cdm静电测试方法

cdm测试标准CDM（Charged-Device Model）是一种重要的元器件静电放电耐受阈值的测试方法，与HBM（人体放电模型）和MM（机器放电模型）完全不同。

CDM模型模拟的是元器件本身带电后对地放电的情况，而HBM和MM模型则是模拟人体或机器设备带电后对元器件放电。

随着芯片制造、封测、装联的自动化程度提高，人体接触器件的机会相对减少，带电器件ESD放电事件越来越成为微电子器件失效的主要原因之一。

CDM测试的标准因产品类型、制造过程和测试条件而异。

一般来说，CDM测试包括以下几个主要步骤：1.准备测试样品：选择具有代表性的样品，确保样品清洁、干燥且无破损。

2.充电：将样品放入充电设备中，通过接触或非接触方式为样品充电。

充电时间和充电电压取决于具体的测试条件。

3.放电：将充电后的样品放置在放电设备中，通过接触或非接触方式使样品放电。

放电时间和放电电流取决于具体的测试条件。

4.检测：在放电过程中，检测样品的性能变化，如电压、电流、电阻等。

同时，观察样品的外观和结构变化。

5.分析：根据检测结果和分析数据，评估样品的ESD耐受能力，并确定是否需要进行进一步的测试或改进。

需要注意的是，CDM测试标准的具体细节可能因不同的产品类型、制造过程和测试条件而异。

因此，在进行CDM测试时，应根据具体情况选择合适的测试方法和标准。

同时，为了确保测试结果的准确性和可靠性，测试环境和设备应符合相关的规范和要求。

此外，对于不同产品或应用场景，CDM测试的严苛程度也有所不同。

例如，对于高可靠性或军用级别的产品，CDM测试的标准可能会更加严格。

而对于一些民用或消费级的产品，CDM测试的标准可能会相对宽松一些。

总之，CDM测试是一种评估微电子器件静电放电耐受能力的关键方法之一。

了解并遵循合适的CDM测试标准和步骤对于确保产品的质量和可靠性至关重要。

同时，针对不同产品和应用场景选择合适的测试方法和标准也是至关重要的。

cdm测试标准CDM，即“Charged Device Model（带电设备模型）”，是一种用于评估电子设备防静电能力的测试方法。

CDM测试标准是为了确保产品在制造、运输、存储和使用过程中不受静电所造成的损害而制定的。

本文将介绍CDM测试标准的相关内容。

1. CDM测试概述CDM测试是在设备上施加静电放电，以评估设备对静电放电的抵抗能力。

该测试模拟了人体与设备之间的静电放电情况，通过测量静电放电引起的电压峰值和电流峰值来评估设备的防静电能力。

CDM测试的目标是确定设备是否能够抵抗静电放电并保持正常运行。

2. CDM测试方法CDM测试方法分为两个步骤：CDM发电和CDM检测。

CDM发电是在待测设备上施加静电放电，通常使用带电滑块或电容放电方法。

CDM检测是通过测量设备上的电压和电流来评估设备对静电放电的抵抗能力。

3. CDM测试标准CDM测试标准是制定工业标准，用于指导设备制造商进行CDM测试，并确保设备符合防静电要求。

以下是一些常见的CDM测试标准：3.1 IEC 61000-4-2IEC 61000-4-2是国际电工委员会制定的电磁兼容性标准之一，规定了设备对静电放电的要求和测试方法。

该标准包括了不同级别的静电放电测试，以适应不同类型的设备。

IEC 61000-4-2标准通常被电子设备制造商和供应商广泛采用。

3.2 JEDEC JESD22-A114JEDEC JESD22-A114是电子设备工程师学会制定的一个CDM测试标准，它规定了对集成电路的CDM测试方法。

该标准包括了不同的测试条件和测试程序，以评估集成电路对静电放电的抵抗能力。

4. CDM测试结果和评估CDM测试的结果通常以绝对最大值（Absolute Maximum Ratings）来表示，即设备在静电放电过程中允许的最大电压和电流。

根据CDM测试结果，可以评估设备是否符合防静电要求，以及是否需要采取额外的防护措施来提高设备的防静电能力。

ESD静电放电是指在两个接触或接近的物体间由于静电电荷失去平衡而发生的放电现象，通常称为静电击。

在现代电子产品制造和使用过程中，静电放电对电子产品的影响极其重要，甚至可能对产品的性能和寿命产生严重影响。

对静电放电抗扰度检测方法和检测标准的研究和制定显得尤为重要。

一、ESD静电放电抗扰度检测方法1. 传统方法传统的ESD静电放电抗扰度检测方法主要包括人体静电放电（HBM）、机器模拟静电放电（MM）和车间模拟静电放电（CDM）三种方式。

其中，HBM是通过人体与电气设备或系统之间的接触来模拟电气设备在实际应用中的静电放电，MM是通过模拟电气设备在实际应用中的机器间的接触来模拟静电放电，CDM则是通过模拟电气设备在实际应用中的车间之间的接触来模拟静电放电。

这些方法在一定程度上可以模拟实际应用环境中的静电放电，但是在实际应用中的适用性和准确性有待进一步验证。

2. 新兴方法随着科学技术的不断进步和电子产品的不断更新换代，新兴的ESD静电放电抗扰度检测方法也在不断涌现。

基于纳米技术的ESD静电放电抗扰度检测方法，通过利用纳米技术的特殊性能，可以更加精准地模拟和检测实际应用环境中的静电放电，提高了检测的准确性和可靠性。

还有基于仿生学的ESD静电放电抗扰度检测方法，通过模拟自然界中生物体对静电放电的响应机制，可以提高电子产品对静电放电的抗扰度。

二、ESD静电放电抗扰度检测标准1. 国际标准目前，国际上对ESD静电放电抗扰度检测标准的制定已经相对成熟，在国际电工委员会（IEC）和国际标准化组织（ISO）已经有了相关的标准，如IEC 61340系列标准和ISO 10605标准等。

这些标准主要针对静电放电的发生原理、检测方法、抗扰度要求等进行了详细规定，对于全球范围内的电子产品生产和使用具有重要指导意义。

2. 国内标准在国内，我国电子技术标准化研究院（CESI）和我国合格评定国家认可委员会（CNAS）等机构也已经制定了相关的ESD静电放电抗扰度检测标准，如GB/T 16927标准等。

静电测试标准及方法
静电测试的标准和方法如下：
标准：
1. 根据静电的产生方式以及对电路的损伤模式不同，通常分为四种测试方式：人体放电模式(HBM: Human-Body Model)、机器放电模式(Machine Model)、元件充电模式(CDM: Charge-Device Model)、电场感应模式(FIM: Field-Induced Model)。

但是业界通常使用前两种模式来测试(HBM, MM)。

2. 对于HBM的ESD标准，等效人体电容为100pF，等效人体电阻为Ω。

规定小于<2kV的则为Class-1，在2kV~4kV的为class-2，4kV~16kV的为class-3。

3. 对于机器放电模式(MM)，等效机器电阻为0 (因为金属，通常小于10Ω)，电容为200pF。

方法：
1. 接触放电：静电枪垂直单次放电，每个点打10次，从+/-4K ，+/-6K ，+/-8K 、 +/-10K。

2. 空气放电：静电枪垂直连续放电，每个点打10次，从+/-6K ，+/-8K ，+/-10K，+/-12K。

以上仅供参考，如有相关测试需求，建议咨询专业人士。

一种cdm保护电路结构CDM(Charged Device Model)保护电路结构引言：在现代电子设备中，静电放电是一种常见的破坏因素。

而CDM(Charged Device Model)是一种对电子器件进行静电放电测试的标准模型。

为了保护电路免受CDM的损害，我们需要设计一种有效的保护电路结构。

一、CDM的工作原理和特点CDM是一种模拟人体静电放电过程的测试方法，通过将电荷快速放电到电子器件上，模拟人体接触电路时可能发生的静电放电。

CDM 测试的主要特点包括高电压、短时间、高速度和高能量，因此需要采取相应的保护措施。

二、常见的CDM保护电路结构1. 双向TVS二极管保护电路双向TVS二极管是一种常见的CDM保护元件，能够在电压超过其额定电压时迅速导通，将多余的电荷引导到地。

这种保护电路结构简单，成本较低，能够有效地吸收CDM放电过程中产生的高能量。

2. 电流限制电阻保护电路电流限制电阻是另一种常见的CDM保护元件，能够限制电流的流动，保护电路免受CDM放电时产生的过大电流的影响。

该保护电路结构可以与TVS二极管结合使用，提供更全面的保护。

3. 电容器保护电路电容器是一种能够储存电荷的元件，可以作为CDM保护电路中的储能元件。

通过合理选择电容器的容值和电压等级，可以在CDM 放电时释放储存的电荷，减小对电路的影响。

4. 地线保护电路地线是电子设备中的重要引地元件，也可以作为CDM保护电路的一部分。

通过合理布置地线，将CDM放电过程中的电荷迅速引导到地，减小对电路的影响。

三、CDM保护电路设计的注意事项1. 合理选择保护元件的参数，包括额定电压、电流和容值等，以满足实际应用中的需求。

2. 保护电路的布局要合理，尽量缩短电路长度，减小电阻和电感对CDM放电的影响。

3. 在PCB设计中，要注意保护电路与其他电路的分离，避免干扰和串扰。

4. 在电路设计中，要考虑到CDM放电的不确定性，采取多重保护手段，提高电路的可靠性。

cdm静电测试标准
"CDM" 通常指的是"Charged Device Model"，即充电设备模型。

CDM测试是一种用于评估半导体器件、集成电路（IC）等电子元件对静电放电（ESD）的敏感性的测试方法之一。

这种测试方法涉及通过对器件施加特定电荷并观察其响应来模拟现实世界中的静电放电情况。

以下是与CDM测试相关的一些主要标准：
1.JEDEC JS-002:
•JEDEC（半导体技术协会）是电子行业的一个标准组织。

JS-002标准是关于静电放电（ESD）的一般测试方法，其
中包括了CDM测试。

2.ANSI/ESDA/JEDEC JS-002:
•这是ANSI（美国国家标准学会）与ESDA（静电放电协会）和JEDEC 共同发布的标准，也是有关静电放电测试
的标准，包括了CDM 测试。

3.IEC 60749-26:
•该国际电工委员会（IEC）标准涵盖了半导体器件的可靠性试验和静电放电测试，包括CDM测试。

-STD-883, Method 3015:
•MIL-STD-883 是美国国防部发布的一系列标准，涵盖了微电子器件的可靠性测试。

Method 3015 是其中一个关
于静电放电测试的标准，也包括了CDM测试。

请注意，具体的标准可能随时间而更新，因此建议查阅最新版本的标准文档以获取详细信息。

此外，制造商和行业组织可能还有额外的指南和最佳实践，可供参考。

芯片ESD测试标准和方法1. ESD测试标准- IEC 标准：这是国际电工委员会制定的ESD测试标准，用于评估设备的抗静电放电能力。

该标准规定了测试波形、测试级别和测试方法等内容，是ESD测试的国际通用标准。

- AEC-Q100标准：这是汽车电子领域常用的ESD测试标准，适用于评估汽车电子元器件的静电放电性能。

该标准对测试波形、测试级别和测试条件等进行了详细规定，以确保汽车电子设备在复杂的环境下具有良好的静电放电能力。

2. ESD测试方法- HBM测试方法：HBM（Human Body Model）是一种模拟人体静电放电的测试方法，通过模拟人体接地时的静电放电过程，评估芯片的抗静电放电能力。

该方法利用人体模型进行测试，可以快速评估芯片的静电放电性能，是一种常用的ESD测试方法。

- MM测试方法：MM（Machine Model）是一种模拟机器设备静电放电的测试方法，通过模拟机器间的静电放电过程，评估芯片的抗静电放电能力。

该方法利用机器模型进行测试，可以更真实地模拟实际工作环境中的静电放电情况，对芯片的静电放电性能进行全面评估。

- CDM测试方法：CDM（Charged Device Model）是一种模拟电荷器件静电放电的测试方法，通过模拟芯片和其它器件之间的静电放电过程，评估芯片的抗静电放电能力。

该方法利用充电器件模型进行测试，可以更精确地模拟芯片在实际应用中的静电放电情况，对芯片的静电放电性能进行准确评估。

3. ESD测试流程- 准备工作：进行ESD测试前，需要准备好测试设备、测试样品和测试环境等，确保测试的准确性和可靠性。

- 测试设置：根据不同的ESD测试方法和标准，设置合适的测试波形、测试级别和测试条件等，以确保测试的科学性和可比性。

- 进行测试：根据测试设置，进行HBM、MM或CDM等ESD测试，记录测试过程中芯片的静电放电情况和性能表现。

- 数据分析：对测试数据进行分析，评估芯片的抗静电放电能力，确定是否符合相关的ESD测试标准和要求。

HBM_MM_CDM静电放电模拟器测试使⽤⽅法HBM、MM＆CDM静电放电模拟器⽬录⽬录 (1)1．概述 (2)2．基本设置 (2)2.1使⽤前的准备 (2)2.2放电重复时间(REPEAT TIME)设置 (3)2.3静电放电次数(ESD NUMBER)设置 (3)2.4 测试电压的调节（ADJ） (4)3HBM试验 (4)3.1 HBM OUT与测试 (4)3.2 HBM试验电压等级 (6)3.3 HBM试验管脚组合 (8)3.4 HBM敏感度分类 (11)3.5HBM测试注意事项 (12)4. MM试验 (13)4.1 MM OUT的输出与选择 (13)4.1.1 OUT接线与MM选择 (13)4.1.2输出电压、正负极性的设置 (13)4.2 MM试验电压⼤⼩与极性 (13)4.3 MM试验管脚组合 (14)4.4．MM静电试验电压和极性的选择 (15)4.5选择静电放电重复频率 (15)4.6 MM的ESDS分类 (16)4.7 MM试验的特点与注意事项 (16)4.8. MM与HBM放电的⽐较(相同电压下，哪个损坏程度⼤？ (16)5 CDM试验 (18)5.1 CDM充电的2种常⽤⽅法 D-CDM与F-CDM (18)5.1.1 直接充电⽅法D-CDM (18)5.1.2 感应充电⽅法 F-CDM (18)5.1.3 两种带电⽅法接线的⽐较 (19)5.2 CDM的设置与接线 (19)5.3 选择CDM静电试验电压和极性 (20)5.4 CDM试验电压等级 (20)5.5 CDM试验特点与注意事项 (20)5.6 CDM的放电 (21)5.7 CDM敏感度分类 (22)6 使⽤操作注意事项 (23)7 主要技术指标 (24)8 技术⽀持与售后服务 (24)9. 定期校准 (24)ESD-china的优势..............................................................................................................错误！未定义书签。

hbm和cdm静电标准一、引言HBM（Human Body Model，人体模型）和CDM（Charged Device Model，充电设备模型）是静电放电测试中常用的两种标准。

静电放电是由于人体或设备带电而突然释放的电荷，可能对电子设备造成损害。

为了确保电子设备的稳定性和可靠性，制定了HBM和CDM静电标准，以评估设备的静电放电抗性。

本文将对HBM和CDM静电标准进行综述，包括其基本原理、测试方法和应用领域。

二、HBM（Human Body Model）静电标准基本原理：HBM静电标准是模拟人体带电时突然释放电荷的情况。

它通常使用一个电阻、电容网络和电压脉冲发生器，模拟人体通过手触摸设备时的静电放电过程。

测试方法：HBM测试通过将设备放置在一个特定的测试环境中，然后使用标准的电压脉冲发生器模拟人体的带电情况。

设备在不同电压水平下进行测试，以评估其对静电放电的抵抗能力。

标准规范：HBM的标准规范通常由国际电工委员会（IEC）和其他电子工程标准组织制定，如IEC 61000-4-2等。

这些标准规定了测试设备、测试条件和测试程序。

应用领域：HBM测试主要用于评估电子设备在实际使用中，例如在人们通过手触摸设备时，对静电放电的抵抗能力。

这种情况在日常生活中非常常见，因此HBM测试在电子产品设计中具有重要意义。

三、CDM（Charged Device Model）静电标准基本原理：CDM静电标准是模拟充电设备（例如传送带、包装材料）对设备造成的静电放电情况。

它通常通过使用电荷存储元件（例如电容）来模拟充电设备。

测试方法：CDM测试通常涉及在设备上加载电荷，并通过释放电荷来模拟静电放电。

测试过程中，设备暴露在充电设备模型下，以评估其对充电设备引起的静电放电的抵抗能力。

标准规范：CDM的标准规范通常也由国际电工委员会（IEC）和其他标准组织制定，如IEC 61000-4-2。

这些标准规定了测试条件、设备设置和测试程序。