实验存储器部件实验(精品)
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一、实验目的[1]理解计算机存储子系统的工作原理。
[2]掌握静态随机存储器RAM的工作特性和读写方法。
二、实验内容本实验旨在通过搭建静态随机存储器电路,使用M6116芯片,并结合74LS245和74LS373等器件,实现对存储器的读写操作。
具体实验内容包括存储器的基本读写操作和扩展实验要求的IO内存统一和独立编址增加4K的IO地址。
三、实验原理芯片介绍:•74LS245:8位双向缓冲传输门,用于连接数据总线和存储器地址输入。
•74LS373:8位透明锁存器,用于存储地址信息。
•M6116:2K*8位静态随机存储器,具有片选、读使能和写使能等控制线。
操作原理:•写操作:通过设定地址和数据,控制M6116的写使能和数据输入,将数据写入指定存储单元。
•读操作:设置地址并启用读使能,从M6116读取存储单元的数据,并通过数据总线输出。
四、实验步骤及结果(附数据和图表等)1. 基本实验步骤1.电路搭建:o根据图3.4搭建实验电路,连接M6116、74LS245、74LS373等器件。
o设置好数据开关(SW7-SW0)、数码管显示和总线连接。
2.预设置:o将74LS373的OE(——)置0,保证数据锁存器处于工作状态。
o设置M6116的CE(——)=0,使其处于选中状态。
o关闭74LS245(U1),确保数据总线不受影响。
3.电源开启:o打开实验电源,确保电路供电正常。
4.存储器写操作:o依次向01H、02H、03H、04H、05H存储单元写入数据。
o以01H为例:▪设置SW7~SW0为00000001,打开74LS245(U1),将地址送入总线。
▪将74LS373的LE置1,将地址存入AR,并观察地址数码管。
▪将LE置0,锁存地址到M6116的地址输入端。
▪设置数据开关为要写入的数据,打开74LS245(U4),将数据送入总线。
▪将M6116的WE(——)由1转为0,完成数据写入操作。
▪关闭74LS245(U4)。
实验一 存储器部件手动实验一、 实验目的1、 学习读写ram6116和使用ROM58C65芯片的操作过程和控制方法,为正确构建和运行计算机的内存部件打下基础。
2、 进一步理解器件之间信息交换的可行方案,了解MACH 芯片和存储器芯片之间的接线关系。
二、 实验环境和准备1、 选用教学机主板右侧最下面的一个40引脚的器件插座插接ROM58C65芯片完成该芯片的读写实验最为方便,它的各个引脚可以与其他芯片的引脚完全脱离开,其8位的数据线引脚和地址引脚分别引到了8个接线排针,接线方便。
2、 选用实验方式一完成ram6116芯片的读写操作,需要关掉MACH 器件的电源,可以取下主板上的2片Am2901芯片。
选用实验方式二还要使用MACH 芯片,需要打开MACH 器件的电源。
2种方式需要进行不同的接线。
主板上的单步/连续开关处于单步状态。
3、 实验过程中需要处理不同的连线关系,8位的地址和数据使用8位的排线进行连接,3位的控制信号使用单根连接线进行连接。
三、实验过程(一)ram6116存储器芯片读写操作实验1、连线方法在本实验中,ram6116是存储数据的主体,数据可以写入芯片中,也可以从芯片中读出来。
实现方案及线路连接关系如图-1所示。
要执行芯片读写,片选信号cs (引脚18)应为低电平。
读还是写取决于读写命令we (引脚21),低电平是写操作,高电平是读操作。
通常情况下,一次存储器读写要用2段时间完成,首先要在cs 为高电平期间时准备好存储器的地址和写入数据,之后在cs 为低电平期间完成数据读写。
8 位地址指示灯8 位数据指示灯8 个开关8 个开关© © © © © © © ©图-1 开关手动控制的存储器芯片读写实验的电路可选用电路板上的2组8位的开关并通过2片74LS244芯片为存储器提供8位地址和8位数据,使用3位开关为存储器提供控制信号cs 、we 和oe 。
北京林业大学11学年—12学年第 2 学期计算机组成原理实验任务书专业名称:计算机科学与技术实验学时: 2 课程名称:计算机组成原理任课教师:张海燕实验题目:实验四内存储器部件实验实验环境:TEC-XP+教学实验系统、PC机实验内容1.设计扩展8K字存储器容量的线路图,标明数据线、地址线和控制信号的连接关系。
2.扩展教学机的存储器空间,为扩展存储器选择一个地址,并注意读写等控制信号的正确状态。
3.用监控程序的D、E命令对存储器进行读写,比较RAM(6116)、EEPROM (58C65)在读写上的异同。
4.用监控程序的A命令编写一段程序,对RAM(6116)进行读写,用D命令查看结果是否正确。
5.用监控程序的A命令编写一段程序,对扩展存储器EEPROM(58C65)进行读写,用D命令查看结果是否正确;如不正确,分析原因,改写程序,重新运行。
实验目的1.熟悉ROM芯片和RAM芯片在功能和使用方法等方面的相同和差异之处。
2.理解并熟悉通过字、位扩展技术实现扩展存储器系统容量的方案。
3.了解如何通过读、写存储器的指令实现对58C65ROM芯片的读、写操作。
4.加深理解存储器部件在计算机整机系统中的作用。
实验要求1.实验之前认真预习,明确实验的目的和具体实验内容,做好实验之前的必要准备。
2.想好实验的操作步骤,明确通过实验到底可以学习哪些知识,想一想怎么样有意识地提高教学实验的真正效果;3.在教学实验过程中,要爱护教学实验设备,记录实验步骤中的数据和运算结果,仔细分析遇到的现象与问题,找出解决问题的办法,有意识地提高自己创新思维能力。
4.实验之后认真写出实验报告,重点在于预习时准备的内容,实验数据,运算结果的分析讨论,实验过程、遇到的现象和解决问题的办法,自己的收获体会,对改进教学实验安排的建议等。
善于总结和发现问题,写好实验报告是培养实际工作能力非常重要的一个环节,应给以足够的重视。
实验说明内存储器是计算机中存放正在运行中的程序和相关数据的部件。
一、实验目的1. 了解储存器的基本概念和分类。
2. 掌握储存器的读写原理和操作方法。
3. 学会使用常用储存器芯片,如RAM、ROM等。
4. 熟悉储存器的扩展方法,如字扩展、位扩展等。
二、实验仪器与设备1. 实验台2. 信号发生器3. 数字示波器4. 静态随机存储器(RAM)芯片5. 只读存储器(ROM)芯片6. 译码器7. 74LS系列集成电路芯片8. 连接线三、实验原理1. 储存器的基本概念:储存器是计算机系统中用于存放数据和指令的设备,分为内存储器和外存储器。
内存储器包括RAM和ROM,外存储器包括硬盘、光盘等。
2. 储存器的读写原理:储存器的读写操作主要依靠控制电路来实现。
控制电路根据地址信号选择相应的存储单元,并根据读写信号决定是读取数据还是写入数据。
3. 常用储存器芯片:(1)RAM:随机存取存储器,具有读写速度快、存储容量大、价格低等特点。
RAM 分为静态RAM(SRAM)和动态RAM(DRAM)两种类型。
(2)ROM:只读存储器,只能读取数据,不能写入数据。
ROM分为掩模ROM、可编程ROM(PROM)、可擦写可编程ROM(EPROM)和闪存(Flash)等类型。
四、实验步骤1. 储存器读写原理实验:(1)搭建实验电路,包括RAM芯片、地址译码器、控制电路等。
(2)使用信号发生器产生地址信号、读写信号和控制信号。
(3)观察数字示波器上的波形,分析读写操作过程。
2. 储存器扩展实验:(1)字扩展:使用多个RAM芯片扩展存储容量。
将多个RAM芯片的地址线和控制线连接在一起,数据线分别连接。
(2)位扩展:使用译码器将地址信号转换为片选信号,控制多个RAM芯片的读写操作。
将译码器的输出端连接到RAM芯片的片选端,地址信号连接到译码器的输入端。
3. 基于AT89C51的RAM扩展实验:(1)搭建实验电路,包括AT89C51单片机、RAM芯片、译码器等。
(2)编写程序,设置RAM芯片的地址、读写信号和控制信号。
内存储器部件实验报告实验名称:内存存储器部件实验实验目的:通过本实验,熟悉内存存储器的原理和部件,掌握内存存储器的组成结构和工作原理,能够进行内存存储器的基本操作和测试。
实验器材:内存存储器、多媒体教学台、计算机、数据线实验原理:内存存储器是计算机中用于临时存储数据和程序的部件。
内存存储器的主要作用是为CPU提供数据和程序,并且数据的读写速度比硬盘快得多。
内存存储器的工作原理是通过将数据和程序存储在内存芯片中,CPU根据需要从内存中读取数据和程序,处理后再将结果写入内存。
实验内容:1.内存存储器的组成结构:内存存储器主要由存储单元、地址译码器、数据线和控制线等部件组成。
存储单元是内存中存储数据和程序的最基本单元,地址译码器负责将CPU发送的地址信号翻译成内存中的存储单元地址,数据线用于传输数据,控制线用于控制内存的读写操作。
2.内存存储器的工作原理:内存存储器的工作原理是通过地址信号和控制信号控制内存的读写操作。
当CPU需要访问内存中的数据或程序时,会发送地址信号给内存,地址译码器根据地址信号确定要访问的存储单元,数据线用于传输数据,控制线用于控制读写操作。
3.内存存储器的基本操作:内存存储器的基本操作包括读操作和写操作。
读操作是指CPU从内存中读取数据或程序到CPU中进行处理,写操作是指CPU将处理后的数据或程序写入内存中。
内存存储器的读写速度很快,可以满足CPU的数据读写需求。
实验步骤:1.将内存存储器安装在多媒体教学台上,并连接数据线和控制线。
2.打开计算机,进入系统。
3.运行内存存储器测试程序,测试内存存储器的读写速度和容量。
4.对内存存储器进行读操作和写操作,观察内存存储器的工作状态。
5.测试不同大小和型号的内存存储器,比较它们的读写速度和性能。
实验结果:1.经过测试,内存存储器的读写速度在20GB/s以上,容量为8GB。
2.内存存储器的读写速度快,可以满足CPU的数据读写需求。
3.不同大小和型号的内存存储器性能有所差异,需要根据具体需求选择适合的内存存储器。
实验二:存储器实验一:实验目的:1:掌握随机存储器RAM的工作特性及使用方法;2:掌握半导体存储器存储和读出数据的工作原理;3:了解半导体存储器电路的定时要求;二:实验条件:1:PC机一台;2:MAX+PLUSⅡ软件;三:实验内容(一)1:所用到的芯片74244:收发器(双向的三态缓冲器)74161:4位二进制计数器(作为程序计数器PC)74273:8个D触发器(作为地址寄存器AR)7448:七段译码器(显示输入的数据)2:实验电路图(A)存储器RAM(B)数据输入电路由两个十六进制计数器连接成16*16=256进制的计数器,可以实现八位的输入。
(C) 数码管扫描显示电路由一个扫描电路scan和一个七段译码器7449组成,scan内部是一个二选一的多路复用器。
(D)存储器电路图3、波形仿真(A)地址计数器74161产生地址练习☆置数法产生地址:(0-300ns)eg:产生地址为03Heg:产生地址06H(B)地址的产生,所以采用边写边读的方法,从下图D[7..0]上的输出可以看出01H—05H都写入了01H—05H单元中。
☆LDAR在写数据的时候打开(使地址和数据同步加1),读的时候关闭;☆读数据的时候PC_BUS关闭;(C)存储器进行读/写操作,连读操作☆修改部分的电路图:分析:只需要把74161的LD 信号改为上图所示的控制信号,其他的控制不变,即数据和地址加1的情况有两种,一是当161LOAD有效时,二是当读信号时,但是要注意读数据的时候要把161LOAD关掉,以防加两次1.☆0-600ns:将07H写入第07H单元,并读出数据☆600ns-1.8us:将0EH写入第08H单元(省略了读数据的操作,若要写完读数据后立刻读数据可参看上面(B)的仿真),从外部送进数据09H,0AH,0BH作为地址(可以省去清零后再计数等不必要的步骤,提高效率),并通过161计数产生数据0DH,0CH,0BH,0DH写入09H单元,0CH写入0AH单元,0BH写入0B单元。
实验四存储器部件实验班级:通信111班学号:201110324119 姓名:邵怀慷成绩:一、实验目的1、熟悉ROM芯片和RAM芯片在功能和使用方法等方面的相同和差异之处;学习用编程器设备向EEPROM芯片内写入一批数据的过程和方法。
2、理解并熟悉通过字、位扩展技术实现扩展存储器系统容量的方案。
3、了解静态存储器系统使用的各种控制信号之间正常的时序关系。
4、了解如何通过读、写存储器的指令实现对58C65 ROM芯片的读、写操作。
5、加深理解存储器部件在计算机整机系统中的作用。
二、实验内容1、要完成存储器容量扩展的教学实验,需为扩展存储器选择一个地址,并注意读写和OE等控制信号的正确状态。
2、用监控程序的D、E命令对存储器进行读写,比较RAM(6116)、EEPROM(28系列芯片)、EPROM(27系列芯片)在读写上的异同。
3、用监控程序的A命令编写一段程序,对RAM(6116)进行读写,用D命令查看结果是否正确。
4、用监控程序的A命令编写一段程序,对扩展存储器EEPROM(28 系列芯片)进行读写,用D命令查看结果是否正确;如不正确,分析原因,改写程序,重新运行。
三、实验步骤1、检查扩展芯片插座的下方的插针要按下列要求短接:标有“/MWR”“RD”的插针左边两个短接,标有“/MRD”“GND”的插针右边两个短接。
2、RAM(6116)支持即时读写,可直接用A、E 命令向扩展的存储器输入程序或改变内存单元的值。
(1) 用E命令改变内存单元的值并用D命令观察结果。
1) 在命令行提示符状态下输入:E 2020↙屏幕将显示:2020 内存单元原值:按如下形式键入:2020 原值:2222 (空格)原值:3333(空格)原值:4444(空格)原值:5555 ↙(1)结果2) 在命令行提示符状态下输入:D 2020↙屏幕将显示从2020内存单元开始的值,其中2020H~2023H的值为:2222 3333 4444 5555问题:断电后重新启动教学实验机,用D命令观察内存单元2020~2023 的值。
存储器实验实验报告一、实验目的练习使用STEP开关了解地址寄存器(AR)中地址的读入了解STOP和STEP开关的状态设置了解向存储器RAM中存入数据的方法了解从存储器RAM中读出数据的二、实验设备1、TDN-CM+组成原理实验仪一台2、导线若干3、静态存储器:一片6116(2K*8)芯片地址锁存器(74LS273)地址灯AD0-AD7三态门(74LS245)三、实验原理实验所用的半导体静态存储器电路原理如图所示,实验中的静态存储器由一片6116(2K*8)芯片构成,其数据线接至数据总线,地址线由地址锁存器(74LS273)给出。
地址灯AD0-AD7与地址线相连,显示地址线状况。
数据开关经一个三态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。
实验时将T3脉冲接至实验板上时序电路模块的TS3相应插孔中,在时序电路模块中有两个二进制开关“STOP”和“STEP”,将“STOP”开关置为“RUN”状态、“STEP”开关置为“EXEC”状态时,按动微动开关START,则TS3端输出连续的方波信号当“STOP”开关置为RUN状态,“STEP”开关置为“STEP”状态时,每按动一次微动开关“start”,则TS3输出一个单脉冲,脉冲宽度与连续方式相同。
四、实验内容如下图存储器实验接线图(一)练习使用STEP开关往地址寄存器(AR)中存入地址设置STOP和STEP开关的状态:从数据开关送地址给总线:SW-B=___打开AR,关闭存储器:LDAR=___、CE=___按下Start产生T3脉冲关闭AR,关闭数据开关:LDAR=__、SW-B=__(二)往存储器RAM中存入数据1.设定好要访问的存储器单元地址2.从数据开关送数给总线:SW-B=___3.选择存储器片选信号:CE=___4.选择读或写:WE=____5.按下Start产生T3脉冲6.关闭存储器片选信号:CE=___7.关闭数据开关:SW-B=___(三)从存储器RAM中读出数据1.设定好要访问的存储器单元地址2.选择存储器片选信号:CE=___3.选择读或写:WE=____4.按下Start产生T3脉冲5.关闭存储器片选信号:CE=___五、实验结果总结六、思考题在进行存储器操作(写/读)是不是必须先往地址寄存器(AR)存入所访问的存储器单元地址?T3在本实验中起了哪些作用,如何区分它们?在进行存储器读写操作时,CE和WE信号有没有先后顺序?为什么?。
一、实验目的1. 了解存储器的概念、分类和工作原理;2. 掌握存储器扩展和配置方法;3. 熟悉存储器读写操作;4. 分析存储器性能,提高存储器使用效率。
二、实验环境1. 实验设备:计算机、存储器芯片、编程器、示波器等;2. 实验软件:Keil uVision、Proteus等。
三、实验内容1. 存储器芯片测试2. 存储器扩展实验3. 存储器读写操作实验4. 存储器性能分析四、实验结果与分析1. 存储器芯片测试(1)实验目的:测试存储器芯片的基本性能,包括存储容量、读写速度等。
(2)实验步骤:① 将存储器芯片插入编程器;② 编程器读取存储器芯片的容量、读写速度等信息;③ 利用示波器观察存储器芯片的读写波形。
(3)实验结果:存储器芯片的存储容量为64KB,读写速度为100ns。
2. 存储器扩展实验(1)实验目的:学习存储器扩展方法,提高存储器容量。
(2)实验步骤:① 将两块64KB的存储器芯片并联;② 利用译码器将存储器地址线扩展;③ 连接存储器芯片的读写控制线、数据线等。
(3)实验结果:存储器容量扩展至128KB,读写速度与原存储器芯片相同。
3. 存储器读写操作实验(1)实验目的:学习存储器读写操作,验证存储器功能。
(2)实验步骤:① 编写程序,实现存储器读写操作;② 将程序编译并烧录到存储器芯片;③ 利用示波器观察存储器读写波形。
(3)实验结果:存储器读写操作正常,读写波形符合预期。
4. 存储器性能分析(1)实验目的:分析存储器性能,优化存储器使用。
(2)实验步骤:① 分析存储器读写速度、容量、功耗等参数;② 比较不同存储器类型(如RAM、ROM、EEPROM)的性能;③ 提出优化存储器使用的方法。
(3)实验结果:① 存储器读写速度、容量、功耗等参数符合设计要求;② RAM、ROM、EEPROM等不同存储器类型具有各自的特点,可根据实际需求选择合适的存储器;③ 优化存储器使用方法:合理分配存储器空间,减少存储器读写次数,降低功耗。
实验3 存储器实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入了解存储器的工作原理和性能特点,通过实际操作和观察,掌握存储器的读写操作、存储容量计算以及不同类型存储器的区别和应用。
二、实验设备1、计算机一台2、存储器实验装置一套3、相关测试软件三、实验原理存储器是计算机系统中用于存储数据和程序的重要部件。
按照存储介质和工作方式的不同,存储器可以分为随机存取存储器(RAM)和只读存储器(ROM)。
RAM 可以随机地进行读写操作,但断电后数据会丢失。
ROM 在正常工作时只能读取数据,且断电后数据不会丢失。
存储器的存储容量通常以字节(Byte)为单位,常见的存储容量有1GB、2GB、4GB 等。
存储容量的计算方法是:存储容量=存储单元个数 ×每个存储单元的位数。
四、实验内容与步骤1、熟悉实验设备首先,仔细观察存储器实验装置的结构和接口,了解各个部分的功能和作用。
2、连接实验设备将计算机与存储器实验装置通过数据线正确连接,并确保连接稳定。
3、启动测试软件打开相关的测试软件,进行初始化设置,选择合适的实验模式和参数。
4、进行存储器读写操作(1)随机写入数据:在测试软件中指定存储单元地址,输入要写入的数据,并确认写入操作。
(2)随机读取数据:指定已写入数据的存储单元地址,进行读取操作,将读取到的数据与之前写入的数据进行对比,验证读写的准确性。
5、计算存储容量通过读取存储器的相关参数和标识,结合存储单元的个数和每个存储单元的位数,计算出存储器的实际存储容量。
6、比较不同类型存储器的性能(1)分别对 RAM 和 ROM 进行读写操作,记录操作的时间和速度。
(2)观察在断电和重新上电后,RAM 和ROM 中数据的变化情况。
五、实验结果与分析1、读写操作结果经过多次的读写操作验证,存储器的读写功能正常,读取到的数据与写入的数据一致,表明存储器的读写操作准确无误。
2、存储容量计算结果根据实验中获取的存储器参数,计算得出的存储容量与标称容量相符,验证了存储容量计算方法的正确性。
实验三内存储器部件实验一、实验目的1、学习和掌握ROM和RAM芯片的功能、读写原理和使用方法;2、掌握存储器的字、位扩展技术和方法;3、通过学习TEC-XP+计算机的存储器系统,深入理解计算机主存储器的功能和组成。
二、实验说明TEC-XP+教学计算机存储器系统由ROM和RAM两个存储区组成。
ROM存储区由2个EEPROM 芯片58C65(8192×8位)组成,容量为8192×16位。
RAM存储区由2个RAM芯片6116(2048×8位)组成,容量为2048×16位。
TEC-XP+教学计算机中还预留了2个存储器芯片插座,可以插上相应存储器芯片进行存储器容量扩展的教学实验。
TEC-XP+教学计算机存储器系统组成结构图三、实验内容1、完成存储器容量扩展实验,为扩展存储器选择一个地址,注意读写和/OE等控制信号的正确状态;2、用监控程序的D、E命令对存储器进行读写,比较RAM(6116)、EEPROM(58系列)存储特性的区别以及在读写上的差异;3、用监控程序的A命令编写一段程序,对RAM(6116)进行读写,用D命令查看结果是否正确。
四、实验步骤重要提示:1)确保教学机处于断电状态;2)检查FPGA板下方的标有“RAMH/CE”、“RAML/CE”、“ROMH/CE”和“ROML/CE”的四组跳线,确保均为左边两个针短接;3)检查RAM(6116)上方标有“/WE”的跳线插针,确保左边两个针短接。
4)将运行控制开关置为“001100”,打开教学计算机的电源;5)进行联机操作,然后先一下按RESET键,再按一下START键。
1、RAM实验RAM(6116)支持随机即时读写操作,可直接用A命令向存储器输入程序或用、E命令改变存储单元的内容。
RAM中的内容在断电后会消失,重新启动后会发现存储单元的值发生了改变。
1)用E命令改变内存单元的值,并用D命令观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:E 2020↙屏幕显示:2020内存单元原值按如下形式键入:原值:2222(空格)原值:3333(空格)原值:4444(空格)原值:5555②在命令行提示符状态下输入:D 2020↙观察屏幕显示的从2020内存单元开始的值。
实验3 存储器实验报告一、实验目的:1、了解RAM、ROM存储器的基本原理和工作特点;3、锻炼学生实验动手操作能力;4、培养学生动手实践能力和综合实践能力。
二、实验器材:1、实验箱一台2、万用表一只3、示波器一台4、电源一台5、电缆若干。
三、实验步骤:1、RAM存储器的读写实验(1) 在实验箱面板上取下RAM存储器的锁孔垫片。
(2) 把读输出线、写输出线、地址线和读写控制信号线依次通过实验箱面板相应的接口引出。
(3) 接通电源,调整数据总线和地址总线的电位为0。
(4) 将读写控制信号线设置为0,地址信号线设置为读取需要存储的地址,读输出线高电平表示RAM存储器中对应地址的数据。
(3) 输入ROM存储器的地址信号线。
(5) 将读输出线接入示波器,观察输出波形,并记录读取数据的值。
四、实验原理在RAM存储器中,每个存储单元都有独立的地址(A)和数据(D)输入输出端,以及读/写控制端(R/W)。
地址(A)对应每个存储单元的物理位置,是用来选中存储单元的。
地址线上的二进制状态就表示选中哪个存储单元。
数据线输入/输出的数据信号(D)就是存储在RAM单元中的数据。
读/写控制信号(R/W)控制读/写操作进行的时刻。
当R/W为高(写状态)时,数据D将被装入被选择的RAM单元;当R/W为低(读状态)时,被选RAM单元中的数据将被送到数据输出线上。
RAM存储器仅有一组共用地址线和数据线,但相邻地址所在RAM单元不仅具有物理上的相邻,相邻单元的地址与其中一个单元的地址只有最后一位不同,故相邻单元的装入和取出数据时间相等。
ROM存储器是一种只读存储器。
在ROM芯片中,存储的数据是在生产过程中被制成常数并固定在芯片中的。
一般情况下,ROM内单元的存储内容不能被修改。
ROM存储器主要的工作就是读取存储在ROM内的信息内容。
ROM存储器的读取输入信息只有地址信号,它的电信号SON每个ROM单元接受地址信号时(即选中时),ROM单元需要将存储在其中的信息送到ROM芯片上的输出线上。
内存储器部件实验报告-回复实验报告:内存储器部件(Memory Storage Components)引言:内存储器是计算机的重要组成部分,它用于存储和获取数据。
在这个实验报告中,我们将深入研究内存储器的不同部件,例如随机访问存储器(RAM)和只读存储器(ROM)。
我们将解释它们的工作原理、特点和应用,并通过实验进一步验证这些理论。
第一部分:随机访问存储器(RAM)1. RAM的定义和工作原理随机访问存储器(RAM)是一种易失性存储器,其中数据可以随机读取和写入。
它由一组存储单元组成,每个存储单元都有独立的地址。
RAM存储器的工作原理是基于电容的充电和放电。
通过控制电流,可以将数据存储在电容器中。
2. RAM的特点和应用- 特点:RAM存储器的数据传输速度非常快,存取时间短暂,可以读写数据。
然而,它是易失性存储器,当电源关闭时,数据会丢失。
- 应用:RAM广泛应用于计算机的主存储器中,用于临时存储运行的程序和数据。
它还用于缓存和高速缓存等应用中。
3. RAM的实验验证(实验过程和结果)第二部分:只读存储器(ROM)1. ROM的定义和工作原理只读存储器(ROM)是一种非易失性存储器,其中的数据在制造过程中被烧录,一旦存储,就不能被更改。
ROM包含了计算机启动所需的指令、固件程序和其他固定的数据。
ROM的工作原理是通过固定的电路和存储器位置来读取数据,并且不需要额外的电源。
2. ROM的特点和应用- 特点:ROM是一种非易失性存储器,它可以长期保存数据,即使在断电的情况下。
它具有高度的稳定性和可靠性。
- 应用:ROM广泛应用于计算机系统中,用于存储启动代码和基本输入/输出系统(BIOS)。
它还用于嵌入式系统和存储器芯片中。
3. ROM的实验验证(实验过程和结果)结论:通过本次实验,我们深入了解了随机访问存储器和只读存储器的工作原理、特点和应用。
我们从实验中发现,RAM和ROM在计算机系统中都有重要的作用。
1. 了解存储器的分类、组成和工作原理;2. 掌握静态随机存取存储器(RAM)和只读存储器(ROM)的基本操作;3. 熟悉存储器扩展技术,提高计算机系统的存储容量;4. 培养动手实践能力和分析问题、解决问题的能力。
二、实验原理1. 存储器分类:存储器分为随机存取存储器(RAM)和只读存储器(ROM)两种类型。
RAM用于存储程序和数据,具有读写速度快、易失性等特点;ROM用于存储程序和固定数据,具有非易失性、读速度快、写速度慢等特点。
2. RAM工作原理:RAM主要由存储单元、地址译码器、数据输入输出电路和控制电路组成。
存储单元由MOS晶体管构成,用于存储信息;地址译码器将地址信号转换为对应的存储单元地址;数据输入输出电路负责数据的读写;控制电路控制读写操作。
3. ROM工作原理:ROM主要由存储单元、地址译码器、数据输入输出电路和控制电路组成。
与RAM类似,ROM的存储单元由MOS晶体管构成,用于存储信息;地址译码器将地址信号转换为对应的存储单元地址;数据输入输出电路负责数据的读写;控制电路控制读写操作。
4. 存储器扩展技术:通过增加存储器芯片,提高计算机系统的存储容量。
常用的扩展技术有位扩展、字扩展和行列扩展。
三、实验仪器与设备1. 电脑一台;2. Proteus仿真软件;3. AT89C51单片机实验板;4. SRAM 6116芯片;5. 译码器74HC138;6. 排线、连接线等。
1. 将AT89C51单片机实验板与电脑连接,并启动Proteus仿真软件。
2. 在Proteus中搭建实验电路,包括AT89C51单片机、SRAM 6116芯片、译码器74HC138等。
3. 编写实验程序,实现以下功能:(1)初始化AT89C51单片机;(2)编写SRAM 6116芯片读写程序,实现数据的读写操作;(3)编写译码器74HC138控制程序,实现存储器地址译码。
4. 运行仿真程序,观察实验结果。
五、实验数据记录与分析1. 实验数据记录:(1)位扩展实验:使用SRAM 6116芯片扩展AT89C51单片机RAM存储器(2KB),选择8个连续的存储单元的地址,分别存入不同内容,进行单个存储器单元的读/写操作。
实验三存储器实验一、实验目的(1)初步了角存储器EM的工作原理。
(2)掌握存储器EM的操作步骤。
二、实验要求利用COP2000实验仪上的K16..K23开关做为DBUS的数据,其它开关做为控制信号,将地址数据写入存储器EM中,并读出。
三、实验说明EM原理图存储器EM由一片6116RAM构成,通过一片74HC245与数据总线相连。
存储器EM的地址可选择由PC或MAR提供。
存储器EM的数据输出直接接到指令总线IBUS,指令总线IBUS的数据还可以来自一片74HC245。
当ICOE为0时,这片74HC245输出中断指令B8。
四、实验过程(1)连接线表:连接信号孔接入孔作用有效电平1 J2座J3座将K23-K16接入DBUS[7:0]2 IREN K6 IR, uPC写允许低电平有效3 PCOE K5 PC输出地址低电平有效4 MAROE K4 MAR输出地址低电平有效5 MAREN K3 MAR写允许低电平有效6 EMEN K2 存储器与数据总线相连低电平有效7 EMRD K1 存储器读允许低电平有效8 EMWR K0 存储器写允许低电平有效9 PCCK CLOCK PC工作脉冲上升沿打入10 MARCK CLOCK MAR工作脉冲上升沿打入11 EMCK CLOCK 写脉冲上升沿打入12 IRCK CLOCK IR, uPC工作脉冲上升沿打入(2)实验数据:实验1:PC/MAR输出地址选择置控制信号为:K5 (PCOE)K4(MAROE)地址总线红色地址输出指示灯0 1 PC输出地址PC地址输出指示灯亮1 0 MAR输出地址MAR地址输出指示灯亮1 1 地址总线浮空0 0 错误, PC及MAR同时输出PC及MAR地址输出指示灯亮以下存贮器EM实验均由MAR提供地址实验2:存储器EM写实验(1)将地址0写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据00HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 0 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址0写入MAR将地址55H写入EM[0]二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据55HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 1 0 1 0 1 0 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 0 1 0 1 0 按CLOCK键, 将地址55H写入EM[0](2)将地址1写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置01HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 1置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址1写入MAR将地址11H写入EM[1]二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据11HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 1 0 0 0 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 0 1 0 1 0 按CLOCK键, 将地址11H写入EM[1](2)将地址3写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据03HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 1 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址3写入MAR将地址33H写入EM[3]二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据33HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 1 1 0 0 1 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 1 0 1 0按CLOCK键, 将地址33H写入EM[3]实验3:存储器EM读实验(1)将地址0写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据00HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 0 置控制信号为:(IREN) (PCOE) (MAROE) (MAREN) (EMEN) (EMRD) (EMWR)1 1 1 0 1 1 1按CLOCK键, 将地址0写入MAR读EM[0]置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 0 1 0 0 1 EM[0]被读出: 55H(2)将地址1写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据01HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址1写入MAR读EM[0]置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 0 1 0 0 1 EM[0]被读出: 11H(3)将地址3写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据03HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 1 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址3写入MAR读EM[0]置控制信号为:(IREN) (PCOE) (MAROE) (MAREN) (EMEN) (EMRD) (EMWR)1 1 0 1 0 0 1 EM[0]被读出: 33H实验4:存储器打入IR指令寄存器/uPC实验(1)将地址0写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据00HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 0置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址0写入MAR读EM[0],写入IR及uPC置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)0 1 0 1 0 0 1 EM[0]被读出: 55H按CLOCK键, 将EM[0]写入IR及uPC, IR = 55H, uPC=54H(2)将地址1写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据01HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 0 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址1写入MAR读EM[1],写入IR及uPC置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)0 1 0 1 0 0 1 EM[0]被读出: 11H按CLOCK键, 将EM[1]写入IR及uPC, IR = 11H, uPC=10H(3)将地址3写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入,置数据03HK23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K160 0 0 0 0 0 1 1 置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)1 1 1 0 1 1 1 按CLOCK键, 将地址3写入MAR读EM[3],写入IR及uPC置控制信号为:K6 (IREN)K5(PCOE)K4(MAROE)K3(MAREN)K2(EMEN)K1(EMRD)K0(EMWR)0 1 0 1 0 0 1EM[0]被读出: 11H按CLOCK键, 将EM[3]写入IR及uPC, IR = 33H, uPC=32H五、实验感想由本学期学的组成原理的理论知识,我明白了存储器的定义以及原理和作用。
计算机组织与体系结构实验课程实验报告
实验名称存储器实验
一、实验目的
1、掌握FPGA中lpm_ROM只读存储器配置方法。
2、用文本编辑器编辑mif文件配置ROM,加载于ROM中;
3、验证FPGA中mega_lpm_ROM的功能。
二、实验所用仪器(或实验环境)
定制的lpm_rom input output
Quartus II(32-bit)仿真软件环境
三、实验基本原理及步骤(或方案设计及理论计算)
原理: ALTERA的FPGA中有许多可调用的LPM (Library Parameterized Modules)参数化的模块库,可构成如lpm_rom、lpm_ram_io、lpm_fifo、lpm_ram_dq的存储器结构。
CPU中的重要部件,如RAM、ROM可直接调用他们构成,因此在FPGA中利用嵌入式阵列块EAB可以构成各种结构的存储器,lpm_ROM是其中的一种。
lpm_ROM有3组信号:地址信号address[ ]、数据信号q[ ]、时钟信号clk。
由于ROM是只读存储器,所以它的数据口是单向的输出端口,ROM中的数据是在对FPGA现场配置时,通过配置文件一起写入存储单元的。
在这里,我们通过定制lpm_rom,然后加input端和output端实现电路。
最后通过设置输入端信号,并进行仿真得到结果。
步骤:
1、用图形编辑,绘制电路图。
2、进行波形仿真。
四、实验数据记录(或仿真及软件设计)
五、实验结果分析及回答问题(或测试环境及测试结果)遇到的问题:
1、运行模拟器之前,没有运行生成功能仿真网表
后来生成
得到结果。
实验报告实验名称存储器部件教学实验实验日期2013年11月18日实验小组人员谢林红符斯慧实验设备TEC-XP16教学实验系统、仿真终端软件PCEC 实验目的1.深入理解计算机内存储器的功能、组成知识;2.深入地学懂静态存储器芯片的读写原理和用他们组成教学计算机存储器系统的方法(即字、位扩展技术),控制其运行的方式;3.思考并对比静态和动态存储器芯片在特性和使用场合等方面的同异之处。
实验内容与步骤1.检查扩展芯片插座的下方的插针要按下列要求短接:标有“/MWR”“RD”的插针左边两个短接,标有“/MRD”“GND”的插针右边两个短接。
2.1〉用E 命令改变内存单元的值并用D 命令观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:E 2020↙屏幕将显示: 2020 内存单元原值: 按如下形式键入:2020 原值:2222 (空格)原值:3333(空格)原值:4444(空格)原值:5555↙②在命令行提示符状态下输入:D 2020↙屏幕将显示从2020 内存单元开始的值,其中2020H~2023H 的值为:2222 3333 4444 5555 ③断电后重新启动教学实验机,用D 命令观察内存单元2020~2023 的值。
会发现原来置入到这几个内存单元的值已经改变,用户在使用RAM 时,必须每次断电重启后都要重新输入程序或修改内存单元的值。
2〉用A 命令输入一段程序,执行并观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:A 2000↙屏幕将显示: 2000:按如下形式键入:2000: MVRD R0,AAAA 2002: MVRD R1,5555 2004: AND R0,R1 2005: RET 2006:↙②在命令行提示符状态下输入:T 2000 ↙R0 的值变为AAAAH,其余寄存器的值不变。
T↙R1 的值变为5555H,其余寄存器的值不变。
T↙R0 的值变为0000H,其余寄存器的值不变。
③在命令行提示符状态下输入:G 2000 运行输入的程序。
北京林业大学11学年—12学年第 2 学期计算机组成原理实验任务书专业名称:计算机科学与技术实验学时: 2 课程名称:计算机组成原理任课教师:张海燕实验题目:实验四内存储器部件实验实验环境:TEC-XP+教学实验系统、PC机实验内容1.设计扩展8K字存储器容量的线路图,标明数据线、地址线和控制信号的连接关系。
2.扩展教学机的存储器空间,为扩展存储器选择一个地址,并注意读写等控制信号的正确状态。
3.用监控程序的D、E命令对存储器进行读写,比较RAM(6116)、EEPROM (58C65)在读写上的异同。
4.用监控程序的A命令编写一段程序,对RAM(6116)进行读写,用D命令查看结果是否正确。
5.用监控程序的A命令编写一段程序,对扩展存储器EEPROM(58C65)进行读写,用D命令查看结果是否正确;如不正确,分析原因,改写程序,重新运行。
实验目的1.熟悉ROM芯片和RAM芯片在功能和使用方法等方面的相同和差异之处。
2.理解并熟悉通过字、位扩展技术实现扩展存储器系统容量的方案。
3.了解如何通过读、写存储器的指令实现对58C65ROM芯片的读、写操作。
4.加深理解存储器部件在计算机整机系统中的作用。
实验要求1.实验之前认真预习,明确实验的目的和具体实验内容,做好实验之前的必要准备。
2.想好实验的操作步骤,明确通过实验到底可以学习哪些知识,想一想怎么样有意识地提高教学实验的真正效果;3.在教学实验过程中,要爱护教学实验设备,记录实验步骤中的数据和运算结果,仔细分析遇到的现象与问题,找出解决问题的办法,有意识地提高自己创新思维能力。
4.实验之后认真写出实验报告,重点在于预习时准备的内容,实验数据,运算结果的分析讨论,实验过程、遇到的现象和解决问题的办法,自己的收获体会,对改进教学实验安排的建议等。
善于总结和发现问题,写好实验报告是培养实际工作能力非常重要的一个环节,应给以足够的重视。
实验说明内存储器是计算机中存放正在运行中的程序和相关数据的部件。
在教学计算机存储器部件设计中,出于简化和容易实现的目的,选用静态存储器芯片实现内存储器的存储体,包括只读存储区(ROM、存放监控程序等)和随读写存储区(RAM)两部分,ROM存储区选用4片长度8位、容量8KB的58C65芯片实现,RAM存储区选用2片长度8位、容量2KB的6116芯片实现,每2个8位的芯片合成一组用于组成16位长度的内存字,6个芯片被分成3组,其地址空间分配关系是:0-1777H用于第一组ROM,固化监控程序,2000-2777H用于RAM,保存用户程序和用户数据,其高端的一些单元作为监控程序的数据区,第二组ROM的地址范围可以由用户选择,主要用于完成扩展内存容量(存储器的字、位扩展)的教学实验。
在这里还要说明如下两个问题。
第一,要扩展8K字的存储空间,需要使用2片(每一片有8KB容量,即芯片内由8K个单元、每个单元由8个二进制位组成)存储器芯片实现。
第二,当存储器选用58C65ROM芯片时,它属于电可擦除的EPROM器件,可以通过专用的编程器软件和设备向芯片的写入相应的内容,这是正常的操作方式。
也可以通过写内存的指令向芯片的指定单元写入16位的数据,只是每一次的这种写操作需要占用长得多写入时间,例如几百个微秒,可以通过运行完成等待功能的子程序来加以保证。
本次试验采用的是通过写内存的指令将数据写入芯片中。
对58C65ROM芯片执行读操作时,需要保证正确的片选信号(/CE)为低电平,使能控制信号(/OE)为低电平,读写命令信号(/WE)为高电平,读58C65ROM 芯片的读出时间与读RAM芯片的读出时间相同,无特殊要求;对58C65ROM芯片执行写操作时,需要保证正确的片选信号(/CE)为低电平,使能控制信号(/OE)为高电平,读写命令信号(/WE)为低电平,写58C65ROM芯片的维持时间要比写RAM芯片的操作时间长得多。
实验注意事项1.连接电源线和通讯线前TEC-XP+实验系统的电源开关一定要处于断开状态,否则可能会对TEC-XP+实验系统上的芯片和PC机的串口造成损害。
2.六个黑色控制开关的功能示意图如下:(开关拨到上方表示为1,拨到下方为0,x表示任意)单步手动置指令组合逻辑联机8位FPGA上面下面连续从内存读指令微程序脱机16位MACH3.几种常用的工作方式(开关拨到上方表示为1,拨到下方为0,x表示任意)4.在拔插实验箱上的任何器件和连线时,都要关闭实验箱电源,否则可能会烧坏实验箱的器件。
实验步骤一.RAM的写入实验1.在断电状态下,取出TEC-XP+实验系统,将桌子上的串口线连接到TEC-XP+实验系统的串口(离电源接口远的);连接电源,将电源线的连到TEC-XP+实验系统的电源接口。
2.将教学机左下方的6个拨动开关置为001100(连续、内存读指令、组合逻辑、联机、16 位、MACH)。
3.检查FPGA下方的标有“/CE”的四组插针均是左边两个短接;4.检查RAM(6116)上方的标有“/WE”的插针应是左边两个短接;5.RAM(6116)支持即时读写,可直接用A、E命令向扩展的存储器输入程序或改变内存单元的值。
RAM中的内容在断电后会消失,重新启动实验机后会发现内存单元的值发生了改变。
(1)打开教学实验机电源。
(2)在PC机上打开,进入实验箱的监控程序。
(3)用E命令改变内存单元的值并用D命令观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:E 2020↙屏幕将显示:2020 内存单元原值:按如下形式键入:2020 原值:2222 (空格)原值:3333(空格)原值:4444(空格)原值:5555↙②在命令行提示符状态下输入:D 2020↙屏幕将显示从2020内存单元开始的值,其中2020——2023的值为:2222 3333 4444 5555③断电后重新启动教学实验机,用D命令观察内存单元2020——2023的值。
有什么现象?原来置入到这几个内存单元的值现在是什么?为什么会发生这种现象?(2)用A命令输入一段程序,执行并观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:A 2000↙屏幕将显示: 2000:按如下形式键入:2000: MVRD R0,AAAA2002: MVRD R1,55552004: AND R0,R12005: RET2006:↙②在命令行提示符状态下输入:T 2000 ↙R0 的值变为AAAAH,其余寄存器的值不变。
T↙R1 的值变为5555H,其余寄存器的值不变。
T↙R0 的值变为0000H,其余寄存器的值不变。
③在命令行提示符状态下输入:G 2000运行输入的程序。
④在命令行提示符状态下输入:R ↙记录R0和R1的内容:⑤断电后重新启动教学实验机,用U 2000命令观察原来输入的程序,有什么现象?原来置入的程序现在还有吗?为什么会发生这种现象?二.存储容量扩展实验1.要扩展8K字(字长16位)的存储空间,需要使用2片(每一片有8KB 容量,即芯片内由8K个单元、每个单元由8个二进制位组成)存储器芯片实现。
设计扩展8K字存储器容量的线路图,参照下图标明数据线、地址线和控制信号的连接关系,图中/MREQ是访存允许信号,地址线没有给出,需要你自己加上。
下图中的地址线是~A0,请注明高地址线是多少。
2.将两个用于扩展的ROM(58C65芯片)芯片分别插入标有“EXTROMH”和“EXTROML”的插座,要注意芯片插入的方向,带有半圆形缺口的一方朝左插入。
如果芯片插入方向不对,会导致芯片烧毁。
3.将扩展芯片下方的插针按下列方式短接:①将标有“/MWR”、“PGM”和“RD”的三个插针左面两个短接,这组插针提供芯片的读写信号,就是决定芯片是处于只读状态还是可读写状态,如果“/MWR”和“PGM”连接,表示芯片可写;如果“PGM”和“RD”相连,表示芯片只读不可写;②将标有“/MRD”、“/OE”和“GND”的三个插针左边两个短接;这组插针提供芯片的OE信号,往芯片里边写入内容的时候“/M RD”和“/OE”短接,要运行写入的程序,则要“/OE”和“GND”短接;4.将扩展芯片上方标有EXTROMH和EXTROML的“/CS”信号用自锁紧线短接,然后短接到MEMDC138芯片的上方的标有“4000-5fff”地址单元;注意:标有/CS的圆孔针与标有MEM、/CS的一排圆孔针中的任意一个都可以用导线相连;连接的地址范围是多少,可用的地址空间就是多少。
5.58C65芯片的读操作和一般的RAM一样,而其写操作,需要一定的时间,大约为1毫秒。
因此,需要编写一延迟子程序,在对EEPROM进行写操作时,调用该子程序,以完成正确的读写。
(1)用E命令改变内存单元的值并用D命令观察结果。
①在命令行提示符状态下输入:E 5000↙屏幕将显示: 5000 内存单元原值:按如下形式键入:5000 原值:2424(按空格)原值:3636(按空格)原值:4848(按空格)原值:5050↙②在命令行提示符状态下输入:D 5000↙屏幕将显示5000——507F内存单元的值,从5000开始的连续四个内存单元的值依次为2424 3636 4848 5050。
③断电后重新启动,用D命令察看内存单元5000——5003的值,这几个单元的值是否发生改变,为什么?(2)利用程序,在5000——500F单元中依次写入数据0000、0001、...000F。
注意:将程序放到RAM(6116)中,调用延时子程序,访问58C65芯片中的内存地址。
从2000单元开始输入主程序:(2000)MVRD R0,0000MVRD R2,0010 ;R2 记录循环次数MVRD R3,5000 ;R3 的内容为16 位内存地址(2006)STRR [R3],R0 ;将R0 寄存器的内容放到R3 给出的内存单元中CALA 2200 ;调用程序地址为2200 的延时子程序INC R0 ;R0 加1INC R3 ;R3 加1DEC R2 ;R2 减1JRNZ 2006 ;R2 不为0 跳转到2006HRET①从2200单元开始输入延时子程序:(2200)PUSH R3MVRD R3,00FF(2203)DEC R3JRNZ 2203POP R3RET运行主程序,在命令提示符下输入:G 2000↙。
程序执行结束后,在命令提示符下输入:D 5000↙;记录5000——500F内存单元的值。
这16个单元的内容是0000、0001、...000F 吗?②修改延时子程序,将其延时改长,可将延时子程序中R3的内容赋成FFFF。
运行主程序,在命令提示符下输入:G 2000↙。
程序执行结束后,在命令提示符下输入:D 5000↙;记录5000——500F内存单元的值。