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天线测量第六至九章

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天线测量

天线测量
•随距离r的增加，场的振幅按1/r的关系非单调衰减，而是先震荡地变化，然后单调地下降 •场振幅的相对角分布与离天线的距离有关，亦即在不同的距离处天线的方向图是不同的
孔径天线产生的场——辐射近场区
2D2
天 线 口 径 面
辐射近区场
辐射远区场
辐射近场区方向图的变化
可以看到，离天线很近时， 方向图只有一个具有起伏包
用的真实全பைடு நூலகம்寸天线。
优点
√ 模型天线用料少，制作简便；
√ 研制新天线时，在模型上易于修改天线几何参数
和结构，且用费省； 缩尺模型
√技便术于是在指不在太满大足的一测定试前场提地条上件进下行，天将线真多实种天性线能按的一
测定试的；缩尺比例缩小（或放大）成便于测试的模型天
√线有，些通真过实对天模线型特天性线现的场测测量试，困便难可（得如到机真载实﹑天星线载的
E pje 2 jr k(1 r co )sE ssej( k x ss ic n o y s ss is n i)n d s
Ep je2jrk r(1co)ssEsds
（辐射远场区）
在辐射近场区内测量相对误差为
1
E p Ep
辐射近场区测量天线的误差分析
在辐射近场区内测量相对误差为
1
冲水
盐雾 冲击 碰撞 风载/冰负荷
天线周围的场区分布
感应场区 λ/2π
辐射场区
• 感应场区是指非常靠近天线的 区域。
• 感应场区里，占优势的是感应 场，其电场和磁场的时间相位 相差90度，波印亭矢量为纯虚 数，因此不辐射功率，电场能 量和磁场能量相互交替地贮存 于天线附近的空间内。
• 图所示电尺寸小的偶极天线， 其感应场区的外边界是λ/2π。 这里，λ是工作波长。感应场随 离开天线的距离的增加而极快 衰减，超过感应场区后，就是 辐射场占优势的辐射场区了.

天线技术课件(西电第二版)第9章

天线技术课件(西电第二版)第9章

F( )
cos1
1
2
1
2
0.707
第 9 章 常用面式天线
1
d1
2
sin0.5H
1.86
相应的主瓣半功率张角为
20.5H
2 sin0.5H
1.18 弧度
d1
68
d1
20.5E
E平面第一副瓣电平为
51
d2
20lg 0.214 13.2dB
H平面第一副瓣电平为 20 lg0.071=-23 dB
2r
dy(1 cos )e jr
(9-1-6)
当φ为任意值时，可将电振子和磁振子分成两个分量，一个 与E平面平行，另一个与E平面相垂直。
第 9 章 常用面式天线 可以证明，对于如图9-3所示坐标系中的任意θ和任意φ方向，
电场强度同时具有θ和φ两个分量，如下列形式：
dE
j EOy dx
2r
dy
sin (1 cos )e jr
对于基本电振子，此平面为垂直于基本电振子轴的平面， 射线与振子轴所成之角度为90°，此平面为电流元的最大辐射 平面， 因此它在该平面上M点所产生的场强为
第 9 章 常用面式天线
dE1
j 60Idy e jr r
j 120HOx 2r
dx dy
e jr
j EOy dx
2r
dy e jr
(9-1-1)
当口面尺寸为有限，而M点离口面非常远时，可以认为口 面上各点到远区一点M的射线r１均与从原点O处发出的射线r相 平行， 因此积分式(8–1-13)内振幅项中的r1可写为r, 即认为
r1 r
但在计算相位因子e-jβr1时，必须考虑因r1与r的行程差而引 起的相位差所产生的影响。

天线测量(3)PPT课件

天线测量(3)PPT课件
(2)由于源天线的方向图会受到携带它的飞行器形 状的影响,因此,设计和安装源天线时必须将环境因素 考虑进去。
(7)
.
7
微波测量与天线测量
(3)根据天线电尺寸和飞行器尺寸的不同,应选择不 同类型的源天线。 二、测试场测量(旋转天线法)
超高频或微波波段的真实天线或其它波段的缩尺模 型天线,一般都在测试场进行天线方向图测量,简单而 方便。此时,辅助天线固定不动,待测天线绕自身的通 过相位中心的轴旋转。通常,辅助天线作发射,待测天 线作接收,待测天线装在特制的有角坐标指示的转台上。
……(1)
式中△φ(θ)=△[p(θ)/pm]是功率比测量误差；
d dθ[p(θ)/pm]
=
dφdθ(θ)是功率方向图函数的导数。
(16
.
) 16
微波测量与天线测量
如果已知功率方向图函数及其导数，并求出功率 比测量误差△φ(θ)后，就可求出△θ2
功率比测量误差△φ(θ)的计算: 如果采用平方律检波电表直接指示，则功率方向 图函数可表示为:
(b)归一化场强分贝值方向图
归一化方向图
(4)
.
4
微波测量与天线测量
§3.2 方向图测量
一、现场测量(固定天线法) 采用现场测量方法的待测天线通常都固定不动,而
让辅助天线绕待测天线在感兴趣的平面内作圆周运动, 以测取该平面的方向图。
1、地面测试法 地面测试法通常只限于测绘天线的水平面方向图主
瓣。待测天线作发射,且固定不动。在离开天线中心 距离为R(满足远场辐射条件)的一个预定的扇形区域 内,用经纬仪在R为半径的圆弧上选定一系列方位角测
(19
.
) 19
微波测量与天线测量
设安装在转台上的天线的实际相位中心位于o点， 而天线转轴偏离相位中心的距离为d。

天线方向性图的测量

天线方向性图的测量

．
空 间 的平 面 指 向角与水平方
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天线测量-时域应用

天线测量-时域应用

天线测量-时域应用第一篇：天线测量-时域应用三．天线的增益和方向图测量在天线外场测试中，地面或周围环境的反射要对增益和方向图的测量结果带来或大或小的误差。

1．测量误差分析图3 天线测试示意图如图3，两相距D米，高度为H米的收发天线架设在反射系数为r的地面上。

因天线的方向性，假设发射天线辐射到O点的场强是最大值的倍，接收天线接收到O点反射波场强是其最大值的倍。

接收天线的接收场强由直射波场强E1和反射波场强E2构成。

两波的路程差为:(7)假设直射波的场强E1归一化为1，则(8)合成波的场强E为:(9)A．增益的测试误差分析天线的增益测量一般采用比较法，因为被测天线往往与标准天线的形状不一样，即使这两种天线架设在同一位置，相位中心也不一定重合，假设被测天线比标准天线距发射天线近L米，则两波的路程差变为:(10)合成波的场强为:(11)引起的增益误差为：(12)B．方向图测试误差分析同样的道理，天线在旋转过程中，有时相位中心没在转轴上，假设相位中心距转轴的距离为L，转动的起始角在收发天线的连线上。

则两波的路程差为:(13)合成波的场强为:(14)图4 合成波随天线间距变化关系图5 合成波随被测天线旋转变化关系图4中取k1=0.4 k2=0.5 r=0.9 H=3 f=1GHz；图5中取k1=0.8 k2=0.9 r=0.9 H=3 D=10 L=0.2 f=1GHz。

如果只有直射波，归一化场强为1；可看出反射波带来±0.4倍（±2dB）左右的误差。

误差可以通过减小地面反射系数，增加天线架设高度和提高发射天线的增益来减小，但很多时候不容易做到，最彻底的方法是采用时域技术去掉反射。

2．时域应用方法反射给我们的方向图测试结果造成误差，我们现在用安立公司的矢量网络分析仪MS4623B加时域功能OPTION2把它滤掉，其具体的方法是：A．根据天线的架设情况计算出反射波与直射波的路程差和时延大小。

天线测量(2)

天线测量(2)

旋转到θ 方向时，它所接收到的直射波的场强Ed ′为 E′d A/20 ′=Ed10 Ed (∵A=20·lg E ) d
(18)
微波测量与天线测量
设直射波Ed ′和反射波Er同相和反相时测出的场强值 分别为Emax和Emin,它们与直射波E′d的比值用分贝表示 时分别为B(dB)[=20·lg(Emax/E′ d)]和C(dB)[=20·lg( ′ )]。 Emin/Ed
件,探针天线位于需检测的区域(静区)内；
（2）源天线为水平极化(或垂直极化)时,以探针天 线在相同极化时接收到的信号电平为参考电平,然后
(24)
微波测量与天线测量
将探针天线的极化旋转900即垂直极化(或水平极化), 记下接收信号电平,它与参考电平之差就是暗室的交 叉极化电平。 三、多路径损耗的均匀性 测试多路径损耗的均匀性的具体步骤如下: （1）与测试交叉极化电平的步骤（1）相同； （2）使源天线与探针天线保持同样的极化(水平或 垂直)同步旋转3600,并隔一定角度记录一次接收的功 率电平； （3）根据需要还可将探针天线适当偏离静区中心, 重复上述步骤,观察多路径损耗的均匀性。 (25)
于是有 (π d/λ )θ 即 2θ
0.25dB≈0.4144
0.25dB≈0.26λ
/d
(6)
微波测量与天线测量
为了使待测天线孔径上入射场横向幅度的不均性不 大于0.25dB,那么要求 2θ 即 故
0.25dB≥2α D
0.26(λ /d）≥(D/R） R≥(Dd)/(0.26λ )≈(4Dd)/λ
微波测量与天线测量
于是我们就可以求出源天线方向图的0.25dB波瓣 宽度。即2θ 0.25dB 因 sinx/x =10-0.25/20=0.9716

天线第十四讲-天线测量


Pr
4p R
2
PtGaGa
Ga
4p R
Pr Pt
Ga
dB
10
lg
4p R
1 2
Pt
dBm
1 2
Pr
dBm
Pt 待测天线
待测天线
Ga
R
Pr Ga
Research Institute of Antennas & RF Techniques School of Electronic & Information Engineering
Research Institute of Antennas & RF Techniques School of Electronic & Information Engineering
South China University of Technology
方向图的近场扫描测量：
近场测量原理：
Research Institute of Antennas & RF Techniques School of Electronic & Information Engineering
South China University of Technology
方向图的近场测量方法：
测量出包围天线的平面、柱面或球面的场分布，利用傅里
South China University of Technology
14.5 增益测量
比较法：用已知增益的天线作参考，通过接收功
率进行对比
Ps Gs Pa Ga
Ga
Gs
Pa Ps
Ga dB Gs dB Pa dBm Ps dBm

第9章 天线测量基本知识


第9章 天线测量基本知识
第9章 天线测量基本知识
注意： (1)入射场相位不均匀会给方向图测量带来误差：零点 变浅，副瓣电平抬高。 (2)入射场相位不均匀还会带来增益测量误差。表 9. 1 列出了由于口面相差引起的增益测量误差。
第9章 天线测量基本知识 表 9.1 口面相差引起的口径天线的增益测量误差
图 9.5 待测天线的最大口面相差
第9章 天线测量基本知识
当收发天线的距离有限时，入射到待测天线口面上的相 位并不同相，如图 9.5 所示，最大相差为
第9章 天线测量基本知识
式中： d ———辅助发射天线的最大口径的线尺寸； D ———待测天线的最大口径的线尺寸； R ———收发天线间的距离。
化简式(9-17 )得：
第9章 天线测量基本知识
理想的远区条件在实际工程中做不到，也不必要做到。 实际工作中要根据测量精度的要求选择近似于理想条件的测 试场。前人们研制出了各种形式的天线测试场，按照原理一 般把它们分为自由空间测试场和地面反射测试场。
天线测试场的设计思想是要形成准平面波照射待测天线。 其中需要考虑的工程因素有距离 R 、宽度 W 和高度 H 等。
注意这一点很重要。如图 9.3 所示或者根据式( 9-9 )可 知，互易性是一个普遍的结果。另外，当两天线离得很远时，
Z m (θ ， ϕ )是远场方向图。当然，如果天线含有任何非互易
元件时，互易性将不再保持，如天线系统中含有铁氧体隔离 器。
第9章 天线测量基本知识
9. 2 天线测试场的设计
天线测试场是测试和鉴定天线参数的空间区域。由于通 信、雷达等用途的天线参数都是在远区条件下给出的，因此 要对它们进行测量必须满足远区条件，即用一个理想均匀平 面波照射待测天线，该条件也就是天Байду номын сангаас测试场设计和鉴定的 基本思想。

天线测量理论介绍技术介绍

天线测量理论介绍与 技术介绍
• 天线测量理论概述 • 天线测量技术与方法 • 天线参数测量与评估 • 天线测量系统与设备 • 天线测量技术前沿与展望
目录
Part
01
天线测量理论概述
天线测量的定义与目的
定义
天线测量是指使用测量设备和技 术，对天线的各种参数进行量化 和评估的过程。
目的
评估天线的性能指标，如增益、 方向性、极化等，为天线设计和 优化提供依据。
近远场测量技术转换需要采用数值计 算方法和计算机模拟技术，如傅里叶 变换、基函数展开等。
近远场测量技术转换的缺点是需要较 高的计算成本和较长的计算时间，同 时需要专业的数值计算和计算机模拟 技能。
测量误差分析与校正
测量误差因素包括测试环境、测 试设备、测试方法、数据处理等 方面。
测量误差分析与校正的优点是可 以提高测试精度和可靠性，减小 测试误差对天线性能评估的影响 。
近场测量技术可以获得天线的详 细辐射特性和方向图信息，适用 于小型天线和复杂天线结构的测 量。
近场测量技术的优点是测试精度 高、分辨率高，可以获得天线的 详细辐射特性和方向图信息。
近远场测量技术转换
近远场测量技术转换是指将近场测量 数据转换为远场测量数据，以便对天 线进行全面的性能评估。
近远场测量技术转换的优点是可以将 小型天线的近场测量数据转换为大型 天线的远场测量数据，提高测试效率 和精度。
THANKS
感谢您的观看
天线方向图测量
总结词
天线方向图是描述天线辐射能量在空间来自布的图形，一般采用近场扫描法进行测 量。
详细描述
天线方向图能够直观地展示天线在不同方向上的辐射特性。近场扫描法是通过在 天线附近不同角度和距离上测量电磁场的幅度和相位信息，再经过计算和修正得 到天线方向图。

天线技术 (西电第二版)第6章课件


9 0 °1 .4 5 48 60°
0 .7 2 73
9
30°
180°
0°
210°
330°
240°
300°
270°
d ＝ 0 .1 d ＝ 0 .1 5 d ＝ 0 .2 5
图 6-4 二元引向学习天交流线PPT的H平面方向图
11
由图6-4可见，当无源振子与有源振子的间距d<0.25λ时， 无源振子的长度略短于有源振子的长度，由于无源振子电流I2 相位滞后于有源振子I1，故二元引向天线的最大辐射方向偏向 无源振子的所在方向。此时，无源振子具有引导有源振子辐射 场的作用，故称为引向器。 反之，当无源振子的长度长于有源 振子的长度时，无源振子的电流相位超前于有源振子，故二元 引向天线的最大辐射方向偏向有源振子所在的方向。在这种情 况下，无源振子具有反射有源振子辐射场的作用，故称为反射 器。因此，在超短波天线中，通过改变无源振子的长度2l2以及 它与有源振子的间距d来调整它们的电流振幅比m 和相位差ψ， 就可以达到改变引向天线的方向图的目的。
其中, 相位差ψ由三部分组成：分子中的相角、分母中的相角和 ejπ。
对称振子的自阻抗Z22取决于它本身的长度，而互阻抗Z12则 主要取决于两振子的间距。故调节无源振子2的长度2l2或它与有 源振子的间距d，均可改变电流比m以及相位差ψ, 进而改变二元 阵的合成场和方向性，使二元阵在其赤道面内呈现不同的方向 图。调节无源振子的电流，即m和ψ，使方向图主瓣指向有源振 子一方，就称此无源振子为无源反射器；若方向图主瓣指向无 源振子一方就称此无源振子为引向器。
E E 1 E 2 E 1 [ 1 m j d (c e o )]s
无源振子2 的感应电流的振幅与相位取决于有源振子与无源振 子间的距离d和无源振子的长度2l2。那么如何使振子2起到引向 器或者反射器的作用呢？
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PA Y = Ps
PA =
S ϕ λ2 G 8π
P s = kT
低噪声放大器
天线主瓣指向冷空时系统输出的噪声功率
射频可变衰减器
G T (dB) = C + Y (dB)
系统噪声温度
接收机
T = TA + TR
功率计
用卫星信号直接测量G/T值
用卫星所发射的未调制的载波信号代替天体源的信号 接收到的载波功率 接收到的卫星噪声功率 接收系统的噪声功率
在介质透镜的表面盖一层介质，其折射率在1（空气折射率）和n（透镜介 质折射率）之间，其作用类似于传输线中的四分之一波长阻抗变换器。
垂直波纹表面
水平波纹表面
蜂窝表面
柱形表面
洞穴表面
低介电常数透镜法
采用低介电常数介质做透镜，可以在一定程度上 减小散射和绕射作用由于介电常数低，即折射率 小，故透镜一般都需作较厚，电磁波在 中的行程 加大，因此，最好选用低损耗介质，以保证增益 不致下降过多。
收、发天线间的耦合
收、发天线间的耦合有感应场耦合 感应场耦合和辐射场耦合 感应场耦合 辐射场耦合。由于感应场是与距离的平方 辐射场耦合 成反比的，因此，随着收、发天线间距离的增大，感应场衰减很快。当收、发 天线间的距离r≥10λ时，其间的感应场耦合可忽略不计。
2 ′ Pr vr vs S r S s = Γr Γs 2 2 Pr λr
清理区是一个锥形状，长度约为 清理区 1.5r在待测天线端的宽度最好等 于源天线水平面方向图的零值波 瓣宽度。在这个区域内不能有大 的反射物体或金属反射体存在。
W20
≈ 2W20
微波暗室的设计准则
暗室的型式 矩形和角锥型优于其他各种类型
全密封矩形暗室
全密封角锥形暗室
水平型开口矩形暗室
半开口锥形暗室
增益测量
天体源可视为点源时，待测天线的有效面积 线终端为参考的天体源有效噪声温度
Se =
2kTs Sϕ
天线的有效面积与增益关系为
Gλ2 Se = 4π
8πkTs G= 2 λ Sφ
？
测试天线增益G的问题，就变成了测试天线指向天体源时，以天线终端为 参考的有效噪声温度。
增益测量
接收天线的噪声
馈线输出截面处的天馈线噪声温度 天线输入端的天线噪声温度 环境温度 馈线损耗因子 天线噪声温度也可以通过使用标准冷、热负载的 Y因子法来测定 因子法
W20 ≈ Nλr = 20λr
r=
2D 2
λ
W20 ≈ 6.3D
地面的不平度应满足公认的瑞利准则
∆h <<
16 sin θ
λmin
主反射区大小确定以后，对此区域内的地面不平整度就按的瑞利准 主反射区 矩形面积清理）。 则进行加工、整理（一般不是按椭圆，而是按矩形 矩形
测试场中的反射
次反射区也是一个矩形，宽度 反射区 为主区宽度的一倍，长度超出 测试端约0.25λ. 。此区域内允 许的地面不平坦度可比主区大 1～2倍。
最小测试距离与D、λ的关系曲线
λ (cm)
缩距技术
远场测试条件的实质就是要在待测天线孔径上产生一个振幅均 匀、相位偏差较小的近似平面波 平面波。 平面波 缩距技术的关键在于产生平面波前的源天线 源天线
透镜天线可用来做为平行校正器，在待测天线处形成一个平面波来模拟远场区。 为了得到良好的模拟效果，作为源天线的平行校正器透镜之孔径尺寸通常应比待 测天线孔径尺寸大2~4倍以上，否则，由于透镜的散射和边缘绕射效应等，会使 测量产生较大的误差。
TA
L f −1 Ta T0 TA = + Lf L f
TA =
TC + TR (1 − Y2 ) Y2
G RTR
Tc
Ta = T A L f − ( L f − 1)T0
增益-噪声温度比的测量
天线主瓣指向天体源时注入噪声功率
待测天线
馈电系统
8πk GT= 2 Y λ Sϕ
升高型半开口矩形暗室
垂直型半开口矩形Biblioteka 室微波暗室的电特性静区
•静区是指暗室内杂散波（含反射、散射和绕射波等）干扰 最小的区域，待测天线通常就放在词区域内。 •静区的大小和形状与暗室的类型、工作频率、吸收材料特 性、要求的反射电平等因素有关。 •对于各方面均铺设相同吸收材料的矩形微波暗室而言，静 区是一个柱形，其轴线与暗室的纵轴一致，其直径可用下 式估算
无反射 抛物面平行 校正器 缩距技术 透镜平行 校正器 表面匹配层法 低介电常数 透镜法
透镜天线基本结构
透镜天线
在厘米波段，许多光学原理可以用于天线方面。 在光学中，利用透镜能使放在透镜焦点上的点光 源辐射出的球面波，经过透镜折射后变为平面波 。透镜天线就是利用这一原理制作而成的。它由 透镜和放在透镜焦点上的辐射器组成。 介质减速透镜天线的原理：透镜是用低损耗高频 介质制成，中间厚，四周薄。从辐射源发出的球 面波经过介质透镜时受到减速。所以球面波在透 镜中间部分受到减速的路径长，在四周部分受到 减速的路径短。因此，球面波经过透镜后就变成 平面波，也就是说，辐射变成定向的。
λ
π 4 π 8 π 16 π 32
R=∞
π
πD sin θ λ
2π
3π
4π
远区条件
振幅条件
振幅条件是指照射场在待测天线孔面上振幅的均匀性，它包括两个方面的内容：一 是沿孔径平面内的横向振幅渐变，另一是沿收、发天线联线方向的纵向振幅渐变。 照射场振幅渐变太大的测试场进行天线辐射特性测试时，将带来较大的误差。 ⑴ 纵向振幅渐变 ⑵ 横向振幅渐变
2 r
hi
φ
rr 0
hr
令测试场表面第N个 菲涅尔区的外边界上的点满足
rr
LN
WN
z = r0
z
∆ϕ = N π
y
[h
2 s
+ y2 + z2
] + [h
1 2
+ y 2 + (r − z ) 2
] − [r
1 2
2
+ ( hr + h s ) 2
]
1
2
=
Nλ 2
Nλ + sec θ 2r 2 2 ( hr − h s ) ( F1 − 1) r 2 ( hr + h s ) ( F1 − 1)r 2
模式展开法
平面、 平面、柱面、 柱面、球面扫描简图
天体源测量技术
天体源测量技术就是用宇宙中的天体或人造卫星作源天线，进行天 线辐射特性测量的技术。 天体应满足以下几个条件
⑴ 在天空中的位置精确知道； ⑵ 角尺寸，好似一个点源； ⑶ 在要求频带内，其绝对通量密度已知； ⑷ 有足够的辐射强度，以便接收设备能正常进行 工作。 通量密度： 通量密度：指源在其法线方向上每单位时间单位频率通过单位面积辐射的总功率 亮温度： 亮温度： 在给定频率和方向上，具有与天体源相同亮度的理想黑体的温度。
TS T = 0.1 ~ 0.2
G kBLp = (Y − 1) T EIRP
待测地面站天线几何位置的确定
接收点P到卫星S的距离为 同步卫星高度35786km
γ
d = R + ( R0 + H ) − 2 R( R0 + H ) cos β
2 2
φ
λ
β
地球平均半径6370km
地球赤道半径6378km
PW + PNS + PN Y= PN
噪声温度表示
PW + kTS B + kTB Y= kTB
EIRP PW = G Lp
试装置的有效噪声带宽
卫星的等效全向辐射功率 待测地面站天线接收增益 自由空间的传输损耗
TS G Lp = kB ( Y − 1 ) − T EIRP T
金属加速透镜天线的原理：透镜由许多块长度不同的金属板平 行放置而成。金属板垂直于地面，愈靠近中间的金属板愈短。 电波在平行金属板中传播时受到加速。从辐射源发出的球面波 经过金属透镜时，愈靠近透镜边缘，受到加速的路径愈长，而 在中间则受到加速的路径就短。因此，经过金属透镜后的球面 波就变成平面波。
无反射表面匹配层法
rλ 静区直径 ≥ 2
微波暗室的电特性
反射率电平 • 定义为等效反射场与直接照射场之比。
• 等效反射场是指室内反射、绕射和散射等杂散波的总干扰场。
• • 通过实验来测定。 暗室中静区的反射率电平愈低，则测量精度就愈高。
方向图电平（dB）
∆E
微波暗室的电特性
相对功率（dB）
外推技术
外推技术是在远场距离的1/5到1/10的范围内，将接收数据作为 距离的函数来进行测量，从而休正了近距和多次反射效应，能 较精确地测得天线增益和极化特性。外推技术是以平面波散射 矩阵和广义三天线法为基础的。
近场扫描技术
用一特性已知的探针在天线近场区某一表面（平面、 柱面或球面）上取样场的振幅和相位分布 ，通过比较 严格的数学变换而求得待测天线远场特性的技术。
S'
cos β = cos λ cos γ
d = R 2 + ( R0 + H ) 2 − 2 R( R0 + H ) cos λ cos γ
星下点的经度 接收点所在纬度
d
H
S
待测地面站天线几何位置的确定
仰角
1 θ = tg (cos β − 0.1511) sin β
−1
θ
只要满足横向振幅渐变小于0.25dB，辐射耦合引起的测量误差是很小的
测试场中的反射
rr 0 = r + (hs + hr )
2
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