11-03光程 薄膜干涉
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大学物理薄膜干涉薄膜干涉是光学干涉的一种常见形式,它涉及到两个或多个薄膜层的反射和透射光的相互叠加。
薄膜干涉现象的复杂性使得其在实际应用中具有广泛的应用,例如在光学仪器、光学通信和生物医学领域。
本文将介绍大学物理中薄膜干涉的基本原理及其应用。
一、薄膜干涉的基本原理1、光的干涉现象光的干涉是指两个或多个波源发出的光波在空间中叠加时,产生明暗相间的条纹的现象。
干涉现象的产生需要满足以下条件:(1)光波的波长和传播方向必须相同;(2)光波的相位差必须恒定;(3)光波的振幅必须相等。
2、薄膜干涉的形成薄膜干涉是指光在两个或多个薄膜层之间反射和透射时产生的干涉现象。
当光线照射到薄膜上时,一部分光线会被反射回来,一部分光线会穿透薄膜继续传播。
由于薄膜的厚度通常很薄,所以光的反射和透射都会受到薄膜的影响。
当多个反射和透射的光线相互叠加时,就会形成薄膜干涉现象。
3、薄膜干涉的公式薄膜干涉的公式可以表示为:Δφ = 2πnΔndλ,其中Δφ为光程差,n为薄膜的折射率,Δn为薄膜的厚度变化量,λ为光波的波长。
当光程差满足公式时,就会形成明暗相间的条纹。
二、薄膜干涉的应用1、光学仪器中的应用在光学仪器中,薄膜干涉被广泛应用于表面形貌测量、光学厚度控制和光学表面质量检测等方面。
例如,在表面形貌测量中,可以利用薄膜干涉原理测量表面的粗糙度和高度变化;在光学厚度控制方面,可以利用薄膜干涉原理控制材料的折射率和厚度;在光学表面质量检测方面,可以利用薄膜干涉原理检测表面的缺陷和划痕等。
2、光学通信中的应用在光学通信中,薄膜干涉被广泛应用于光信号的调制和解调等方面。
例如,在光信号的调制方面,可以利用薄膜干涉原理将电信号转换为光信号;在光信号的解调方面,可以利用薄膜干涉原理将光信号转换为电信号。
薄膜干涉还被广泛应用于光学通信中的信号传输和处理等方面。
3、生物医学中的应用在生物医学中,薄膜干涉被广泛应用于生物组织的光学成像和生物分子的检测等方面。
§10.5 薄膜干涉薄膜干涉:如阳光照射下的肥皂膜,水面上的油膜,蜻蜓、蝉等昆虫的翅膀上呈现的彩色花纹,车床车削下来的钢铁碎屑上呈现的蓝色光谱等。
薄膜干涉的特点:厚度不均匀的薄膜表面上的等厚干涉和厚度均匀薄膜在无穷远出形成的等倾干涉。
一、薄膜干涉当一束光射到两种介质的界面时,将被分成两束,一束为反射光,另一束为折射光,从能量守恒的角度来看,反射光和折射光的振幅都要小于入射光的振幅,这相当于振幅被“分割”了。
两光线 a , b 在焦平面上P 点相交时的光程差Δ取决于n 1, n 2, n 3的性质。
1. 劈形膜 光程差:上表面反射的反射光1光密到光疏,有半波损失;下表面反射的反射光2光疏到光密,没有半波损失(若是介质膜放在空气中,则上表面没有半波损失,下表面有半波损失)。
光程差或者讨论:1 在劈形膜棱边处e=0, 因而形成暗纹。
2 相邻两条明纹(或暗纹)在劈形膜表面的距离。
1n n <干涉条件为,1,2,k k λ=明纹 暗纹 22Δne λ=+=2λ∆=(21),0,1,2k k λ+=,1,2,k k λ=暗纹 明纹ne=(21),0,1,4k k λ+=2,1,2,4kk λ=暗纹明纹3、干涉条纹的移动动应用:1)用劈形膜干涉测量薄片厚度见上图 在牛顿环中,θ逐渐增大,故条纹中心疏,边缘密。
另由暗环半径公式 r 1 : r 2 : r 3 = 1: (2)1/2 : (3)1/2 k ? ? r k ? , 条纹间距? 3)中间条纹级次低 思考:(1) 如果平凸透镜上移,条纹怎样移动平晶 r ∆=22e λ=+=2e λ∆=eLθ∆=透镜上移,膜层厚度增大,条纹级次增大,条纹向外移动。
(2) 白光条纹如何?(3) 在白光照射下,同一级条纹中哪种色的半径大?(4) 如果平板玻璃上有微小的凸起,将导致牛顿环发生畸变,问该处的牛顿环将局部外凸还是内凹?同一级等厚条纹应对应相同的膜层厚度。
1. 了解薄膜干涉现象的产生原理;2. 观察和分析薄膜干涉条纹的特点;3. 学习利用薄膜干涉现象进行相关物理量的测量。
二、实验原理薄膜干涉是光在薄膜两表面反射后,反射光相互干涉形成的现象。
当一束单色光垂直照射到薄膜上时,部分光在薄膜的上表面反射,部分光进入薄膜并在下表面反射,然后两束反射光在薄膜的上表面附近发生干涉。
根据光程差的不同,干涉条纹呈现出明暗相间的特征。
三、实验仪器与材料1. 实验仪器:牛顿环仪、钠光灯、光学显微镜、白纸、直尺、铅笔等;2. 实验材料:平凸透镜、光学玻璃平板、肥皂膜等。
四、实验步骤1. 将牛顿环仪安装在实验台上,调整仪器使其稳定;2. 用钠光灯作为光源,调节光源与牛顿环仪的距离,使光线垂直照射到平凸透镜的凸面上;3. 观察平凸透镜与光学玻璃平板之间的肥皂膜,用显微镜观察肥皂膜的干涉条纹;4. 用直尺测量干涉条纹的间距,记录数据;5. 改变光源与牛顿环仪的距离,观察干涉条纹的变化,记录数据;6. 比较不同厚度肥皂膜的干涉条纹,分析薄膜干涉现象的特点。
五、实验结果与分析1. 观察到肥皂膜上出现明暗相间的干涉条纹,且条纹间距随着肥皂膜厚度的增加而增大;2. 当光源与牛顿环仪的距离增大时,干涉条纹的间距也随之增大;3. 通过测量干涉条纹的间距,可以计算出肥皂膜的厚度。
1. 薄膜干涉现象的产生是由于光在薄膜两表面反射后,反射光相互干涉形成的;2. 薄膜干涉条纹的特点是明暗相间,且条纹间距与肥皂膜的厚度有关;3. 通过测量干涉条纹的间距,可以计算出肥皂膜的厚度。
七、实验注意事项1. 实验过程中,注意保持牛顿环仪的稳定性,避免仪器晃动影响实验结果;2. 调整光源与牛顿环仪的距离时,要缓慢进行,以免干涉条纹发生较大变化;3. 观察肥皂膜时,要调整显微镜的焦距,使干涉条纹清晰可见;4. 记录实验数据时,要准确无误,避免因误差导致实验结果不准确。
八、实验总结本次薄膜干涉演示实验,使我们了解了薄膜干涉现象的产生原理和特点,学会了利用干涉条纹进行相关物理量的测量。
§11-2 分振幅干涉 —— 薄膜干涉一、等厚干涉平行光不是垂直入射 结论:光程差不但与膜厚度 有关,还与入射角有关。
平行光垂直入射 结论:光程差与膜厚有关反射光1 单色平行光 反射光2λan1 n2n3θA e单色平行光反射光1 反射光2 aλn1 n2n3θAe1计算1光与2光的光程差:单色平行光反射光1 反射光2 a关键----考虑是否有半波损失 讨论:(1)λn1 > n2 > n3 δ = 2n2 e (2) n1 < n2 < n3 δ = 2n2 e (3) n1 > n2 , n2 < n3 λ δ = 2n2 e + 2 (4) n1 < n2 , n2 > n3n1 n2n3θAe注意:涉及反射 时务必注意是否 存在半波损失!δ = 2n2 e +λ22当薄膜很薄且折射率均匀时,光程差仅与膜厚有关。
因此,膜上厚度相同的各点反射的每一对相干光有 相同的光程差,因此这些点对应同一级条纹,光强 相等。
从垂直于膜面的方向观察,且视场角范围很 小时,薄膜上的干涉条纹与膜表面的等厚线形状相 同,故这种干涉条纹称为等厚干涉条纹,这类干涉 称为等厚干涉。
等厚干涉典型实验:劈尖和牛顿环3二、劈尖空气劈尖分析劈尖的等厚条纹特点 ——光程差是出发点δ = 2ne或δ = 2 ne +λ2厚度相同的点构成同一级条纹1、条纹位置λ ⎧ kλ ⎪ δ = 2ne + = ⎨ λ (2k + 1) 2 ⎪ 2 ⎩ ⎧ kλ ⎪ λ 或 δ = 2ne = ⎨ (2k +1) ⎪ 2 ⎩( k = 1, 2 ,3 , L ) ( k = 0 ,1, 2 , L ) ( k = 0 ,1, 2 , L ) ( k = 0 ,1, 2 , L )θ明纹 暗纹 明纹 暗纹42、相邻明(暗)条纹对应的膜厚差Δe = ek+1 −ek =λ2 nλ2nθλ2n即明(暗)条纹的级次每增加一级,对应的膜厚就增加3、相邻明(暗)条纹间距Δe Δe λ Δl = ≈ = sinθ θ 2nθ若劈尖角固定,则条纹间距固定. 劈尖干涉条纹是等间距的分布.ΔlθΔeek lek+1n劈尖角越小,条纹间距越大,条纹越疏;反之,条纹越密.54、条纹特点对于劈尖角固定的劈尖而言,劈尖干涉条纹是一系列平行 于棱边的明暗相间的等间距的直条纹.5、应用(1)测量微小长度和微小角度λ标 准 块 规 待 测 块 规平晶Δh(2)测量长度的微小变化等厚条纹 平晶(3)检测平面质量待测工件6例1 在半导体元件生产中,为测定硅(Si)表面氧化硅(SiO )薄膜的2厚度,可将该膜一端用化学方法腐蚀成劈尖状。