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光谱成像技术在光电侦察领域的应用
光谱成像技术是一种同时获取目标光谱和空间位置信息的技术，它具有高分辨率、高灵敏度、多波段信息获取能力等优点，可以广泛应用于遥感、环境监测、荧光成像、生命科学等领域。
在光电侦察领域，光谱成像技术也得到了广泛应用，可以实现对目标的高精度监测和识别。
光谱成像技术可用于探测目标的物理、化学性质，例如对气体的浓度和分布进行探测和分析，对液体的成分和浓度进行检测和分析等。
此外，光谱成像技术还可用于目标的脱模研究，例如对目标表面的纹理、材质、形状进行分析和识别。
在军事领域，光谱成像技术可以用于目标智能识别和目标制导。
通过获取目标的多波段信息，可以快速准确地识别目标类型和特征；而在自动导航和制导控制系统中，可以根据目标的光谱信息进行精确的目标指导和跟踪，提高导弹、无人机等武器的打击精度和命中率。
总之，光谱成像技术在光电侦察领域的应用非常广泛，具有重要的作用和价值。
未来随着技术的不断发展，相信光谱成像技术将会在光电侦察领域中扮演更加重要的角色。
光电成像系统的设计与性能分析第一章：引言光电成像系统是现代科技领域中的一个重要研究方向。
它是一种将光学和电子技术相结合的系统，能够将光信号转化为电信号，从而实现图像的获取和处理。
光电成像系统的设计与性能分析对于图像的质量和应用领域的探索具有重要意义。
本文将对光电成像系统的设计原则和性能分析进行详细探讨。
第二章：光电成像系统的设计原则2.1 光电成像系统的基本元素光电成像系统主要由光学部分和电子部分组成。
光学部分包括光源、物体、透镜和光敏元件等，电子部分包括模拟电路和数字电路等。
为了保证光电成像系统的性能，必须合理选择和设计这些元素。
2.2 光电转换效率光电转换效率是评估光电成像系统性能的重要指标之一。
在设计过程中，需要选择合适的光敏元件，并优化光学系统，以提高光电转换效率。
此外，还可以通过选择高质量的透镜材料和增加透镜的直径，来提高光电转换效率。
2.3 噪声源分析与抑制噪声源是光电成像系统中的一个重要问题。
设计者需要对系统中的各个环节进行噪声源分析，并采取相应的抑制措施。
例如，可以使用低噪声的光敏元件和对噪声进行滤波处理，来降低噪声对图像质量的影响。
第三章：光电成像系统的性能分析3.1 分辨率分辨率是衡量光电成像系统性能的重要指标之一。
通过设计合适的光学系统和选择高性能的光敏元件，可以提高图像的分辨率。
同时，还可以采用图像处理技术对获得的图像进行后处理，来进一步提高分辨率。
3.2 灵敏度灵敏度是光电成像系统的另一个重要性能指标。
它反映了系统对光信号的响应能力。
在设计过程中，可以通过选择高灵敏度的光敏元件和增加光源的亮度，来提高系统的灵敏度。
3.3 動態範圍动态范围是指光电成像系统能够接受的光强范围。
在设计过程中，需要选择合适的光电元件和电路，以扩展光电成像系统的动态范围。
3.4 信噪比信噪比是光电成像系统的一个关键性能指标。
它可以通过信号处理和噪声抑制策略来提高。
在设计过程中，需要合理选择信号处理算法和噪声抑制技术，以最大程度地提高信噪比。
第1篇一、实验目的本次实验旨在通过实际操作，了解光电探测的基本原理和实验方法，掌握光电探测器的性能测试技术，并分析光电探测在现实应用中的重要性。
实验过程中，我们对光电探测器的响应特性、灵敏度、探测范围等关键参数进行了测试和分析。
二、实验原理光电探测器是一种将光信号转换为电信号的装置，广泛应用于光电通信、光电成像、环境监测等领域。
实验中，我们主要研究了光电二极管（Photodiode）的工作原理和特性。
光电二极管是一种半导体器件，当光照射到其PN结上时，会产生光生电子-空穴对，从而产生电流。
三、实验仪器与材料1. 光电二极管2. 光源（激光笔、LED灯等）3. 光电探测器测试仪4. 示波器5. 数字多用表6. 光纤连接器7. 光学平台8. 环境温度计四、实验步骤1. 光电二极管性能测试（1）将光电二极管与光源、测试仪连接，确保连接牢固。
（2）调整光源强度，观察光电探测器输出电流的变化，记录不同光照强度下的电流值。
（3）测试光电二极管在不同波长下的光谱响应特性，记录不同波长下的电流值。
2. 光电探测器灵敏度测试（1）调整环境温度，观察光电探测器输出电流的变化，记录不同温度下的电流值。
（2）改变光源距离，观察光电探测器输出电流的变化，记录不同距离下的电流值。
3. 光电探测器探测范围测试（1）在固定光源强度下，调整探测器与光源的距离，观察输出电流的变化，记录探测范围。
（2）在固定探测器与光源的距离下，调整光源强度，观察输出电流的变化，记录探测范围。
五、实验结果与分析1. 光电二极管性能测试实验结果表明，随着光照强度的增加，光电二极管输出电流逐渐增大。
在相同光照强度下，不同波长的光对光电二极管输出的电流影响不同，表明光电二极管具有光谱选择性。
2. 光电探测器灵敏度测试实验结果显示，随着环境温度的升高，光电二极管输出电流逐渐增大，表明光电探测器对温度具有一定的敏感性。
同时，在光源距离变化时，光电探测器输出电流也相应变化，说明光电探测器的探测范围与光源距离有关。
光电成像系统的分辨率鉴定与测量技术作者：张斌李朝晖来源：《现代电子技术》2010年第01期摘要:论述了光电成像系统中广泛使用的分辨率指标及分类,对空间分辨率模拟度量法的原理和测量方法进行了论述和分析。
通过研究指出用空间分辨率指标来描述成像系统的质量,具有较好的直观性和归一性。
由于单一的空间分辨率测量指标还不可能给出总的图像系统的性能,仅仅基于分辨率指标的图像评估不可能同时保证系统灵敏度设计的技术要求。
因此,结合模拟度量法研究光电成像系统的分辨率测量法,给出成像分辨率测量准则。
关键词:MTF;SRF;空间分辨率;DAS;GRD中图分类号:TP29文献标识码:A文章编号:1004-373X(2010)01-177-03Resolution Identification and Measuring Technique of Photoelectric Image SystemZHANG Bin,LI Zhaohui(Chinese Flight Test Esta blishment,Xi′an,710089,China)Abstract:Index and classification of resolution which are widely used in the photoelectric image system is discussed with analysis of the principle and method of the simulated measurement of spatial resolution.The investigation shows that the index of spatial resolution which describes quality of the image-forming system is more direct and unitary than other methods.However,the single spatial resolution can not show the capability of the whole image system.Besides,the evaluation which it is only based on the index of spatial resolution can not ensure the designed technical requirement of the system sensitivity.Therefore,on the basis of the resolution measuring method of the photoelectric image system,a measuring criterion of the imaging resolution is obtained.Keywords:MTF;SRF;spatial resolution;DAS;GRD0 引言物理系统中对分辨率指标的使用由来已久,它是确定成像系统性能指标的基本要素,尤其是用分辨率作为衡量图像质量的指标之一,人们会因此认为具有较高分辨率的系统具有较好的图像质量[1]。
可见光系统探测能力的分析研究作者：杨立保来源：《硅谷》2014年第22期摘要在光电跟踪系统中，评价系统能力的一项重要指标是作用距离。
在已知系统参数和目标特性的条件下，获得系统作用距离有以下几种方法：一是利用传统作用距离公式计算，这种方法误差会较大;二是在实际环境中对真实目标考核，该方法最直观，但是代价最大;三是参考同类型设备的试验数据，由于目标和天气条件的千差万别，需要大量的试验数据;本文提出了一种基于有限的少量试验数据，结合理论分析的方法，计算出系统的极限探测能力。
关键词光电跟踪系统;探测能力;作用距离中图分类号：V556 文献标识码：A 文章编号：1671-7597（2014）22-007070-02在光电跟踪系统中，评价系统能力的一项重要指标是作用距离，该指标表征系统的对特定目标的最远探测能力。
在已知系统参数和目标特性的条件下，推定系统作用距离有以下几种方法，一是假定大气条件，利用作用距离公式估算系统作用距离;二是在实际试验环境中对真实目标进行实际考核，该方法最直观，但是代价最大，而且条件苛刻;三是通过同类设备类比的方法，由于实验环境和目标特性以及设备参数等千差万别，因此该方法将需要长期的大量试验数据的积累，这在短时间内难以建立;本文提出了一种综合分析方法，既是建立在有限试验结果的基础上结合理论分析并通过其他目标验证的方式分析系统的作用距离，给出系统的极限探测能力，是一种经济可行的方案。
我们首先建立系统模型，借以衡量系统性能，优化系统参数，以低仰角海面目标为实验对象[1、2]。
1 试验条件以相对孔径为1：8的可见光系统，在大气水平能见度大于12 km，观测方向与太阳夹角大于30°，太阳高角大于5°条件下，对直径为0.4 m飞行速度为2马赫的目标，要求作用距离达到10 km。
2 试验数据鉴于试验中受场地、目标等多方面限制很难有真实的目标和理想的天气条件进行作用距离试验，因此我们选取一远距离靶标进行了测距试验，试验条件如下：日期：6月下旬;地点：沿海海边;气象条件：温度20℃～31℃，多云，东风3～4级。
CZT探测器工作原理与性能分析1 CZT晶体性能分析...................................................................... .. (1)2 CZT工作原理...................................................................... . (2)3 CdZnTe探测器的类型 ..................................................................... (3)4 CZT国内外研究现状及发展应用趋势 ..................................................................... . (4)4.1 国内外研究现状 ..................................................................... . (4)4.2 CZT发展应用趋势...................................................................... (4)碲锌镉(CZT)探测器是目前倍受关注的半导体核辐射探测器之一，与其他常用探测器相比，它有较多优点，下面进行对CZT晶体和探测器工作原理作相应的介绍。
1 CZT晶体性能分析CdZnTe晶体是近年发展起来的一种性能优异的室温半导体核辐射探测器新材料，闪锌矿结构，空间群为F43m。
CdZnTe晶体是由于CdTe晶体的电阻率较低。
所制成的探测器漏电流较大，能量分辨率较低，在CdTe中掺入Zn后，其禁带宽度增加。
发展成为一种新材料。
CdZnTe(20,ZnTe，80,CdTe)晶体电阻率高(约1110,cm)、原子序数大(48,52)，禁带宽度较大。
光电探测器特性测量实验摘 要：本实验中探测并绘制了光电二极管的光谱响应曲线。
分别运用脉冲法，幅频特性法和截止频率法对二极管和光敏电阻的响应时间进行了测量，并分析比较了这三种方法的利弊。
最后自己设计连接电路测量光敏电阻的响应时间，更深入地理解了响应时间及测量原理。
一、 引言光电探测器可将一定的光辐射转换为电信号，然后经过信号处理，去实现某种目的，它是光电系统的核心组成部分，其性能直接影响着光电系统的性能。
因此，无论是设计还是使用光电系统，深入了解光电探测器的性能参数都是很重要的。
通常，光电探测器的光电转换特性用响应度表示。
响应特性用来表征光电探测器在确定入射光照下输出信号和入射光辐射之间的关系。
主要的响应特征包括：响应度、光谱响应、时间响应特性等性能参数。
本实验内容主要是光电探测器性能参数测量和光电探测器的一般使用方法，并专门列举了几种常用的光电探测器的使用方法。
二、 实验原理1. 光电探测器光谱响应度的测量光谱响应度是光电探测器对单色入射辐射的响应能力。
电压光谱响应度()λRv 定义为在波长为λ的单位入射辐射功率的照射下，光电探测器输出的信号电压，即()()()λλλP V Rv =；同理，电流光谱响应度()()()λλλP I R i =式中，()λP 为波长λ时的入射光功率；()λV 为光电探测器在入射光功率()λP 作用下的输出信号电压；()λI 则为输出用电流表示的输出信号电流。
实验中用响应度和波长无关的热释电探测器作参考探测器，测得入射光功率为()λP 时的输出电压为()λf V 。
若用f R 表示热释电探测器的响应度，则()()ff f K R V P λλ=（f K 为热释电探测器前放和主放放大倍数的乘积，即总的放大倍数。
在本实验中，K f =100×300，f R 为热释电探测器的响应度，实验中在所用的25Hz 调制频率下，f R ＝900V/W ）。
然后在相同的光功率()λP 下，用硅光电二极管测量相应的单色光，得到输出电压()λb V ，从而得到光电二极管的光谱响应度()()()()()ff f b bK R V K V P V R //λλλλλ==式中K b 为硅光电二极管测量时总的放大倍数，这里K b =150×300。
光电侦察系统分辨能力研究分析袁涛;陈建发;潘枝峰;王合龙【摘要】分析了影响光电侦察系统分辨能力的基本链路要素,给出了一种通用性能预测模型的建立方法,建立了红外光电侦察设备分辨能力计算模型,并以最小可分辨温差(MRTD)作为最终评价指标.用一个具体实例进行了数值仿真计算,说明了模型的适用性.【期刊名称】《电光与控制》【年(卷),期】2019(026)006【总页数】5页(P85-88,91)【关键词】光电侦察系统;分辨能力;MRTD【作者】袁涛;陈建发;潘枝峰;王合龙【作者单位】海装驻武汉地区军事代表局,武汉 430060;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,河南洛阳 471000;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,河南洛阳 471000;中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所,河南洛阳 471000【正文语种】中文【中图分类】TN2160 引言光电侦察系统，通过利用光电传感器发现、识别、确认、监视、跟踪并定位目标，获取战场信息，具有高分辨率成像、昼夜侦察、快速获取敌方情报等特点，是提供战场支援和夺取信息优势的重要手段。
机载光电侦察系统最具代表性的为美国雷神公司研制的综合传感器套件(Integrated Sensor Suite，ISS)，红外传感器瞬时视场可达11.4 μrad[1]。
随着光电侦察系统对分辨能力需求的不断提高，设计之初对系统的评估预测显得越来越重要，这关系到系统的最终性能以及分系统的指标参数，从而直接决定项目研发的规模及成本。
现有的一些通用的预测模型，如FLIR92，NVTherm和NVThermIP，在噪声、人眼积分滤波等方面做了大量细致的工作，对于通用光电系统具有很强的适用性，但对于“特殊需求”的光电系统开发，尤其项目设计之初牵涉到多个参数的权衡时，设计者往往只能依靠各自建立的预测模型支撑项目开发[2]。
基于此背景，本文首先分析了影响光电侦察设备分辨能力的各个链路，继而给出了部分设计参数的确定方法，并最终结合具体实例对系统分辨能力进行了预测，给出了一种通用性能预测模型的建立方法。
光电成像系统探测、识别能力分析【摘要】本文从光电成像的系统原则、辨别原则入，手较为全面的分析了影响光电成像系作通用能力的因素，并描述了该类系统主要参数的选择方法与经验数值。
【关键词】CCD 红外 光电成像 探测能力1 引言随着信息技术在侦察情报装备中的广泛应用，具有图像侦察获取能力的传感器种类和数量越来越多，图像情报的应用也越加广泛，因此光电成像技术成了战场情报综合处理的重要组成部分，由于CCD摄像机、红外热成像系统所具有的各种突出优点，所以其发展速度惊人。
近10年来，CCD摄像机、红外成像的应用已深入到各个领域，可以说是跨行业、跨专业多方面应用的一种光电产品。
并产生出巨大的军事效益。
本文针对该领域对光电成像系统的要求，叙述了该系统主要参数的选择方法。
2 评估光电成像系统探测与识别的基本原则2.1系统的原则目标成像到接收器表面的整个传递过程中，有很多因素制约着成像质量的好坏，中间影响图像质量的信息传输环节如图1所示。
图1 光电成像传输环节在图像传递过程中主要发生了三种传递作用：一是视角的传递，即远处的目标通过光学系统后，对人眼张角必须>1′，人眼才能看清物体；二是亮度的传递，远处物体辐射的光通过大气的衰减、吸收，到达CCD靶面上的亮度必须大于CCD的感光度；三是对比度的传递，对比度是目标的亮度与背景的亮度之比，当目标逐渐变远时，目标与周围背景之间的亮度对比会逐渐变小，直至目标看不清。
因此在设计光电成像系统时要首先要从系统的角度考虑产品各部件的参数选择，才能达到满意的使用效果。
2.2辨别原则在军事应用中中对目标探测的判定常常借鉴Johnson判则，它把目标分为四大类：探测、取向、识别和确认。
也就是根据目标所反射的光线通过光学镜头后，在CCD传感器像面上所能覆盖像元素的数量来初步确定光学镜头的参数，判据如下：辨别等级 含义 最小尺寸上的周数探测 存在一个目标把目标从背景中区分出来 1取向 目标是近似的不对称，可大致区分正面或侧面 2识别 识别目标是哪一类（人、坦克） 4确认 认出目标，清晰确定类型（T52坦克、友方车辆）8在实际计算时，可根据此模型适当增加保险系数即可达到与计的效果。
3 光电成像系统分析3.1 系统分辨率成像系统中，光学系统、光电探测器和电子电路都具有其本身的分辨率。
系统的分辨率是各部分分辨率的合成。
其中主要是光学系统和光电器件的分辨率对成像质量起决定性作用。
系统的分辨率首先决定于光学艾里斑的大小和光电探测器的大小。
当像素面积大于艾里斑面积时(如图2a)，艾里斑大小少量的变化几乎对光学系统分辨率没有影响。
系统的分辨率由CCD 探测器像元大小决定；当像素面积小于艾里斑面积时(如图2b)，系统的分辨率由光学艾里斑的大小所决定。
图2艾里斑覆盖像元面积示意图因此系统的等效分辨长度可以表示为：R e =2d 2O R R + (1)式中：R。
为光学系统等效分辨长度；R d 为光电探测器的等效分辨长度。
对于光学分辨率来说，假设系统不存在光学像差，是衍射极限决定了光学分辨率。
光学分辨长度可表示为R。
=l．854λF(F 是镜头F 数)。
对于光电成像器件来说，分辨长度R d 等于像素的有效感光宽度d，即：Rd=d因此系统的等效分辨长度可表示为： 1)dF 845.1(d R 2e +=λ (2) 当F 数变小时，系统的等效分辨长度减小到等于或小于器件的有效感光宽度d。
此时是像素的大小限制系统的分辨率；当F 数增大时，系统的等效分辨长度增大，等效弥散圆将限制系统分辨率。
根据长期的实践与相关的计算表明，光学系统的等效分辨长度为0．75d 时，可以认为光学分辨率和像素分辨率之间达到了匹配。
3.2 镜头参数的确定需要确定的镜头参数有焦距和相对孔径，它们决定了系统对目标进行探测和识别的能力。
3.2.1镜头焦距的确定连续变焦的光学镜头的短焦和长焦应由探测和识别目标所需要的空间分辨角、最大视场角和CCD 像元尺寸来决定。
空间分辨角为：2nRW=Δθ （3）式中：w 一目标的外形尺寸；R 一探测或识别的距离； n 一目标在靶面上所压的线对数。
长焦距应为：θΔ=pf 'max （4） 式中：P--像元大小。
短焦距则为：g'f f max 'min =（5） 式中：g 一变倍比。
3.2.2相对孔径的确定当光学系统的分辨率R。
=0．75d 时，光学分辨率和像素分辨率之间达到了匹配，则光学系统的等效分辨长度即艾里斑直径则：D Airy =R。
=1.22λF=0.75dλλdK 22.175d .0F ==(6) 由于F 数增大，系统的分辨率会降低。
相对孔径直接影响光电成像系统的靶面照度和分辨力，因此相对孔径的选择必须满足这两方面的要求。
3.2.2.1 白光成像系统 照度原则CCD 靶面最小照度可按下式计算：0200C .)F1.(.E .41E ρτ= (7)式中：E 0为目标照度；τ0为镜头的透过率； F 为镜头的F 数；ρ0为漫反射系数。
要获取目标的图像，必须使目标在靶面上的照度大于CCD 的最小照度。
靶面照度为：K .)fD.(...E .41E 2'0a L g i ττρ=.. (8)若Ei≥Ec，则有：K....E 4E )fD(0a L g c'ττρ≥（9）式中：E g 为一定太阳高角时地面照度； ρL 为漫反射系数； τa 为大气透过率；K 为像点弥散的修正系数。
分辨力原则根据约翰逊判据，发现目标应在CCD 靶面上占4个像元，为使目标的最小尺寸在靶面上至少压4个像元(为2对线)，则镜头的最低分辨率为：4p1N = (10)为了保证有较高的探测概率，取镜头的极限分辨率Nmax。
=2N，则相对孔径为：λ22.1N f Dmax '∗=………..(11) 式中：λ为光学系统的主波长。
权衡系统的靶面照度和分辨率并留有一定的余量，最终确定相对孔径D/f ′ 3.2.2.2 红外成像系统对于红外成像系统，在红外镜头焦距基本确定的情况下，镜头口径的大小成为影响系统性能和重量的关键因素。
通光口径越大，系统收集到的红外辐射能量越强，则系统温度灵敏度越高；但当目标距离到远一定程度之后，限制系统性能的瓶颈指标已由温度灵敏度化为空间分辨率，此时温度灵敏度指标再高也对系统性能没太大帮助，反而因为口径太大而导致镜头尺寸、重量、成本和加工难度等因素变得不能忍受，必须寻找到一个平衡点以解决此问题。
因此在满足理论要求的前提条件下，红外镜头的口径大小还需满足红外系统的探测距离要求。
在实际使用中，红外系统的探测距离R 受四个方面的影响，可用公式表示如下：R=K1K2K3K4 （7）式中：K 1=αλτΔJ ，表征目标辐射强度和大气透射率的影响；022τπ⋅⋅=NA D K ，表征光学系统参数的影响；K 3=*D ，表征探测器的探测率的影响；K4=()4/1n /1f SNR Δ⋅Δ⋅θ，表征系统和信号处理的影响；以上各式中的符号含义如下： R 为探测距离（m）J △λ为目标的辐射强度（W/sr）； τα为沿瞄准方向的大气透过率； τ0为光学系统的轴向透过率;NA 为光学系统数值孔径； D 为光学系统的入射孔径（mm）; D*为探测器的探测率（cmHz 1/2/W）；θΔ空间分辨角；△f 为系统带宽；N 为目标在靶面上所压的线对数； SNR 为信噪比。
其中，数值孔径NA='2f D。
探测率是响应率除以均方根噪声，折算到放大器的单位带宽，并按均方根面积关系折算到探测器的单位面积值，公式表示为：D*=f V R nbbΔ2d 式中：R bb 为黑体响应率（V/W）;Vn 为探测器噪声。
将上述因子带入公式（4），距离方程变为：R=()4/1201d 2f SNR f V R NA D J n bbΔ⋅Δ⋅⋅Δ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅Δθτπταλ =4/1220'd 1'22⎟⎟⎠⎞⎜⎜⎝⎛Δ⋅⋅⋅Δ⋅⋅⋅⋅⋅⋅⋅Δff SNR f A V R f D D J d nbbτπταλ可得：R=SNRV R D J n bb 1402⋅⋅⋅⋅⋅Δτπταλ (8) 从公式（8）中可以看出，红外系统探测距离R∝D 镜头口径，而与镜头焦距f’无关，所以在选定红外系统镜头的相孔径时要综合考虑系统分辨率、探测距离、红外镜头加工工艺条件等因素进行选择，根据目前的情况一般选择在0.8-1.2之间。
4 显示环节对系统的影响光电成像的主要目的主要施工人眼观察，目前主要有两种形式：1)直视型：人眼通过目镜观看系统成像屏上的图像。
2)电视型：成像系统输出的信号经处理后，侍输到显示器上，以图像形式供人眼直接观看。
作用距离和观察细节是评价系统性能的主要指标，对于观看电视图像一般都存在某一最佳观察距离范围，过于远或近都难以获得好的效果，在设计时要结合人眼的分辨率、光电成像的视场、图像的分辨率选则显示器件、设计光学目镜。
图像显示的清晰度是由显示器视频通道的带宽和显像管的点距和会聚误差决定的，对于PAL信号而言，其通道带宽与清晰度之件的折算关系为78/M线，对NTSC制式而言，为56/M线；此外，要确保显示器相应的清晰度，显示器使用的显像管的点距和会聚误差也必须达到相应的要求。
5 结束语一套光学系统能否满足使用要求，需要考虑很多因素，任何一个小的环节出现纰漏，都可能使整套系统不能满足使用要求。
总体来讲，系统得设计理念是光电成像系统在设计阶段就需要着重考虑的问题。
本文从系统出发根据自己的工作体会粗略的概述了光电成像系统设计中需要注意的问题供大家共享。
