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三极管测试仪

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简易三极管参数测试仪

 本设计以AT89C51单片机最小系统为核心，用汇编语言编程，用

多组放大器组成恒流源采样电路，可靠地实现了对三极管基极和集电

极电流的检测，通过ADC118和放大器组成数据采集电路。系统能准

确地测量交直流放大系数。单片机对采集到数据进行处理，并用液晶

显示各项参数。 1． 三极管基极和集电极电压采样电路

方案一：采用在基极和集电极电阻两端直接测电压的方法。用这种方法虽然简单，但

是电路复杂，需要多个运算放大器，精确度不高，很难达到题目要求。

方案二：采用在发射极串电阻，直接在发射极测量电流Ice 的方法。这种方案由于电

阻两端对地电压较低，便于放大检测。但由于发射极电阻的存在，使基极电位很难确定，

不便于基极电阻的选择，对Uce的确定也会带来一定困难。

方案三：用两路数据采集电路分别对基极电压和集电极电阻两端电压进行采样。基极

电压经过普通运放组成的同向比例放大电路进行放大后送AD采样。而集电极电阻两端的电

压采用OP07放大。若所测三极管为PNP型管，则经过反向比例电路转换成正电压以满足A

DC118采样的需要。

综合考虑，方案三电路结构简单，测量精度较高，故采用方案三。

2. 三极管共射极输入输出特性曲线测量

⑴三极管输入特性曲线的测量方案：

固定电压|VC |=12V,通过DAC0832逐渐增大基极电压,每增大一次电压采集一次电流 iB,记

入内存.单片机将采集所得的各项数据处理后，在上位机（电脑）上输出曲线。

⑵三极管输出特性曲线的测量方案：

通过改变基极电阻,达到题目要求的基极电流。同样通过DA输出改变电压VCE 每当改变一

次集电极电压就采集一次电流iC,记入内存,显示输出曲线 。

测量结果显示方案 方案一：把测量所得的参数通过数码管显示

方案二：把测量所得的参数和特性曲线通过液晶屏显示，这种方案虽然简便易行，但显示精

度不高。

方案三：把所有的测量结果送到上位计算机进行显示，显示精度比较高，但不够方便灵活，

并且需两个全双工串行接口，实现比较困难。

权衡以上三种方案，我们初步打算晶体管的基本参数用LCD显示，同时扩展与PC机连接的

RS232串行通讯接口，用vb编写接收软件用来显示三极管的输入输出特性曲线，这样使

用起来既方便灵活，又提高了精度，而且扩展了数据存储、打印等功能，但由于时间关

系，我们没来得及做出曲线部分的电路，只把构思列出。

二.主要电路工作原理与计算

1．总体设计思路

总流程图如下：

2. 采样电路设计与放大系数计算

（1）基极和集电极电压采样电路

固定基极的电流，并使三极管工作在放大区，从而对特定NPN三极管来说其B极电流

稳定。

基极电流的恒流由运放OP07实现（电路见图），此OP07正向端加1V的电压。我们用

精准电压源MC1403加电压跟随器来精确这1V电压。

在基极和集电极分别加上2个1K的采样电阻，分别在2个电阻两端取4个点的电压，

通过4个由OP07搭成的电压跟随器并把B极的电压经一个差放放大100倍后送入单片机内

进行运算，并最终显示

电路图如下图:

⑶集电极采样电路： 在测三极管的的放大系数时。电阻R4的电阻值是1K欧姆 ，易得集电极的电流表达式： Ic=Vrc/1000。 根据三极管直流电流放大系数的定义式可以算出：

⑷A/D转换输出电路： A/D转换器是数据测量系统的核心部件，它把采集的模拟量变换成数字序 列，并读回单片机。在设计中，我们对A/D的转换速度、精度和器件成本作了最好的折中，

选用了8位A/D转换器ADC118.电路图如下图（图4）

图 为与ADC118相连接的电路

3． 施压电路设计与计算 该部分只是我们的初步构思，方案是否可行尚待实际论证，但由于时间关系我们没能实际作出这部分电路， 只把大致想法列出如下： ⑴ 倍压电路： 由于三基管的反向击穿电压一般不会小于70 V 而且测量穿电压时要求用单片机控制

加在集电极上的电压以一定步长逐渐变化，而单片机只能输出最大12 V、的电压。我们参考

资料列出了一个 由CMOS与非门组成的倍压电路。

图中为三倍压电路，当接通电源时，电路中A点电位为“0”，则B点电位为电源电压V。这时电源电压V 通过D1对C2充电，使C2两端电压为V值，而D2并不导通。当反向器输出电位翻转之后，A点电位上升为V值，于是A~点电位相应上升为2*V值，此时D1反偏，而D2导通.在下一个半周时，B点电位上升为V值，点电位相应上升为3*V。经过D3对C4充电，使输出电压为3*V。 ⑵DA双极性电压输出电路： 由于三极管有NPN和PNP两种型号，测量两种三极管输入输出特性曲线时所用电压极性相反。这就要求单片机输出的控制电压有正负两个极性。在此采用了一种典型的DAC0832双极性输出电路，电路图如下：

图中放大器2的输入端3通过电阻与参考电压相连，因此运算放大器2的输出电压:

于是我们通过单片机控制输出从0到-5V的渐变电压就可以得到从-10V到+10V连续变化的电压。

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三极管的测量方法

三极管的测量方法

三极管的测量方法

一、三极管的基本结构和原理

三极管是一种半导体器件，由P型半导体和N型半导体组成。它有三个区域，即发射区、基区和集电区，分别对应P型半导体、N型半导体和P型半导体。其工作原理是通过控制基极电压来控制集电电流，实现信号放大或开关控制。

二、三极管的分类

根据结构不同，三极管可以分为晶体管、场效应晶体管等类型。其中晶体管又可分为PNP型和NPN型两种。

三、三极管的测量方法

1. 静态参数测试

静态参数测试主要包括测量三极管的放大倍数β值、截止频率fT值等参数。具体步骤如下：

（1）将待测三极管安装在测试台上，并连接测试仪器。

（2）调整测试仪器，使其处于静态参数测试模式下。

（3）给定基极电压Vbe和集电电压Vce，并记录对应的集电电流Ic。

（4）根据公式计算出β值和fT值。

2. 动态特性测试 动态特性测试主要包括测量三极管的增益带宽积、输入输出阻抗等参数。具体步骤如下：

（1）将待测三极管安装在测试台上，并连接测试仪器。

（2）调整测试仪器，使其处于动态特性测试模式下。

（3）给定输入信号，并记录对应的输出信号。

（4）根据公式计算出增益带宽积和输入输出阻抗。

3. 温度特性测试

温度特性测试主要是测量三极管在不同温度下的工作情况，以评估其稳定性和可靠性。具体步骤如下：

（1）将待测三极管安装在测试台上，并连接测试仪器。

（2）调整测试仪器，使其处于温度特性测试模式下。

（3）逐步升高或降低环境温度，并记录对应的电气参数值。

（4）根据记录数据分析出三极管的温度特性。

四、注意事项

1. 选择合适的测试仪器和设备，确保测量精确可靠。

2. 在进行动态特性测试时，需要注意输入信号和输出信号之间的匹配问题，以避免误差产生。

3. 在进行温度特性测试时，需要控制好环境温度变化速率，以免影响测试结果。

4. 测量过程中需要注意安全问题，避免发生意外事故。

五、总结

三极管是一种重要的半导体器件，广泛应用于电子电路中。对其进行准确可靠的测量和评估，有助于提高电路的性能和稳定性。在实际操作中需要注意选择合适的测试仪器和设备，并遵循相应的测试方法和注意事项。

MT-105 晶体管耐压测试仪使用说明书

MT-105 晶体管耐压测试仪使用说明书

第 1 页 共 23 页 深圳鹏达电子科技有限公司 SHEN ZHEN PENG DA TECHNOLOGY CO.,LTD. 官网： 论坛： 购买网店： MT-105晶体管耐压测试仪使用说明书 深圳鹏达电子科技有限公司 一、简介 MT-105晶体管耐压测试仪可测试各种晶体二极管、瞬态二极管、三极管、可控硅、场效应管的正向、反向击穿电压耐压值；能测试稳压二极管的稳压值。仪表为便携式设计，体积小、重量轻、自动量程、功能强、操作均采用无锁按键和遥控操作、上位机软件操作并可以保存测试数据（MT-105通信版），使用方便可靠，实用性强，适用于从事电子技术的实验人员、调试人员、维修人员、采购人员、销售人员及无线电爱好者。还适用于电子电器产品生产厂家作为各类电子元器件批量检测之用。 二、面板功能介绍 ①：仪器电源开关，使用时请把开关打开，不使用请把开关关闭，避免电池耗电。 ②：HV高压测试键，把被测试的器件引脚放进对应的测试槽后，按下测试键。 ③：测试高压工作指示灯，按下测试键测试时，此指示灯会亮，表示高压工作中。 ④：测试槽的1脚（黄色标记）HV-（GND地） ⑤：测试槽的2脚（黄色标记）N型管的控制信号LG ⑥: 测试槽的2脚（红色标记）P型管的控制信号HG

第 2 页 共 23 页 深圳鹏达电子科技有限公司 SHEN ZHEN PENG DA TECHNOLOGY CO.,LTD. 官网： 论坛： 购买网店： ⑦：测试槽的3脚（红色标记）HV+（高压输出HV） ⑧: 充电指示灯，充电中此LED等亮，等充满电此指示灯灭，充电自动控制 ⑨：USB接口，充电与通信接口，可以接在电脑USB接口上，可以边通信边充电 ⑩: 仪器的显示屏，采用1602，LCD屏，显示清楚美观省电耐用 三、使用操作说明 打开开关，仪器屏幕显示官方网站和型号名称：“ MT-105 HV Tester”显示3秒后进入测试画面（没有任何测试操作）显示：“Bat:4424mv MT-105 HV Tester”。 按键操作：把待测试的元件放入对应的引脚后，按下测试键进行测试 遥控操作：把待测试的元件放入对应的引脚后，按下遥控器播放键，可以进行测试 遥控器只有2个按键有用， 一个是高压测试键，另外一个是返回清屏键 软件上位机操作可以测试和保存测试数据 四、主要经典（重要项目）测试方法 1、二极管测试方法，有两种VBR和UF电压，如下图1和图2所示 图1 图2

JL294-3晶体管测试仪

JL294-3晶体管测试仪

测试方法：

1、测试操作步骤：（本说明以JL294型仪表为例）

① 开机；按下K1键使仪表工作

② 置K2键（PNP与NPN功能转换键 ）与被测管极性相符位置，将被测管与测试插座可靠连接。

③ 测试：按下需测试功能对应的按键，读出被测数。

注意：测试时K3～K12之间不准同时按下二个键！

④ 关机；按K1，切断仪表电源。

2、各种三极管测试方法及图示：

图中K2置NPN位置，测试PNP三极管时将K2（JL295型为K1）键置PNP位置，管脚接法与图一样。

① 为了保证测试的准确性，建议使用外接6V 3A直流稳压电源。

② 将三极管管脚按图示插入测试插座。

③ 仪表K3、K4档用于测试三极管VBR（耐压值），测试电压分别为0～1999V和0～199.9V； 按下相应档位的开关，仪表分别显示被测三极管的VCEO、VCBO、VEBO 及VCE、VBC、VBE的耐压值。

④ 仪表K5、K6、K7三档用于测试三极管VCE（sat）（共发射极饱和压降）。Ic电流分别为2000mA、300mA、10mA；Ib电流分别为200mA、30mA、1mA；测试时应根据三极管的功率大小按下相应档位的开关，表头显示相对电流下三极 管的压降值。

提示：对同一型号的三极管，在相同电流档下测试，饱和压降值越小越好。

提示：小功率三极管不要用大电流档进行测试。

⑤ 仪表K8、K9、K10三档用于测试三极管hFE（共发射极直流放大系数）。Ib电流分别为10mA、1mA、0.01mA；通过 逐档测试可以观察三极管的放大线性，测得hFE值最大的一档应视为被测管最有效的工作状态。

提示：测试时应根据被测三极管的功率大小，先测试小电流档、再测试中电流档、后测试大电流档（要防止测试电流过 大而损坏小功率管），表头分别显示不同工作电流下的直流放大系数。

多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料

多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料

多功能晶体管测试仪使用说明V2.011

20150301

1、 功能介绍

1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。

1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。单键调整输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。

输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。本功能状态下不自动关机，也不能手动关机，

1.3、 A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压2.5-5V.，分辨率1Hz。可定制为7.6MHz

高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率 0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。已校准过

B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。

高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率 0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。已校准过

C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.， 输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。可用于对讲机发射频率测试。

高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率 1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。由于易受干扰 500K 以下不能很好测量。

非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。已校准过 ,

2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。信号输入线宜用屏蔽线。

可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位， 显示2.4G 或 100M