CPK制程能力分析培训
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CPK制程能力分析培训CPK制程能力分析是指通过对样本数据的统计分析,评估一个制程是否具有足够的能力来满足产品质量要求。
制程能力分析是质量管理中非常重要的一环,它可以帮助企业了解自身制程的稳定性和可控性,从而采取相应的改进措施,以提高产品的质量。
首先,CPK制程能力分析培训会介绍CPK制程能力指数的概念和计算方法。
CPK制程能力指数是用于评估制程分布与产品规格极限之间的差异程度的指标,它可以帮助我们了解制程的稳定性和可控性。
在培训中,我们会详细介绍CPK制程能力指数的定义和计算公式,并通过实例演示具体的计算过程。
其次,CPK制程能力分析培训还会介绍制程能力指数的含义和判定标准。
制程能力指数有三个重要参数:Cpk、Cp和Cpm。
Cpk代表了制程的整体能力,它是制程偏离规格极限的程度和制程稳定性的综合指标。
Cp和Cpm分别代表了制程的短期能力和长期能力。
通过培训,我们可以学习如何根据Cpk、Cp和Cpm的数值来评估制程的能力,并根据判定标准来确定制程是否满足产品质量要求。
此外,CPK制程能力分析培训还会介绍如何获取制程数据和建立样本数据集。
制程能力分析需要收集一定的样本数据进行统计分析,以便得到准确的制程能力指数。
在培训中,我们会介绍如何选择合适的采样方法和样本大小,并讲解如何建立样本数据集和进行数据预处理,以确保分析的准确性和可靠性。
最后,CPK制程能力分析培训还会讲解如何分析制程能力指数的结果和提出改进措施。
通过制程能力分析,我们可以得到制程能力指数的数值,判断制程是否具有足够的能力来满足产品质量要求。
如果制程能力不足,我们需要采取相应的改进措施,以提高制程的质量和稳定性。
在培训中,我们会分享一些常见的改进方法和实施步骤,帮助企业员工有效地改进制程并提高产品的质量。
通过CPK制程能力分析培训,企业员工可以系统地了解制程能力分析的概念、方法和工具,掌握制程能力指数的计算和判定标准,能够准确评估制程的能力,并采取相应的改进措施,以提高产品质量和满足客户需求。
C PK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力.二.Cpk 的影響因素製程要因--—原料,机器設備,人員能力,測量儀器.製程條件-——常態分配,統計管制狀態。
三。
Cpk 的計算USL :上限尺寸L SL:下限尺寸Ave ra ge:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL —Average)/3σCp l=(Average-L SL )/3σCpk=Min(Cpu,C pl) σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.C pu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu 越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限。
Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, C pl 越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限。
四.Cp k的等級A : 1.33≦C pkA 級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生。
B: 1。
00≦Cpk〈1.33B級,製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0。
27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏。
C: Cpk<1.00C級,製程能力不能滿足圖紙要求,生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產。
五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1—-2小時15——30分鐘中 4-—8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1。
33,見附圖1. 2。
數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖2.3。
數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖3。
4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖4.5。
數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1。
CPK 培訓教材一.Cpk 的定義某一制程在一定因素與正常管制狀態下的品質作業能力. 二.Cpk 的影響因素製程要因---原料,机器設備,人員能力,測量儀器. 製程條件---常態分配,統計管制狀態. 三.Cpk 的計算 USL:上限尺寸 LSL:下限尺寸Average:測量數据的平均值σ:標準差,其公式為: σ=1/)(22--∑∑n n x xCpu=(USL-Average)/3σ Cpl=(Average-LSL)/3σ Cpk=Min(Cpu,Cpl)σ:其大小表示測量數据的離散程度, σ越小表示數据的離散程度越小,反之則數据的離散程度越大.Cpu:其值表示測量數据偏離上限的程度, Cpu越大表示測量數据偏離上限較遠; 反之則數据靠近上限.Cpl: 其值表示測量數据偏離下限的程度, Cpl越大表示測量數据偏離下限較遠; 反之則數据靠近下限.四.Cpk的等級A: 1.33≦CpkA級,製程能力滿足圖紙要求,生產中几乎沒有不良品產生.B: 1.00≦Cpk<1.33B級, 製程能力基本滿足圖紙要求,生產中約有0.27%不良品產生,必須加以注意,並設法維持不使其變坏.C: Cpk<1.00C級, 製程能力不能滿足圖紙要求, 生產中可能有較多不良品產生, 應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.五.Cpk 管制抽樣的基本原則管制方法取樣頻率管制圖查檢表高 1--2小時 15--30分鐘中 4--8小時每小時低每班次 2小時六.CPK數据分析.1.數据均分布于中值兩旁, Cpk值一般大于1.33,見附圖1.2.數据离散地分布中值兩旁,Cpk值一般小于1.33,見附圖2.3.數据分布离散度小,但偏中值不遠,Cpk值大于1.33,見附圖3.4.數据分布离散度小,但偏中值較遠,Cpk值小于1.33. 見附圖4.5.數据絕大多數雖均分布于中值兩旁,但個別超差,將大大降低Cpk值,甚至Cpk值小于1.33,見附圖5.七,Cpk的提高.1.減小σ,即增強設備的穩定性,增加夾具夾緊定位的可靠性,提高刀具切削的穩定性2.精心調整,使數据均布于中值兩旁.3.加強監控,當數据偏离中值較遠時,要及時調机,不必等到超差時再調机.八.CP制程精确度.CP=T/6σ.T:尺寸公差值CP:其值表示制程的精确程度, CP越大制程精确程度越高,反之則制程精确程度越低.CP的分級:A : 1.33≦CPB : 1.00≦CP<1.33C : 0.83≦CP<1.00D : CP<0.83CP 等級的處置A級:此一工程甚為穩定,可以將規格容許差縮小或胜任更精密的工作. B級:有發生不良品之危險,必須加以注意,並設法維持不要使其變坏及迅速追查.C級:檢討規格及作業標準,可能本工程不能胜任這么精密的工作. D級:應採取緊急措施,全面檢討所有可能影響的因素,必要時得停止生產.九 . 制程精密(CP值)与不良率的關系當數据對稱分布于中值兩邊時,良品率的分布如下:制程精密度(CP 值)与不良率的關系如下:-4δ -3δ -2δ-1δ0+1δ +2+3+4+5 +6 -5δ -6δ 068.26% 95.46% 99.73% 99.9937% 99.999943 99.9999998%十. C P与制程能力的判斷3 1.33>CP ≧1.00警告使制程保持于管理制狀態,否則產品隨時有發生不良品的危險,需注意4 1.00>CP ≧1.67不足產品有不良品產生,需作全數選別,制程有妥善管理理及改善之必要.5 0.67>CP 非常不足應采取緊急措施改善品質并追究原因,必要時規格再作檢討.SUδSLSUδSLCp与Cpk的计算公式1、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp(Capability Indies of Process):稳定过程的能力指数,定义为容差宽度除以过程能力,不考虑过程有无偏移,一般表达式为:Cpk,Ca,Cp三者的关系:Cpk = Cp *( 1 -┃Ca┃),Cpk是Ca及Cp两者的中和反应,Ca 反应的是位置关系(集中趋势),Cp反应的是散布关系(离散趋势)4。