硅片质量对太阳能电池性能的影响
- 格式:doc
- 大小:33.00 KB
- 文档页数:8
太阳能光伏电池的上、中、下游产业定义及涉及范围1.引言1.1 概述太阳能光伏电池是一种利用光能直接转化为电能的装置,其在可持续发展和清洁能源领域具有重要的地位和潜力。
光伏电池产业涉及到多个产业链环节,从上游原材料的生产到下游光伏发电系统的安装和运营,形成了一个完整的产业体系。
在上游阶段,太阳能光伏电池的制造需要大量的原材料,包括硅片、银浆、钢化玻璃等,这些原材料的生产构成了上游产业链的一部分。
上游产业的涉及范围包括原材料的采购、加工生产以及供应链管理等环节。
上游产业的稳定供应和高质量的原材料对于整个光伏电池产业的发展至关重要。
中游产业是指太阳能光伏电池的制造环节,包括硅片的切割、电池片的制备、电池片的组装等过程。
中游产业的定义和涉及范围主要在于如何提高光伏电池的转化效率和降低制造成本。
在这一阶段,光伏电池的技术研发和制造工艺的改进成为关键,以提高光伏电池的效率和降低生产成本,从而进一步推动太阳能光伏发电行业的发展。
下游产业则是指太阳能光伏电池的应用领域,包括光伏发电系统的安装、运营和维护等环节。
下游产业的定义和涉及范围主要在于太阳能光伏电池的市场需求和电力的利用。
光伏电池作为一种清洁、可再生能源的发电方式,具有广泛的应用前景。
下游产业的发展需要政府的支持和配套政策的推动,以及市场的认可和需求增长。
综上所述,太阳能光伏电池产业涉及到上游、中游和下游三个产业链环节,分别定义了不同的工作范围和核心要点。
上游产业关注原材料的供应和管理,中游产业注重光伏电池的制造技术和工艺改进,下游产业则关注光伏发电系统的安装和运营。
这些环节相互依赖、相互促进,共同推动着太阳能光伏电池产业的发展。
1.2文章结构【1.2 文章结构】本文将按照太阳能光伏电池产业的上、中、下游划分,全面阐述其定义及涉及范围。
具体结构如下:引言部分将整体概述太阳能光伏电池产业的背景和重要性,明确本文的研究目的和意义。
正文部分将分为上、中、下游产业三个主要部分来阐述太阳能光伏电池产业的定义及涉及范围。
光伏组件光衰减现象及影响因素有哪些1.0绪论太阳能组件制作完成之后,进行功率测试时,组件功率正常,但是客户接收到组件,安装并运营时发现功率衰减较大。
这种现象大多是由于电池片的光致衰减引起的。
本文将系统、简要的阐述光致衰减现象。
2.0光致衰减光伏组件光致衰减可分为两个阶段:初始光致衰减和老化衰减。
1.初始光致衰减初始的光致衰减,即光伏组件的输出功率在刚开始使用的最初几天内发生较大幅度的下降,但随后趋于稳定。
导致这一现象发生的主要原因是P型(掺硼)晶体硅片中的硼氧复合体降低了少子寿命。
通过改变P型掺杂剂,用稼代替硼能有效的减小光致衰减;或者对电池片进行预光照处理,是电池的初始光致衰减发生在组件制造之前,光伏组件的初始光致衰减就能控制在一个很小的范围之内,同时也提高组件的输出稳定性。
光致衰减更多的与电池片厂家有关,对于组件厂商的意义在于选择高质量的电池片来降低光致衰减带来的影响。
2.老化衰减老化衰减是指在长期使用中出现的极缓慢的功率下降,产生的主要原因与电池缓慢衰减有关,也与封装材料的性能退化有关。
其中紫外光的照射时导致组件主材性能退化的主要原因。
紫外线的长期照射,使得EV A及背板(TPE结构)发生老化黄变现象,导致组件透光率下降,进而引起功率下降。
这就要求组件厂商在选择EV A及背板时,必须严格把关,所选材料在耐老化性能方面必须非常优秀,以减小因辅材老化而引起组件功率衰减。
3.0光致衰减机理P型(掺硼)晶体硅太阳电池的早期光致衰减现象是在30多年前观察到的,随后人们对此进行了大量的科学研究。
特别是最近几年,科学研究发现它与硅片中的硼氧浓度有关,大家基本一致的看法是光照或电流注人导致硅片中的硼和氧形成硼氧复合体,从而使少子寿命降低,但经过退火处理,少子寿命又可被恢复,其可能的反应为:据文献报道,含有硼和氧的硅片经过光照后其少子寿命会出现不同程度的衰减,硅片中的硼、氧含量越大,在光照或电流注人条件下在其体内产生的硼氧复合体越多,其少子寿命降低的幅度就越大。
太阳能光伏电池的工艺优化随着可再生能源的重要性日益凸显,太阳能光伏发电作为一种环保、可持续的能源供给方式受到了广泛的关注。
然而,虽然太阳能光伏电池的效率不断提升,但在工艺方面还存在许多改进的空间。
本文将着重探讨太阳能光伏电池的工艺优化。
首先,太阳能光伏电池工艺中一个重要的环节是硅片的制备。
硅片作为太阳能光伏电池的基底材料,其质量对电池的性能至关重要。
传统的硅片制备工艺中使用的是Czochralski法,该方法虽然制备出的硅片表面质量较高,但却存在着浪费材料、能耗高等问题。
因此,研究者提出了多晶硅择优倒装法,该方法通过在硅熔液中引入有机溶剂,使多晶硅片从液相直接生长,不仅能够减少浪费材料的问题,还能够提高晶体质量。
此外,还有一些新兴的硅片制备方法,例如:气相沉积法、改性多晶硅制备法等,这些新工艺使得硅片制备更加高效、节能。
其次,太阳能光伏电池中的光电转化过程也是一个关键的环节。
优化电池组件的光电特性是提高太阳能光伏电池效率的关键所在。
传统的太阳能电池主要是基于单晶硅或多晶硅材料制备的,然而这些材料较为昂贵且生产过程复杂。
为了降低成本和提高性能,石墨烯等新型材料开始被应用于电池中,这些材料具有良好的光电转化性能和导电性能,能够有效提高电池的效率。
此外,还有一些新兴的太阳能电池技术,例如钙钛矿太阳能电池、有机太阳能电池等,这些新技术的光电转化效率相对较高,能够为太阳能光伏电池的工艺带来新的突破。
再次,在提高太阳能光伏电池效率的同时,降低制造成本也是一个重要的考虑因素。
传统的太阳能光伏电池制造工艺通常需要使用昂贵的材料和设备,而且生产过程复杂耗时。
为了降低成本,研究人员开展了一系列工艺优化的研究。
例如,采用印刷技术制备太阳能电池,该方法相对于传统工艺而言,不仅降低了成本,还提高了制造效率。
此外,采用高效的能源利用技术、优化电池布局方式等方法也能够在一定程度上降低制造成本。
最后,在太阳能光伏电池工艺优化的过程中,对能源的管理和利用也是一个重要考虑因素。
硅片质量引起的组件早期衰减本文是丫丫学电池系列的第七篇,丫丫学电池系列由solarzoom资深版主"yusl2008"的技术学习与分享帖整理而来,原贴首发于Solarzoom论坛"晶体硅电池技术"版块,现仍在连载中。
"yusl2008"版主连载本文时融合了自己的学习历程,技术讲解由浅入深,特别适合新手学习。
现Solarzoom将丫丫学电池系列再次整理发布,欢迎之前没有机会参与讨论的广大网友,一起来分享这道技术大餐。
摘要:本篇丫丫将探讨硅片质量对太阳能电池性能的影响,主要涉及少子寿命、早期光致衰减、位错对电池性能的影响,以及组件功率下降的原因与解决方式等内容。
一、相关概念1、少子少子,即少数载流子,它相对于多子而言。
半导体材料中有电子和空穴两种载流子。
如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。
如,在N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。
2、光致衰减对于硼掺杂的Cz法生长的单晶硅太阳能电池,当它暴露于光照下时,电池性能会衰减,并最终达到一个稳定的效率,这种现象叫作光致衰减。
3、热斑太阳电池热斑是指太阳电池组件在阳光照射下,由于部分组件受到遮挡无法工作,使得被遮盖的部分升温远远大于未被遮盖部分,致使温度过高出现烧坏的暗斑。
热斑可能导致整个电池组件损坏,造成损失。
因此,需要研究造成热斑的内在原因,从而减小热斑形成的可能性。
太阳电池热斑的形成主要由两个内在因素构成,分别与内阻和太阳电池自身暗电流大小有关。
4、反向电流(reverse current)反向电流原本是针对二极管提出的一个概念,当二极管反向偏置的时候本来应该是不导通的,没有电流;但是实际在二极管两端加反向电压的时候,会有微弱的电流流过二极管,这个电流就是反向电流。
从反向电流和漏电流都可以判断Si片中杂质含量高低。
太阳能板材料组成
太阳能板是一种可以将太阳光转化为电能的设备。
太阳能板材料组成包括硅片、玻璃、EVA膜、背板、铝框等。
其中,硅片是太阳能电池的核心部件,是太阳能
板的关键材料。
硅片的质量和性能直接影响太阳能板的转化效率和寿命。
玻璃是太阳能板的表面保护层,主要起到隔离和保护的作用。
EVA膜是太阳
能板中的粘合剂,具有良好的透明度和粘合性能,能够将硅片、玻璃和背板牢固地粘合在一起。
背板则是太阳能板的支撑和保护层,通常采用聚合物材料制成。
铝
框则用于固定太阳能板的各个组件,具有良好的强度和耐腐蚀性能。
综上所述,太阳能板材料组成是多种材料的组合,每种材料都发挥着重要的作用,共同构成了太阳能板的整体结构。
通过优化太阳能板材料组成,可以提高太阳能板的转化效率和寿命,进一步推广太阳能的应用。
太阳能电池片的生产工艺流程分为硅片检测——表面制绒——扩散制结——去磷硅玻璃——等离子刻蚀——镀减反射膜——丝网印刷——快速烧结等。
具体介绍如下:一、硅片检测硅片是太阳能电池片的载体,硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低,因此需要对来料硅片进行检测。
该工序主要用来对硅片的一些技术参数进行在线测量,这些参数主要包括硅片表面不平整度、少子寿命、电阻率、P/N型和微裂纹等。
该组设备分自动上下料、硅片传输、系统整合部分和四个检测模块。
其中,光伏硅片检测仪对硅片表面不平整度进行检测,同时检测硅片的尺寸和对角线等外观参数;微裂纹检测模块用来检测硅片的内部微裂纹;另外还有两个检测模组,其中一个在线测试模组主要测试硅片体电阻率和硅片类型,另一个模块用于检测硅片的少子寿命。
在进行少子寿命和电阻率检测之前,需要先对硅片的对角线、微裂纹进行检测,并自动剔除破损硅片。
硅片检测设备能够自动装片和卸片,并且能够将不合格品放到固定位置,从而提高检测精度和效率。
二、表面制绒单晶硅绒面的制备是利用硅的各向异性腐蚀,在每平方厘米硅表面形成几百万个四面方锥体也即金字塔结构。
由于入射光在表面的多次反射和折射,增加了光的吸收,提高了电池的短路电流和转换效率。
硅的各向异性腐蚀液通常用热的碱性溶液,可用的碱有氢氧化钠,氢氧化钾、氢氧化锂和乙二胺等。
大多使用廉价的浓度约为1%的氢氧化钠稀溶液来制备绒面硅,腐蚀温度为70-85℃。
为了获得均匀的绒面,还应在溶液中酌量添加醇类如乙醇和异丙醇等作为络合剂,以加快硅的腐蚀。
制备绒面前,硅片须先进行初步表面腐蚀,用碱性或酸性腐蚀液蚀去约20~25μm,在腐蚀绒面后,进行一般的化学清洗。
经过表面准备的硅片都不宜在水中久存,以防沾污,应尽快扩散制结。
三、扩散制结太阳能电池需要一个大面积的PN结以实现光能到电能的转换,而扩散炉即为制造太阳能电池PN结的专用设备。
管式扩散炉主要由石英舟的上下载部分、废气室、炉体部分和气柜部分等四大部分组成。
硅片的维氏硬度全文共四篇示例,供读者参考第一篇示例:硅片是一种常用的半导体材料,其具有硬度高、热导率优异、化学稳定性好以及光电性能优越等特点。
硅片的硬度对于其在各种应用场景中起着重要的作用。
维氏硬度是常用的硬度测试方法之一,通过该方法可以准确测量硅片的硬度,从而评估其力学性能和质量。
硅片的维氏硬度主要受到其晶体结构、纯度、晶粒大小以及表面处理等因素的影响。
在晶体结构方面,硅片通常具有六方晶体结构,使得其硬度较高。
硅片的纯度也对其硬度产生重要影响,高纯度的硅片硬度更高。
硅片的晶粒大小以及表面处理的方式也会影响其硬度性能。
维氏硬度测试是一种通过在材料表面施加一定载荷后测定其压痕深度来评估硬度的方法。
在硅片的硬度测试中,通常使用金刚石材料作为压头,通过施加一定载荷来压入硅片表面,然后测量压痕的直径或者深度来计算硬度值。
这种方法适用于各种硬度较高的材料,包括硅片。
硅片的维氏硬度通常处于较高水平,一般在500HV以上。
这种高硬度使得硅片在各种应用领域中具有良好的耐磨性和耐折性,可以更长时间地保持其表面光滑和完整性。
硅片的高硬度还使得其在加工和制造过程中更容易控制,可以减少损坏和磨损的风险。
在半导体工业中,硅片的硬度对于其在芯片制造和集成电路领域中的应用至关重要。
硅片作为集成电路的基板材料,其硬度必须足够高以支撑上面的各种电子元件。
通过维氏硬度测试可以准确评估硅片的硬度水平,帮助制造商选择最适合的硅片材料。
第二篇示例:硅片是一种常用的半导体材料,广泛应用于集成电路、光伏电池、传感器等领域。
硅片的维氏硬度是评价硅片硬度的重要指标之一,它反映了硅片抗压强度和耐磨性能的能力。
本文将介绍硅片的维氏硬度的相关知识,包括硅片硬度的定义、测试方法、影响因素以及应用前景等内容。
一、硅片的维氏硬度是什么?硅片的维氏硬度是指用维氏硬度计对硅片进行测定所得到的硬度值。
维氏硬度计是一种常用的硬度测试仪器,通过压入试样表面的金刚石或硬质合金球来测定材料的硬度值。
结晶硅太阳电池效率的影响因素及优化方案本文基于结晶硅太阳电池的构造原理,理论上分析了影响太阳电池转换效率的主要因素,并为提高太阳电池的光电转换效率,提出优化方案。
进行电极优化以减小表面电极所引起的功率损失是一种行之有效的方法。
目前主要有减小电极栅线宽度、增加电极栅线高度、减少电极栅线电阻率、减小发射极与电极栅线之间的接触电阻四种方法。
其中第一种方法能够减少太阳电池的光学损失,后三种方法能够减少太阳能电池的电学损失。
综合考虑电池前表面的电学损失和光学损失,介绍了优于单层电极结构的双层电极技术。
对于俄歇复合与表面面积增加导致的电学损失,介绍了全背电极技术。
关键词:结晶硅太阳电池、光学损失、转换效率、双层电极技术第一章绪论1.1 结晶硅太阳电池的发展历史及现状中国对太阳能电池的研究起步于1958年,20世纪80年代末期,国内先后引进了多条太阳能电池生产线,使中国太阳能电池生产能力由原来的3个小厂的几百kW一下子提升到4个厂的4.5MW,这种产能一直持续到2002年,产量则只有2MW左右。
进入二十一世纪,随着欧洲市场的放大,特别是德国市场,以及横空出世的无锡尚德太阳能电力有限公司,中国光伏产业在其超常规的发展中找到了前所未有的发展契机和机遇。
目前,我国在太阳能电池领域产业已经成功超过欧洲、日本,成为全球主要的太阳能电池生产国,也是世界太阳能电池生产第一大国。
在产业布局方面,我国的太阳能电池产业在环渤海、珠三角、长三角、中西部地区,已经形成了一定的集聚态势,衍生出了各具特色的太阳能产业集群。
在技术方面,国外的太阳能电池技术发展比国内早了近二十多年,尽管最近几年国家在太阳能电池方面加大了投入,但国内的太阳能电池技术与国外差距依旧很大。
想要有较大的发展,政府要给予政策上较大的引导和激励,有效合理的解决太阳能发电定价的问题和上网问题。
与此同时要较多借鉴国外的成功经验,要充分发挥政府的示范作用,可将太阳能强制推广到公共设施、政府办公楼等应用领域,推动国内太阳能电池市场需求,促使太阳能电池技术尽快起步和良性发展。
物理学原理在光伏硅产品检测中的应用【摘要】光伏硅产品作为太阳能发电系统的核心组件,在生产过程中需要进行严格的检测以确保质量和性能。
本文探讨了光伏硅产品检测的原理、方法和设备,重点讨论了物理学原理在光伏硅产品检测中的具体应用。
通过实际案例分析,详细描述了物理学原理如光学、热学、电学等在不同检测环节的作用及应用效果。
总结了物理学原理在光伏硅产品检测中的重要性,指出其在提高产品质量、降低生产成本、提升市场竞争力方面的关键作用。
展望未来,随着物理学原理的不断深入研究和应用,光伏硅产品检测技术将不断完善和创新,为产业发展注入新动力。
通过本文的研究,能够更深入了解物理学在光伏硅产品检测中的现实意义和潜在应用价值。
【关键词】光伏硅产品检测、物理学原理、应用、设备、方法、案例分析、重要性、展望未来发展。
1. 引言1.1 背景介绍光伏硅产品是太阳能电池的核心材料,其质量直接影响太阳能电池的性能和效率。
随着太阳能产业的快速发展,光伏硅产品的质量检测变得尤为重要。
传统的检测方法往往耗时耗力,且无法全面准确地评估产品的质量。
基于物理学原理的高效检测方法变得尤为关键。
光伏硅产品检测意义:光伏硅产品的质量检测是确保产品性能和寿命的关键步骤。
通过对硅产品的检测,可以及时发现产品存在的缺陷和问题,进而提高产品的可靠性和稳定性。
准确的检测结果可以为产品的质量控制和改进提供重要依据。
充分利用物理学原理在光伏硅产品检测中的应用,可以大大提高产品的质量和生产效率。
1.2 光伏硅产品检测意义在光伏硅产品检测中,物理学原理的应用是至关重要的。
光伏硅产品是太阳能光伏系统的核心组件,其质量直接影响着光伏系统的发电效率和稳定性。
对光伏硅产品进行严格的检测和评估是非常必要的。
光伏硅产品的检测意义在于保障产品质量,提高光伏系统的性能。
通过检测可以及时发现硅片表面缺陷、晶体损伤、结晶缺陷等问题,及时进行修复或更换,避免影响系统的发电效率和寿命。
检测结果也可以为产品的质量控制和工艺优化提供参考,帮助制造商提高产品的竞争力。
太 阳 能第2期 总第358期2024年2月No.2 Total No.358 Feb., 2024SOLAR ENERGY0 引言近百年来,全球能源消耗基本处于不断增长态势,光伏发电以其独特的优势成为解决能源危机和温室效应的有效途径。
单晶硅太阳电池在光伏市场一直占据主导地位,其蓬勃发展带动了硅片市场需求的快速增长。
金刚线切割方式取代了过去的砂浆切割方式,成为单晶硅切片市场的主导。
在当前硅片大尺寸、薄片化技术趋势下,金刚线细线化成为多数切片厂家降低硅片成本的主要方式之一。
从砂浆切割过渡到金刚线切割,硅片表面线痕深度有了很大幅度的降低。
当前,光伏行业内大多数厂家普遍认同的单晶硅片表面线痕深度标准为小于等于15 μm,当硅片表面线痕深度超过15 μm时,硅片就会被降级[1],因为此类硅片容易造成成品太阳电池断栅,使其无法正常使用。
然而,太阳电池生产商为控制银浆成本,开发出了低银浆耗量的细栅太阳电池,导致银栅线越来越细,使量产中即使硅片线痕深度在0~15 μm的太阳电池也出现一定比例的成品断栅片。
通过对此类断栅太阳电池进行微观分析,判断断栅与硅片切割时的线痕深度及线痕结构有关。
因此,本文首先对切割线痕在硅片表面的分布状态及线痕形貌在硅片碱制绒前后的变化进行量化分析,然后针对硅片表面不同线痕深度对太阳电池电性能及良率的影响进行研究,最后在硅片线痕深度小于等于15 μm的基础上,研究硅片线痕对细栅的影响机理。
1 实验1.1 实验样品及测试仪器实验样品选用晶澳太阳能有限公司生产的p型直拉掺镓单晶硅片,电阻率为0.4~0.8 Ω•cm,硅片厚度为160±10 μm、尺寸为168 mm×168 mm;使用A公司生产的金刚线直径为DOI: 10.19911/j.1003-0417.tyn20221216.01 文章编号:1003-0417(2024)02-29-09硅片切割线痕对太阳电池电性能影响的研究张志敏*,王 松,刘 苗,王贵梅,翟 超(晶澳太阳能有限公司,邢台 055550)摘 要:金刚线切割是目前光伏行业主要的单晶硅片切割方式,但硅片被切割后其表面会留有线痕。
尚德电力控股有限公司张光春1.引言2007年全球商业化光伏电池市场中,由单晶硅和多晶硅组成的晶体硅太阳能电池的市场份额达%,是光伏市场的绝对主流产品,而且在可见的未来几年内,这种局面不会改变。
1999年-2007年全球商业化光伏电池市场份额硅片作为晶体硅太阳能电池的基础材料,其质量对电池性能具有很重要的影响。
一方面,硅片的内部缺陷和杂质会直接影响电池的效率和稳定性;另一方面,硅片的外观缺陷和表面质量对电池的制造和外观等也具有很重要的影响。
只有通过硅片供应商和电池片制造商的共同努力,不断改善和提高硅片质量,才能更好地为我们的客户提供高质量的电池和组件。
2. 单晶硅片质量对电池性能的影响单晶硅由于其本身内部完整的晶体结构,其电池效率明显高于多晶硅电池。
然而,单晶硅内部杂质和晶体缺陷的存在会严重影响太阳能电池的效率,比如:(a)光照条件下B-O复合体的产生会导致单晶电池的早期光致衰减;(b)内部金属杂质和晶体缺陷(位错等)的存在会成为少数载流子的复合中心,影响其少子寿命,导致电池性能的下降。
2.1少子寿命对电池性能的影响少子寿命是指半导体材料在外界注入(光或电)停止后,少数载流子从最大值衰减到无注入时的初值之间的平均时间。
少子寿命是用于表征材料的重金属沾污及体缺陷的重要参数,少子寿命值越大,相应的材料质量越好。
少子寿命已成为生产线上常规测试的一个参数。
我们选取某供应商某批单晶硅片进行实验,将硅片按不同少子寿命区分后,按正常电池工艺做成电池,其少子寿命和电池效率具有很好的对应关系,如下图所示。
早期光致衰减对电池性能的影响早期光致衰减机理P型掺硼晶体硅太阳电池的早期光致衰减现象最早在30多年前就有相关报道。
大量的科学研究发现它与硅片中的硼氧浓度有关,大家基本一致的看法是光照或电流注入导致硅片中的硼和氧形成硼氧复合体,从而使少子寿命降低,但经过退火处理,少子寿命又可恢复,其反应为:正是由于掺硼单晶硅在光照条件下硼氧复合体的生成,引起少子寿命的下降,最终导致太阳电池和组件功率的下降。
关于这方面的详细研究,尚德公司已在第十届光伏大会上发表论文“P型晶体硅光伏电池和组件早期光致衰减问题的研究”。
光致衰减的危害光伏组件的早期光致衰减(一)会引起组件功率在使用的最初几天内发生较大幅度的下降,使标称功率和实际功率不符,使组件供应商面临客户投诉或索赔。
(二)光伏组件的光致衰减主要是由电池衰减导致的,同一组件内各个电池片由于光致衰减的不一致性造成原本分选时电性能一致的电池片,经过光照后,电性能会存在很大偏差,引起组件曲线异常和热斑现象,导致组件的早期失效。
低质电池光致衰减不一致性实例我们将某供应商提供的质量较差的硅片做成的初始分选效率为16%的电池片,经弱光光照小时后(光源为节能灯),发现电池片效率衰减很多,且离散性也很大,效率最高的为%,最低的仅为13%,衰减比率达%至%。
低质硅片做成的同一档次电池经弱光光照后效率分布图上述经弱光光照的电池片重新分选检测后,按转换效率的分布情况做成14块组件,经太阳光光照1天和2天后的功率对比如下图所示。
试验结论:1.此供应商的硅片制作的电池片本身衰减较为严重,如果电池片不经过光照和二次分选而直接做成组件,尤其是衰减较为严重的那部分电池片,会分散在各个组件内,影响到组件的整体功率下降更多,并且将导致组件曲线异常和热斑。
2.上述结果也说明,普通的节能灯没有使该电池片衰减到稳定的程度,因此做成的组件在太阳光光照后仍然出现了较大的衰减。
但是通过光照后二次分选剔出了效率极低的电池片,并使得每个组件内电池片效率均匀性基本一致。
3.初始分选效率16%的电池片理论上可做成172W的组件,但经过光致衰减后,最终的做成最大仅组件和最小仅的组件,衰减比率达%至%!因此,严格把控硅片质量是保证电池和组件性能稳定的根本措施。
早期光致衰减导致的组件台阶曲线和热斑现象台阶曲线和热斑现象分析:•光伏组件的核心组成部分就是太阳电池,如果太阳电池发生光致衰减,就必然导致光伏组件的输出功率下降,并极易在组件中引起热斑。
•若一串电池中产生的电流不一致时,通过这串电池的电流将在问题电池上引起热斑;若电池串与串之间电流不一致,在接了旁路二极管的组件特性曲线上可看到“台阶曲线”。
•通过测量光照前后组件的输出特性曲线和红外成像分析,可以考察组件的初始光致率减现象。
如果组件中电池的衰减不一致,将导致I-V曲线出现台阶。
对于出现台阶曲线的组件用红外成像检查,可发现有组件出现热斑,如右图所示,该组件温差大于20℃。
这种热斑的温度与周围电池的温度相差较大,过热的区域可引起EVA加快老化变黄,使该区域透光率下降,从而使热斑进一步恶化,导致组件的早期失效。
早期光致衰减的解决方案(一)改善硅单晶质量硅片自身的性质决定了太阳电池性能的早期光致衰减程度。
(A) 利用磁控直拉硅单晶工艺(MCZ)改进单晶硅棒产品质量;(B) 使用掺磷的N型硅片;(C) 改变P型掺杂剂,用镓代替硼。
尚德公司与供应商合作在掺Ga单晶方面做了大量研究工作,克服了相关技术难题,并于今年8月份联合供应商召开了掺Ga工艺推广会,把这一技术成果无偿提供给社会。
(二)电池片光照预衰减通过对电池片进行光照预衰减,使电池的早期光致衰减发生在组件制造前,组件的衰减就完全可以控制在测量误差之内。
同时也大幅度地减少了光伏组件出现热斑的几率,提高了光伏组件的输出稳定性,为我们的用户带来更多的效益。
尚德公司利用光照预衰减设备,将衰减比率大的电池片全部进行光照预衰减,主动承担因电池衰减而造成的损失,保证了光伏组件输出稳定性和客户的利益。
位错对电池性能的影响组件EL和电性能测试我们对大量低档电池片及其组件进行了研究,某低档电池片做成的组件其EL测试如下左图所示。
组件的电池片中存在着大量黑心和黑斑的情况。
电致发光EL(Electroluminescence)照片中黑心和黑斑反映的是在通电情况下该部分发出的1150nm红外光相对弱,故在EL相片中显示为黑心和黑斑,发光现象和硅衬底少数载流子寿命有关。
由此可见,黑心和黑斑处硅衬底少数载流子寿命明显偏低。
组件电性能测试如下右图所示。
由图可见,组件短路电流Isc(4.588A)和最大功率Pmax ()明显偏低;此类正常组件短路电流Isc一般为5.2A,最大功率Pmax一般为175W以上。
说明组件中存在着大量低效率电池片,导致组件功率的严重下降。
组件EL测试光照条件组件电性能测试电池片EL和电性能测试电池片EL测试如下图所示,其黑心和黑斑现象如组件EL测试所见。
光照条件电池电性能测试如下所示。
两片电池效率和Isc均明显偏低,而此类正常电池片效率约为%左右,Isc为5.3A。
硅片少子寿命测试电池经过去SiN膜、去正反电极、去铝背场和n型层,再经碘酒钝化后,硅片少子寿命测试如下图所示。
电池片EL测试黑心和黑斑区域少子寿命明显偏低。
硅片位错密度硅片经化学腐蚀后,其形貌如下图所示。
硅片“黑心内”位错密度均最高达1E6~1E7个/cm2左右;另一硅片,EL测试黑斑区域位错密度达1E5~1E6个/cm2左右,如下图所示。
“黑心内”位错密度1E6~1E7(×500倍)另一硅片位错密度1E5~1E6(×500倍)综上所述,正是由于硅片中存在着极高的位错密度,成为少数载流子的强复合中心,最终导致电池性能的严重下降。
3. 多晶硅片质量对电池性能的影响多晶硅太阳电池的市场份额已远远超过单晶硅太阳电池,成为光伏市场的主要产品。
然而,与直拉单晶硅相比,多晶硅中存在着高密度的缺陷和杂质,如晶界、位错、氧碳和金属等。
一方面,作为位错、晶界和杂质最集中的微晶区域会显著影响材料的电学性能,并最终影响电池性能;另一方面,由于多晶硅中各部分缺陷和杂质分布的不均匀性,造成单片多晶硅片性能上的明显差别,研究表明,其少子寿命最低区域对电池性能具有决定性的影响。
少子寿命分布对电池性能的影响由于多晶硅片内部杂质和缺陷的不均匀性,其少子寿命分布也具有很大的不均匀性,而最终决定所做电池效率的是硅片少子寿命最小值。
我们选取一批硅片,每片测试五个点(边角四个点和中心一个点)的少子寿命(去损伤层后碘酒钝化),再按正常工艺做成电池测试其电池效率。
硅片少子寿命五点中最大值由小到大排列时,相应电池片的效率如下图所示。
硅片少子寿命五点平均值由小到大排列时,相应电池片的效率如下图所示。
硅片少子寿命五点中最小值由小到大排列时,相应电池片的效率如下图所示。
切方之后的硅锭需要通过少子寿命扫描,将头尾少子寿命很低的区域切除,如下图所示。
否则,这些低少子寿命的硅片会严重影响电池的效率。
微晶和分布晶对电池性能的影响微晶和分布晶的描述和形貌微晶分布晶微晶:晶粒尺寸小于2mm,呈连续分布,具有一定面积的晶体。
分布晶:大晶粒上分布具有一定特征的小晶粒。
微晶和分布晶的SEM分析微晶和分布晶的EDS分析微晶和分布晶的少子寿命和漏电分析硅片少子寿命扫描图电池片Rsh扫描图微晶和分布晶区域大量晶粒的形成,必然有大量杂质作为形核中心参与形核,甚至造成硅熔液中成分过冷,而形成大量微晶和分布晶。
另一方面,由于微晶和分布晶区域大量杂质和晶界的存在,必然也伴随着大量位错的存在,因此,微晶和分布晶区域是晶界、位错和杂质三者的聚集区。
反过来,晶界和位错对杂质具有很强的偏聚和沉淀作用,而且低温热处理过程,会加速晶界和位错对杂质的偏聚和沉淀。
所以,微晶和分布晶区域是少数载流子的强复合中心,会导致材料电学性能的严重下降。
如上图硅片少子寿命扫描图。
对微晶和分布晶区域SEM和EDS分析显示,在微晶和分布晶区域尤其是其晶界处具有很深的腐蚀坑,而且存在大量长条状SiC和SiN。
一方面说明了微晶和分布晶区域晶界处存在大量的位错、杂质和缺陷,所以具有很高的腐蚀速度,容易形成较深的腐蚀坑。
另一方面,如下图所示,太阳能电池可认为是无数二极管的并联,但是由于贯穿PN结的长条状导电型SiC的存在,会造成电池的严重漏电Ileak甚至PN结短路,使电池性能严重下降甚至报废。
如上图电池片Rsh扫描图所示漏电。
典型微晶和分布晶模拟光强电池性能测试结论:在多晶硅片上,作为晶界、位错和杂质三者聚集的微晶区域,是少数载流子的强复合中心,会严重影响硅片的少子寿命。
而微晶区域,尤其是晶界处垂直于PN结的长条状导电型SiC的存在,会造成多晶硅电池的严重漏电甚至PN结局部短路,使电池性能严重下降甚至报废。
4. 硅片各种不良对电池性能的影响硅锭研磨抛光对电池性能的影响作为脆性材料,多晶大锭切方后,在小硅锭表面会有机械损伤层存在,包括碎晶区、位错网络区和弹性应变区,其结构如下图所示。
碎晶区又称微裂纹区,是由破碎的硅晶粒组成的;位错网络区存在大量位错;弹性应变区则存在弹性应变,硅原子排列不规整。