X1+X2+......+Xn X = ————————————— n R=X最大值-X最小值 式中:X1、X2......Xn为子组 内的每个测量值,n为子组样本容量。
5 选择控制图的刻度
X图:坐标上的刻度值的最大与最小 之差应至少为子组均值X的最大与最 小值差的2倍。 R图;刻度值应从最低值0开始到最大 值之间的差值为初期阶段所遇到最大 极差R的2倍。
3、 建立控制图及记录原始数据.
1) X-R通常把数据栏位于X图和R 图的上方,X图画在R图的上方,X和 R的值为纵坐标,按时间先后的子组 为横坐标,数据值以及极差和均值点 纵向对齐,数据栏应记录读数的和均 值(X)、极差(R)以及日期/时间或其 它识别子组代码的空间
4 计算每个子组的均值(X)和极差(R)
X-R控制图示
X控制图
UCL X LCL
R控制图
UCL R
7 X-R控制图分析
(1) 分析均值极差图上的数据点 A) 点在控制界线外;一个或多个点超出控制限是该点 处于失控状态的主要证明依据。因为只存在普通原因引 起变差的情况下超出控制限的点会很少,我们便假设超 出的是由于特殊原因(如工装和设备异常突发变化等) 造成的,给任何超出控制限的点作上标识,以便根据特 殊原因实际开始的时间进行调查,采取纠正措施。(但 连续35点允许一点、连续100点有二点逸出控制界外, 可暂不采取纠正措施) UCL X LCL
0.42
(3) 在控制图上作出平均值和极
差控制限的控制线
将平均极差 (R)和均值 X画成水平线,各 控 制 限 UCLR、LCLR、UCLX、LXLX 画 成水平虚线,把线标上记号。
(4)控制图描点链
将各子组计算出 X、R 值各作 X 图和 R 图 的纵坐标值,以子组序号为横坐标值, 描出X图和R 图中的相应的点,注意,在 控制界内的点打记,在控制图界外的作 ⊙记,并连成点链。