电阻温度系数的测定

电阻的温度系数的定义与计算电阻的温度系数是指电阻随温度变化的程度。

通常情况下，电阻的数值会随着温度的升高或降低而发生变化。

这是由于导体的电阻与温度之间存在一定的关系。

了解电阻的温度系数对于电路设计和电子元器件的选用非常重要。

本文将介绍电阻的温度系数的定义与计算方法。

一、温度系数的定义电阻的温度系数（Temperature Coefficient of Resistance，简称TCR）用来衡量电阻数值随温度变化的性质。

常见的温度系数单位为“ppm/℃”（百万分之一/摄氏度）或“%/℃”（百分比/摄氏度）。

温度系数的定义公式如下：TCR = (Rt - Rref) / (Rref × (Tt - Tref)) × 10^6其中，TCR为温度系数，Rt为当前温度下的电阻值，Rref为参考温度下的电阻值，Tt为当前温度，Tref为参考温度。

通过温度系数的计算，可以得到电阻值随温度变化的一个相对比例。

二、温度系数的计算温度系数的计算可以通过实验测定获得，也可以利用电阻材料的特性参数进行计算。

下面将介绍两种常用的计算方法。

1. 实验测定法实验测定法是通过在不同温度下测量电阻值，并计算温度系数。

具体步骤如下：- 准备一组相同规格的电阻，将其连接到一个稳定的电路中。

- 将电路放置在不同温度下，例如在冰水混合物中和在高温环境中。

- 在每个温度下测量电阻值，并记录数据。

- 根据测量结果计算温度系数。

2. 电阻材料参数法电阻材料的温度系数通常可以在相关的规格书或数据手册中找到。

一些常见电阻材料的温度系数如下：- 镍铬合金：约为100 ppm/℃- 铜：约为4000 ppm/℃- 碳膜电阻：约为3000 ppm/℃根据电阻材料的温度系数和参考温度的电阻值，可以通过插值法计算出其他温度下的电阻值。

插值法可以使用以下公式：Rt = Rref × (1 + TCR × (Tt - Tref))三、应用举例假设某电阻器的参考温度下的电阻值为100欧姆，温度系数为2000 ppm/℃，当前温度为50℃，求当前温度下的电阻值。

电阻的温度系数测定实验报告实验目的：本实验旨在测定电阻的温度系数，进一步了解电阻随温度变化的规律。

实验仪器和材料：1. 电阻箱2. 电流表3. 电压表4. 温度计5. 恒温水浴6. 实验导线7. 计时器实验原理：电阻的温度系数是指单位电阻随温度变化1摄氏度时，电阻值的变化量。

一般情况下，电阻随温度的升高而增大。

电阻温度系数可根据以下公式计算：温度系数（α）=（R2-R1）/ (R1 * ΔT)其中，R1为初始电阻值，R2为温度升高后的电阻值，ΔT为温度变化值。

实验步骤：1. 将电阻箱接入电流表和电压表之间的电路中，确保电路连接正确。

2. 将电流表、电压表和温度计分别连接到相应的实验导线上（注意插头的连接正确）。

3. 将电阻箱的初始电阻值设定为所需数值。

4. 将温度计浸入恒温水浴中，并调节恒温水浴的温度为初始温度（如25摄氏度）。

5. 启动计时器，开始记录实验时间。

6. 将恒温水浴的温度每隔一段时间提高一定数值（如每隔5分钟提高2摄氏度），并记录相应的电阻值和温度值。

7. 持续提高温度，直至达到实验结束温度（如70摄氏度）。

8. 停止计时器，结束记录。

实验数据：根据实际实验过程记录的温度和电阻值，绘制成表格如下：温度（℃）电阻值（Ω）25 R127 R230 R335 R440 R545 R650 R755 R860 R965 R1070 R11实验结果：根据实验数据，我们可以计算电阻的温度系数（α）。

根据公式α =（R2-R1）/ (R1 * ΔT)，我们可以计算出不同温度下的电阻系数。

结论：通过本实验，我们成功测定了电阻的温度系数，并得出了电阻随温度升高而增大的结论。

实验结果显示，随着温度的升高，电阻值呈现出明显的变化。

根据测定的实验数据，我们可以计算出电阻的温度系数，这将对电阻在实际应用中的使用提供一定的参考价值。

实验注意事项：1. 在进行温度变化时，要适度增加温度，避免温度变化过快导致数据误差。

电阻温度系数测定实验报告系数电阻测定温度实验电阻的测量实验报告光敏电阻实验报告篇一：测定铜丝的电阻温度系数测定铜丝的电阻温度系数[实验仪器与器材]加热、控温、测温装置，漆包线绕制的铜线电阻（R≈25Ω），2个滑线电阻（1750Ω、100Ω），直流电流表（25～100mA、0.5级），2个电阻箱（0.1级、1/4W），烧杯，导线等。

[提示与要求]1、关于电阻温度系数任何物质的电阻都与温度有关，多数金属的电阻随温度升高而增大，有如下关系：Rt?R0(1??Rt)，式中R,、R分别是t℃、O℃时金属的电阻值，?R是电阻温度系数，to其单位是℃-1。

?R一般与温度有关，但对于实验用的纯铜材料来说，在-50℃～100℃的范围内，?R的变化非常小，可当作常数，即Rt与t呈线性关系。

2、实验要求（1）实验前，按实验目的、实验室提供的仪器、器材，结合前面的提示，设计出实验方案。

①画出装置示意图，标明各仪器名称，②设计出测量方法，拟定实验步骤和数据记录表格。

实验方案经教师认可，连线后请老师检查，无误后才能进行实验。

注意：水温不能超过80℃。

（2）数据处理①先用作图法计算?R。

②再用最小二乘法进行直线拟合（参阅第四章4），算出?R，并求出相关系数r。

③要充分考虑仪器的安全，不可因电流过大而烧坏所用仪器。

注意：本实验不要求计算不确定度。

Pt100 -200 -190 -180 -170 -160 -150 -140 -13018.49 22.80 27.08 31.32 35.53 39.71 43.87 48.00BA1 -200 -190 -180 -170 -160 -150 -140 -1307.95 9.96 11.95 13.93 15.90 17.85 19.79 21.72 BA2 -200 -190 -180 -170 -160 -150 -140 -13017.28 21.65 25.98 30.29 34.56 38.80 43.02 47.21温度(℃) 阻值(Ω) 温度(℃) 阻值(Ω) 温度(℃) 阻值(Ω)-120 52.11 -110 56.19 -100 60.25 -90 64.30 -80 68.33 -70 72.33 -60 76.33 -50 80.31 -40 84.27 -30 88.22 -20 92.16 -10 96.09 0 100.00 10 103.90 20 107.79 30 111.67 40 115.54 50 119.40 60 123.24 70 127.07 80 130.89 90 134.70 100 138.50 110 142.29 120 146.06 130 149.82 140 153.58 150 157.31 160 161.04 170 164.76 180 168.46 190 172.16 200 175.84 210 179.51 220 183.17 230 186.32 240 190.45 250 194.07 260 197.69 270 201.29 280204.88-120 23.63 -110 25.54 -100 27.44 -90 29.33 -80 31.21 -70 33.08 -60 34.94 -50 36.80 -40 38.65 -30 40.50 -20 42.34 -10 44.17 0 46.00 10 47.82 20 49.64 30 51.45 40 53.26 50 55.06 60 56.86 70 58.65 80 60.43 90 62.21 100 63.99 110 65.76 120 67.52 130 69.28 140 71.03 150 72.78 160 74.52 170 76.26 180 77.99 190 79.71 200 81.43 210 83.15 220 84.86 230 86.56 240 88.26 250 89.96 260 91.64 270 93.33 28095.00-120 51.38 -110 55.52 -100 59.65 -90 63.75 -80 67.84 -70 71.91 -60 75.96 -50 80.00 -40 84.03 -30 88.03 -20 92.04 -10 96.03 0 100.00 10 103.96 20 107.91 30 111.85 40 115.78 50 119.70 60 123.60 70127.49 80 131.37 90 135.24 100 139.10 110 142.10 120 146.78 130 150.60 140 154.41 150 158.21 160 162.00 170 165.78 180 169.54 190 173.29 200 177.03 210 180.76 220 184.48 230 188.18 240 191.88 250 195.56 260 199.23 270 202.89 280206.53290 208.45 300 212.02 310 215.57 320 219.12 330 222.65 340 226.17 350 229.67 360 233.17 370 236.65 380 240.13 390 243.59 400 247.04 410 250.48 420 253.90 430 257.32 440 260.72 450 264.11 460 267.49 470 270.36 480 274.22 490 277.56 500 280.90 510 284.22 520 287.53 530 290.83 540 294.11 550 297.39 560 300.65 570 303.91 580 307.15 590 310.38 600313.59290 96.68 300 98.34 310 100.01 320 101.66 330 103.31 340 104.96 350 107.60 360 108.23 370 109.86 380 111.48 390 113.10 400 114.72 410 116.32 420 117.93 430 119.52 440 121.11 450 122.70 460 124.28 470 125.86 480 127.43 490 128.99 500 130.55 510 132.10 520 133.65 530 135.20 540 135.73 550 138.27 560 139.79 570 141.31 580 142.83 590 144.34 600145.85290 210.17 300 213.79 310 217.40 320 221.00 330 (来自: 写论文网:电阻温度系数测定实验报告)224.56 340 228.07 350 231.60 360 235.29 370 238.83 380 242.36 390 245.88 400 249.38 410 252.88 420 256.36 430 259.83 440 263.29 450 266.74 460 270.18 470 273.43 480 277.01 490 280.41 500 283.80 510 287.18 520 290.55 530 293.91 540 297.25 550 300.58 560 303.90 570 307.21 580 310.50 590 313.79 600317.06Cu50型热电阻分度表发布者：佛山市普量电子有限公司发布时间：2010-04-08Cu50型热电阻分度表Cu100型热电阻分度表发布者：佛山市普量电子有限公司发布时间：2010-04-08Cu100型热电阻分度表Cu100 R(0℃)=100.00 整10度电阻值Ω篇二：金属电阻温度系数的测定篇三：金属导体电阻温度系数测定实验的研究金属导体电阻温度系数测定实验的研究摘要：利用控温仪器和加热炉组成恒温系统，再用双臂电桥和电位差计的方法分别测量了金属铜线的电阻，设计了实验测量的装置图，对测量结果进行了分析。

一、 名称：非平衡电桥测量热敏电阻的温度系数 二、 目的：1、掌握非平衡电桥的工作原理。

2、了解金属导体的电阻随温度变化的规律。

3、了解热敏电阻的电阻值与温度的关系。

4、学习用非平衡电桥测定电阻温度系数的方法。

三、 仪器：1、热敏电阻。

2、数字万用表。

3、ZX-21型电阻箱。

4、滑线变阻器。

5、固定电阻器。

6、水浴锅。

7、温度计。

8、直流稳压电源等。

四、 原理：热敏电阻由半导体材料制成，是一种敏感元件。

其特点是在一定的温度范围内，它的电阻率T ρ随温度T 的变化而显著地变化，因而能直接将温度的变化转换为电量的变化。

一般半导体热敏电阻随温度升高电阻率下降，称为负温度系数热敏电阻（简称“NTC ”元件），其电阻率T ρ随热力学温度T 的关系为 T B T e A /0=ρ…（5），式中0A 与B 为常数，由材料的物理性质决定。

也有些半导体热敏电阻，例如钛酸钡掺入微量稀土元素，采用陶瓷制造工艺烧结而成的热敏电阻在温度升高到某特定范围（居里点）时，电阻率会急剧上升，称为正温度系数热敏电阻（简称“PTC ”元件）。

其电阻率的温度特性为：TB T eA ⋅'=ρρ…（6），式中A '、ρB 为常数，由材料物理性质决定。

在本实验中我们使用的是负温度系数的热敏电阻。

对于截面均匀的“NTC ”元件，阻值T R 由下式表示： T B TT e SlA S l R /0==ρ (7)，式中l 为热敏电阻两极间的距离，S 为热敏电阻横截面积。

令SlA A 0=，则有： T B T Ae R /=…（8），上式说明负温度系数热敏电阻的阻值随温度升高按指数规律下降，如图2所示，可见其对温度的敏感程度比金属电阻等其它感温元件要高得多。

由于具有上述性质，热敏电阻被广泛应用于精密测温和自动控温电路中。

对（8）式两边取对数，得A T BR T ln 1ln +=…（9），可见T R ln 与T1成线性关系，若从实验中测得若干个T R 和对应的T 值，通过作图法可求出A (由截距A ln 求出)和B (即斜率)。

电阻温度系数测量实验的步骤与误差分析引言：电阻是电路中常用的元件之一，其电阻值会随温度的变化而变化。

为了准确测量电阻温度系数，科学家们设计了一系列的实验步骤，并对实验误差进行了充分的分析。

本文将介绍电阻温度系数测量实验的步骤，并对其误差来源及分析进行探讨。

一、实验步骤1. 实验仪器准备：准备一个恒温槽、一个电压表、一个电流表以及待测电阻。

2. 实验电路搭建：将待测电阻与电压表、电流表依次连接成电路。

3. 建立测量电阻温度特性的数学模型：根据电路的电流电压关系，得到测量电阻温度特性的数学表达式。

4. 开始实验：调节恒温槽的温度，记录不同温度下的电流和电压值。

5. 根据实验数据计算电阻温度系数：利用测量电阻温度特性的数学模型，将实验数据代入计算得到电阻温度系数。

二、实验误差来源及分析1. 电流测量误差：电流表的精度限制了电流测量的准确性。

误差源包括内阻、刻度误差等，影响测量结果的准确性。

解决方法：选用精度更高的电流表来提高测量的准确性。

2. 电压测量误差：电压表的精度限制了电压测量的准确性。

误差源包括内阻、检流电阻等，对测量结果产生一定影响。

解决方法：选用精度更高的电压表来提高测量的准确性。

3. 恒温槽温度均匀性：恒温槽内部温度的均匀性会影响实验结果的准确性。

温度不均匀会导致电阻所处的温度与恒温槽显示的温度不一致，从而产生误差。

解决方法：合理放置待测电阻，保证电阻能充分受到恒温槽内温度的影响，并可以多次测量在不同位置上的电阻值，取平均值来减小温度不均匀性引起的误差。

4. 恒温槽温度控制误差：恒温槽的控温精度限制了实验结果的准确性。

控温系统存在一定的滞后性，也会产生一定的温度误差。

解决方法：选用控温性能更好的恒温槽，并根据实际需要进行合理设计与改进。

5. 待测电阻本身的误差：待测电阻自身存在一定的误差，包括制造工艺、材料的不均匀性等。

解决方法：选用更精确的电阻器，并进行多次测量取平均值，以提高测量的准确性。

应用计算机测定电阻的温度特性实验指导书一. 实验原理 - 热敏器件的特性1. 半导体热敏电阻特性在一定的温度范围内，对于负温度型的半导体热敏电阻的电阻率R 和温度T 之间有如下关系：T B Ae R /=（3）对一定的电阻而言，A 和B 均为常数。

对式（3）两边取对数，则有 A TBR ln 1ln += （4）可见lnR 与T 成反比关系，温度增加，电阻减少。

在实验上通过测出器件的电阻R 随温度T 的变化特性来确定系数A 值，可得到R 的特性表达式。

2. 热电阻特性大部分金属热电阻的特性在小温度范围内是线性的。

如果温度范围进一步扩大时为非线性关系，（5）式给出铂电阻在0—600C 0范围内的特性，即 )1(2T T R R βα++= （5） 式中α、β称温度系数。

二. 实验仪器1. 仪器清单Pasco 科学工作室500型接口、恒流源、计算机、半导体热敏电阻、金属铂电阻、加热装置及可替换的加热铜体、温度传感器、电压传感器等。

2. 仪器功能介绍● 待测件：半导体热敏电阻、金属铂电阻 ● 500型科学工作室软件：实验数据处理软件； ● 恒流源：输出恒定电流的电源，电流源设置2mA ；● 500型科学工作室接口：将电信号输入到计算机中的500型科学工作室模拟端口A 、B 、C ； ● 电压传感器：测量电压值；● 温度传感器：温度变化转化成电压变化，再将电压送入模拟端口。

● 加热装置：是由加热芯和两个铜柱组成，加热芯与铜柱可分离，其中一个铜柱为备用。

三. 内容和要求1. 实验内容● 了解热敏电阻及金属铂电阻随温度变化的基本规律。

● 用计算机测绘恒流条件下半导体热敏电阻与铂电阻随温度变化的关系曲线。

●金属铂电阻温度特性测定。

●正确撰写相关实验报告。

2.教学要求●培养学生会较熟练地使用500型科学工作室软件使用方法，了解硬件组成及工作原理，会用实验计算机来定义温度，学会用户自定义传感器方法定义热敏电阻。

实验题目：用热敏电阻测量温度实验目的：了解热敏电阻的电阻-温度特性和测温原理，掌握惠斯通电桥的原理和使用方法，学习坐标、曲线改直的技巧和用异号法消除零点误差等方法。

实验原理：1、半导体热敏电阻的电阻-温度特性某些金属氧化物半导体（如：Fe 3O 4、MgCr 2O 4等）的电阻与 温度关系满足式（1）：TBT e R R ∞= （1） 金属的电阻与温度的关系满足（2）：)](1[1212t t a R R t t -+= （2）根据定义，电阻的温度系数可由式（3）来决定：dtdR R a tt 1=（3）两种情况的电阻温度曲线如又图（1）图（2）所示。

热敏电阻的电阻-温度特性与金属的电阻-温度特性比较，有 三个特点：（1） 热敏电阻的电阻-温度特性是非线性的（呈指数下降），而金属的电阻-温度特性是线性的。

（2） 热敏电阻的阻值随温度的增加而减小，因此温度系数是负的（2TB a ∝）。

金属的温度系数是正的（dt dR a /∝）。

（3） 半导体电阻对温度变化的反应比金属电阻灵敏得多。

这些差异的产生是因为当温度升高时，原子运动加剧，对金属中自由电子的运动有阻碍作用，故金属的电阻随温度的升高而呈线性缓慢增加；而在半导体中是靠空穴导电，当温度升高时，电子运动更频繁，产生更多的空穴，从而促进导电。

2、惠斯通电桥的工作原理原理图如右图所示：若G 中检流为0，则B 和D 等势，故此时021R R R R x =，在检流计的灵敏度范围内得到R x 的值。

当B 和D 两点电位相等时，G 中无电流通过，电桥便达到了平衡。

平衡时必有021R R R R x =，R 1/R 2和R 0都已知，R x 即可求出。

R 1/R 2称电桥的比例臂。

021R R R R x =是在电桥平衡的条件下推导出来的。

电桥是否平衡是由检流计有无偏转来判断的,而检流计的灵敏度总是有限的。

引入电桥灵敏度S ，定义为：xx R R nS /∆∆=（4）式中ΔR x 指的是在电桥平衡后R x 的微小改变量（实际上待测电阻R x 若不能改变，可通过改变标准电阻R 0来测电桥灵敏度），Δn 越大，说明电桥灵敏度越高，带来的测量误差就越小。

电桥法测电阻温度系数实验报告
电桥法测得电阻温度系数实验是一种应用于测量电阻温度系数的实验方法，这种实验方法有着实用性强、准确性高等优点，用于测定电阻与温度之间的关系，以及温度系数的测定。

本次实验采用的是Wheatstone电桥测量电阻温度系数。

电桥四支导线中每支导线中各装一个电阻，除了一个电阻外，其他三个电阻都不随温度变化。

一支导线中电阻的值改变，当其他三支导线的电阻和总和不变时，改变的电阻就称作变阻阻器。

将改变的电阻R作为变量，改变它的值以降低电桥电流，本次实验采用了一个可以使电阻与温度成正比的变阻器。

将一端固定在特定温度，以不同的温度作参考值，每次进行从指定温度开始改变温度，测量电桥电流及变阻器电阻，得到相关的曲线。

最后记录了实验数据，求出电阻温度系数β。

结果表明，该仪器的测量结果与理论值相比，误差范围在可接受的范围之内，说明实际测量效果是良好的，可以满足实际测量要求，可以满足实际工程需要。

本次实验通过电桥法测得电阻温度系数，验证了变阻仪器在温度测量时的准确性，实验结果表明，电桥法测量电阻温度系数可靠性较高，可以用于温度测量的评价和控制。

测量导线的电阻温度系数导线的电阻温度系数是指导线电阻随温度变化的程度。

了解导线的电阻温度系数对于电气工程师和电子科技爱好者来说至关重要，因为不同的导线材料具有不同的电阻温度系数，这将直接影响导线在不同温度下的电性能表现。

首先，我们来了解一下导线的电阻温度系数的基本定义。

简而言之，电阻温度系数（temperature coefficient of resistance）是指当导线温度升高（或降低）时，导线电阻相对应地增加（或减小）的比例。

导线的电阻温度系数通常用ppm/℃（即百万分之一/摄氏度）来表示。

其次，导线的电阻温度系数与导线材料的物理性质有着密切的联系。

常见的导线材料包括铜、铝、铁等。

铜是一种常用的导线材料，其电阻温度系数约为每℃增加0.004Ω。

与之相比，铝的电阻温度系数较大，约为每℃增加0.00429Ω。

这种差异是由于导线材料的晶格结构和导电性能的差异所导致的。

因此，当我们选择导线材料时，需要根据具体的电路要求和温度环境来合理选择。

此外，导线的电阻温度系数还受到导线的制造工艺和电流负载的影响。

例如，导线的制造工艺可以影响导线的纯度和晶粒大小，从而影响导线的电阻温度系数。

电流负载会导致导线发热，进而改变导线的温度，进而影响导线的电阻温度系数。

因此，在实际应用中，我们需要综合考虑导线材料、制造工艺和电流负载等因素，以确保导线性能的稳定和可靠。

此外，了解导线的电阻温度系数还有利于我们在使用导线的过程中做出合理的补偿和调整。

例如，当导线在高温环境下工作时，由于导线的电阻随温度的升高而增加，可能导致电路的工作不稳定或者不符合设计要求。

为了解决这个问题，我们可以采取一些措施，比如使用具有较小电阻温度系数的导线材料、增加散热措施或者设计温度补偿电路等。

综上所述，导线的电阻温度系数是衡量导线性能的一个重要指标。

了解导线的电阻温度系数有助于我们选择合适的导线材料和设计电路，以确保电气系统的稳定性和可靠性。

金属电阻温度系数测定的实验技术改进金属电阻温度系数的测定是电子学领域中重要的实验技术之一。

温度系数是指金属电阻值随温度变化而产生的变化速率。

在电子元器件的设计和制造过程中，了解金属电阻的温度特性对于保证元器件的稳定性和可靠性非常重要。

本文将讨论几种实验技术改进方法，以提高金属电阻温度系数的测定准确性和精度。

1. 温度控制技术的改进温度控制是金属电阻温度系数测定的关键因素之一。

传统的实验方法通常使用水浴或空气环境来控制温度，但这种方法存在温度波动、温度不均匀等问题，影响测定结果的准确性。

为此，在实验中可以采用更先进的恒温设备，如热电耦控制系统或高精度恒温箱，确保温度的稳定性和均匀性。

这样可以有效减小温度变化对金属电阻测量的干扰，提高测定的准确性。

2. 电桥平衡技术的改进传统的金属电阻温度系数测定方法采用电桥平衡技术，通过调节电桥的平衡条件来测量电阻值。

然而，由于电桥存在一些固有的不足之处，如接触电阻、线性度等问题，导致测定结果的误差较大。

为此，可以采用更高精度的电桥仪器，如四线制电桥或数字化电桥，这些先进的仪器具有更高的测量精度和更好的线性度，能够减小系统误差，提高测定结果的精度。

3. 电流源技术的改进传统的金属电阻温度系数测定方法中，采用恒流源或万用表作为电流源来提供稳定的电流。

然而，由于电源本身存在不稳定性或精度不高的问题，容易引入误差。

为了提高测定的准确性，可以采用更先进的电流源技术，如恒流源模块或电流放大器等，这些新型的电流源具有更高的稳定性和更好的线性度，能够提供更准确、更稳定的电流，从而提高测量结果的准确性。

4. 数据处理技术的改进金属电阻温度系数测定的最后一步是数据处理。

传统的数据处理方法通常采用手工记录和计算，容易出现数据录入错误或计算错误的问题。

为了减小人为因素对测定结果的影响，可以采用自动化数据处理的方法，通过采集仪器数据并自动进行计算和记录，减少人为误差，提高测定的准确度和可靠性。

电阻温度系数测定实验报告电阻温度系数测定实验报告引言：电阻温度系数是指电阻值随温度变化的程度。

在电子电路设计和研究中，了解电阻温度系数对电路性能的影响非常重要。

本实验旨在通过测定电阻在不同温度下的阻值，计算出电阻的温度系数，并分析电阻温度系数对电路的影响。

实验设备和方法：实验设备包括电阻箱、温度计、恒温水槽和电流表。

首先，将电阻箱连接到电路中，并通过电流表测量通过电阻的电流。

然后，将温度计放置在电阻附近，测量电阻所处的温度。

接下来，将恒温水槽中的温度逐渐升高或降低，每隔一定温度间隔记录电阻的阻值和温度。

实验结果：通过实验测量得到一系列电阻阻值和温度的数据。

将这些数据绘制成散点图，可以观察到电阻随温度的变化趋势。

根据实验数据，我们可以计算出电阻的温度系数。

电阻的温度系数的计算公式为：温度系数 = (R2 - R1) / (R1 * (T2 - T1))，其中R1和R2分别为两个温度下的电阻值，T1和T2为对应的温度值。

讨论与分析：根据实验结果，我们可以观察到电阻的温度系数通常为正值。

这意味着电阻值随温度的升高而增加。

这是由于电阻材料的导电性质随温度变化而改变所导致的。

在高温下，电阻材料的导电性较好，电子流容易通过，因此电阻值较小。

而在低温下，电阻材料的导电性较差，电子流受到更多阻碍，电阻值较大。

电阻温度系数的大小对电路性能有重要影响。

在一些需要稳定电阻值的电路中，选择温度系数较小的电阻材料非常重要。

这样可以确保电路在不同温度下具有相对稳定的性能。

另一方面，一些特定应用中，如温度传感器，需要利用电阻温度系数来实现温度测量。

在这种情况下，选择具有适当温度系数的电阻材料是必要的。

实验中可能存在的误差主要来自于测量设备和环境因素。

温度计的精确度和响应时间可能会对测量结果产生影响。

此外，恒温水槽的温度均匀性也会对实验结果产生一定的影响。

为了减小误差，可以使用更精确的测量设备，并确保恒温水槽中的温度均匀。

结论：通过本实验，我们成功测定了电阻的温度系数，并分析了电阻温度系数对电路性能的影响。

实验九 金属电阻温度系数实验【实验目的】1、了解和测量金属电阻与温度的关系；2、了解金属电阻温度系数的测定原理；3、了解测量金属电阻温度系数的方法。

【实验仪器】电磁学综合实验平台 、PT100传感器 、CU50传感器 、加热井、温度传感器特性实验模板；【实验原理】1、电阻与温度的关系大多数金属导体的电阻随温度而变化的关系可由下式表示：()[]001t t R R t -+=α式中：t R 、0R 分别为热电阻在t ℃和0t ℃时的电阻值；α为热电阻的电阻温度系数（1/℃）；t 为被测温度（℃）。

从式中可见，只要α保持不变（常数），则金属电阻t R 将随温度线性地增加。

其灵敏度为 αα===00011R R dt dR R K t 由此可见，α越大，灵敏度K 就越大。

纯金属的电阻温度系数α为（0.3％～0.6％）/℃。

但是，绝大多数金属导体的α也不是常数，它也随温度变化而变化，只能在一定的温度范围内，把它近似地看作为一个常数。

不同的金属导体，α保持常数所对应的温度不相同，而且这个范围均小于该导体能够工作的温度范围。

2、铂热电阻由于铂热电阻的物理化学性能在高温和氧化性介质中很稳定，重复性好，测量精度高，其电阻值与温度之间的关系近似线性关系，它既能作为工业用测温元件，又能作国际温度标准，按国际温标IPTS －68规定，在－259.39～630.74℃温度范围内，用铂热电阻温度计作为基准器。

铂热电阻与温度的关系，在0～630.74℃以内为()201Bt At R R t ++=在－190～0℃范围内为 ()[]3201001-+++=t C Bt At R R t。

如何测量太阳能组件温度系数和串联电阻10.4 温度系数的测量10.4.1 目的从组件试验中测量其电流温度系数(α)、电压温度系数(β) 和峰值功率温度系数（δ）。

如此测定的温度系数，仅在测试中所用的辐照度下有效；参见IEC 60904-10对组件在不同辐照度下温度系数评价。

10.4.2 装置需要下列装置来控制和测量试验条件：a) 后续试验继续使用的光源（自然光或符合IEC 904-9的B类或更好太阳模拟器）；b) 一个符合IEC 60904-2或IEC 60904-6的标准光伏器件，已知其经过与绝对辐射计校准过的短路电流与辐照度特性。

c) 能在需要的温度范围内改变测试样品温度的设备。

d) 一个合适的支架使测试样品与标准器件在与入射光线垂直的相同平面；e) 一个监测测试样品与标准器件温度的装置，要求温度测试准确度为±1℃，重复性为±0.5℃；f) 测试测试样品与标准器件电流的仪器，准确度为读数±0.2%。

10.4.3 程序有两种可接受的测量温度系数的程序。

10.4.3.1 自然光下的程序a) 仅在满足下列条件时才能在自然光下进行测试：—总辐照度至少达到需要进行测试的上限；—瞬时振荡（云、薄雾或烟）引起的辐照度变化应小于标准器件测出总辐照度的2%；—风速小于2m?s-1。

b) 安装标准器件与测试组件共平面，使太阳光线垂直(±5°内)照射二者，并连接到需要的设备上。

注：以下条款描述的测试应尽可能快地在同一天的一、二小时内完成，以减少光谱变化带来的影响。

如不能做到则可能需要进行光谱修正。

c) 如果测试组件及标准器件装有温度控制装置，将温度设定在需要的值。

d) 如果没有温度控制装置，要将测试样品和标准器件遮挡阳光和避风，直到其温度均匀，与周围环境温度相差在±1℃以内，或允许测试样品达到一个稳定平衡温度，或冷却测试样品到低于需要测试温度的一个值，然后让组件自然升温。