SPC统计过程控制 (2)

当X≤TL时，令CP＝0，表示工序能力严重不足。
例：某电器厂生产小型变压器，规定其初次级线圈间的击穿电压不得低于1000伏，随机抽样60个变压器，试验结果计算平均击穿电压X＝1460伏，S＝93，求CP？
解：由题知TL＝1000，X＝1460，S＝93
CP＝（1460－1000）/(3*93)=1.65
b)控制用控制图：经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求，此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进行控制。这里需注意两点：一是当控制图使用一段时间，即使未发现有异常波动，也应根据过程变化情况（如原料批改变，工艺变化，设备维修等），及时对控制图的控制界限进行修正；二是一旦出现过程异常波动，则应重新抽取样本并计算控制界限进行分析。
2两种过程状态3两种控制措施未系统措施通常用来减少变差的普通原因通常要求管理层的措施工业经验约占过程措施的85伙局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与现场有关的人员解决工业经验约占过程措施的154过程控制要点属于系统的问题不要去责难现场人员要由系统采取措施属于局部的问题也不要轻易采取系统措施考虑经济因素作出合理的决定过程控制系统应能提供正确的统计信息msa四过程能力与能力指数什么是过程能力过程在统计受控状态下的变差大小过程能力是由造成变差的普通原因确定的过程能力通常代表过程本身的最佳性能过程能力决定于质量因素4m1e而与技术规范无关如何计算过程能力正态分布的情况下过程能力用分布的士3
0.01
0.03
0.06
0.11
0.22
0.40
0.72
1.80
0.00
0.01
0.01
0.03
0.06
0.13
0.25
0.48
1.90
0.00
0.01

统计过程控制(SPC, 第二版) Statistical Process Control (SPC, 2nd )
Table of Contents/目录
Section 1: Introduction/引言
1) 2) 3) 4) 5) History of Quality Management /质量管理发展的阶段 Statistical Technology of Quality Management /质量管理中的统计技术 QMS Requirements to Statistical Technology / 各质量体系对统计技术的要求 History of SPC/ SPC的发展 SPC&SQC/ SPC与SQC
Section 1: Introduction/引言
将相似工序同类分布的产品质量特征值数据，通过数学方法变换程 同一分布，从而可以累积起来称为大样本进行处理。主要有：通用 图法、相对公差法及美军固定样本容量法。
– 选控控制图（Cause-Selecting Control Chart）：前述控制图都是全 控图，及对所有异因都加以控制。而选控图是选择部分异因加以 控制，它由我国张公绪教授1980年提出。它对统计诊断理论起到 重要的作用。 – 彩虹图 – 多元控制图：1947年侯铁林（H. Hotelling）提出多元T2图控制 图，从此开辟了多元质量控制的时代。
– – Measurement of Two sided Spec (bilateral) /双边公差的指数 Measurement of One Side Tolerance /单边公差的指数
Section 4 : Control Chart/控制图概述
1) 2) Control Chart Theory/ 控制图的原理 Benefits of Control Charts /控制图的作用

统计过程控制（SPC）的三个发展阶段SPC迄今已经受了三个进展阶段，即SPC（Statistical Process Control，统计过程掌握）阶段、SPCD（Statistical Process Control and Diagnosis，统计过程掌握与诊断）阶段与SPCDA（Statistical Process Control，Diagnosis and Adjustment，统计过程掌握、诊断与调整）阶段。

（一）SPC阶段SPC是美国休哈特博士在20世纪二三十年月所制造的理论，它能科学地区分诞生产过程中产品质量的偶然波动与特别波动，从而对过程的特别准时告警，以便人们实行措施，消退特别，恢复过程的稳定。

这就是所谓质量掌握。

这一理论直到20世纪80年月，依旧是过程掌握实施的重要指导。

（二）SPCD阶段SPCD即统计过程掌握与诊断。

SPC虽然能对过程的特别进行告警，但是它并不能告知是什么特别，发生于何处，也不能进行诊断。

1982年张公绪教授提出了新型掌握图——选控图系列，为SPCD理论的进展奠定了基础。

1982年，张公绪提出两种质量诊断理论，突破了传统的美国休哈特质量掌握理论，开拓了统计质量诊断的新方向。

从今SPC上升为SPCD，SPCD是SPC的进一步进展，也是SPC的其次个进展阶段。

1994年，张公绪教授与其同学郑慧英博士提出多元逐步诊断理论，解决了西方国家的诊断理论需要同时诊断全部变量从而第一种错误的概率α比较大的问题。

1996年张公绪提出了两种质量多元逐步诊断理论（也称为两种T2图的逐步诊断理论）解决了多工序、多指标系统的MSPC与MSPCD（多元质量掌握与诊断）问题。

1998年，张公绪又将上述理论进一步改进，这是多元诊断理论的一个突破，不但使得多元掌握与诊断大为简化，而且很多的多元诊断问题由此得以解决。

目前SPCD已进入有用性阶段，我国仍旧居于领先地位，在SPC 与SPCD的理论与实践方面做出了应有的贡献，形成我国的SPC与SPCD学派。

统计过程控制（SPC）
第一节 统计过程控制概述
一、过程控制的基本概念
为实现产品生产过程质量而进行的有组 织、有系统的过程管理活动
主要内容
（1）对过程进行分析并建立控制标准 （2）对过程进行监控和评价 （3）对过程进行维护和改进
二、统计过程控制 应用统计技术对过程中的各个阶段进行评 估和监控，建立并保持过程处于可接受的 并且稳定的水平，从而保证产品与服务符 合规定的要求的一种质量管理技术。 内容 （1）利用控制图分析过程的稳定性，对 过程存在的异常原因进行预警； （2）计算过程能力指数分析稳定的过程 能力满足技术要求的程度，对过程质量进行 评价。-可接受性
2 K T/ 2 T
（0<K<1）
K: μ对M的偏移度，ε=|M-μ|
T 则：C pK 1 K C p 1 K 6
其中：ε——μ与公差中心M偏移量 T——公差带宽 T=TU—TL
（四）Cp和Cpk的比较与说明 Cp—— 反映过程加工的一致性，即 “质量能力”
或
1 5 n P P
P0 ：给定标准值 P ：未给定标准值 2. 计算样本不合格品率
3. 算P图的控制限
P 1 P UCLP P 3 n
CLP P
P1 P LCLP P 3 n
4. 样本不合格品率描点 5. 判稳/判异
6. 关于样本量ni的说明 （ 1 ）若样本量 n 大小相等，则 P 图控制限为两条直线。 （ 2 ）若样本量 ni 不全相等，则 P 图 控制限呈凹凸状。
分析过程若失控或异常，找出原因， 进行纠正，防止再发生。
7. 计算 X 图控制限并作图，判断状态。
8. 计算过程能力指数验证是否符合要求 9. 延长控制限，作控制用控制图，进行日 常管理