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X’Pert HighScore (Plus) 快速入门指南X’Pert HighScoreX’Pert HighScore Plus目录1. 约定术语 (1)1.1. 动作术语 (1)1.2. 指令与说明 (1)1.3. 按钮与表单域 (1)1.4. 菜单项与按键 (1)2. 启动HS+并启用示例数据库 (2)2.1. 介绍 (2)2.2. 启动X’Pert HighScore Plus (2)2.3. 启用数据库 (4)3. 载入及显示数据 (6)3.1. 介绍 (6)3.2. 载入扫描 (6)3.3. 显示扫描 (7)3.4. 检索参考卡片 (8)3.5. 显示参考卡片 (10)4. 图谱处理 (12)4.1. 介绍 (12)4.2. 确定背景 (12)4.3. 寻峰 (14)5. 进行物相鉴定 (17)5.1. 介绍 (17)5.2. 物相检索 (17)5.3. 物相鉴定 (18)6. 改变评分 (21)6.1. 介绍 (21)6.2. 改变评分 (21)7. 运行用户批处理 (22)7.1. 介绍 (22)7.2. 运行用户批处理 (22)8. 检索及精修晶格 (23)8.1. 介绍 (23)8.2. 准备 (23)8.3. 载入图谱 (23)8.4. 寻峰 (25)8.5. 检索/精修晶格 (27)8.6. 保存结果 (30)9. 自动Rietveld精修 (31)9.1. 介绍 (31)9.2. 载入数据 (31)9.3. 自动精修 (32)9.4. 更好的精修 (32)9.5. 注解及建议 (33)10. 物相鉴定策略及疑难解答 (35)10.1. 介绍 (35)10.2. 图谱处理顺序 (36)10.3. 物相鉴定 (37)10.4. 疑难解答 (37)1. 约定术语1.1. 动作术语本指南中代表动作的术语如下:单击按下鼠标左键并马上松开双击快速地重复两次按下鼠标左键并马上松开拖动按下鼠标左键不放，拖动鼠标以划定一个矩形区域或移动一个对象输入打入文本或数字类型的数据按下按下键盘上的一个键或窗口中的一个按钮右击按下鼠标右键并马上松开选中将鼠标指针移到你要的选项或对象上并单击勾选在复选框中打上勾切换来回改变参数或状态（如：开-关-开）在本指南中单击（或按下）意味着关闭你当前工作的窗口而非程序1.2. 指令与说明指令性的文字前面有圆点符“·”。
XRD设备的使用的一般流程1. 简介X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）是一种常见的实验技术，用于分析晶体结构和确定物质的组成。
XRD设备是用于进行X射线衍射实验的仪器，本文将介绍XRD设备的一般使用流程。
2. 设备准备在进行XRD实验之前，需要进行设备准备工作。
以下是准备设备的一般流程：•检查设备状态：首先，检查XRD设备的状态，确保所有零部件都正常工作。
•装载样品：将待测样品装载到XRD设备的样品台上。
在装载样品之前，需要注意清洁样品台，确保样品表面干净。
•样品调整：根据实验需求，调整样品的位置和角度，以确保获得准确的衍射数据。
3. 实验参数设置在进行XRD实验之前，需要根据实验需求设置适当的参数。
以下是一般的实验参数设置流程：•选择辐射源：根据样品的特性和分析要求，选择适当的X射线源，常见的有钨靶和铜靶。
•选择滤波器：根据实验需求选择合适的滤波器，以过滤掉非相关的X 射线。
•选择扫描范围：根据样品的特性确定扫描的角度范围，一般为2θ角。
•选择扫描速度：设置XRD设备的扫描速度，控制X射线的入射角度在一定的速度范围内变化。
•选择计数时间：根据样品的特性和信号强度选择适当的计数时间，以确保获得稳定的衍射信号。
4. 数据采集设置完实验参数后，可以开始进行数据采集。
以下是一般的数据采集流程：•开始扫描：根据设备的指示，启动XRD设备进行扫描。
•数据记录：XRD设备会自动记录扫描过程中获得的衍射数据。
可以将数据保存到计算机或其他存储设备中。
•观察扫描曲线：实时观察扫描曲线，确保数据采集的准确性和稳定性。
5. 数据分析和解释采集到的XRD数据可以用于对样品进行分析和解释。
以下是一般的数据分析和解释流程：•数据处理：将采集到的XRD数据导入数据处理软件，进行背景去除、峰识别和峰参数提取等操作。
•峰分析：根据峰参数，通过比较标准数据库中的数据，确定样品的晶体结构和组成。
•结果解释：根据数据分析结果，对样品的晶体结构和组成进行解释和说明。
xrd的使用方法X射线衍射（XRD）是一种常用的材料科学分析技术，用于研究晶体结构和结构性质。
本文将介绍XRD的基本使用方法，帮助初学者更好地利用这一技术。
首先，在进行XRD实验之前，我们需要准备样品。
样品可以是晶体粉末或薄片。
对于粉末样品，需要将其细磨成均匀的粉末，而对于薄片样品，则需要制备薄片并确保表面光洁。
准备好样品后，将样品放置在XRD仪器的样品台上。
接下来，调整XRD仪器的参数。
主要的参数包括入射角、散射角、扫描范围和扫描速度。
入射角和散射角是X光束与样品的夹角，可以根据具体实验要求进行调整。
扫描范围决定了XRD仪器可以覆盖的角度范围，一般根据待测样品的预期衍射峰位置来设置。
扫描速度则影响到数据采集的时间，一般可以根据实际情况进行选择。
当调整完参数后，开始进行数据采集。
XRD仪器会扫描样品在不同散射角下的衍射强度。
通过记录衍射强度与散射角的关系，我们可以获得样品的衍射谱。
这个衍射谱中的峰代表了样品的晶格结构和晶体取向信息。
根据衍射峰的位置、强度和宽度，我们可以推断样品的晶体结构参数，例如晶胞常数和晶体取向等。
最后，数据分析是使用XRD进行材料研究的关键一步。
我们可以利用专业软件对衍射数据进行拟合和解析。
通过与数据库中已知材料的衍射数据进行比对，可以确定样品的组成和相对含量。
此外，利用衍射数据还可以计算材料的晶体结构信息，例如晶胞参数和晶格畸变等。
综上所述，XRD是一种强大的材料分析技术，可以用于研究晶体结构和性质。
通过准备样品、调整仪器参数、数据采集和数据分析，我们可以从XRD实验中获得有关样品晶格结构的重要信息。
这些信息有助于深入理解材料的性质以及其在各个领域的应用。
1.用Highscore软件打开XRD文件，在第一个表格界面下选定.XRDML和.ASC，点击OK即可。
然后将该文件另存为.asc格式的文件。
2.用Micro soft excel软件将.asc文件中的数据导入，这样就可以将数据在excel表格中复制下来粘到origin里，进一步作图分析了。
3.可以利用Highscore分析XRD谱图。
（1）将XRD的数据库（即PDF2文件夹）导入到highscore软件里。
●将PDF2文件放在不含有汉字的（纯英文）的路径里，比如直接放在D盘的话，路径即为D:/PDF2，这是可以的。
● b.在highscore软件的上方的Customize里找到program setting …。
在programsetting的对话框里点击Reference Patterns，在这个界面下找到databaseconversion下方的PDF2，点击，并通过这下方的一个空白条目后的browse（浏览）里在电脑找到PDF2文件夹。
选定后在其下方的Extract user data fromexisting reference database打勾。
●点击start conversion of ICDD Database。
这个导入的过程可能花费半个小时的时间。
（2）分析XRD数据●利用highscore软件打开XRD源文件，●在Analysis的下拉菜单里面找到Search&March，然后在它的后拉条目中选ExecuteSearch&March。
●在弹出的对话框中点击restrictions，在Edit Restriction Sets…里找到Periodic Table…并点击。
select restriction set使用default选项●按照提示选择可能含有或者一定含有的元素，然后点击close。
即会返回到Search&Match的对话框，点击search。
X射线粉末衍射仪XRD的操作规程说明X射线粉末衍射仪XRD，通常应用于晶体结构的分析。
X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。
引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。
振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。
基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。
散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。
适用领域：1.材料晶体大小的测定期模拟计算。
2.半导体基底上薄膜生长的纳米材料分析。
3.纳米材料中的物相定性分析。
4.纳米氧化锌陶瓷的参杂制备及物相分析、结构表征、性能和结构分析等。
5.单相和多相的全谱拟合计算和结构精修操作规程：一、开机1.开启墙壁总电源。
开启循环水电源。
开启稳压电源（等5秒钟后，按下“RESET" )。
2.开启XRD设备电源。
3.开启计算机电源，进入XRD应用程序。
4．开启射线发生器高压，进入待测试状态。
二、样品放置、取出1.严格按照规定制样，样品高度与样品台高度一致，压平，保持样品表面光洁平整。
2.按外侧“OPEN DOOR”键解锁，手动开启玻璃舱门，将样品台放入样品支架卡住，关闭舱门锁好。
取出样品时，先按“DOOROPEN”键，手动开启舱门，按下样品支架后面拨片，样品台及样品支架自动下落，取下样品台，关闭舱门锁好。
三、测试谱线1.先初始化驱动操作。
先点Requested后面方框，然后点击Initdrive。
然后在程序界面中调整探测角度范围，扫描速度和步长。
2.根据测试需要，选择合适宽度的狭缝。
低于10度，须换最小狭缝。
3.在程序界面上选合适的电压与电流，鼠标点左边“SET”键加高压。
4.在参数设置正确的情况下，点“START”,开始采集谱线。
5.选择需要的XRD谱数据，先保存到硬盘，再光盘刻录导出数据。
四、关机1.先在计算机XRD应用程序里将电压和电流降到最小点击”SET”。
xrd的工作原理及使用方法
X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种常用的材料分析技术，用于研究晶体结构、晶体学和非晶态材料的结构特征。
下面是XRD的工作原理和使用方法的概述：
工作原理：XRD利用入射X射线与样品中的原子发生衍射现象，通过测量衍射图样来推导出样品的晶体结构、晶格常数、晶格畸变等信息。
其基本原理可以概括为布拉格定律，即入射X射线在晶体中的衍射现象遵循2d sinθ = nλ，其中d是晶面间距，θ是衍射角度，n是整数倍数，λ是入射X射线的波长。
使用方法：
1.准备样品：需要准备一定数量的样品，可以是晶体样品或
非晶态材料样品。
晶体样品必须具有规则的晶体结构，而
非晶态材料样品则可以是无定型的或非晶结构的材料。
2.调节仪器参数：根据样品的特性和研究目的，调整XRD仪
器的参数，如X射线管的电流和电压、入射角范围、衍射
角范围等。
选择合适的参数可以获得更准确的结果。
3.扫描样品：将样品放置在XRD仪器中的样品台上，通过控
制仪器进行扫描。
仪器将采集到的衍射数据转换为衍射图
样或衍射强度图像。
4.分析数据：根据获得的衍射图样或衍射强度图像，使用专
业的XRD分析软件对数据进行处理和分析。
这可以包括通
过模拟与标准数据的比对来确定样品的晶体结构或晶格常
数，通过解析峰的位置和形状来研究晶体的畸变等。
XRD技术可应用于多个领域，如材料科学、地球科学、生物化学等。
它可以帮助研究者了解材料的结构和性质，发现新的材料性质，并优化材料的制备和加工工艺。
xrd的工作原理及使用方法 -回复X射线衍射（X-ray diffraction，简称XRD）是一种常用的材料表征技术，可以通过分析材料的晶体结构和晶格参数来研究材料的性质和结构。
本文将详细介绍X射线衍射的工作原理和使用方法。
一、X射线衍射的工作原理X射线衍射的工作原理基于X射线与物质中的原子及电子的相互作用。
当X射线通过晶体或非晶体材料时，X射线与物质中的原子或电子发生散射，散射的X射线在不同的角度下形成衍射图样。
由于不同晶体具有不同的晶格结构，因此它们产生的衍射图样也不同。
X射线衍射主要有两种衍射模式，即布拉格衍射和拉曼衍射。
在布拉格衍射中，X射线与晶体平面上的晶面相互作用，形成一个或多个尖锐的衍射峰，每个峰对应着晶格常数和晶体结构的信息。
而在拉曼衍射中，X射线与晶体内的原子相互作用，衍射光的能量发生变化，从而提供元素组成和原子环境的信息。
二、X射线衍射的使用方法1. 实验准备进行X射线衍射实验前，首先需要准备样品和仪器设备。
样品应制备成粉末状或薄片状，并保证表面光滑和尺寸适宜。
仪器设备主要包括X射线发生器、样品支架、衍射仪和探测器等。
2. 样品加载将样品放置在样品支架上，并调整样品的位置和角度，使其能够与X射线发生器和探测器有效地进行相互作用。
样品的定位和调整需根据实验的要求和所需的数据进行精确控制。
3. 实验操作打开X射线发生器和探测器，确定合适的实验条件和参数。
根据目标，选择合适的X射线波长、发射电流和发射电压等，以及旋转样品支架的角度范围和步长。
同时，根据样品的特性选择合适的衍射仪模式，如传统旋转衍射仪或针对薄膜的反射衍射仪等。
4. 数据采集开始实验后，X射线经样品散射后被探测器接收，并通过电子学系统将信号转换为数字信号。
通过逐步旋转样品支架，收集在不同角度下衍射光的强度分布。
数据采集过程需要保持稳定，并根据实验要求选择合适的时间间隔和步进角度。
5. 数据处理与分析采集到的数据经过初步处理后，可进行进一步的数据分析。
XRD定量分析__实例演示X射线衍射（XRD）是一种常用的材料表征方法，可以用于分析晶体结构、晶格参数和材料组成。
XRD定量分析是通过比较样品的衍射峰强度和位置，与标准样品或参考模型进行定量计算，从而确定样品中各个相的含量或组成。
本文将通过一个实例演示XRD定量分析的过程。
假设我们要研究一种新型锂离子电池正极材料的组成和相纯度。
我们首先需要收集该材料的XRD数据，可以使用X射线粉末衍射仪进行测量。
测量得到的衍射图谱通常是以2θ角度为横坐标，衍射峰强度为纵坐标的图像。
第一步是对得到的XRD数据进行处理和分析。
我们可以使用X射线衍射数据处理软件，如Origin或X'Pert HighScore Plus，对XRD图谱进行峰和拟合，得到相应的衍射峰位置和强度。
峰通常通过设置峰位置的范围和峰的形状参数来进行。
找到所有的衍射峰后，我们可以通过比较它们的位置和强度来确定样品中的各个相的含量和相纯度。
通常情况下，我们会选择一种相作为参考相，并将其峰强度设定为100%，然后计算其他相的相对峰强度。
相对峰强度可以通过将其他相的峰强度除以参考相的峰强度来计算得到。
另外，还可以通过计算峰面积来得到相的含量。
为了保证定量分析的准确性，我们需要一个标准样品或参考模型来建立峰位置和强度与相含量之间的关系。
标准样品应该具有已知的相组成和含量，并且与待测样品相似。
如果没有合适的标准样品，我们可以使用一些开源数据库中的参考模型。
在拟合过程中，我们可以选择使用最小二乘法或Rietveld法来对数据进行优化和拟合，以提高分析的准确性。
随后，我们可以根据定量分析的结果来判断样品的组成和纯度。
例如，如果我们发现样品中除了目标相之外还存在其他相，那么可以通过增加烧结温度或添加其他掺杂物来提高样品的纯度。
需要注意的是，XRD定量分析并不是万能的，它主要适用于晶体或在晶体结构中占主导地位的相。
对于非晶态物质或表面吸附、界面相等其他因素会引起的杂质，XRD定量分析的结果可能不准确。
xrd的工作原理及使用方法
X射线衍射（XRD）是一种常用的材料分析方法，其工作原理基于布拉格方
程和晶体结构因子的数学表达式。
当一束单色X射线照射到晶体上时，晶体
中原子周围的电子受X射线周期变化的电场作用而振动，从而使每个电子都
变为发射球面电磁波的次生波源。
所发射球面波的频率与入射X射线的波长
一致。
基于晶体结构的周期性，晶体中各个原子（原子上的电子）的散射波
可相互干涉而叠加，称之为相干散射或衍射。
X射线在晶体中的衍射现象，
实质上是大量原子散射波相互干涉的结果。
每种晶体所产生的衍射花样都反
映出晶体内部的原子分布规律。
其中，衍射线的分布规律由晶胞大小、形状
和位向决定，衍射线强度则取决于原子的品种和它们在晶胞中的位置。
因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。
在使用XRD时，首先需要选择合适的靶材和X射线波长，以确保衍射图谱的
准确性和可靠性。
常用的靶材包括Cu、Mo等，它们的特征X射线波长不同，需要根据待测样品的性质和所需精度来选择。
其次，需要确定合适的扫描范
围和扫描速度，以确保能够获得完整的衍射图谱和准确的晶格常数。
在测试
过程中，需要注意样品的制备方法，以确保晶体结构的完整性和一致性。
最后，通过对衍射图谱的分析，可以得到样品的晶格常数、晶面间距等信息，
从而了解样品的晶体结构和物相组成。
总之，XRD是一种非常有用的材料分析方法，可以用于研究晶体的结构和物
相组成。
通过了解XRD的工作原理和使用方法，可以更好地应用这一技术来
分析材料性质和结构，为科学研究和技术开发提供有力支持。
XRD分析软件使用XRD（X射线衍射）分析是一种常用的无损表征材料结构的方法，可用于识别晶体结构和晶格参数以及确定晶体中的晶相组成等。
为了进行XRD分析，通常需要使用专门的XRD分析软件。
1.数据质量评估：XRD软件可以对XRD数据进行质量评估，以判断实验数据的准确性和可靠性。
它可以检查峰的形状和位置，并通过计算峰形参数来评估数据的质量。
2.数据处理和曲线拟合：XRD软件可以对原始XRD数据进行处理和分析，包括背景去除、数据平滑和峰位校正等。
此外，软件还可以对XRD曲线进行拟合，以得到准确的晶格参数、晶体结构和相对含量等信息。
3.晶体结构分析：XRD软件可以通过模拟衍射数据进行晶体结构分析。
用户可以输入晶体结构信息，例如原子类型和位置，软件将模拟出理论衍射图案与实验数据进行对比。
通过优化晶格参数和各原子位置，可以得到最佳的拟合结果。
4.相对含量分析：XRD软件可以用于估计样品中各晶相的相对含量。
它可以通过标准样品进行校准，利用衍射峰的强度或面积与样品中晶相的相对含量之间的关系来计算。
5.相图分析：XRD软件可以绘制相图图谱，以直观地展示不同温度、压力和成分条件下的相变和相平衡情况。
这对于材料研究和材料设计具有重要意义。
6.数据库查询：XRD软件通常与各种晶体结构数据库相结合，以便用户能够查询和获得已知晶体结构的相关信息。
这方面的一些知名数据库包括ICSD（国际晶体结构数据库）和PDF（粉末衍射数据库）等。
在使用XRD分析软件时，首先需要导入实验数据，这可以是从X射线衍射仪器中得到的原始数据文件。
然后，进行数据质量评估，包括检查峰的位置和形状等。
接下来，可以对数据进行背景去除和平滑处理，以提高数据的信噪比和可读性。
然后，可以进行曲线拟合，以获得晶格参数、晶体结构和相对含量等信息。
拟合过程通常使用Rietveld方法进行，该方法可以同时考虑衍射强度、衍射峰形和背景等因素。
通过优化晶格参数和各原子位置，可以得到最佳的拟合结果。
XRD分析方法与原理XRD（X射线衍射）是一种常用的材料表征方法，主要用于分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体质量、相变、畸变等信息。
本文将重点介绍XRD分析方法和原理。
一、XRD分析方法1．样品制备样品制备是XRD分析的第一步，在分析前需要制备符合要求的样品。
对于晶体实验，需要制备单晶样品，通常通过溶液法、溶剂挥发法、梳子法等方法产生单晶样品。
对于非晶体实验，需要制备适当粒度的多晶粉末样品，通常通过高温煅烧、溶剂挥发、凝胶法、机械研磨等方法制备。
2．仪器调试在进行XRD分析之前，需要对X射线衍射仪进行仪器调试。
主要包括对X射线源、样品台、X射线管、光学路径、X射线探测器等进行调节和优化，以保证仪器的性能和准确性。
其中，X射线源的选择和强度的调节对实验结果有重要影响。
3．X射线衍射数据采集在XRD分析中，可以通过改变探测器固定角度和旋转样品台的方式来获取衍射强度与入射角度的关系。
常用的采集方式有传统的扫描模式（2θ扫描或θ/θ扫描）和快速模式（2D探测器或0D点探测器）。
根据样品的特征和所需分析结果选择合适的采集方式。
同时，为了提高信噪比，通常要对衍射强度进行积分或定标。
4．数据处理和解析XRD数据处理和解析是对原始数据进行整理、滤波、相峰识别、数据拟合和解析的过程。
数据处理主要包括基线校正、噪声过滤和峰识别等，以提高数据质量。
数据解析主要是通过拟合方法获得样品的晶体结构参数（晶格常数、晶胞参数）、相对晶粒尺寸、晶体缺陷等信息。
二、XRD分析原理XRD分析原理基于X射线与晶体原子间的相互作用。
当X射线通过物质时，会与物质中的原子发生散射。
其中，由于X射线与晶体中的周期性排列的原子发生构型相吻合的散射，形成相干衍射。
X射线由晶体平面散射后的干涉衍射，在探测器上形成强度峰，峰强度与晶胞架构和原子排布有关。
1．布拉格方程布拉格方程是XRD分析的基本原理之一、它描述了X射线与晶体平面的相互作用。
布拉格方程为：nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶胞面间距，θ为衍射角度。
xrd的操作规程及注意事项X射线衍射（XRD）是一种常用的材料分析技术，可以用于分析材料的物相组成、结构信息以及晶体品质。
这篇文章将介绍X射线衍射的操作规程及注意事项，帮助读者正确进行XRD实验。
一、XRD的操作规程：1. 实验前准备：在进行XRD实验之前，需要对样品进行适当的制备。
样品应尽可能地细粉，并保持干燥。
如果样品是多晶粉末，可以直接进行测试。
如果样品是单晶，需要进行切片或折射衍射实验。
此外，还需要对X射线源和探测器进行适度的准备和检查，确保它们的工作状态良好。
2. 实验仪器设置：根据样品的性质和研究目的，选择合适的仪器参数进行设置。
这些参数包括入射角、旋转范围、扫描速度等。
3. 样品安置：将样品放置于仪器的样品台上，并使用夹具固定好。
应尽量使得样品均匀分布在样品台上，并避免遮挡X射线束的区域。
4. X射线衍射测量：根据设定的参数，通过仪器软件启动测量程序。
仪器会自动旋转样品台，记录X射线在不同角度下的衍射图样。
5. 数据处理和分析：通过仪器软件或专用的数据处理软件对测得的衍射数据进行处理和分析。
常见的处理方法包括峰识别、峰位测量、峰宽分析等。
二、XRD的注意事项：1. 实验室安全：在进行XRD实验时，应遵守实验室的安全规范，佩戴个人防护装备，如实验手套、护目镜等。
避免直接暴露于X射线源下方。
2. 样品处理：在处理样品时，应避免接触皮肤和口鼻，以免吸入或摄入有害物质。
在使用化学药品时，应注意防护和储存。
3. 仪器操作：在使用X射线衍射仪器时，应仔细阅读仪器操作手册，并按照要求正确操作。
遵守指示灯和警示标志的提示。
4. 样品准备与放置：样品制备需避免出现杂质，并尽量使其粒度均匀。
在放置样品时，要确保样品稳定，避免晃动或掉落。
5. 参数设置：正确选择仪器参数十分重要。
不同样品可能需要不同的参数，例如入射角、旋转范围和扫描速度等。
确保参数的准确性和合理性。
6. 结果解读：在进行数据处理和分析时，需要注意对结果的准确解读。
XRD使用方法范文X射线衍射（X-ray diffraction, XRD）是一种用于研究晶体结构和材料成分的非破坏性分析方法。
它通过将单色X射线束照射到样品上并测量散射的X射线的特性，来获取关于晶体结构的信息。
以下是XRD仪器的使用方法。
一、样品制备1.选择适当的样品形式：样品应具有足够的晶体性质，常见的形式有粉末、薄片、单晶等。
2.样品的制备：对于粉末样品，应在球磨机中将样品粉碎并制备成均匀细小的粉末；对于薄片样品，应使用适当的方法制备均匀薄片；对于单晶样品，通常需要通过生长方法获得。
二、实验仪器的设置1.打开XRD仪器电源，并确保仪器的电源指示灯亮起。
2.检查光学系统：检查仪器的发射和接收系统，确保光学元件的正常工作，并校准光学路径。
3.设置样品台：根据样品的形式选择合适的样品台，例如：平板样品台、旋转样品台等，并安装到仪器上。
调整样品台的位置，确保样品位于X射线束的中心位置。
三、测量条件的设置1.X射线管的选择：根据需要选择合适的X射线管，常用的有铜管、钼管等。
2.X射线的波长：根据样品的性质和需要，选择合适的X射线波长，常见的有CuKα（λ=1.5406Å）和MoKα（λ=0.7107Å）。
3.性能参数的设置：根据样品的特性，设置合适的扫描角度范围、步长等参数，以获取更准确的数据。
4.数据采集时间：根据样品的特性和仪器的灵敏度，设置合适的数据采集时间，以确保获得清晰的衍射峰。
四、样品放置与测量1.将制备好的样品放置到样品台上，并固定好样品台的位置。
2.调整样品的位置：根据样品的需求，可以调整样品的角度、位置以及高度，以确保测量的准确性。
3.开始测量：在仪器的控制界面上设置好相应的参数后，开始进行测量。
可以选择单点扫描或连续扫描等不同的测量模式。
五、数据分析与解释1.数据处理：根据测量结果，通过仪器上的数据处理软件对数据进行处理和分析，并获得样品的衍射图谱。
2.衍射峰解读：根据衍射图谱中的衍射峰位置和强度，运用衍射理论进行解读，确定样品的晶体结构和成分。
X射线衍射仪(XRD) TD-3000X射线衍射仪(XRD)仪器描述仪器说明仪器标签X射线衍射仪是应用面最广的X射线衍射分析仪器。
X射线衍射仪主要应用于样品的物相定性或定量分析、晶体结构分析、材料的结构宏观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等，根据实际需要可以安装各种特殊功能的附件及相应控制和计算机软件，组成具有特殊功能的衍射仪。
1、 X射线发生器（进口PLC控制技术）采用进口PLC（可编程控制器）的控制技术，自动化程度高、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好、可延长整机使用寿命。
PLC与计算机接口自动控制光闸的开关，自动控制管压、管流的升降，具有自动训练X光管的功能。
★电源电压（单相）交流220V±10%★额定功率：5kW★管电压：10～60kV，1kV /Step★管电流：2～80mA，1mA /Step★稳定度：≤0.01％★保护功能：具有无压、无流、过压、过流、无水、X光管超温保护等功能。
2、测角仪测角仪采用进口极高精度轴承传动，可确保其测量高精度，测量结果高准确度及优异的性能，并可延长测角仪的使用寿命。
该测角仪控制由一套高精度全闭环矢量驱动伺服完成，智能驱动器饮食的32位RISC微处理，高分辨磁性编码器能将极小的运动位置误差自动修正，确保其测量结果的准确度。
★衍射圆半径 185mm★2θ角扫描范围 -15～165°★扫描速度 0.06～76.2°/min★2θ角重复精度 ≤0.0005°★最小测量准确度 ≤0.005°★最小步进角度 ≤0.0001°3、记录控制单元记录系统是在原飞利浦衍射仪技术的基础上，采用进口PLC（可编程序控制器）控制线路代替原仪器的单片机控制线路，使得该仪器的记录控制系统计数更加稳定，控制更加简单，结构更加紧凑，由于采用大规模高精度自动化程度极高的进口西门子PLC控制线路，使得该系统可长时间无故障地稳定地运行。
XRD 相分析-MDI Jade 软件1、打开软件：双击jade6.exe 程序，打开软件.2、导入数据：点击通常文件格式为.raw 、.rd 、.sd 等，仪器不同，原始数据格式不同。
3、平滑：点击Filters-Smooth Pattern ，或右击图标（1），弹出对话框。
选择Smooth Background Only ，数值越大平滑度越高，但是过高的平滑度影响曲线的准确性，通常根据曲线背底噪音的高低选择。
图中紫红色曲线即为平滑后的曲线。
点击Close 关闭平滑对话框，然后点击Accept Derived Pattern 图标（2），保留平滑后的曲线。
注：可左键单击图标，快捷平滑。
如果曲线背底噪音很低，则可略过此步骤。
24、去除K α2：点击Analyze-Fit Background …，或右击图标（3），弹出对话框。
点击Apply-Strip K-alpha2即可。
5、寻峰：点击Analyze-Find Peaks …，或右击图标（4），弹出对话框。
点击Apply-Close 即可。
有些峰由于较低，系统难以寻到峰，也可根据物相的JCPDS 图谱（标准XRD 图谱）人为加峰或扣除峰。
点击Peak Editing Cursor （），将鼠标放到峰上点击即可，如果出现蓝色虚线，表示此处认为有峰。
如要扣除系统寻到的峰，则可点击Peak Editing Cursor （），将鼠标放到峰上点击后按Delete 键即删除。
注：可左键单击图标，快捷寻峰。
6、拟合：点击Analyze-Fit Peak Profile …，或右击图标（5），弹出对话框。
点击Fit All Peaks 即可。
拟合完曲线后，点击左边的Report 键，可以看到报告，其中包含了峰的信息及晶粒度，说明如下：2-Theta 为峰的角度，d 是对应的晶面间距，Height 为峰的高度，Area 是峰下包含的面积，Area%以最强峰为100%，FWHM 为半高宽。
XRD简易版操作步骤所使用的XRD仪器型号为Ultima-IV一、实验前准备（一）实验前准备材料1、实验材料：实验可检测的材料一般为粉末或薄膜2、实验工具：无水乙醇、棉花或纸巾、剪刀（用于裁剪薄膜）（二）查阅仪器设置参数：一般为铜靶、40kV、30mA、扫描速度（如8°/min）、扫描区间（如10-90°）。
（三）样品前处理1、粉末：用棉花沾上乙醇，擦洗干净载玻片，表面不要有其他凸起的物质。
然后将粉末倒入载玻片的凹槽中，用另一个载玻片或其他东西将粉末均匀覆盖在凹槽中（80%-100%覆盖度），然后用酒精擦拭干净洒出在载玻片凹槽外的粉末。
2、薄膜：用棉花沾上乙醇，擦洗干净载玻片，表面不要有其他凸起的物质。
然后捏一个类似等腰锐角三角形的橡皮泥，把薄膜放入载玻片的凹孔中，用橡皮泥粘住薄膜，注意橡皮泥不要超过载玻片两侧边缘。
然后用酒精擦拭干净载玻片边缘。
二、实验阶段（一）设置仪器参数。
参数设置表见下图1。
1、等仪器左上角的警示灯变红，然后按一下门口的黄色按钮，拉开门，把载玻片插入插槽中，要注意的是，检测的面朝上放置。
然后关上门，再按一次黄色按钮。
门即关好。
2、点击Browse，设置文件名、样品名和保存路径。
3、点击Condition下面的1，设置铜靶、40kV、30mA、扫描速度（如8°/min）、扫描区间（如10-90°）等参数。
4、点击图1左上角的黄色按钮，仪器开始运行，运行图像如图2所示。
图1 仪器参数设置图图2 XRD检测结果图5、运行结束后，仪器左上角的警示灯会变红。
此时，按一次门上黄色按钮，拿出载玻片，取下样品，擦拭干净载玻片，关上门，再按一次黄色按钮。
6、拿一张未经刻录的光盘拷贝电脑中的数据。
检测到此结束。
1.用Highscore软件打开XRD文件，在第一个表格界面下选定.XRDML和.ASC，点击OK即可。
然后将该文件另存为.asc格式的文件。
2.用Micro soft excel软件将.asc文件中的数据导入，这样就可以将数据在excel表格中复制下来粘到origin里，进一步作图分析了。
3.可以利用Highscore分析XRD谱图。
（1）将XRD的数据库（即PDF2文件夹）导入到highscore软件里。
●将PDF2文件放在不含有汉字的（纯英文）的路径里，比如直接放在D盘的话，路径即为D:/PDF2，这是可以的。
● b.在highscore软件的上方的Customize里找到program setting …。
在programsetting的对话框里点击Reference Patterns，在这个界面下找到databaseconversion下方的PDF2，点击，并通过这下方的一个空白条目后的browse（浏览）里在电脑找到PDF2文件夹。
选定后在其下方的Extract user data fromexisting reference database打勾。
●点击start conversion of ICDD Database。
这个导入的过程可能花费半个小时的时间。
（2）分析XRD数据●利用highscore软件打开XRD源文件，●在Analysis的下拉菜单里面找到Search&March，然后在它的后拉条目中选ExecuteSearch&March。
●在弹出的对话框中点击restrictions，在Edit Restriction Sets…里找到Periodic Table…并点击。
select restriction set使用default选项●按照提示选择可能含有或者一定含有的元素，然后点击close。
即会返回到Search&Match的对话框，点击search。
●寻峰完后，在lists pane里面出现一列表，表分为上下两部分。
下部分都是具体数据。
上部分是空的。
把自己想知道的元素的数据拖到上方表格中。
谱图中就会出现与该元素拟合的峰。
可以双击该元素的那行数据，查看有关该成分的具体情况。
搜集资料一．软件安装的时候注意软件和pdf2数据库的连接。
在命令行：customize－programs settings－reference patterns里有两个窗口1. folder w ith …指得是你的pdf2数据库的位置。
只在进行转换时有用，转换完成后就没有用了。
你可以指定为放置pdf2光碟的光驱。
2. folder for the …指得是转换以后的pdf数据库的位置，系统有个默认的目录，一般不用修改。
进行物相分析时程序从该处调用。
二．进行物相分析的一般套路：1. 打开xrd文件。
Open 菜单里有很多可以打开的文件，highscore默认的文件·rd格式。
2. 峰形处理。
如果峰比较尖锐则只需要把kα2剔除就可以了。
如果峰比较宽化则要慎重处理。
看似一个峰，其实也可能是几个宽化峰叠加。
一般这种峰的轮廓线毛刺很多，要适当的进行平滑等处理。
平滑的标准是既使峰的轮廓线显得清楚，又不使它失真。
尤其是当图谱里既有尖锐的峰，也有宽化的峰的时候，要很小心。
3. 寻峰。
命令行为peak search。
该窗口有一些程序默认的设置，你也可以根据峰的形状设定。
Minumum signficance 最小的意义值。
如果一些肉眼观测到的衍射峰没有寻出来，可以减小此值。
Minumum tip 最小的峰尖宽度。
如果峰较宽化，应当放大该值。
Maximum tip 最大的峰尖宽度。
Peak base 峰背底的宽度，一般为maximum tip的2倍。
如果总有一些个别的峰寻不出来，也可以手动加峰。
命令行为Insert peak如果出现了一些分明不是峰的峰，也可以手动去掉。
在peak list里选中它，然后从键盘上按delete。
4．物相检索。
命令行为Search and match，其中有很多设置。
（1）restrictions里none是没有任何限定。
Restriction set是元素限定，点击edit 按钮会弹出相应的对话框。
Subset 是限定设置文件，需要事先编辑。
其他的按钮等你熟悉了再改动它。
（2）parameters里data source一般选用peak and profile date如果你试样是单相，选择single phase 否则选择multi phase。
其他的等熟悉了再说。
（3）retrieve patterns by text search名称查询。
比如你要查询石英的卡片，可以在这个对话框里输入quartz并选择mineral name。
（4）retrieve patterns by reference code是直接输入卡片号。
看你的衍射谱里有没有该卡是标定的物质。
（5）auto residue按钮是很重要的。
选中它，则自动寻找剩余峰。
如你的试样里有a相和b相。
当你选择了a相后，程序会自动在衍射谱里寻找a相以外的相。
你可以从它列出的选项里很容易的找出b相。
5. 文件的保存。
Highscore程序默认的格式是caf格式，只有这种格式可以保存你检索的全部信息。
其他的格式只是能保存你处理过的峰的形状而已。
由XRD给出的衍射峰信息：任何一个衍射峰都是由五个基本要素组成的，即衍射峰的位置，最大衍射强度，半高宽，形态及对称性或不对称性。
这五个基本要素都具有其自身的物理学意义。
衍射峰位置是衍射面间距的反映【即Bragg定理】；最大衍射强度是物相自身衍射能力强弱的衡量指标及在混合物当中百分含量的函数【Moore and Reynolds,1989】；半高宽及形态是晶体大小与应变的函数【Stokes and Wilson,1944】；衍射峰的对称性是光源聚敛性【Alexander,1948】、样品吸收性【Robert and Johnson,1995】、仪器机械装置等因素及其他衍射峰或物相存在的函数【Moore and Reynolds,1989；Stern et al.,1991】。
用x’pert highscore 进行物相定量、半定量分析X’pert Highscore 是荷兰philips分析仪器公司推出的一款用于xrd物相分析的软件。
笔者就如何用highscore对物相进行半定量、定量分析说一点经验，仅供参考。
半定量分析（semi-quantitative analysis）半定量方法是一种介于定量和定性之间的一种科学方法，主要应用于对某一物理量概念和趋势的快速判定，并通过对总体的分析，快速的求解问题。
必须对其特点给予说明：对某些分析准确度要求不高，只能给出其大致含量。
在x射线衍射里经常使用RIR参考强度比法。
RIR即参考强度比，很多pdf卡片中都给出了这个值。
如21-1152卡片标定的是Al2MgO4（spinel），其RIR为2.13；10-0173的卡片标定的是α-Al2O3（corundum），其RIR为1.00。
RIR的物理意义是该卡片所标定的本相的最强峰和α-Al2O3（corundum）的最强峰的强度比值。
如21-1152中的2.13即Al2MgO4的最强峰（311）和α-Al2O3（corundum）的最强峰（113）的强度比。
由于种种原因同一种相可能有很多张卡片，而这些卡片所给出的R IR值不尽相同。
如quartz有上百张卡片，其中81-1665给出的RIR值为5.06，而79-190 1为3.07，75-0443为1.31，75-0335给出的值最小为0.14，相去悬殊。
那么我们如何选择呢？1.首选NBS（美国国家标准）认可的卡片。
它的可信程度是很高的，很多文章都引用。
2.其次选择质量标识为S的卡片，它可信程度也很高，也经常被引用。
3.再次选择卡片号比较大的，如80或90开头的卡片。
这些卡片制做的年代比较晚，可信程度相对较高。
4.最后还可以对多张卡片的RIR值进行综合的考虑。
比如求个平均值，看哪一张卡片的RI R最接近平均值就用哪一张。
但一般不要用最高或最低的RIR卡片参与求平均值。
5.特别的是α-Al2O3的RIR值一定要选1。
如果你有一系列的试样分别为A1，A2，A3……An，里面都含有α1、α2和α3相；而且你选择的卡片为：α1：11-xxxxα2：22-xxxxα3：33-xxxx对所有试样都应用上面三张卡片，那么你会得到相对准确的值，具有比较高的可比性。
有时候你的试样里可能除了α1，α2，α3外，其中Ak＃试样里还含有一个β相，这时候对于β相的卡片的选择非常重要，选择不好可能会对结果造成相当大的影响。
有时候也可根据需要，去掉该相重新做。
有些卡片没有RIR值，这个时候就不能用这个方法了。
如果实在需要，就自己查阅一下相关的资料找到一个RIR，或者自己求RIR。
做法也很简单：用纯的、结晶好的本相和α-Al2O3混匀研磨、扫描，然后计算各自最强峰的强度，得出RI R。
以前有人认为只比较衍射峰的强度（计数）就可以得出半定量的结果，其实这是不对的。
我们得到的所谓的强度一般指的是衍射峰的绝对强度，比如3000或5000。
这个数字除了能在统计学上对统计数据质量有一点保证外，再没有任何意义（这个数字越大说明数据越可靠）。
如果你认为同一张图里α1相和α2相的峰强度比较α1的大，就认为α1相的含量大，这是不对的。
因为决定强度大小的因素除了量的多少以外还有很多，如物相的质量吸收因素，结晶程度，多重性因子等。
如果把等量的quartz和αAl2O3均匀混合，测量发现quartz的峰要强出很多倍。
如果你认为α1相在图A1里的强度和A2里的比较A1里的大，就认为A1试样中α1相的含量大，这也是不对的。
影响这个强度的因素也很多，如试样量的多少，扫描速度，射线量，干燥程度等都会影响到强度。
我们做半定量分析一般是不会对试验提出过细的要求的，大多都是在一张满足做物相定性分析的图谱上去进行。
而做定性分析对图谱的质量要求是较低的，1g试样或2g试样都可以，时间常数5s或20s也不会有什么区别，但这些因素都会对强度有很大的影响。
综合以上两点，说明RIR法半定量分析的科学严谨性，不是说半定量就可以很糊弄，它同样是科学的，只要我们用科学的态度和科学的方法。
定量分析（quantitative analysis）实际上是半定量分析方法的一个延伸。
首先用你最相信的方法测量一个或多个精确的定量分析结果，也可以事先精确配比一系列的试样：A1：α10％，β20％，y70％A2：……A3：……把所有试样在普通的程序下扫描，然后按照半定量分析的方法选择合适的卡片，使其结果和事先配比的一致，记下该卡片号。
