗
1) 所用設備名稱﹕振動試驗台
2) 試驗條件﹕頻率﹕10~500Hz﹐峰值﹕5g﹔掃頻方向﹕三個互相垂直的方向﹔掃頻次數﹕2次/向﹔時間﹕30min/次
3) 參考標准﹕GB/T 2423.10-1995
4) 簡述試驗步驟﹕
03 自由跌落試驗﹕
1) 所用設備名稱﹕雙翼落下試驗機
2) 試驗條件﹕跌落高度﹕1米﹔次數﹕各2次﹔跌落方式﹕三個面﹑兩棱線﹑一角線
3) 參考標准﹕GB/T 2423.8-1995
4) 簡述試驗步驟﹕
04 防潮試驗
1) 所用設備名稱﹕高低溫交變潮濕試驗箱
2) 試驗條件﹕一級防潮﹑三級防潮
3) 參考標准﹕IPC/JEDEC J-STD-020C
4) 簡述試驗步驟﹕
05 高溫試驗
1) 所用設備名稱﹕高溫試驗箱
2) 試驗條件﹕125±2℃,16小時
3) 參考標准﹕GB2423.2-89
4) 簡述試驗步驟
06 低溫試驗
1) 所用設備名稱﹕高低溫交變潮濕試驗箱
2) 試驗條件﹕-40℃±3℃﹐ 16小時
3) 參考標准﹕GB2423.1-89
4) 簡述試驗步驟
07 恆定濕熱試驗
1) 所用設備名稱﹕高低溫交變潮濕試驗箱
2) 試驗條件﹕40℃±2℃﹐ 93%±2%RH﹐96小時
3) 參考標准﹕GB/T 2423.3-93
4) 簡述試驗步驟
08 熱沖擊試驗
1) 所用設備名稱﹕溫度沖擊試驗箱
2) 試驗條件﹕最低溫度-40℃﹐最高溫度125℃﹔保持時間30分鐘﹐循環次數 10次
可靠性研制试验
问题提出
国军标GJB 450A-2004在代替GJB 450-1988的基础上增补了一些新的要求，在“可靠性试验与评价”中增加了“可靠性研制试验”。
GJB 450A提出，“可靠性研制试验”与产品的“研制试验”尽可能结合进行，可靠性研制试验的应力是环境应力和工作载荷，应力的施加可采用加速应力，以识别薄弱环节并诱发故障或验证设计余量，试验的对象是可靠性关键产品。但目前还没有相应的标准或规范来确定可靠性研制试验的试验方法，以及如何与研制试验相结合。
可靠性研制试验是什么？
基本概念
可靠性研制试验Reliability Development Test（RDT），通过对产品施加一定的环境应力和（或）工作载荷，寻找产品中的潜在缺陷，以进一步改进设计，提高产品固有可靠性的一系列实验。可靠性研制试验是一个试验—分析—改进（TAAF）的过程。
这种试验事先不需要确定可靠性增长模型，不需要确定定量的可靠性增长目标，试验后也不要求对产品的可靠性作出定量评估。它以找出产品的设计、材料与工艺缺陷，和对采用的纠正措施的有效性进行试验验证为主要目的。它对试验样机的技术状态，试验用的环境条件等无严格的要求。
产品在研制、生产过程中都可开展可靠性研制试验，但在研制阶段的早期进行更适宜。可靠性研制试验可在实际的、模拟的或加速的环境下进行，试验中所用应力的种类、量值和施加方式可根据受试产品本身特性、预期使用环境的特性和可提供的试验设备的能力等来决定。
基本要求
a）研制方在研制阶段应尽早开展可靠性研制试验，通过试验、分析、改进（TAAF）过程来提高产品的可靠性。
b）可靠性研制试验是产品研制试验的组成部分，应尽可能与产品的研制试验结合进行。
c）研制方应制定可靠性研制试验方案，并对可靠性关键产品，尤其是新技术含量较高的产品实施可靠性研制试验。必要时，可靠性研制试验方案应经订购方认可。
d）可靠性研制试验可采用加速应力进行，以尽快找出产品的薄弱环节或验证设计余量。 e）对试验中发生的故障均应纳入故障报告、分析和纠正系统（FRACAS），并对试验后产品的可靠性状况作出说明。
电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术培训
讲讲师师介介绍绍::
费老师 男，原信息产业部电子五所高级工程师,理学硕士,“电子产品可靠性与环境试验”杂志编委，长期从事电子元器件的失效机理、失效分析技术和可靠性技术研究。分别于1989年、1992－1993年、2001年由联合国、原国家教委和中国国家留学基金管理委员会资助赴联邦德国、加拿大和美国作访问学者。曾在国内外刊物和学术会议上发表论文三十余篇。他领导的“VLSI失效分析技术”课题组荣获2003年度“国防科技二等奖”。他领导的“VLSI失效分析与可靠性评价技术”课题组荣获2006年度“国防科技二等奖”。2001年起多次应邀外出讲学,获得广大学员的一致好评。
为了满足广大元器件生产企业对产品质量及可靠性方面的要求，我司决定在全国组织召开“电子元器件可靠性试验、失效分析、故障复现及筛选技术”高级研修班。研修班将由具有工程实践和教学丰富经验的教师主讲，通过讲解大量实例,帮助学员了解各种主要电子元器件的可靠性试验方法和试验结果的分析方法．
课程提纲：
第一部分 电子元器件的可靠性试验
1 可靠性试验的基本概念
1．1 概率论基础
1．2 可靠性特征量
1．3 寿命分布函数
1．4 可靠性试验的目的和分类
1．5 可靠性试验设计的关键问题
2 寿命试验技术
2．1 加速寿命试验
2．2 定性寿命保证试验
2．3 截尾寿命试验
2．4 抽样寿命试验
3 试验结果的分析方法：威布尔分布的图估法
4 可靠性测定试验
4．1 点估计法
4．2 置信区间
5 可靠性验证试验
5．1 失效率等级和置信度
5．2 试验程序和抽样表
5．3 标准和应用
6 电子元器件可靠性培训试验案例
案例1 已知置信度和MTBF时的实验测定
案例2 已知置信度和可靠度时的实验测定
案例3 案例加速寿命实验测定法 第二部分 电子元器件的失效分析、故障复现和筛选技术
