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精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为Cg=KT/6S(1)C g K=Cg-｜XE-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算，对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
此主题相关图片如下：
Cgk是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk 分析的方法是：
1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；
2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；
3：确定被测产品的公差X围；
4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。
下面是一个计算的图示：
此主题相关图片如下：
上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题
此主题相关图片如下：。
、弓丨言检具（读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等）的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1. 评定方法1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值（即极差值）作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L i、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n 次测量值的极差值W=L max-L min。
采用极差法进行评定时，一般取n = 10,W/< T/10（T为工件被检项目公差）。
2. 评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为C g=KT/6S ⑴GK=G | X& | /3S （2）式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S――实际达到的测量结果分布宽度T――工件被检项目公差X E――样件的实际尺寸•――平均测量值S――标准偏差，X ――第i次测量值n――测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1) 进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2) 进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3) 检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算e g值或C g K值。
(4) 在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5) 对一般检具进行e g值计算，对关键检具进行GK值计算。
⑹按式⑴、(2)计算得到测量能力指数，通常当e g> 1.33或C g K W2时可视为该检具合格。
有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复(2014-09-14 18:03:40)转载▼分类：质量工具与方法标签：cg——量具重复精度能力系数cgk——量检具准确精度能力系数Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk分析的方法是：1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次；2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；3：确定被测产品的公差范围；4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。
cgcgkmsa测量系统分析有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题，现将相应答复分享给感兴趣同仁，以供参考。
问题一：有人说，如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候，就可以忽略MSA的影响，我听了非常震惊和困惑，因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础，如果测量系统就有偏差的话，测量结果很可能失真，也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象，您认为呢？我的答复：我对你的困惑表示理解。
我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。
有能力的过程不一定是稳定的过程，也就是说，即使Ppk大于2，也仅表示过程有能力，但相对来说过程本身的离散程度（即过程变异）比较小，这时为监控过程的稳定性（即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态），对测量系统所导致的测量变异更敏感。
MSA 的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异，以此来评估测量系统的质量。
如果测量结果呈现的变异太大，可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。
问题二：有人说，Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究，经过分析，我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了，我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司，因为我的理解不够深入，所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢？我的答复：目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受，只有Cg/Cgk 满足要求（如：Cg>=1.33、Cgk>=1.33）时才进一步通过测量生产件进行GRR（测量系统重复性和再现性）研究。
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CpkCgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价等级要求值状态处理方案A级 1.33≤Cp 稳定可考量缩小规格B级 1.0＜Cp ≤1.33 一般必须加以注意，维持C 级0.83＜Cp ≤1.0 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤0.83 极差停机，重新调整后生产Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s注：Cp 值越大，分布数据接近，但也有可能偏于中心值的分布规格U-L 中心值M密度高-----低u 密集命中密度高分散命中密度低密集命中密度高，但偏离大规格宽松，须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值，缩小规格范围Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍结束语：1. 通过以上各种能力指数的分析，可以针对工作需要选用或并用多种工具，了解4M等因素或制程能力，确保生产品质是否在掌握范围？2. 任何一种统计工具都要灵活运用，不可极端采纳。
3. 目前管制线一般采用+3s～-3s，直通率为99.73%作为基准线，来做SPC管制线以上报告，仅供参考。
Ppk、Cpk，还有Cmk三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同。
目录编辑本段概念CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK 一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；CPK：至少1.33CMK：至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本CMK相关知识对Cmk，我们关心的是机器设备本身的能力，在取样过程中要尽量消除其他因素的影响，因此，在尽量短的时间内（减少环境影响），相同的操作者（减少人的因素影响），采用标准的作业方法（法），针对相同的加工材料（同一批原材料），只考核机器设备本身的变差。
Ppk、Cpk，还有Cmk三者的定义是什么？有什么区别？如何计算？1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为：Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。
它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。
即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为：或的最小值。
即：Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同。
目录编辑本段概念CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。
这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。
产品质量就是工序中的各个质量因素所起作用的综合表现CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK 一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况；CPK：至少1.33CMK：至少1.67CMK一般在机器生产稳定后约一小时内抽样10组50样本CPK在过程稳定受控情况下适当频率抽25组至少100个样本CMK相关知识对Cmk，我们关心的是机器设备本身的能力，在取样过程中要尽量消除其他因素的影响，因此，在尽量短的时间内（减少环境影响），相同的操作者（减少人的因素影响），采用标准的作业方法（法），针对相同的加工材料（同一批原材料），只考核机器设备本身的变差。
cpk 与cmk区别一、CPK１、计算公式：cpk=(1-K)*CP或MIN(cpu,cpl)K=CA=T/2T=规格上限-规格下限cpk值越大，代表综合制程能力越强．２.等级判定：cpk值大约可分为五级：A+ CPK>=1.67 制程无缺点，考虑降低成本．A 1.33<=cpk<=1.67 维持现状；B 1.0<=CPK<=1.33 有缺点发生，引起注意；C 0.67<=CPK<=1.0 立即进行检讨，提出改善措施；D CPK<=0.67 采取紧急措施，甚至停线，检讨规格设定．二、CMKCMK对设备能力的评估，称为设备能力指数，计算公式和CPK大体一致，只是CMK是连续取样，取样方法有所不同！！CPK：在过程稳定受控情况下适当频率抽２５组至少１００个样本CMK：一般在机器生产稳定后约一小时内抽样１０组５０样本三、区别：CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况CPK：至少1.33CMK：至少1.67转载请注明出自六西格玛品质论坛 /,本贴地址:/viewthread.php?tid=108152CMK是指设备能力指数,CPK指的是综合过程能力指数.CMK评价的设备;CPK评价的是5M1E的综合影响因素转载请注明出自六西格玛品质论坛 /,本贴地址:/viewthread.php?tid=108152Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同SPC ,CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
具（数式量、数式具、合等）的生供商将按用要求制造的具成品交付用，双方于采用什么方法及指来定具量，以及如何判定具是否合格，确定具差有多大等往往存在不一致之，不同的用常常也会提出不同的收要求、方法及指。
此，本文介四种常用的具随机差的收定方法及指，并各种方法的适用性行分析。
二、四种评定方法介绍1. 定方法1在等精度量条件下，可采用n次量果的最大差（即极差）作差定指。
即n次等精度量分1_1、1_2、…、Ln,其中最大量Lmax,最小量Lmin, fl次量的极差Wn=Lmax-L min o采用极差法行定，一般取n=10,W<T/10（T工件被目公差）。
2. 定方法2采用量能力指数Cg或Cg K作定指，算公式C =KT/6SgCgK=Cg- | X E X | /3S式中K—小系数，一般取K=0.2KT—允的量果分布度6S—达到的量果分布度T一工件被目公差X E—件的尺寸X—平均量;S—准偏差，Xi —第i次量n—量次数采用Cg或Cg K行能力定注意以下事：（1）行能力前将具整到完好状。
（2）行能力，被件具随的校准件。
若无校准件，可采用符合受工序尺寸和精度要求的加工零件。
I * J（3）按具的定操作方法行，同一被件以相同的安装方法及安装方向重复安装量50次，将每次量数据于表中以算Cg 或CgK。
（4）在能力程中不允具的任何部位行整，若具在程中生故障，重新开始。
（5）一般具行Cg算，关具行CgK算。
（6）按式⑴、（2）算得到量能力損数，通常当Cg> 或g52可具合格。
1.33 C K3. 定方法3采用重复性（反映具本身的差）和再性（反映量生的差）指（即GR&R ）行定，其方法是：由一定人数（2人以上）在同一台具上一定数量（通常5件以上）的合格工件行多次（如3次），将量数据填入特制表格，按定公式行算。
重复精度能力指数的算表达式精心整理GR&R = + A v式中E v——重复精度指数，反映检具变差Av——再现能力指数，反映评价人变差重复精度指数的计算公式为E』X Ki式中R——多人极差平均值Ki——试验次数系数，2次时：Ki =4.56 ；3次时：Ki=3.05 再现能力指数的计算公式为式中X DIFF--- 平均值的极差值K2——评价人数量系数，2人时：K2=3.65 ；3人时：K2=2.70 n——被测零件数•…厂r——测量次数上述三种指数在被测工件公差带中所占百分比分别为重复精度指数：重复精度指数/公差带X100=Ev/T(%) —•再现能力指数：再现能力指数/公差带X100=Av/T(%)总重复精度能力指数：总重复精度能力指数/公差带X100=GR&R/T(%)评定原则如下：⑴若GR&R(%)V10%,则检具合格，可以接收；(2) 若10%WGR&R(%)W30% ,则应对总误差中检具误差与人为误差各自所占比例进行分析，并结合检具应用重要性、检具成本、维修费用等相关因素进行综合考虑，以决定检具是否可以接收；(3) 若GR&R(%)>30%,则检具不合格，不能接收。
cpk 与cmk区别一、CPK１、计算公式：cpk=(1-K)*CP或MIN(cpu,cpl)K=CA=T/2T=规格上限-规格下限cpk值越大，代表综合制程能力越强．２.等级判定：cpk值大约可分为五级：A+ CPK>=1.67 制程无缺点，考虑降低成本．A 1.33<=cpk<=1.67 维持现状；B 1.0<=CPK<=1.33 有缺点发生，引起注意；C 0.67<=CPK<=1.0 立即进行检讨，提出改善措施；D CPK<=0.67 采取紧急措施，甚至停线，检讨规格设定．二、CMKCMK对设备能力的评估，称为设备能力指数，计算公式和CPK大体一致，只是CMK是连续取样，取样方法有所不同！！CPK：在过程稳定受控情况下适当频率抽２５组至少１００个样本CMK：一般在机器生产稳定后约一小时内抽样１０组５０样本三、区别：CPK：强调的是过程固有变差和实际固有的能力；CMK：考虑短期离散，强调设备本身因素对质量的影响；CPK：分析前提是数据服从正态分布，且过程受控；(基于该前提，CPK一定>0)CMK：用于新机验收时、新产品试制时、设备大修后等情况CPK：至少1.33CMK：至少1.67转载请注明出自六西格玛品质论坛 /,本贴地址:/viewthread.php?tid=108152CMK是指设备能力指数,CPK指的是综合过程能力指数.CMK评价的设备;CPK评价的是5M1E的综合影响因素转载请注明出自六西格玛品质论坛 /,本贴地址:/viewthread.php?tid=108152Cmk是德国汽车行业常采用的参数，称为临界机器能力指数，它仅考虑设备本身的影响，同时考虑分布的平均值与规范中心值的偏移；由于仅考虑设备本身的影响，因此在采样时对其他因素要严加控制，尽量避免其他因素的干扰，计算公式与Ppk相同，只是取样不同SPC ,CP(或Cpk)工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态(稳定状态)下的实际加工能力。
Invoice DateInvoice #Bill To:Ship To:P.O. Number Terms Rep Ship Via F.O.B.ProjectQuantityItem CodeDescriptionPrice EachAmountTotal全球机械和设备标准文件测试系统标准的评估（EMS ） 文件号：SP-Q-EMS-GLOBAL草稿 10.3初稿日期：99.12.17修正日期：04.3.1标准编写：GM 动力总成制造工程和FIAT-GM 动力总成草稿:10.3初稿日期:1999.12.17全球机械和设备标准修正日期: 2004.3.1测试系统标准的评估（EMS）印刷日前: 2004.3.3 1. 导言1.1 文件范围1.1.1 目的该文件诠释了由内部和/或外部生产和取得的测量系统的基本要求。
它的目的是为供应商建立一种建议和可接受流程的清晰基础，基于这个原因，这个标准的内容必须提供给测量系统的供应商和制造者。
任何偏离标准的都必须由FGP/GMPT 制造工程管理批准，且供应商在书面订单前同意（见附件A，GM动力总成全球机械和设备总标准。
SP-G-General）。
1.1.2 地理范围该标准供所有FGP/GMPT 工厂用于获得测量系统的使用。
任何该工厂所在国现有的法规和规定具有完全优先权。
1.1.3 项目范围对于FGP/GMPT北美制造工厂而言，该标准将应用所有1999年及以后的所有新的和主要的成品项目。
若当地制造工厂认为正确亦可在旧项目中实施该标准。
1.1.4 技术范围该标准适用工厂内对所有不动产品生产测量系统的现有及现行的控制。
必须在测量系统运行前，购买新设备时，全面检查后，主要设计更改后接受测试，这些测试是验证机床和过程能力的先决条件。
供应商/制造单位必须得到初始中发现所有缺陷的通知，包括一份测试结果的拷贝。
如果在现行控制中发现了缺陷，必须通知责任工厂的规划人员。
草稿:10.3初稿日期:1999.12.17全球机械和设备标准修正日期: 2004.3.1测试系统标准的评估（EMS）印刷日前: 2004.3.3 1.1.5 用于各种检具1.1.5.1 各种检具检具是可对检测特性提供量值的工具，如直径＝125.00mm.该直径可与标准格值（如±0.25）进行比较，然后就可以知道该特性状态有多好或多差。
随着过程能力指数系列的相关应用，紧跟在设备过程能力的出现以及应用之后，量检具过程能力Cg/Cgk也随着工业发展应运而生了。
Cg/Cgk是评估一个检测设备的测量能力是否满足被测质量特性的公差要求相匹配的方法。
它主要用来评估量具内部的变差对整个公差带的影响。
今天与大家一起分享量具测量能力的基本知识及五大常见误区。
误区1：Cg与Cp/Pp/Cm公式类似Cg主要是评估量具自身的重复性，重复性是量具对同一部件进行一致性测量的能力。
在符合要求的量具中甚至也会出现一些测量变异，但相对于部件公差而言变异太大，则表示该量具变化太大不适用于测量。
例如，如果某内孔直径的公差是5 mm，但参考标准件重复测量值也超过了5mm，则您将无法使用该量具确定内孔是否在公差范围内。
与公差相比，量具测量值的变异应小于公差。
cg——量具重复精度能力系数，其公式为其中，K为公差百分比，一般默认为20，T为公差带，s为测量值标准差，L 为整个过程散布相当于其标准差的倍数，一般默认为6。
此外，根据公司的标准不同，分母有取6s的情况，也有取4s的情况，以6s的情况应用较为普遍。
因此该公式可以简化为从简化公式看出，Cg的分子明显与其它不同，一般设置为公差带的20%。
Cg 值大于1.33 说明相对于公差范围而言该量具测量值的散布范围非常窄。
例如，如果使用默认值K 和L，Cg 度量为2 表示公差范围的20% 将覆盖测量值的整个散布范围两次。
此Cg 值表示量具在此公差范围内有效。
行业内一般由2种标准。
Cg≥1.33或者Cg≥1，具体要依据每个公司的各自标准要求。
误区2：Cgk与Cpk/Ppk/Cmk公式类似Cgk主要是用来评估量具自身的偏移。
还评估量具的偏倚，即量具平均测量值与官方参考值之间的差异，您的量具目标是“true”值。
一般采用T检验进行分析，如Minitab 使用不存在偏倚的原假设的t 检验分析偏倚。
实质上，此检验是用于确定平均测量值是否与参考值显著不同的样本 1 的 t 检验。
精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时，双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量，以及如何判定检具是否合格，确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处，不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此，本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标，并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法 1在等精度测量条件下，可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n 次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n，其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时，一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法 2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标，计算公式为C g=KT/6S(1)C g K=C g-｜X E-｜/3S(2)式中K——缩小系数，一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差，X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项：(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时，被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件，则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行，同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次，将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整，若检具在检验过程中发生故障，则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算，对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数，通常当C g≥1.33或C g K≤２时可视为该检具合格。
1、针对检具能力的审核提问表1.1 对每个重要的计量特性值都有确定的检具能力Cg值吗？1.2 最近一次检具能力的检验是什么时候做的？1.3 谁做的这些检验，在哪里做的？1.4 对检具能力的检验有一个工作规范吗？1.5 有一份完整的检验的文件和结果在检验工位上吗？1.6 对使用的标样进行标定了吗（在检验工位上有标定卡吗）？1.7 制订了定期的和系统的监控检具能力的计划了吗？1.8 对于没有能力的检具应如何处理有相应的规定吗？2、检具能力指数2.1 公式2.2 一个检具应比它要检验的数值精确十分之一（0.1），考虑到上下公差范围这就得出系数2×0.1＝0.2。
2.3 检具能力指数Cg值只是针对一个质量特性值而言的，并只对测量的时间点和当时的实际条件有效。
2.4 检具能力指数的判断依据：Cg≥2.0 在购置新检具时将其作为要求。
Cg≥1.67 检具有能力且检验精度高。
Cg≥1.33 检验装置（检具）基本上有能力，当——标样非常好和——测量装置工作无缺陷（高的测量稳定性＝使用稳定性）时。
Cg≤1.33 检具被认为没有能力，应采取相应的改进措施。
Cg≤1.0 检验结果是不可靠的，应马上对此采取措施。
Cg值以最高概率的形式表明测量精度。
在此系统的错误（测量偏差）不包括在内。
Cg值应尽可能高（但要考虑经济型）。
3、对指数的几点说明。
各种能力指数不是原始（测量）值，而是基于概率论和数理统计理论运算出的数值。
最著名的例子就是正态分布。
数值之间有下列关系可供人们参考：4、各种指数的文件和记录存档。
计算出的各种指数值（如Cm、Cpk、Cg）表明收集测量值时间段时的机器、工序和检具的能力。
对各指数基本上要给出下列信息：a、给出相关的质量特性（只有一个！如：某一尺寸）b、样本中每件的原始测量值（计算的基础）c、做测量的时间和地点（日期，月平均等等）d、对前提条件和环境状态的说明。
注：没有给出详细基本信息的能力指数值是没有意义的和误导的。
C g=(T g o-T g u)/6S=T g/6S
Cgk=min (Tgo-Xbar)或(Xbar-Tgu) /3S
式中Cg——量检具重复精度能力系数
Cgk——量检具准确精度能力系数
Tgo——控制上限
Tgu——控制下限
Xbar——测量值的平均值
S——测量值的标准偏差
图中：
To为零件公差上限
Tu为零件公差下限
Tm为零件公差中心
Ta为被测零件的实际尺寸
T=To-Tu, T为零件公差
△X=Ta-Tm Tm=1/2(To+Tu)
Tgo=Ta+1/2×λ×（To-Tu）
=1/2(To+Tu) +△X+1/2λ×（To-Tu）
=1/2×To×（1+λ）+1/2×Tu×（1-λ）+△X
Tgu=Ta-1/2×λ×（To-Tu）
=1/2(To+Tu) +△X-1/2λ×（To-Tu）
=1/2×To×（1-λ）+1/2×Tu×（1+λ）+△X
λ一般取～（现取）
Tgo=×To+×Tu+△X
Tgu=×To+×Tu+△X
Tg=Tgo- Tgu＝×（To-Tu）＝×T
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Cgk是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk分析的方法是：
1：让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25
次；
2：用这组数据计算出标准差和平均偏移值；
3：确定被测产品的公差范围；
4：用公式计算出Cgk（可能各公司的公式会不同）。
下面是一个计算的图示：
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上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题
此主题相关图片如下：。
