专升本《CMOS模拟集成电路分析与设计》_试卷_答案
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专升本《集成电路版图设计》一、(共75题,共150分)1. 单词“LAYOUT”的含义是:()。
(2分)A.版图B.电路C.输出.标准答案:A2. 集成电阻通常由扩散或者淀积层形成,通常可以用厚度一定的薄膜作为模型,因此习惯上把电阻率和厚度合成一个单位,称为()。
(2分)A.方块电阻B.电阻C.半导体电阻.标准答案:A3. 由于其较小的方块电阻,发射区是唯一适合于制作较小电阻(0.5~100)的区域。
对于发射区电阻可以忽略()和电导调制效应。
(2分)A.电流调制B.电压调制C.电荷调制.标准答案:B4. 在模拟BiCMOS工艺中,发射区电阻可以直接置入()外延层内;(2分)A.P型B.N型C.P型或N型.标准答案:A5. 电容的标准单位是()。
(2分)A.法拉B.伏特C.安培.标准答案:A6. CMOS工艺中的多晶硅-多晶硅电容,()可以用作多晶硅-多晶硅电容的下电极。
(2分)A.电阻多晶硅B.电容多晶硅C.多晶硅栅.标准答案:C7. 单位面积电容与相对介电常数即电介质常数成()。
(2分)A.反比B.正比C.无关.标准答案:B8. 流过导体的电流会在导体周围产生()。
(2分)A.电场B.磁场C.电磁场.标准答案:B9. 发射结和集电结的击穿决定了一个双极型晶体管的()工作电压。
重要的三种击穿电压为VEBO,VCBO,VCEO等。
(2分)A.最大 B.最小 C.任意.标准答案:A10. 发射极开路时集电极的击穿电压表示为VCBO,绝大多数晶体管的集电区和基区都是()的,所以VCBO通常很大。
(2分)A.重掺杂B.不掺杂C.轻掺杂.标准答案:C11. 二极管连接形式的晶体管可以作为一个很方便的基准()源。
(2分)A.电压B.电流C.电压或电流.标准答案:A12. 使用P型外延层,必须加入深的轻掺杂()型扩散区用于制作PMOS晶体管。
(2分)A.NB.PC.N或P.标准答案:A13. MOS晶体管是一种()控制器件。
专升本CMOS模拟集成电路分析与设计试卷答案专升本《CMOS模拟集成电路分析与设计》一、(共75题,共150分)1. Gordon Moore在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每()个月翻一番(2分)A.12B.18C.20D.24.标准答案:B2. MOS 管的小信号输出电阻是由MOS管的()效应产生的。
(2分)A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通.标准答案:C3. 在CMOS模拟集成电路设计中,我们一般让MOS管工作在()区。
(2分)A.亚阈值区B.深三极管区C.三极管区D.饱和区.标准答案:D4. MOS管一旦出现()现象,此时的MOS管将进入饱和区。
(2分)A.夹断B.反型C.导电D.耗尽.标准答案:A5. ()表征了MOS器件的灵敏度。
(2分)A.B.C.D..标准答案:C6. Cascode放大器中两个相同的NMOS管具有不相同的()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:B7. 基本差分对电路中对共模增益影响最显著的因素是()。
(2分)A.尾电流源的小信号输出阻抗为有限值B.负载不匹配C.输入MOS不匹配D.电路制造中的误差.标准答案:C8. 下列电路不能能使用半边电路法计算差模增益()。
(2分)A.二极管负载差分放大器B.电流源负载差分放大器C.有源电流镜差分放大器D.Cascode负载Casocde差分放大器.标准答案:C9. 镜像电流源一般要求相同的()。
(2分)A.制造工艺B.器件宽长比C.器件宽度WD.器件长度L.标准答案:D10. 某一恒流源电流镜如图所示。
忽略M3的体效应。
要使和严格相等,应取为()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:A11. 选择题:下列结构中密勒效应最大的是()。
(2分)A.共源级放大器B.源级跟随器C.共栅级放大器D.共源共栅级放大器.标准答案:A12. 下图中,其中电压放大器的增益为-A,假定该放大器为理想放大器。
请计算该电路的等效输入电阻为()。
专升本《CMOS模拟集成电路分析与设计》_试卷_答案专升本《CMOS模拟集成电路分析与设计》一、(共75题,共150分)1. Gordon Moore在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每()个月翻一番(2分)A.12B.18C.20D.24.标准答案:B2. MOS 管的小信号输出电阻是由MOS管的()效应产生的。
(2分)A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通.标准答案:C3. 在CMOS模拟集成电路设计中,我们一般让MOS管工作在()区。
(2分)A.亚阈值区B.深三极管区C.三极管区D.饱和区.标准答案:D4. MOS管一旦出现()现象,此时的MOS管将进入饱和区。
(2分)A.夹断B.反型C.导电D.耗尽.标准答案:A5. ()表征了MOS器件的灵敏度。
(2分)A.B.C.D..标准答案:C6. Cascode放大器中两个相同的NMOS管具有不相同的()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:B7. 基本差分对电路中对共模增益影响最显著的因素是()。
(2分)A.尾电流源的小信号输出阻抗为有限值B.负载不匹配C.输入MOS不匹配D.电路制造中的误差.标准答案:C 8. 下列电路不能能使用半边电路法计算差模增益()。
(2分)A.二极管负载差分放大器B.电流源负载差分放大器C.有源电流镜差分放大器D.Cascode负载Casocde差分放大器.标准答案:C9. 镜像电流源一般要求相同的()。
(2分)A.制造工艺B.器件宽长比C.器件宽度WD.器件长度L.标准答案:D10. 某一恒流源电流镜如图所示。
忽略M3的体效应。
要使和严格相等,应取为()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:A11. 选择题:下列结构中密勒效应最大的是()。
(2分)A.共源级放大器B.源级跟随器C.共栅级放大器D.共源共栅级放大器.标准答案:A12. 下图中,其中电压放大器的增益为-A,假定该放大器为理想放大器。
请计算该电路的等效输入电阻为()。
专升本《模拟电子技术》一、(共48题,共150分)1. 直接耦合放大电路存在零点漂移的原因是( )。
(2分)A.电阻阻值有误差B.晶体管参数的分散性C.晶体管参数受温度影响D.晶体管结电容不确定性.标准答案:C2. 稳压二极管的有效工作区是( )。
(2分)A.正向导通区B.反向击穿区C.反向截止区D.死区.标准答案:B3. 如果在PNP型三极管放大电路中测得发射结为正向偏置,集电结也为正向偏置,则此管的工作状态为( )。
(2分)A.放大状态B.微导通状态C.截止状态D.饱和状态.标准答案:D4. 集成放大电路采用直接耦合方式的原因是( )。
(2分)A.便于设计B.放大交流信号C.不易制作大容量电容D.不易制作大阻值的电阻.标准答案:C5. 用恒流源取代长尾式差动放大电路中的发射极电阻,将使单端电路的( )。
(2分)A.抑制共模信号能力增强B.差模放大倍数数值增大C.差模输入电阻增大D.差模输出电阻增大.标准答案:A6. 半导体中PN结的形成主要是由于()生产的。
(2分)A.N区自由电子向P区的扩散运动B.N区自由电子向P区的漂移运动C.P区自由电子向N区的扩散运动D.P区自由电子向N区的漂移运动.标准答案:A7. 理想的功率放大电路应工作于( )状态。
(2分)A.甲类互补B.乙类互补C.甲乙类互补D.丙类互补.标准答案:C8. NPN共射电路的Q点设置在接近于( )处将产生顶部失真。
(2分)A.截止区B.饱和区C.击穿区D.放大区.标准答案:A 9. 当有用信号的频率介于1500Hz与2000Hz之间时,应采用的最佳滤波电路是( )。
(2分)A.低通B.高通C.带通D.带阻.标准答案:C10. 差动放大电路的特点是抑制( )信号,放大( )信号。
(2分)A.共模共模B.共模差模C.差模差模D.差模共模.标准答案:B11. 利用两只NPN型管构成的复合管只能等效为NPN型管。
(2分) ( ).标准答案:正确12. 未加外部电压时,PN结中电流从P区流向N区。
模拟集成电路设计期末试卷..《模拟集成电路设计原理》期末考试⼀.填空题(每空1分,共14分)1、与其它类型的晶体管相⽐,MOS器件的尺⼨很容易按____⽐例____缩⼩,CMOS电路被证明具有_较低__的制造成本。
2、放⼤应⽤时,通常使MOS管⼯作在_ 饱和_区,电流受栅源过驱动电压控制,我们定义_跨导_来表⽰电压转换电流的能⼒。
3、λ为沟长调制效应系数,对于较长的沟道,λ值____较⼩___(较⼤、较⼩)。
4、源跟随器主要应⽤是起到___电压缓冲器___的作⽤。
5、共源共栅放⼤器结构的⼀个重要特性就是_输出阻抗_很⾼,因此可以做成___恒定电流源_。
6、由于_尾电流源输出阻抗为有限值_或_电路不完全对称_等因素,共模输⼊电平的变化会引起差动输出的改变。
7、理想情况下,_电流镜_结构可以精确地复制电流⽽不受⼯艺和温度的影响,实际应⽤中,为了抑制沟长调制效应带来的误差,可以进⼀步将其改进为__共源共栅电流镜__结构。
8、为⽅便求解,在⼀定条件下可⽤___极点—结点关联_法估算系统的极点频率。
9、与差动对结合使⽤的有源电流镜结构如下图所⽰,电路的输⼊电容C in为__ C F(1-A)__。
10、λ为沟长调制效应系数,λ值与沟道长度成___反⽐__(正⽐、反⽐)。
⼆.名词解释(每题3分,共15分)1、阱解:在CMOS⼯艺中,PMOS管与NMOS管必须做在同⼀衬底上,其中某⼀类器件要做在⼀个“局部衬底”上,这块与衬底掺杂类型相反的“局部衬底”叫做阱。
2、亚阈值导电效应解:实际上,V GS=V TH时,⼀个“弱”的反型层仍然存在,并有⼀些源漏电流,甚⾄当V GS3、沟道长度调制解:当栅与漏之间的电压增⼤时,实际的反型沟道长度逐渐减⼩,也就是说,L 实际上是V DS 的函数,这种效应称为沟道长度调制。
4、等效跨导Gm 解:对于某种具体的电路结构,定义inD V I ??为电路的等效跨导,来表⽰输⼊电压转换成输出电流的能⼒ 5、⽶勒定理解:如果将图(a )的电路转换成图(b )的电路,则Z 1=Z/(1-A V ),Z 2=Z/(1-A V -1),其中A V =V Y /V X 。
模拟CMOS集成电路设计课后题在现代电子科学领域中,模拟CMOS集成电路设计是一门重要的课程,它涉及到电子工程中的基本原理和技术,对从事电子电路设计和集成电路制造的专业人员来说,具有非常重要的意义。
而课后题作为知识的巩固和扩展,对于深入理解和掌握这门课程也至关重要。
接下来,我将针对模拟CMOS集成电路设计课后题进行深度和广度兼具的全面评估,并据此撰写一篇有价值的文章。
一、基本概念解释1. 什么是模拟CMOS集成电路设计?模拟CMOS集成电路设计即使用CMOS工艺制作的模拟电路。
它在数字电路的基础上加入了模拟电路。
2. 课后题的重要性课后题是对课堂所学知识的巩固和拓展,通过解答课后题可以帮助学生更深入地理解和掌握课程内容,提高解决问题的能力。
二、课后题解析1. 请列举一些模拟CMOS集成电路设计的常见应用?模拟CMOS集成电路设计常见的应用包括放大电路、滤波电路、比较器、运算放大器等。
2. 什么是CMOS工艺?CMOS是指互补型金属氧化物半导体技术,它是当今集成电路工艺的主流之一。
CMOS工艺具有低功耗、高集成度和良好的抗干扰能力等特点。
3. 请解释CMOS集成电路的工作原理。
CMOS集成电路由N型金属氧化物半导体场效应晶体管和P型金属氧化物半导体场效应晶体管组成。
当输入电压改变时,两个晶体管的导通状态都会随之改变,从而实现信号的放大和处理。
4. 请说明模拟CMOS集成电路设计中需要考虑的主要因素?在模拟CMOS集成电路设计中,需要考虑的主要因素包括功耗、速度、噪声、线性度、稳定性等。
5. 如何进行模拟CMOS集成电路的性能指标评估?模拟CMOS集成电路的性能指标评估包括静态指标和动态指标两部分,静态指标包括增益、带宽、输入输出阻抗等;动态指标包括上升时间、下降时间、过冲、欠冲等。
三、个人观点和总结从我个人的观点来看,模拟CMOS集成电路设计是电子工程领域中非常重要的一门课程,通过课后题的解答可以更好地理解和掌握课程中的知识点,培养自己的问题解决能力。
专升本《集成电路工艺技术基础》一、(共34题,共150分)1. 恒定电场条件下,按照微电子工艺下器件的等比例缩小原则,若器件的几何尺寸等比例缩小k倍,则衬底掺杂浓度N应该________k倍,电压Vdd应该________k倍,芯片密度则提高________ 倍。
(6分).标准答案:1. 提高;2. 缩小;3. k2;2. 拉制单晶的过程包括________、________、________、________、________及________。
(12分).标准答案:1. 熔硅;2. 引晶;3. 收颈;4. 放肩;5. 等径生长;6. 收晶。
;3. 影响氧化速率的因素有________、________、________、________及________等。
(10分).标准答案:1. 温度;2. 压强;3. 晶向;4. 掺杂浓度;5. 杂质类型(掺氯); 4. 掺杂是指在衬底选择区域掺入定量杂质,包括________________和________________两项工艺。
(4分).标准答案:1. 扩散掺杂;2. 离子注入掺杂;5. 从机理上分析,可以将整个溅射分解为四个过程,分别是________________________________、________________________________、________________________________及________________________________。
(8分).标准答案:1. 等离子体产生过程;2. 离子轰击靶过程;3. 靶原子气相输入过程;4. 沉积成膜过程;6. 硅单晶氧化速度最快的晶向是____________________。
(2分).标准答案:1. (111);7. 半导体工艺中Si3N4一般采用____________进行腐蚀,而SiO2则一般采用____________进行腐蚀,Si则一般采用____________和____________进行腐蚀。
模拟cmos集成电路设计课后题CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)集成电路设计是现代电子技术的关键领域之一。
该领域涉及到各种基本电路以及整个系统的设计与优化。
本文将模拟一篇CMOS集成电路设计的课后题,其中包括对基本电路的设计以及系统级优化的考察。
第一部分:基本电路设计(2000字左右)1. 设计一个2输入与门的CMOS电路。
给出电路图,并写出相应的布尔表达式。
2. 为了减小功耗并提高响应速度,经常需要将电路设计为动态逻辑电路。
请设计一个动态逻辑的非门电路,给出电路图,并写出相应的时钟脉冲控制信号。
第二部分:CMOS集成电路设计(2000字左右)3. 设计一个3输入与门的CMOS电路,并对其功耗进行优化。
4. 设计一个4位二进制全加器的CMOS电路,并考虑功耗和面积的优化。
第三部分:系统级优化(2000字左右)5. 将两个2输入与门和一个2输入或门组合成一个3输入与门。
请给出详细的设计流程和最终的电路图。
6. 设计一个8位互补码加法器的CMOS电路,并考虑功耗、面积和延迟的优化。
第一部分:基本电路设计1. 设计一个2输入与门的CMOS电路。
给出电路图,并写出相应的布尔表达式。
CMOS与门的基本电路由PMOS管和NMOS管组成。
在输入A和B分别接入与门电路的两个输入端,而输出则连接到NMOS管和PMOS管接口的并联电路的输出端。
当A和B同时为高电平时,输出才为高电平。
其布尔表达式可以写为:Z = A * B。
2. 为了减小功耗并提高响应速度,经常需要将电路设计为动态逻辑电路。
请设计一个动态逻辑的非门电路,给出电路图,并写出相应的时钟脉冲控制信号。
动态非门电路的设计可以采用PMOS管串联的结构。
当输入S 为高电平时,NMOS管导通,输出结果为0;当输入S为低电平时,PMOS管导通,输出结果为1。
其时钟脉冲控制信号可以表示为:NAND(A, A)。
专升本《CMOS模拟集成电路分析与设计》一、(共75题,共150分)1. Gordon Moore在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每()个月翻一番(2分)A.12B.18C.20D.24.标准答案:B2. MOS 管的小信号输出电阻是由MOS管的()效应产生的。
(2分)A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通.标准答案:C3. 在CMOS模拟集成电路设计中,我们一般让MOS管工作在()区。
(2分)A.亚阈值区B.深三极管区C.三极管区D.饱和区.标准答案:D4. MOS管一旦出现()现象,此时的MOS管将进入饱和区。
(2分)A.夹断B.反型C.导电D.耗尽.标准答案:A5. ()表征了MOS器件的灵敏度。
(2分)A.B.C.D..标准答案:C6. Cascode放大器中两个相同的NMOS管具有不相同的()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:B7. 基本差分对电路中对共模增益影响最显著的因素是()。
(2分)A.尾电流源的小信号输出阻抗为有限值B.负载不匹配C.输入MOS不匹配D.电路制造中的误差.标准答案:C 8. 下列电路不能能使用半边电路法计算差模增益()。
(2分)A.二极管负载差分放大器B.电流源负载差分放大器C.有源电流镜差分放大器D.Cascode负载Casocde差分放大器.标准答案:C9. 镜像电流源一般要求相同的()。
(2分)A.制造工艺B.器件宽长比C.器件宽度WD.器件长度L.标准答案:D10. 某一恒流源电流镜如图所示。
忽略M3的体效应。
要使和严格相等,应取为()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:A11. 选择题:下列结构中密勒效应最大的是()。
(2分)A.共源级放大器B.源级跟随器C.共栅级放大器D.共源共栅级放大器.标准答案:A12. 下图中,其中电压放大器的增益为-A,假定该放大器为理想放大器。
请计算该电路的等效输入电阻为()。
(2分)A.B.C.D..标准答案:A13. 对电路进行直流工作点分析的Hspice命令是()。
(2分)A.DCB.ACC.OPD.IC.标准答案:C14. 模拟集成电路设计中的第一步是()。
(2分)A.电路设计B.版图设计C.规格定义D.电路结构选择.标准答案:C15. ()可提高图中放大器的增益。
(2分)A.减小,减小B.增大,增大C.增大,减小D.减小,增大.标准答案:A16. 模拟集成电路设计中可使用大信号分析方法的是()。
(2分)A.增益B.输出电阻C.输出摆幅D.输入电阻.标准答案:C17. 模拟集成电路设计中可使用小信号分析方法的是()。
(2分)A.增益B.电压净空C.输出摆幅D.输入偏置.标准答案:A 18. 在NMOS 中,若会使阈值电压()(2分)A.增大B.不变C.减小D.可大可小.标准答案:A19. NMOS管中,如果VB变得更负,则耗尽层()。
(2分)A.不变B.变得更窄C.变得更宽D.几乎不变.标准答案:C20. 随着微电子工艺水平提高,特征尺寸不断减小,这时电路的工作电压会()(2分)A.不断提高B.不变C.可大可小D.不断降低.标准答案:D21. MOS管漏电流的变化量除以栅源电压的变化量是()。
(2分)A.电导B.电阻C.跨导D.跨阻.标准答案:C22. 工作在饱和区的MOS管,可以被看作是一个()。
(2分)A.恒压源B.电压控制电流源C.恒流源D.电流控制电压源.标准答案:B23. 密勒效应最明显的放大器是()。
(2分)A.共源极放大器B.源极跟随器C.共栅极放大器D.共基极放大器.标准答案:A24. 不能直接工作的共源极放大器是()共源极放大器。
(2分)A.电阻负载B.二极管连接负载C.电流源负载D.二极管和电流源并联负载.标准答案:C25. 模拟集成电路设计中的最后一步是()。
(2分)A.电路设计B.版图设计C.规格定义D.电路结构选择.标准答案:B26. 在当今的集成电路制造工艺中,()工艺制造的IC在功耗方面具有最大的优势。
(2分)A.MOSB.CMOSC.BipolarD.BiCMOS.标准答案:B27. MOS器件小信号模型中的mbg是由MOS管的()效应引起。
(2分)A.二级B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通.标准答案:B28. PMOS管的导电沟道中依靠()导电。
(2分)A.电子B.空穴C.正电荷D.负电荷.标准答案:B29. 当MOS管的宽长比是定值时,其跨导与漏源电流的关系曲线是()。
AB C D (2分)A.见图B.见图C.见图D.见图.标准答案:D30. 如果MOS管的栅源过驱动电压给定,L越(),输出电流越理想。
(2分)A.大B.小C.近似于WD.精确.标准答案:A31. MOS电容中对电容值贡献最大的是()。
(2分)A.GSCB.GDCC.DBCD.SBC.标准答案:A32. 下面几种电路中增益线性度最好的是()。
(2分)A.电阻负载共源级放大器B.电流源负载共源级放大器C.二极管负载共源级放大器D.源极负反馈共源级放大器.标准答案:C33. 电阻负载共源级放大器中,下列措施不能提高放大器小信号增益的是()。
(2分)A.增大器件宽长比B.增大负载电阻C.降低输入信号直流电平D.增大器件的沟道长度L.标准答案:D34. 电阻负载共源级放大器中,让输入信号从VDD下降,NMOS管首先进入()区。
(2分)A.亚阈值区 B.深三极管区 C.三极管区 D.饱和区.标准答案:B35. 下图的共源共栅放大器中,选择合适的偏置电压VB,让输入电压Vin从0逐渐增加,则先从饱和区进入线性区的MOS管是()。
(2分)A.M1B.M2C.两个同时进入D.都有可能.标准答案:D36. 下面放大器的小信号增益为()。
(2分)A. o m rg-B. smomRgrg+-1C.1D.理论上无穷大.标准答案:A37. 下列不是基本差分对电路中尾电流的作用的是()。
(2分)A.为放大器管提供固定偏置B.为放大管提供电流通路C.减小放大器的共模增益D.提高放大器的增益.标准答案:D38. 下图电流镜的输出电压最小值为()。
(2分) A.th OD V V 22+ B.th OD V V +2 C.OD V 2 D.GS OD V V 22+ .标准答案:C39. 下图中,其中电压放大器的增益为-A ,假定该放大器为理想放大器。
请计算该电路的等效输出电阻为()。
(2分)A.A R +1B.A R 11+ C.()A R +1D.()A R 11+ .标准答案:B 40. ()可提高图中放大器的增益。
(2分)A.减小2,1⎪⎭⎫ ⎝⎛LWB.仅增大2,1LC.增大2,1⎪⎭⎫ ⎝⎛LWD.仅减小2,1W.标准答案:C41. MOS 管的端电压变化时,源极和漏极()互换。
(2分) A.能 B.不能C.不知道能不能D.在特殊的极限情况下能 .标准答案:A42. CMOS 工艺里不容易加工的器件为()。
(2分) A.电阻 B.电容 C.电感 D.MOS 管 .标准答案:C43. MOS 管的特征尺寸通常是指()。
(2分) A.W B.L C.W/L D.tox .标准答案:B44. MOS 管从不导通到导通过程中,最先出现的是()。
(2分) A.反型 B.夹断 C.耗尽 D.导通 .标准答案:C45. 源极跟随器通常不能用作()。
(2分)A.缓冲器B.放大器C.电平移动D.驱动器 .标准答案:B46. 能较大范围提高阈值电压的方法是()。
(2分)A.增大MOS管尺寸B.提高过驱动电压C.制造时向沟道区域注入杂质D.增大衬底偏置效应.标准答案:C47. PMOS管导电,依靠的是沟道中的()。
(2分)A.电子B.空穴C.电荷D.电子空穴对.标准答案:B48. 为了让MOS管对外表现出受控电流源的特性,我们通常让其工作在()区。
(2分)A.截止B.三极管C.线性D.饱和.标准答案:D49. MOS管中最大的电容是()。
(2分)A.氧化层电容B.耗尽层电容C.交叠电容D.结电容.标准答案:A50. MOS 器件小信号模型中的是由MOS管的()效应引起。
(2分)A.体B.衬偏C.沟长调制D.亚阈值导通.标准答案:C51. 在当今的集成电路制造工艺中,()工艺制造的IC最容易实现尺寸的按比例缩小。
(2分)A.MOSB.CMOSC.BipolarD.BiCMOS.标准答案:B52. ()在1965年预言:每个芯片上晶体管的数目将每18个月翻一番(2分)A.比尔盖茨B.摩尔C.乔布斯D.贝尔.标准答案:B53. 最常见的集成电路通常采用()工艺制造。
(2分)A.MOSB.CMOSC.BipolarD.BiCMOS.标准答案:B54. 工作在()区的MOS管,可以被看作为电流源。
(2分)A.截止B.三极管C.深三极管D.饱和.标准答案:D55. 工作在()区的MOS管,其跨导是恒定值。
(2分)A.截止B.三极管C.深三极管D.饱和.标准答案:D56. 载流子沟道就在栅氧层下形成(),源和漏之间“导通”。
(2分)A.夹断层 B.反型层 C.导电层 D.耗尽层.标准答案:B57. 形成()的栅源电压叫阈值电压()。
(2分)A.夹断层B.反型层C.导电层D.耗尽层.标准答案:B58. NMOS管中,如果VBS变得更小,则耗尽层()。
(2分)A.不变B.变得更窄C.变得更宽D.几乎不变.标准答案:C59. NMOS管的导电沟道中依靠()导电。
(2分)A.电子B.空穴C.正电荷D.负电荷.标准答案:A60. 当MOS管的宽长比是定值时,其跨导与过驱动电源的关系曲线是()。
AB C D (2分)A.见图B.见图C.见图D.见图.标准答案:C61. MOS管的漏源电流受栅源过驱动电压控制,我们定义()来表示电压转换电流的能力。
(2分)A.跨导B.受控电流源C.跨阻D.小信号增益.标准答案:A62. 为沟长调制效应系数,对于较长的沟道,值()(2分)A.较大B.较小C.不变D.不定.标准答案:B63. 共源共栅放大器结构的一个重要特性就是输出阻抗()。
(2分)A.低B.一般C.高D.很高.标准答案:D64. NMOS管中,对阈值电压影响最大的是()。
(2分)A.VBSB.VGSC.VDSD.W/L.标准答案:A65. Cascode放大器中两个尺寸相同的NMOS具有相同的()效应。
(2分)A.沟长调制B.体C.背栅D.衬底偏置 .标准答案:A66. 小信号输出电阻相对最小的放大器是()。
(2分) A.共源级放大器 B.源级跟随器 C.共栅级放大器 D.共源共栅级放大器 .标准答案:B67. 差分放大器中,共模输入电平的变化不会引起差动输出的改变的因素是()。
(2分)A.尾电流源输出阻抗为有限值B.输入MOS 管不完全对称C.负载不完全对称D.输入对管工作在饱和区 .标准答案:D68. 下列不是基本差分对电路中尾电流的作用的是()。