怎样正确使用X荧光分析仪
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x射线荧光光谱仪使用注意事项X射线荧光光谱仪是一种重要的分析仪器,在科研、生产和检测等领域有着广泛的应用。
为了保证使用过程的安全和准确性,以下是使用X射线荧光光谱仪时需要注意的事项。
1. 安全操作首先,确保使用X射线荧光光谱仪的操作人员具备相关的专业知识和培训。
要穿戴好个人防护装备,包括防护眼镜、防护服和手套等。
避免直接接触X射线,防止对人体造成危害。
在操作过程中,保持耐心和专注,切勿草率行事。
2. 设备校准在使用X射线荧光光谱仪之前,必须对仪器进行校准。
校准确保仪器的准确性和稳定性,以获得可靠的分析结果。
校准过程中,要根据仪器的使用说明进行操作,确保各项参数的调整准确无误。
3. 样品制备进行分析之前,样品制备是关键的一步。
样品应根据需要进行适当的预处理,如研磨、烧蚀等,以确保样品的均匀性和纯度。
同时,根据具体要求选择适当的样品尺寸和形态,以保证正常的测量过程。
4. 测量条件选择在进行测量时,根据不同的分析目的选择适当的测量条件。
包括选取合适的激发源和过滤器,以及设置合理的激发电流和测量时间。
根据样品的特性和分析需求,进行相应的参数设置,以获得准确而可靠的数据。
5. 数据分析和解释完成测量后,需要对获得的数据进行分析和解释。
使用专业的数据处理软件进行谱线的拟合和峰面积计算,得出相应的结果。
在解释数据时,应考虑到仪器的误差和系统漂移等因素,进行合理的数据处理和校正。
6. 仪器维护定期对X射线荧光光谱仪进行维护和保养,以确保仪器的正常工作和长期稳定性。
包括定期检查仪器的各项参数和功能,及时更换或修理故障部件。
保持仪器的清洁和干燥,避免灰尘和湿气等对仪器的影响。
7. 使用限制使用X射线荧光光谱仪时,还需遵守一些使用限制。
例如,避免测量有放射性的样品,因为这可能对周围环境和人体健康产生危害。
避免测量易燃、易爆或有毒的样品,以免发生意外。
同时,要按照仪器的规定和要求进行使用,不得超过仪器的工作范围和极限。
X射线荧光检测仪操作规程
一、开机:
依次开启仪器电源(包括照明和高压开关),打印机、计算机、TFM软件。
二、测量前的准备:
1、预热仪器:为了保证测量结果的准确性和稳定性,仪器必
须在不间断的情况下预热30分钟。
2、基准测量:
因为仪器是以AG 为基准进行测量的所以仪器预热结束后必须精确定位元素AG的位置,不能偏移,一般情况下,一周做一次“测量基准”即可。
三、进行测量:
1、根据待测样品的检测项目,选择相应的检测程式。
2、将样品放置在工作台上,调整其位置并聚焦清晰。
使其清
楚的显示在视频窗口十字线中央。
3、按显示屏左下角的按扭“测量”,或仪器控制台上的
“START”键开始测量,倒计时间结束后完成一次测量。
四、报告:
打印机打印出样品照片和测量数据。
五、关机:
依次关闭TFM软件、计算机和打印机软件及仪器。
浙江明泰标准件有限公司。
X-荧光分析仪日常操作规程1、开机顺序:1.1打开空压机电源,检查二次压力为5.0bar。
1.2打开水冷机电源,水流压力为4bar。
1.3打开稳压电源开关,给仪器通电。
1.4开“POWER ON”开关,使主机处于“开机”状态。
1.5打开计算机,运行分析软件,用户名及密码为“SUPERQ”。
1.6检查仪器真空度(小于100Pa),P10气体流量(1L/min左右)。
1.7开高压开关,仪器自动设定高压为20kv/10mA。
1.8检查水流量,内循环水为3-5L/min,外循环水为1-4 L/min。
1.9等待仪器内部温度稳定在30℃后可进行正常分析。
2、停机顺序:2.1将高压逐步降低到20 kv/10mA。
2.2关闭高压开关。
2.3按下电源开关,使仪器处于待机状态。
如果短时间内不使用机器,可将高压设定为20 kv/10mA低功率状态,不要关机。
3、老化顺序:如主机停机超过24小时,需对荧光分析仪进行老化处理。
3.1手动老化:开机后运行TCM2403按以下顺序进行:20 kv/10mA→30 kv/10mA→40 kv/10mA→40 kv/20mA→50 kv/30mA →60 kv/40mA→60 kv/50mA如果停机时间大于24小时小于100小时,每步停留时间为1分钟。
如果停机时间大于100小时,每步停留时间为5分钟。
3.2自动老化开机后运行分析软件,如停机时间大于24小时小于100小时,选择“Fast”老化,如停机时间大于100小时,选择“Normal”老化。
4、制样:4.1.生料、石灰石样品的制备:4.1.1将取回的样品混匀,称取10g试样,0.2g硬脂酸,均匀地放在磨具内外两层,盖紧磨内盖,放入磨样机,磨120秒。
4.1.2将磨好的试样称取8g放入样环内,在20t压力下压20秒。
4.2熟料样品制备:4.2.1将取回的样品混匀,称取10 g试样,均匀地放在磨具内外两层,加6滴酒精,盖紧磨内盖,放入磨样机,磨120秒。
X射线荧光光谱仪操作步骤1.开机准备:a.确保光谱仪的电源已连接,并且电源开关已打开。
b.确保样品槽内没有样品,并关闭样品槽。
2.调整仪器位置:a.将X射线荧光光谱仪放置在水平的台面上,并确保光谱仪的稳定性。
b.确保仪器周围环境干燥、整洁,并没有灰尘或其他污染物。
3.准备样品:a.准备待测样品,并将其切割成适当的大小和形状,以适应样品槽。
b.清洁样品表面,以去除可能存在的污垢或杂质。
4.打开软件程序:a.启动与光谱仪连接的软件程序,并确保软件正常工作。
b.在软件界面上选择合适的实验参数,例如测试时间、样品类型等。
5.样品安装:a.打开样品槽,并将待测样品放入样品槽中。
b.关闭样品槽,确保样品稳定地固定在样品槽中。
c.确保样品没有与样品槽接触,以避免可能的污染或干扰。
6.选择分析模式:a.在软件界面上选择适当的分析模式,例如定性分析或定量分析。
b.根据需要选择适当的元素库,并校准X射线荧光光谱仪。
7.启动测试:a.在软件界面上点击“开始测试”按钮,启动测试过程。
b.仪器将开始发射X射线,并对样品进行扫描和分析。
8.观察结果:a.等待测试过程完成后,软件界面将显示分析结果。
可以查看元素含量、光谱图等信息。
b.分析结果还可以以报表或图形的形式导出和保存。
9.分析数据处理:a.对分析结果进行数据处理和解释,例如计算元素含量、比较不同样品之间的差异等。
b.如果需要,可以使用统计软件对分析结果进行进一步的数据处理和分析。
10.仪器关机:a.在测试完成后,关闭软件程序,并断开与光谱仪的连接。
b.将光谱仪的电源开关关闭,并将电源线断开。
以上是使用X射线荧光光谱仪的一般操作步骤。
实际操作中,还需要根据具体的样品和实验要求进行相关参数的调整。
在使用X射线荧光光谱仪时,应注意安全操作,避免与X射线直接接触,并根据实际情况选择合适的防护措施。
X射线荧光光谱仪操作指引X射线荧光光谱仪是一种常用的分析仪器,广泛应用于材料科学、环境科学、地质矿产等领域。
它通过利用样品中的元素发射的特征X射线来确定样品中元素的种类和含量。
下面是X射线荧光光谱仪的操作指引,帮助用户正确操作该仪器。
一、准备工作1.检查仪器的电源、冷却系统等设备是否正常运转。
2.确保工作区域干净整洁,没有杂物和易燃物。
3.将需要测试的样品准备好,并提前做好标记。
二、开机与预热1.按照仪器上的开机按钮将X射线荧光光谱仪启动。
2.按照厂家提供的预热要求进行预热,通常需要数十分钟。
3.在预热过程中可以进行其他准备工作,如样品的准备。
三、加载样品1.打开样品加载仓的盖子,并将待测样品轻放在样品台上。
2.确保样品与样品台接触良好,尽量避免空隙。
3.关闭样品加载仓的盖子,并确保盖子关闭牢固。
四、选择操作模式1.仪器提供了多种不同的操作模式,例如荧光光谱扫描、定量分析等。
2.根据实际需要选择合适的操作模式。
五、设定分析参数1.根据样品的特性,选择合适的分析条件,如激发电压、激发电流、分析角度等。
2.根据需求,可以设定不同的分析参数,以优化测试结果。
六、进行预测试1.在正式测量之前,建议进行一次预测试,以确保仪器和样品都正常工作。
2.预测试的目的是确定样品的光谱特征和峰位,以便后续准确测量。
七、进行样品分析1.在预测试确认无误后,可以进行正式的样品分析。
2.根据设定的分析参数,仪器会自动进行样品的激发和光谱扫描。
3.测量完毕后,保存测试数据,并将样品从样品加载仓中取出。
八、数据处理与分析1.使用相应的分析软件,将测试数据导入,并进行数据处理与分析。
2.根据需要,可以绘制出样品的光谱图、浓度曲线等。
九、关机与仪器保养1.测试完成后,将仪器关机,并按照指示切断电源。
2.清理仪器外表,避免灰尘和污物积存。
3.定期维护仪器,保养零部件。
以上是X射线荧光光谱仪的操作指引。
使用这些操作指引,可以帮助用户正确操作X射线荧光光谱仪,获得准确可靠的测试结果。
X荧光分析仪安全操作规程一、安全操作守则1.在操作前,必须先读懂仪器操作手册,并且按照手册上的规范进行操作。
2.不能在没有经过相关培训的情况下操作仪器,并且不能将操作仪器的任何知识和技巧透露给未经培训的人员。
3.每次操作前,必须检查仪器的电源线是否完好并插紧,仪器是否有任何损坏或松动的部件。
4.在操作仪器时,必须戴上防护手套和眼镜,以减少可能产生的安全风险。
二、仪器操作流程1.打开电源,启动仪器。
2.操作人员应根据实验要求在仪器上选择相应的操作模式和参数,并将样品放置在样品台上。
3.操作人员在仪器上设置相应的温度、时间等参数,并调节气体流量,并按下开始按钮,开始进行实验。
4.操作人员在实验进行过程中,应时刻注意仪器的运行状态和实验进展,并根据需要进行相应的调整。
5.所有操作完成后,关闭仪器电源。
三、安全操作注意事项1.操作人员在使用仪器时,必须佩戴防护手套和眼镜,以免发生对皮肤和眼睛的伤害。
2.在操作仪器时,应保持仪器周围的工作区域整洁清爽,以减少仪器被损坏的风险。
3.在操作仪器过程中,不得将任何非样品物质接触到仪器上,以免影响实验结果。
4.操作人员应遵循实验室中的安全规范,不得吸烟、喝酒或食用任何食物。
5.在操作过程中,严禁随意更改仪器设置,必须按照实验需求进行操作。
四、急救措施1.如果操作人员发生意外事故,应立即停止操作,并通知相关人员。
3.如果操作人员在操作过程中受到伤害或感到不适,应立即停止操作,并及时寻求医疗救助。
以上是X荧光分析仪的安全操作规程,希望能让使用该仪器的操作人员能够提高安全意识,保障实验过程的顺利进行,避免发生意外事故。
操作人员在操作前务必要阅读操作手册,并按照规程进行操作,确保仪器的正常运行和实验的准确结果。
X荧光分析仪安全操作规程
1、X荧光分析仪首次使用或已多次不用,再度使用前,X射线管
必须按规定进行一次训机,才能正常使用。
2、操作时应先接水源,后开电源,待机预热5分钟,方可开高压。
开高压时应先缓慢上升管电流,再缓慢上升管电压;当烽鸣器发生预
报信号,先缓慢降管电压,然后缓慢降低管道电流,直到高压开关被
切断。
3、X荧光分析仪正常使用,管电流不能超过机器的最大允许值。
4、如果情况特殊,需关闭管压、管流,必须按X荧光分析仪开、
关机方法操作;
5、注意保护X荧光分析仪,不受剧烈振动的影响。
6、所有样品箱应放入仪器中进行分析,一定要检查是否拧到位,
拧不到位绝对不能测量;
7、经常保持X光机整洁,每天下班前X光机擦干净。
8、禁止在电气设备和线路上洒水,以免漏电。
9、严禁用湿手分、打开或接触电气设备。
X射线荧光光谱仪操作指引1.准备工作在操作X射线荧光光谱仪前,首先需要进行一些准备工作。
1.1样品准备根据需要分析的样品类型和要求,选择合适的样品制备方法。
常见的样品制备方法包括固体样品打磨成片、液体样品吸附在滤纸上等。
1.2仪器设置根据样品的特点和仪器的要求,设置合适的仪器参数。
包括选择合适的激发能量、选择合适的荧光光谱检测仪器、选择合适的仪器工作模式等。
2.仪器操作完成准备工作后,可以开始操作X射线荧光光谱仪。
2.1仪器开机将X射线荧光光谱仪和计算机等设备连通,并开启仪器电源。
2.2样品装载将制备好的样品装载到样品台上,并固定好。
2.3调整仪器参数根据实际需要和仪器的特点,进行合适的参数调整。
包括选择合适的激发能量和激发电流、调整荧光光谱检测仪器的增益和曝光时间等。
2.4开始测量通过计算机控制软件,选择合适的测量模式和扫描范围,并点击开始测量按钮。
2.5数据保存测量完成后,将测量得到的荧光光谱数据保存到计算机中,并进行必要的命名和分类。
3.数据处理与分析获得荧光光谱数据后,需要进行数据处理和分析,以得出样品中元素的信息。
3.1数据校正将测量得到的光谱数据进行背景校正,去除背景信号的影响。
通常采用线性背景校正或多项式背景校正方法。
3.2荧光峰识别通过荧光光谱中的峰形状和位置信息,识别出存在的荧光峰。
可利用已知标准样品的荧光光谱数据进行对比鉴定。
3.3元素定量分析根据已知标准样品的荧光峰强度和浓度关系,通过比对样品荧光峰强度,可以计算出样品中不同元素的含量。
4.结果表达与报告撰写完成数据处理与分析后,需要将结果进行表达和报告撰写。
4.1结果表述根据具体需求和目的,将样品中元素的含量等信息进行准确、简明的表述。
可用表格、图表等形式来展示。
4.2报告撰写将分析结果和方法过程等详细信息,整理成完整的实验报告或分析报告。
报告应包含目的、方法、结果、讨论和结论等内容。
5.仪器维护在完成实验后,需要对X射线荧光光谱仪进行必要的维护工作。
x射线荧光光谱仪的具体步骤
x射线荧光光谱仪是一种广泛应用于材料科学、地质学、环境科学等领域的分析仪器,下面是一般的操作步骤:
1. 准备样品:将待测样品制备成均匀的粉末或固体块,并确保样品表面的平整度和洁净度。
2. 装样:将样品装入光谱仪的样品台或样品架中,固体样品可以用夹具夹紧,粉末样品可以直接放入样品台中。
3. 调整参数:打开光谱仪的电源并开机,根据样品性质和分析要求,调整加速电压和管电流等参数。
一般情况下,加速电压在5-60 kV之间。
4. 开始测量:点击仪器面板上的“测量”按钮,开始进行测量。
光谱仪会发出X射线束照射样品,样品被激发后会产生荧光信号。
5. 数据采集:荧光信号被光谱仪接收并转化为电信号,光谱仪会将这些信号转化为能谱图,并记录下来。
6. 数据分析:获得能谱图后,可以利用光谱仪所配套的分析软件对谱图进行数据处理和分析,比如进行元素定性、定量分析等。
7. 结果解读:根据谱图分析结果,解读样品中的元素含量、成分等信息,以满足实验需求。
8. 清洁和关闭:实验结束后,关闭光谱仪的电源,清洁样品台和样品架,注意避免污染和磨损分析仪器。
这些步骤是一般的操作流程,具体步骤和仪器性能可能会有所不同,需要根据具体的仪器说明和实验要求进行操作。
X射线荧光光谱仪操作及保养规程一、操作规程1.确保工作环境:在使用X射线荧光光谱仪之前,要确保工作环境清洁,无尘,干燥并且通风良好。
电源电压稳定,防止发生电压波动引起的仪器故障。
2.接通电源:将X射线荧光光谱仪的电源插头插入电源插座,然后打开电源开关。
确保电源输出稳定,待指示灯亮起后,可进行下一步操作。
3.打开冷却器:X射线荧光光谱仪使用冷却器来保持稳定的温度,减少仪器的热效应对测量结果的影响。
在使用前,要先打开冷却器,待冷却器温度稳定后再进行测量。
4.设置参数:根据需要,将要测量的样品放入仪器台面,并设置好测量参数,如激发电压、测量时间等。
确保参数设置准确无误。
5.开始测量:按下开始测量按钮,仪器会开始进行激发和检测。
在测量过程中,不能随意操作仪器,以免影响测量结果。
6.结束测量:测量时间到达设定值后,仪器会自动停止测量。
此时可将样品取出,并保存测量结果。
7.关闭仪器:在使用完毕后,关闭电源开关,并将电源插头拔出插座。
清理仪器台面,并将仪器周围环境整理整齐。
二、保养规程1.仪器清洁:定期使用无纺布或棉布擦拭仪器的外表面,保持仪器干净。
禁止使用有溶剂的清洁剂来清洁仪器,以免损坏仪器表面。
2.冷却器维护:定期清理冷却器内部的灰尘和杂物,保持通风良好。
可以使用吸尘器轻轻吹扫冷却器,并定期检查冷却器风扇是否正常运转。
3.仪器校准:定期对X射线荧光光谱仪进行校准,确保测量结果的准确性。
可以参考仪器使用手册中的校准方法,或者请专业人员进行校准。
4.激发电极保养:激发电极是仪器的关键部件,定期检查激发电极是否损坏或腐蚀,如果有损坏,要及时更换。
在更换激发电极时,要按照说明书上的方法进行操作,严禁随意拆卸或组装。
5.电源保护:使用稳压器来为X射线荧光光谱仪供电,防止电压波动引起的仪器故障。
同时,要定期检查电源输入是否正常,如有异常,要及时进行处理。
6.检查仪器连接:定期检查仪器各部件的连接是否松动,如有需要,要进行紧固或更换。
怎样正确使用X荧光分析仪
X射线荧光分析仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源,激发样品产生荧光X射线。
根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。
作为一种质量检测手段,我国大,中型水泥厂(新型干法)几乎都配套使用了X射线荧光分析仪。
X射线荧光分析过程中产生误差的原因主要有操作方面、仪器方面、以及试样本身等三方面因素。
一、操作方面带来误差的因素:
1.粉磨时未设定好粉磨时间和压力,达不到要求的粉磨粒度或相应的料度分布。
实验表明当粉磨时间短于试验设定时间,测定结果就会产生波动。
同时,粉磨时未按规定加适量助磨剂或所加助磨剂中含有所要分析的元素,都会给测定结果带来较大影响。
磨头和磨盘里留有前期样品或被其它物质污染),结果也会产生误差。
2.压片时,未设定好时间和压力,压力效果不好或压片时样品布入不均匀而产生了样品的堆积分布不均,或压片板(压片头)不洁净(或上面粘有前期样品)等,都会影响分析结果。
3.制样未保护好,制样装入试样盒的位置不当,结果给分析带来误差。
制样未保护好有两层含义:A.未保护好制样光洁度。
如用手指摸分析面、或用手指甲划、用口吹、用湿毛巾擦分析面等;B.制样在空气中放置太久,使分析面与空气中物质发生了物理化学变化。
制样装盒位置不当,把测样片装倒了或测样片表面与试样盒表面成一倾斜角等,都会影响到射线管与分析面的距离,从而产生误差。
4.荧光分析中,由于分析面上的样品灰未除掉,久之影响到仪器真空度;或由于操作者粗心,分析程序选错,如测生料时用上测熟料的分析曲线或用了测石灰石的曲线,显然结果不正确。
二、仪器方面的误差因素:
1.压片板(或压片头)不光洁,导致分析面不光滑,从而影响测量结果。
2.光路真空度不合适,分光晶体、滤光片选择不佳,使各种射线产生干扰,影响分析。
3.X射线管电压、电流不稳定,从而产生结果波动。
4.随着时间的延长,X光管内部元件尺寸位置变化引起初级X射线强度的变化,或X射线管阳极出现斑痕,靶元素在窗口沉积,给分析结果带来误差。
5.温度的变化,引起分光晶体晶面间距变化,从而影响分光效率。
正比计数管高压漂移,温度变化引起管内气体成分变化,影响放大倍数。
6.电子电路的漂移,计数的统计误差,检测过程的时间损失引入的计数误差等。
7.气体的压力、氮气、甲烷气体的流量、温度等辐射通道条件的变化,都会影响光路中气体对X射线的吸收。
因此,气瓶的减压阀一旦调好,不要随意再动,特别是更换新气时,一定要尝试着多次调气压,否则,由于气流、气压不稳,使结果产生误差。
三、试样本身的误差因素:
1.试样易磨性。
有的试样易磨性较差,对测定构成影响。
2.试样成分。
有的试样基本组成成分与标准试样组成成分不一致,也会影响测定结果。
3.基体效应。
基体中其它元素对分析元素的影响,包括吸收和增强效应,吸收效应直接影响对分析元素的激发和分析元素的探测强度。
增强效应使分析元素特征辐射增强。
4.不均匀性效应。
X射线强度与颗粒大小有关,大颗粒吸收大,小颗粒吸收小,这是试样粒度的影响。
5.谱线干扰。
各谱线系中谱线产生重叠、干扰,还有来自不同衍射级次的衍射线之间干扰。
四、避免误差的措施:
首先应将样品磨细、压实以减少试样的不均匀性,其次是选择无干扰的谱线、降低电压至于扰元素激发电压以下,选择适当分光晶体、计数管、准直器或调整脉冲高度分析器、提高分辩本领,在分析晶体和探测器之间放置滤光片,滤去或减弱干扰谱线。
第三是严格按仪器设备管理办法安装、调试好仪器设备,避免仪器误差。
第四是严格按照操作规程认真操作,避免人为的操作误差。