射线透照工艺射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施等，也泛指详细说明上述方法、程序、参数、措施的书面文件。
射线透照工艺文件有两种，一种称通用工艺规范，依照有关管理法规和技术标准，结合本单位具体情况(涉及的产品范围和现有设备条件)编制而成。
其内容除包括从试件准备直至资料归档的射线照相全过程，还包括对人员、设备、材料的要求以及一些基本技术数据，如曝光曲线等图表。
另一种称专用工艺，其内容比较简明，主要是与透照有关的技术数据，用于指导给定试件的透照工作。
因其通常用卡片形式填写，所以有时称为透照工艺卡。
工艺条件是指工艺过程中的有关参变量及其组合。
射线透照工艺条件包括设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件，工艺措施条件等。
本章重点介绍一些主要的工艺条件对照相质量的影响及应用选择原则。
4.1透照设备器材4.1.1射线源1、射线源分类X射线：400KV以下，可通过调节KV选择能量大小，穿透厚度上限达70-90mm左右。
Y射线：能量不可改变，只能根据工件厚度选择源的种类。
常用Y射线源的特性参数高能X射线：由加速器产生，能量1—30MeV,穿透厚度100—300mm，设备昂贵，适用于厚壁容器制造企业。
2、射线能量(射线源种类)的选择考虑因素：穿透力照相灵敏度设备特点选择原则：1)对于较薄材料(50mm以下)的透照，尤其是钢板对接，应优先选择X射线，可获得较好的照相灵敏度。
2)厚度50以上的透照，采用X射线、Y射线获得的照相灵敏度相近，根据工件及现场情况选择。
3)透照困难的现场，如狭小空间、架空管道等，可考虑采用Y射线。
4)环焊缝X射线透照，焦距满足要求的情况下，尽量采用锥靶周向X射线机，一来可提高工效，二来可减小缺陷影像的畸变。
4.1.2胶片1、胶片分类按现行承压设备射线检测标准(JB/T4730.2—2005)：胶片系统按照GB/T19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。
T1为最高类别，T4为最低类别。
胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。
2、胶片选择选择原则：1) A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。
胶片的本底灰雾度应不大于0.3。
2) 釆用丫射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时，应采用T2类或更高类别的胶片。
采用Y射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。
裂纹敏感材料：屈服强度450MPa或抗拉强度540MPa以上，低合金高强钢类如15MnVNR、18MnMoNbR、07MnCrMoR；低合金耐热钢类如 1.0Cr0.5Mo(15CrMo)、1.25Cr0.5Mo(14CrlMo)、2.25Cr-lMo(lCr2Mol)；马氏体不锈钢类如lCrl3、2Crl33）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行Y射线照相时应采用高类别的胶片。
4）对可焊性差的材料或Rm±540MPa高强钢，Y射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。
4.1.3像质计1、像质计分类1）通用型像质计JB/T4730标准引出HB7684—2000增加了小于0.100mm的线径，即17号一0.080mm、18号一0.063mm、19号一0.050mm,.组成了4组像质计：1—7、6—12、10—16、13—19。
2）专用像质计（附录F）一般由5根等径金属丝组成，有特殊要求时也可为3根。
适用于小径管的透照。
1）像质计材料种类应与被检工件材料相适应（对射线的吸收特性相似）。
特殊情况下，采用与工件材料种类不同的像质计时，以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。
即铁（Fe）像质计可以用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（Al）材料的照相。
2）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）/透照厚度（W）确定像质计灵敏度，从而选用不同组别的像质计。
3）小径管的透照，可选用通用型像质计，也可选用专用像质计。
4.2透照方法（方式）按照检测对象、射线源、被检工件焊缝和胶片之间的位置关系，对接焊缝透照方法可分五大类：纵缝单壁透照、环缝单壁外照、环缝单壁内照、双壁单影、双壁双影细分又可划分如下：外照法中心法F=R 内照法｛偏心法F >R偏心法FVR双壁单影直透法t 斜透法双壁双影直透法斜透法纵缝透照「单壁透照双壁透照1、选择透照方式时考虑的因素：1）照相灵敏度灵敏度有明显差异的情况下，应选择灵敏度较高的透照方式。
如单壁透照灵敏度明显高于双壁透照，在两种方式均可采用时，应选前者。
2）缺陷检出特点根据检出缺陷的要求选择。
如单壁外照法对容器内表面裂纹检出较为有利，双壁双影直透法对小径管根部未焊透较为有利。
3）透照厚度差和横向裂纹检出角较小的透照厚度差和横向裂纹检出角有利于提高底片质量和裂纹检出率。
焦距和一次透照长度相同的情况下，单壁内照比单壁外照具有更小的透照厚度差和横向裂纹检出角。
4）一次透照长度各种透照方式的一次透照长度不同，选择选择一次透照长度较大的透照方式可有效提高检测速度。
单壁透照 双壁透照5）操作方便性采用X射线，透照小型容器，外照更为方便，透照球罐，上半球外照方便，下半球内照方便。
6）试件和探伤设备具体情况容器（管道）直径过小时，内照可能导致Ug不满足要求，只能采用外照；移动式探伤设备只能采用外照；周向射线机或Y源透照，内照更能发挥设备优势。
2、透照方式选择原则:（JB/T4730.2—2005）应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。
在可以实施的情况下应选用单壁透照方式，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。
透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。
4.3透照工艺参数条件1、射线能量对照相质量的影响选择射线能量的首要因素是对被检工件具有足够的穿透力。
从保证射线照相灵敏度方面考虑，射线能量增高，衰减系数减小，底片对比度降低,固有不清晰度增大，底片颗粒度也增大，其结果射线照相灵敏度（三要素）下降。
但是，如果射线能量过低，穿透力不够，到达胶片的透照射线强度过小，造成底片黑度不足，灰雾度增大。
2、射线能量的选择对于x射线源，能量选择即选择KV,JB/T4730—2005.2中对不同透照厚度允许采用的最高管电压上限作出了限定。
对截面厚度变化大的承压设备，在保证灵敏度要求的前提下，允许采用超 过图1规定的X 射线管电压。
对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过50kV ； 对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过40kV; 对铝及铝合金材料，管电压增量不应超过30kV 。
•理解：不同材料、不同透照厚度允许采用的最高X 射线管电压与检测技术级别无 关。
扌空制X 射线管电压的主要目的是保证底片的对比度，避免影响小缺陷的检 出率。
截面厚度变化大：以AB 级T3类胶片为基准，如较厚部位黑度为2.0，而较 薄部位的黑度大于4.0。
对于Y 射线源，穿透力取决于射线源的种类。
由于射线源发出的射线能量不可 改变，而用高能射线透照薄工件时，会出现灵敏度下降的现象。
因此，标准对于源 的选择不仅规定了透照厚度的上限，且也规定了透照厚度的下限。
45?89)0 透厚度WSmm注：L —铜及铜合金；2—■钢；3—钛及钛合金；4—铝及铝合金'图1不同透照厚度允许的X 射线最高透照管电压203040506070100Z 200皿兀6050;203.出创甑幌曙名松€表4丫射线源和能*IMeV以上X射线设备的透照厚度范围（钢、不镌钢、锦合金穿）采用源在内中心透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许Y射线最小透照厚度取表4下限值的二分之一。
采用其他透照方式，在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，经合同各方同意，A级、AB级技术的lr-192源的最小透照厚度可降至10mm，Se-75源的最小透照厚度可降至5mm。
•关于Se-75源：主要由四种线谱（能量）组成，0.13/0.27/0.281/0.405，平均能量0.226，半衰期120天，价格较lr-192源贵，主要适用于压力管道的安装和在用检测（X射线难于满足工期及全位置检测的要求，lr-192源最小透照厚度难于满足要求）。
通常情况下，射线能量的选择原则：在保证穿透的前提下，选择能量较低的射线，以保证射线照相灵敏度。
选择能量较低的射线可以获得较高的对比度，却意味着较低的透照厚度宽容度。
对于透照厚度差较大的工件将产生很大的底片黑度差，底片黑度值超出允许范围。
因此，在透照厚度差较大的工件时，选择射线能量还必须考虑得到合适的透照厚度宽容度，即适当选择较高一点射线能量。
4.3.2焦距1、焦距对射线照相质量的影响焦距（F、f）对照相灵敏度的影响主要表现在几何不清晰度上。
由几何不清晰度定义（定义式：U="•b（或U=匕）可知，焦距F越大，U值越小，底（F-b）g f片上的影象越清晰。
2、焦距的选择为保证射线照相的，标准对透照距离的最小值作出了限制。
JB/T4730.2-2005规定透照距离f与焦点d和工件表面b应满足以下关系：检测技术等级透照距离L1几何不清晰度U值gA级fM7.5d•b2/3UW2/15b i/3gAB级fM10d•b2/3UW1/10b i/3gB级fM15d•b2/3UW1/15b i/3g2由于焦距F=f+b，所以上述关系式也就限制了F的最小值。
f可通过上列关系式计算（有效焦点尺寸d随机提供，b已知），也可利用标准中的诺模图查出。
-50Qr400k300i[1r200氓r100晅r8ft星—60孑50r4D230r芒io-\S3AB级射线检测技术确定焦点至工件衷面距离的诺糅團实际透照时一般并不采用最小焦距值，所用的焦距比最小焦距要大得多。
这是因为透照场的大小与焦距相关。
焦距增大后，匀强透照场范围增大，这样可以得到较大的有效透照长度同时影象清晰度也进一步提高。
但是焦距也不能太大，因为焦距增大后，按原来的曝光参数透照得到的底片其黑度将变小。
若保持底片黑度不变，就必须在增大焦距的同时增加曝光量或提高管电压，而前者降低了工作效率，后者将对灵敏度产生不利的影响。
影响焦距选择的因素：检测技术级别、焦点尺寸、工件厚度（透照方式）焦距的选择有时也与试件的几何形状以及透照方式有关。
例如，为得到较大一次透照长度和较小的横裂检出角，在双壁单影法透照环缝时，往往选择较小的焦距，极限情况下，焦距就是筒体的外径。
采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2（黑度）和4.11.3（像质计灵敏度）的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的50%。
采用源在内单壁透照方式时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不应超过规定值的20%。
