下载文档原格式
应用指南检验DDR, DDR2和DDR3 SDRAM 命令和协议跟上更加复杂、更短设计周期的步伐不只计算机存储器系统一直需要更大、更快、功率更低、物理尺寸更小的存储器，嵌入式系统应用也有类似的要求。
本应用指南介绍了逻辑分析仪在检验DDR, DDR2和DDR3 SDRAM命令和协议中的能力。
检验DDR, DDR2和DDR3 SDRAM 命令和协议应用指南表1. SDRAM 标准引言DRAM的异步操作特性在连接同步处理器时导致了许多设计挑战。
SDRAM (同步DRAM)采用专门设计，以实现DRAM 与计算机系统其余部分同步操作，而不需定义基于序列模式的存储器操作。
SDRAM 的技术演进，如DDR SDRAM，已经迅速提高了存储器的数据速率性能。
DDR, DDR2和DDR3 SDRAM 都通过从存储控制器主机向存储器发送的存储器命令进行控制。
DDR, DDR2和DDR3 SDRAM一直都有这样的需求，就是存储器要容量更大、速度更快、功耗更低以及物理尺寸更小。
这些需求推动着DRAM 技术的进步。
近几年中，主流DRAM 技术有很多主要提升，如SDRAM（同步DRAM），DDR（双数据率）SDRAM，DDR2(双数据率2)SDRAM，DDR3(双数据率3)SDRAM。
DDR(双数据率)SDRAM 通过提升时钟速率、猝发式数据以及在一个时钟内传输两个数据位，提升了内存的数据率性能。
DDR2(双数据率2)SDRAM在DDR的基础有一些进步。
DDR2 SDRAM 时钟速率更高，这样就增加了内存的数据速率。
但在时钟速率增长的情况下，可靠的内存处理对信号完整性的要求更为苛刻。
随着时钟速率增长，电路板上的信号路径变成了传输线，这样正确的布线和信号走线末端端接变得至关重要。
DDR3 SDRAM 是革命性的技术提升，它将SDRAM 速度推到了800Mb/s以上。
DDR3 SDRAM支持六种数据速率和时钟速度。
DDR3-800/1066/1333 SDRAM 在2007年实现，而DDR3-1600在2008年。
DDR 与DDR-IIDDR SDRAMDDR SDRAM全称为Double Data Rate SDRAM，中文名为“双倍数据流SDRAM”。
DDR SDRAM在原有的SDRAM的基础上改进而来。
图1一、DDR 的基本原理以MICRON的MT46V64M16（16 Meg x 16 x 4 Banks）为例，其时序图如下所示：图2 DDR读操作时序图从中可以发现它多了两个信号：CK#与DQS，CK#与正常CK时钟相位相反，形成差分时钟信号。
而数据的传输在CK与CK#的交叉点进行，可见在CK的上升沿与下降沿都有数据被触发，从而实现DDR。
在此，我们可以说通过差分信号达到了DDR的目的，甚至讲CK#帮助了第二个数据的触发，但这只是对表面现象的简单描述，从严格的定义上讲并不能这么说。
之所以能实现DDR，还要从其内部的改进说起。
图3 DDR内部结构图从图中可以看出，其前半部分与SDRAM的结构基本相同，红色框图部分即为比SDRAM多出的部分。
首先不同之处就是内部的Bank control logic规格。
SDRAM中Bank control logic存储单元的容量与芯片位宽相同，但在DDR中Bank control logic存储单元的容量是芯片位宽的一倍。
也因此，真正的行、列地址数量也与同规格SDRAM不一样了。
以本芯片为例，在读取时，Bank control logic在内部时钟信号的触发下一次传送32bit的数据给读取锁存器，再分成2路16bit 数据传给复用器，由后者将它们合并为一路16bit数据流，然后由发送器在DQS的控制下在外部时钟上升沿与下降沿分两次传输16bit的数据给北桥。
这样，如果时钟频率为100MHz，那么在I/O端口处，由于是上下沿触发，那么就是传输频率就是200MHz。
这种内部存储单元容量（也可以称为芯片内部总线位宽）=2×芯片位宽（也可称为芯片I/O 总线位宽）的设计，就是所谓的两位预取（2-bit Prefetch），有的公司则贴切的称之为2-n Prefetch（n代表芯片位宽）。
DDR2内存详解——从原理到测试作为PC不可缺少的重要核心部件——内存，它伴随着DIY硬件走过了多年历程。
从286时代的30pin SIMM内存、486时代的72pin SIMM 内存，到Pentium时代的EDO DRAM内存、PII时代的SDRAM内存，到P4时代的DDR内存和目前9X5、AM2平台的DDR2内存。
内存从规格、技术、总线带宽等不断更新换代。
不过我们有理由相信，内存的更新换代可谓万变不离其宗，目的在于提高内存的带宽，以满足CPU不断攀升的带宽要求、避免成为高速CPU的运算瓶颈。
随着CPU 性能不断提高，我们对内存性能的要求也逐步升级。
不可否认，紧紧依靠高频率提升带宽的DDR已经力不从心，因此JEDEC 组织提出了DDR2 标准，加上LGA775接口的主板以及最新的965、AM2 940等新平台全面对DDR2内存的支持，所以DDR2内存已经步入了它的春天。
DDR2（Double Data Rate 2） SDRAM是由JEDEC（电子设备工程联合委员会）进行开发的新生代内存技术标准，它与上一代DDR 内存技术标准最大的不同就是，虽然同是采用了在时钟的上升/下降中同时进行数据传输的基本方式，但DDR2内存却拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力（即：4bit数据读预取）。
换句话说，DDR2内存每个时钟能够以4倍外部总线的速度读/写数据，并且能够以内部控制总线4倍的速度运行。
此外，由于DDR2标准规定所有DDR2内存均采用FBGA封装形式，而不同于目前广泛应用的TSOP/TSOP-II封装形式，FBGA封装可以提供了更为良好的电气性能与散热性，为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了坚实的基础。
而在DDR参数基础上加入了新的三项参数标准我们首先来温习一下DDR内存参数标准。
（1）CAS(Column Address Strobe) Latency：列地址选通脉冲延迟时间，即DDR－RAM内存接收到一条数据读取指令后要延迟多少个时钟周期才执行该指令。
DDR2设计指导目录1DDR2基本功能描述 (4)1.1DDR2电平 (5)2DDR2 PCB设计 (6)2.1常用拓扑结构 (6)2.1.1DIMM拓扑分析 (6)2.1.2颗粒拓扑分析 (6)2.2走线规则及时序 (7)2.2.1时序 (8)3仿真分析拓扑模板 ..................................................................................... 错误！未定义书签。
图目录图1OCD功能示意 (4)图2ODT可变更参数（EMRS表示内部寄存器） (5)图3电压标准 (5)图4过冲示意图 (5)图52T（左）、1T（右）模式2DIMM各信号流向描述 (6)图6地址拓扑结构 (7)图71驱4地址拓扑 (7)图8DDR2时序关系示意图 (8)1 DDR2基本功能描述DDR2（Double Data Rate 2）SDRAM是由JEDEC进行开发的新生代内存技术标准，它与上一代DDR内存技术标准的区别在于，虽然同是采用了在时钟的上升/下降沿同时进行数据传输的基本方式，但DDR2内存拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力（即：4bit数据读预取），DDR2内存每个时钟能够以4倍外部总线的速度读/写数据，并且能够以内部控制总线4倍的速度运行。
DDR2内存采用SSTL_1.8电压标准，相对于DDR标准的SSTL_2.5，降低了不少，因而提供了明显的更小的功耗与更小的发热量，这一点的变化意义重大。
在继承了DDR的优点之外，DDR II新增了OCD、ODT和Post CAS三项功能。
OCD（Off-Chip Driver）：也就是所谓的离线驱动调整，DDR II通过OCD可以提高信号的完整性。
DDR II通过调整上拉（pull-up）/下拉（pull-down）的电阻值使两者电压相等。
使用OCD 通过减少DQ-DQS的倾斜来提高信号的完整性；通过控制电压来提高信号品质。
DDR2 SDRAM仿真分析概要发布: 2008-7-05 06:08 | 作者: webmaster | 来源: 本站原创| 查看: 0次DDR2 SDRAM仿真分析概要随着存储器接口的数据速率越来越高，在接收端保证信号完整性和满足时序要求变得更加困难。
尤其是DDR2 SDRAM。
DDR2 SDRAM的数据传输高，延迟和设计容差少，建立时间、保持时间和偏移(Skew)时间都仅有几十皮秒。
本文介绍DDR2 SDRAM设计的简单原理，并讨论如何使用Cadence公司的Allegro工具对DDR2 SDRAM设计进行板级仿真。
DDR SDRAM的出现使传统的同步时钟方式转变成在时钟的上升沿和下降沿同时进行数据采样(图1)。
这种方式能够提供数据的传输速率，但对设计的延迟和时序提出了更严格的要求。
根据Micron公司的资料，数据率为533Mbps的DDR2 SDRAM大约允许585ps左右的板级设计容差。
如果扣除信号完整性和电源完整性的容差后，允许线路延迟的容差仅有30ps左右，因此仅采用数据线等长设计方法已无法符合要求。
图1：DDR SDRAM的源同步方式。
此外，DDR2 SDRAM采用ODT(On-Die Termination)工作模式(图2)，即DDR2 SDRAM内部有终端电阻。
ODT 模式在活动状态下启动，在待机状态下关闭，以便降低信号的反射，提高信号质量，降低功耗。
不过，有必要对终端电阻是否适合进行验证。
图2：DDR2 SDRAM的ODT的结构。
DDR设计流程图3为DDR2 SDRAM应用的PCB设计流程，它表明了信号完整性和电源完整性的分析和布局布线之间的关系。
图3：DDR2 SDRAM的PCB设计和仿真流程。
DDR2 SDRAM应用的板级仿真高速电路的板级仿真包括板前仿真和板后仿真两部分。
板前仿真对电路的拓扑结构进行分析，先利用Allegro仿真工具对设计的层叠进行设计来满足阻抗要求，然后对整个电路板的电源噪声问题进行评估，选择合适的去耦电容来稳定电源信号，减少噪声。
DDRII Test SOPRD/EE:Ada_ye2009-04-24一、DDRII 簡介DDR (Dual data Rate SDRAM)SDRAM : 同步动态随机存储器，一般可作以下分类： SDR: Single Data RateDDR: Double Data Rate,2-bit prefetchDDR2: Double Data Rate,4-bit prefetchDDR3: Triple Data Rate,8-bit prefetch在我们现在做的DDR EA test 中，我们一般测试的是DDR2和DDR3,其中主要是对笔记本内存条的Clock、Command、Data做信号验证性测试。
二、DDRII Test Signal 簡介CK .CK# (Clock): CK and CK# are differentiallock inputs. All address and control input signals are sampled on the crossing of the positive edge of CKand negative edge of CK#.CKE (Clock Enable): CKE HIGH activates, andCKE LOW deactivates. CKE must be maintainedHIGH throughout read and write accesses.CS# (Chip Select): All commands are maskedwhen CS is registered HIGH. CS provides forexternal. Rank selection on systems with multipleRanks. CS is considered part of the command code. RAS# : Row Address Strobe.CAS# : Column Address Strobe .WE# : Write Enable operate .BA0 - BA2(Bank Address Inputs):BA0 - BA2define to which bank an Active.A0 - A15 :Provide the address for Activecommands.DQS. DQS# (Data Strobe) :output with read data, input with write data. Edge-aligned with read data, centered in write data.DQ (Data Input/ Output) :Bi-directional data bus.三、DDR Test Plan1. Test conditonsRun 3D Marks：2. Test toolsM/B; DDR：型号、厂商、频率的选择均按照客户要求;Scope，Probe：带宽均在被测信号频率的5倍以上(DELL要求), 3.5倍以上(其他客户要求), 。
DDR2 SDRAM接口硬件测试规范目录DDR2 SDRAM接口硬件测试规范 (I)1 范围 (3)2 术语和定义 (3)3 缩略语 (3)4 测试仪器仪表清单 (4)5 接口说明 (4)5.1 SDRAM接口信号说明 (4)5.2 DDR2 SDRAM接口功能指标 (5)5.2.1 电源完整性需要测试以下指标 (6)5.2.2 信号完整性需要测试以下指标 (7)5.2.3 时序需要测试以下指标 (7)5.2.4 时钟信号需要测试以下指标 (8)5.3 DDR2 SDRAM参数测试说明 (9)5.3.1 DDR2 SDRAM读写区分的方法 (9)5.3.2 单端信号AC输入参数测量 (11)5.3.2.1 VSWING(MAX)的测试方法 (11)5.3.2.2 SlewR参数测量方法 (12)5.3.2.3 SlewF参数的测量方法 (13)5.3.2.4 VIH的测试方法 (14)5.3.2.5 VIL的测试方法 (15)5.3.2.6 tDIPW的测试方法 (15)5.3.2.7 tIPW的测试方法 (15)5.3.3 输入信号过冲欠冲测试 (16)5.3.3.1 信号过冲测试方法 (16)5.3.3.2 信号欠冲测试方法 (17)5.3.4 差分信号AC参数测量 (17)5.3.4.1 SlewR测试方法 (17)5.3.4.2 SlewF测试方法 (18)5.3.4.3 VID测试方法 (19)5.3.4.4 VIX测试方法 (20)5.3.4.5 VOX的测试方法 (21)5.3.4.6 tDQSH的测试方法 (22)5.3.4.7 tDQSL的测试方法 (23)5.3.5 控制和地址信号时序测试 (24)5.3.5.1 tIS(base)测试方法 (24)5.3.5.2 tIH(base)测试方法 (26)5.3.6 数据信号时序测试 (26)5.3.6.1 tDS(base)测试方法 (26)5.3.6.2 tDH(base)测试方法 (27)5.3.6.3 tDS1(base)测试方法 (28)5.3.6.4 tDH1(base)测试方法 (30)5.3.6.5 tAC的测试方法 (32)5.3.6.6 tDQSCK的测试方法 (33)5.3.6.7 tDQSQ的测试方法 (34)5.3.6.8 tQH的测试方法 (35)5.3.6.9 tDQSS的测试方法 (36)5.3.6.10 tDSS的测试方法 (37)5.3.6.11 tDSH的测试方法 (38)5.3.6.12 tHZ的测试方法 (39)5.3.6.13 tLZ的测试方法 (40)5.3.6.14 tRPRE的测试方法 (42)5.3.6.15 tRPST的测试方法 (43)5.3.6.16 tWPRE的测试方法 (44)5.3.6.17 tWPST的测试方法 (45)5.3.7 时钟信号测试 (46)5.3.7.1 tCK(avg)的测试方法 (46)5.3.7.2 tCH(avg)/ tCL(avg)的测试方法 (47)5.3.7.3 Tj、Dj和Rj的测试方法 (47)5.3.7.4 tJIT(per)的测试方法 (48)5.3.7.5 tJIT(cc)的测试方法 (48)5.3.7.6 tJIT(duty)的测试方法 (49)5.3.7.7 tERR(nper)的测试方法 (49)6 测试内容 (50)6.1 电源完整性测试 (50)6.1.1.1 HS-DDR2 SDRAM-P-001 电源精度测试 (50)6.1.1.2 HS-DDR2 SDRAM-P-002 电源纹波测试 (51)6.1.1.3 HS-DDR2 SDRAM-P-003 电源上电波形测试 (53)6.1.1.4 HS-DDR2 SDRAM-P-003 电源上电时序测试 (53)6.2 信号完整性和时序测试 (54)6.2.1.1 HS-DDR2 SDRAM-S-001控制信号完整性测试 (54)6.2.1.2 HS-DDR2 SDRAM-S-002地址信号完整性测试 (55)6.2.1.3 HS-DDR2 SDRAM-S-003读操作数据信号完整性测试 (56)6.2.1.4 HS-DDR2 SDRAM-S-004写操作数据信号完整性测试 (56)6.3 时序测试 (58)6.3.1.1 HS-DDR2 SDRAM-T-001 读操作数据信号时序测试 (58)6.3.1.2 HS-DDR2 SDRAM-T-002 写操作数据信号时序测试 (59)6.3.1.3 HS-DDR2 SDRAM-T-003 控制信号时序测试 (60)6.3.1.4 HS-DDR2 SDRAM-T-004 地址信号时序测试 (60)6.4 时钟信号测试 (61)6.4.1.1 HS-DDR2 SDRAM-C-001 时钟信号波形测试 (61)6.4.1.2 HS-DDR2 SDRAM-C-002 时钟Jitter测试 (62)6.4.1.3 HS-DDR2 SDRAM-C-003 时钟精度测试 (63)7 引用 (63)1 范围本标准规定了DDR2 SDRAM接口的硬件测试方法和相关测试注意事项，并结合测试示例给以说明。
欢迎来到安捷伦数字测量论坛。
今天我们将讨论如何应对DDR 参数和协议测量的挑战；并讨论当今的一些工具，可以帮助您完成复杂的验证任务。
我们将采用互动对话的方式进行讨论，如果在我陈述过程中您有任何问题或需要进一步阐述，请随时打断我。
现在我们来看一下今天的议程。
首先，我们将迅速回顾DDR 存储器技术。
然后，我们将讨论您如今可能面对的DDR 探测的挑战，和解决这些挑战的新的BGA 探测解决方案。
之后，我们将讨论一些协议和参数测量挑战和解决方案。
最后，我们将讨论XDR 参数挑战和解决方案。
DDR 是一项普及的存储器技术，DDR存储器几乎无处不在。
试着看看周围，您会发现，做报告使用的投影仪里可能就有DDR 存储器，在放映之前它充当数字内容的缓冲器；您的手机也可能在使用DDR 存储器来快速存储和获取信息；甚至您的汽车和冰箱都借助DDR 存储器来存储信息。
本幻灯片中列举了一些使用DDR 设备的例子，在嵌入式设计中都可以发现它的身影，例如，高清晰电视（HDTV）、打印机、电话、投影仪、汽车、基站和许多消费产品；它同样出现在FPGA 设计中，FPGA 通常和DDR 接口结合使用；DDR 还出现在SO-DIMM 和常见DIMM 中，用于计算机内部的快速数据访问。
这是DDR 1、2、3 技术指标的大致比较。
随着DDR 技术的更新换代，其工作电压大幅下降。
由于每个人都知道要降低功耗，因此一些设计实际上采用的是在更低时钟频率上运行（非JEDEC 标准速度）的DDR 3。
下一代DDR 的时钟频率和数据传输率是上一代DDR 的两倍。
DDR 1 采用TSOP（薄型小尺寸）或BGA（球状栅格阵列）封装，DDR 2 和DDR 3 全部采用BGA 封装。
由于BGA封装将所有信号信号放到封装底部，要访问这些信号是一个很大挑战。
需要注意的是，新型DDR 技术无法向后兼容，其物理层和协议层与以往不同。
因此，您必须从性能和成本效益的角度考虑在设计中使用何种DDR 技术。
DDR2/3信号和协议测试分析方案
－BJLK
目前在计算机主板和各种嵌入式的应用中，DDR3已经逐渐要取代DDR2成为市场的主流。
DDR3相对于DDR2的主要优势再有更高的数据速率和更低的功耗，例如DDR2的数据速率最高到800MT/s，DDR3的最高数据速率可以到
1600MT/s，而在有些嵌入式的应用中还有可能使用更高速率，因此对于设计和测试都提出了更高的要求。
DDR2/3信号测试分析方案
为了进行可靠的探测，对于示波器器和探头的要求也非常高。
对于DDR3的信号，由于JEDEC 没有给出信号上升/下降时间的参数，因此用户只有根据使用芯片的实际最快上升/下降时间来估算需要的示波器带宽，对于DDR3的信号，20 - 80%的上升时间大约在80~120ps左右。
对于传统的高斯频响的示波器，为了保证测量精度，通常需要示波器带宽是被测信号带宽的3～5倍，而对于Agilent 的90000系列示波器，由于其优异的类似砖墙的频响特性，可以保证带内比较好的平坦度，因此可以使用以下公式： Scope bandwidth required = 1.4x maximum signal frequency for 3% accuracy measurements Scope bandwidth required = 1.2x maximum signal frequency for 5% accuracy measurements Scope bandwidth required = 1.0x maximum signal frequency for 10% accuracy measurements 根据这个公式计算出来的示波器带宽通常都在4~8GHz，因此对于DDR3信号的测试，通常推荐的示波器和探头的带宽在8GHz 。
对于DDR2和DDR3信号的测试，除了我们所熟知的双边沿采样以外，最主要的挑战在于2个方面，第一是如何进行读写信号的分离，第二是JEDEC 规定了很多DDR3的参数，如何进行方便可靠的测量。
下面分别进行介绍：
1、读写信号分离
我们知道，要验证信号的质量，有一个很有效的方法就是使用示波器的眼图测量功能，即用时钟做触发对数据信号进行累积，看累积结果的最差情况是否在可以容许的范围内。
但是遗憾的是，想用这种方法直接测量DDR 的信号质量非常困难，因为DDR 信号读写时序是不一样的。
如下图所示：
我们可以看到，写数据（DQ ）的跳变位置对应着锁存信号（DQS ）的中心，而读数据的跳变位置却对应着锁存信号的边沿，而且总线上还有三态，因此如果直接用DQS 触发对DQ 累积进行眼图测量的话，会得到下图的结果：
我们看到，由于信号的读写和三态都混在一起，因此很难对信号质量进行评估。
要进行信号的评估，第一步是要能把读写信号分离出来。
传统上有几种方法用来进行读写信号的分离，但都存在一定的缺点。
可以用读写Preamble 的宽度不同用脉冲宽度触发，如下图左边，但由于JEDEC 只规定了Write Preamble的宽度的下限，因此不同芯片间Preamble 的宽度可能是不同的，而且如果read/write的Preamble 的宽度一样的话就不能进行分离了。
也可以用读写信号的幅度不同进行分离，如下图中间，但是如果读写信号幅度差别不大也不适用。
还可以根据RAS 、CAS 、CS 、WE 等控制信号来分离读写，如下图右边所示，但这种方法要求通道数多于4个，只有带数字通道的MSO 示波器才能满足要求。
Agilent 最新推出的9000系列示波器可以实现带宽到4GHz 的但是MSO ，所以可以用于DDR2和一部分DDR3的测试，但对于高速的DDR3信号的测量还是需要更高带宽的90000系列示波器。
为了进行可靠的读写分离，Agilent 的Infiniium 系列示波器提供了一种叫InfiniiScan 的功能，可以通过区域（Zone ）定义的方式把读写数据可靠分开。
如下图所示：
根据读写数据的建立保持时间的不同，Agilent 独有的InfiniiScan 功能可以通过在屏幕上画出几个信号必须通过的区域的方式方便地分离出读/写数据，并进一步进行眼图的测试。
如下图所示是写信号的眼图。
用同样方法也可以把读信号的眼图分离出来。
除了形成眼图外，我们还可以利用示波器的模板测量功能对眼图进行定量的分析，如下图所示，用户可以根据JEDEC 的要求自行定义一个模板对读/写信号进行模板测试，如
果模
板测试fail ，还可以利用Agilent 示波器提供的模板定位功能定位到引起fail 的波形段。
2、 DDR3参数的测量
由于JESD 79-3规定了很多DDR3的参数，这些参数的测量如果全靠手工来做，非常耗时耗力，很多用户要完成DDR3的手工测试需要好几天的时间。
因此Agilent 提供了全自动的U7231A DDR3一致性测试软件。
以下是测试软件可以完成的测试项目。
这个软件的使用也非常简便，如下图所示，用户只需要顺序选择好测试速率、测试项目并根据提示进行连接，然后运行测试软件即可。
软件运行后，示波器会自动设置时基、垂直增益、触发等参数并进行测量，测量结果会汇总成一个html 格式的测试报告，报告中列出了测试的项目、是否通过、spec 的要求、实测值、margin 等。
如下图所示：
使用自动测试软件的优点如下：自动化的设置向导避免连接和设置错误；快速的测量和优化的算法减少测试时间；可以测试 JEDEC 规定的速率也可以测试用户自定义的数据速率；独有的自动读写分离技术简化了测试操作；能够多次测量并给出一个统计的结果；能够根据信号斜率自动计算建立/保持时间的修正值。
DDR3 的信号速率比较高，要进行可靠的测量，通常推荐的探头连接方式是使用焊接式探头，而焊接的方式通常拆卸不太方便，而 Agient 的探头前端可以很好地解决这个问题，下图是用 Agilent 的 N5425A+N5426A 探头前端做测试的一个例子。
由于一个 N5425A 可以配 10 个 N5426A，它们之间可以灵活连接。
由于 DDR3 的信号线很多，因此可以把很多 N5426A 焊在常测的信号线上，通过更换 N5425A 和不同 N5426A 之间的连接可以遍历很多的信号，减少了经常焊接的麻烦。
在方便使用的同时 N5425A＋ N5426A 可以提供 12G 的探测带宽，因此可以配合更高带宽的探头放大器和示波器使用。
还有许多情况是很难在 PCB 板上找到相应的测试焊盘，所以 Agilent 还提供了不同种类的 DDR3 的 BGA 探头，通过对板子做 Re－work 把 BGA 的 Adapter 焊接在 DDR3 memory chip 和 PCB 板中间，并把信号引出。
DDR2/3 协议测试分析方案对于协议测试来说，需要用到的仪器是逻辑分析仪，其基本原理是通过相应的探头把被测信号引到逻辑分析仪，逻辑分析仪里再运行解码软件进行协议验证和分析。
对于 DIMM 接口的 DDR2/3 协议测试，可以选择 N4835A 等 Interposer 探头连接逻辑分析仪，对于嵌入式应用的 DDR2/3 的协议测试，可以选择相应的 BGA 探头。
如果有可能设计时事先在板上留测试点的话，也可以选择 Soft-Touch 的连接方式，即事先把被测信号引到一些按一定规则排列的焊盘上再通过相应探头前面的针脚顶在被测点上。
由于 DDR3 的数据速率高达 1.6GT/s，所以对逻辑分析仪的要求也很好，对于 DDR3 的测试，推荐采用16900 逻辑分析仪主机＋16962A 模块的配置方式。
一下是 16962A 模块的主要指标：1/同步采样眼图分析功能(eyeScan,一次可以同时扫描所有通道眼图; 2/EyeScan 等效采样速率:200G/s; 3/最大深存储定时分析速率:8G/s；4/最大状态分析时
钟:2GHz；5/最大触发速率 2G sequency/s。
逻辑分析仪上可以运行相应的 DDR2/3 解码和协议检查工具，以下是 B4622A DDR2/3 解码和协议检查工具提供的自动协议测试功能和最后生成的测试报告。
下图是对总线利用率的统计结果显示。
