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阻抗分析仪转接夹具补偿算法研究赵敏,丁翔(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)摘要:利用阻抗分析仪测量元件阻抗时,有时需要使用转接夹具,通常做法是先进行开路/短路校准后再测量元件阻抗,但这种方法在频率高于1MHz 时误差较大。
因此,提出了用ABCD 矩阵建立转接夹具补偿算法模型,并推算出采用开路/短路/标准负载校准的误差计算公式。
对1Ω~10k Ω的多个四端对高频电阻标准器的测试表明,修正后结果与参考值的差异在0.00%~1.4%,优于开路/短路校准后直接测量的0.01%~4.2%。
关键词:转接夹具;元件阻抗;ABCD 矩阵;补偿算法中图分类号:TG 75文献标志码:A文章编号:1672-5468(2021)01-0069-05doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2021.01.014Research on Compensation Algorithm of the TransferFixture for Impedance AnalyzerZHAO Min ,DING Xiang(CEPREI ,Guangzhou 510610,China )Abstract :When measuring the impedance of a component with an impedance analyzer ,it issometimes recessary to use a transfer fixture.The usual practice is to calibrate the component first and then measure the impedance of the component ,but this method has a larger error when thefrequency is higher than 1MHz.Therefore ,a ABCD matrix is used to establish the compensation algorithm model of transfer fixture ,and the error calculation formula ofopen circuit/short circuit/standard load calibration is calculated .The test of multiple four endsof 1Ω~10k Ωfor high frequency resistance standard device shows that the difference between the modified result and the reference value is between 0.00%~1.4%,which is better than the 0.01%~4.2%measured directly after open/short calibration.Keywords :transfer fixture ;element impedance ;ABCD matrix ;compensation algorithm收稿日期:2020-10-03作者简介:赵敏(1973-),女,上海人,工业和信息化部电子第五研究所计量检测中心高级工程师,主要从事电子计量测试方面的研究工作。
LCR测量仪LCR测试仪能准确并稳定地测定各种各样的元件参数，主要是用来测试电感、电容、电阻的测试仪。
它具有功能直接、操作简便等特点，能以较低的预算来满足生产线质量保证、进货检验、电子维修业对器件的测试要求。
目录测试原理测量步骤测试原理Vx与Vr均是矢量电压表，Rr是理想电阻。
自平衡电桥的意思是：当DUT(Device Under Test)接入电路时，放大器的负反馈配置自动使得OP输入端虚地。
Vx准确测定DUT两端电压（DUT的Low电位是0），Vr与Rr测得DUT电流Ix，由此可计算Zx。
HP4275的测试端Hp,Hc,Lp,Lc（下标c代表current, 下标p代表Potentail)，Guard（接地)的配置可导致测试的误差的差异。
提高精度的方法是:1、Hp,Lp,Hc,Lc尽量接近DUT;2、减小测试电流Ix的回路面积amp;磁通量（关键是分析Ix，要配合使用Guard与Cable最小化回路面积);3、使用Gurard与Cable构建地平面中断信号线间的电场连接，虽然会增加信号线的对地电容（对地电容不影响测试结果），但是会减少信号线的互容。
Guard与Cable的对地寄生阻抗（Zhg,Zlg) 不影响测试结果，电桥平衡时Zlg的两端电压是0，流向Rr的电流不会被Zlg分流，Zhg的分流作用不影响Hp的电压测量。
测量步骤LCR测试仪一般用于测试电感和电容。
测量步骤如下：设置测试频率测试电压或者电流水平选择测试参数，比如Z、Q、LS（串联电感）、LP（并联电感）、CS(串联电容）、CP（并联电容）、D等仪器校准，校准主要进行开路、短路校准，高档的仪器要进行负载校准选择测试夹具夹具补偿将DUT放在夹具上开始测试。
lcr数字电桥测量参数
LCR数字电桥是一种用于测量电感（L）、电容（C）和电阻（R）的电子测量仪器。
以下是LCR数字电桥的测量参数：
频率范围：LCR数字电桥的测量频率范围可以根据具体型号而定，一般从几Hz到MHz不等。
测量精度：LCR数字电桥的测量精度一般优于±0.1%，可以满足大多数高精度测量需求。
分辨率：LCR数字电桥的分辨率可以根据具体型号而定，一般可以达到0.001pF、0.01pF、0.1pF等。
测试速度：LCR数字电桥的测试速度一般较快，可以在几秒内完成多个元件的测量。
测试方式：LCR数字电桥支持自动测试和手动测试两种方式，用户可以根据需要进行选择。
数据接口：LCR数字电桥可以通过USB、RS232等接口与计算机连接，方便数据的传输和处理。
显示方式：LCR数字电桥支持数字显示和图形显示两种方式，用户可以根据需要进行选择。
总之，LCR数字电桥是一种高精度、高速度、多功能、易操作的电子测量仪器，广泛应用于电子元件生产、检测、研发等领域。
同惠LCR测试仪器选择指南导语:LCR测试仪器是电子工程师在电感、电容和电阻测试过程中常用的工具。
同惠是一家专注于LCR测试的公司，提供了多种不同型号的LCR测试仪器，以满足不同用户的需求。
在选择适合自己的LCR测试仪器时，应该考虑以下几个因素：一、测试需求：首先，需要明确自己的测试需求。
根据不同的应用场景和测试对象，选择不同类型的LCR测试仪器。
例如，对于电感元件的测试，可以选择LCR桥或LCR表，而对于SMD元件的测试，可以选择LCR测试夹具。
二、测试频率：LCR测试仪器一般可以在不同的频率范围内进行测试，频率的选择与测试对象的特性直接相关。
一般情况下，测试频率越高，测量的精度越高，但也会受到更多的噪声干扰。
因此，在选择LCR测试仪器时应根据测试对象的特性和精度要求来选择适合的测试频率。
三、测试精度：LCR测试仪器的测试精度是选择的关键因素之一、测试精度的高低直接影响到测试结果的准确性。
一般情况下，测试精度越高，价格也会越高。
因此，在选择LCR测试仪器时应根据自己的实际需求来平衡测试精度和成本之间的关系。
四、便携性：便携性是选择LCR测试仪器时需要考虑的因素之一、如果需要经常在不同的地方进行测试，那么应该选择体积小巧、重量轻的LCR测试仪器。
相反，如果测试场所固定，那么大小和重量就可以不是首要考虑的因素。
五、价格：LCR测试仪器的价格因型号和配置不同而有所差异。
因此，在选择LCR测试仪器时，应当根据自己的实际需求和所能承受的价格范围来选择。
六、品牌和售后服务：选择有知名品牌和良好售后服务的LCR测试仪器是非常重要的。
知名品牌通常具有更好的品质和可靠性，而良好的售后服务可以提供技术支持和问题解决方案，以确保测试仪器的长期使用。
七、用户评价：在选择LCR测试仪器时，可以参考其他用户的评价和反馈。
用户评价可以直接反映该型号测试仪器的性能和可靠性，帮助选择者做出更准确的决策。
结语:通过以上几个方面的考虑，选择适合自己的LCR测试仪器是非常重要的。
