SEM原理与测试
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SEM原理与测试SEM(Search Engine Marketing)即引擎营销,是通过在引擎上投放广告以达到促进产品或服务销售的目的的一种广告形式。
SEM是一种付费的广告方式,广告主通过在引擎上竞价购买关键词,当用户相关的关键词时,广告就会出现在结果页面中。
SEM的原理主要包括广告和展示广告两部分。
广告是指在引擎上针对用户的关键词进行投放的广告,当用户相关的关键词时,广告会以文字形式出现在结果页面的顶部或右侧。
展示广告是指在网页或移动应用程序中的广告展示区域投放的图像或视频广告,这些广告通常是根据用户的浏览行为或兴趣爱好进行定向投放。
在进行SEM测试时,需要注意以下几个方面:1.关键词分析:SEM的关键是选择合适的关键词。
测试需要根据产品或服务的特点和目标受众进行关键词的分析和筛选。
关键词的选择要考虑量、竞争程度和转化率。
2.竞价策略:SEM的竞价是基于关键词的广告排名。
测试需要根据预算和预期效果制定竞价策略,例如选择最佳竞价位置、设定每日预算和投放时段等。
3.广告创意:SEM的广告创意要吸引用户点击。
测试需要制作吸引人的广告文案和图像,以及有效的呼唤行动的按钮。
同时可以通过A/B测试来比较不同创意的效果,优化广告的点击率和转化率。
4.监测与分析:SEM的效果监测与分析是测试的重要环节。
需要监测广告的曝光量、点击量、转化量和花费等数据,并对数据进行分析和优化。
可以通过安装跟踪代码或使用分析工具来实现数据的监测和分析。
5.优化与改进:SEM的效果需要不断优化和改进。
测试需要根据数据分析的结果,对关键词、竞价策略、广告创意等进行调整和改进,以提高广告的ROI(投资回报率)。
总结起来,SEM通过在引擎上投放广告来促进产品或服务销售,其原理包括广告和展示广告。
在进行SEM测试时,需要进行关键词分析、竞价策略制定、广告创意制作、效果监测与分析以及优化与改进等方面的工作。
只有不断测试和优化,才能提高SEM广告的效果和投资回报率。
结构方程模型_SEM_的原理及操作
一、结构方程模型SEM介绍
结构方程模型(Structural Equation Model,简称SEM)是一种统计分析工具,被广泛应用在社会科学和心理学等领域用来描述复杂的变量之间的关系。
它可以探索变量之间直接的因果关系,也可以测量变量之间的因变关系。
结构方程模型的主要组成部分有:潜变量、表征变量和解释变量。
潜变量是不能被观测到的抽象变量,它是变量与变量之间关系的本质。
表征变量是潜变量的表达形式,它可以被定量测量,从而与其他变量形成因果关系。
解释变量是潜变量和表征变量之间的链接,它是表征变量和潜变量之间的中介变量。
结构方程模型的一般结构包括:(1)因变量,指潜在因素对表征变量的影响;(2)表征变量,指潜在因素和解释变量的表达形式;(3)解释变量,指变量和变量之间的关系;(4)内部关系,指表征变量和解释变量之间的关系。
二、结构方程模型的原理
结构方程模型的原理是基于概率理论和统计学的统计方法,它可以根据样本数据和一定的模型假设拟合出变量之间的因果关系结构。
结构方程模型的目标是根据数据估计出变量之间的系统内因果关系,从而把变量之间的关系模型化。
sem的工作原理
SEM(搜索引擎营销)的工作原理是通过投放关键词广告,
并基于用户在搜索引擎中输入的关键词来触发广告展示,以吸引目标用户点击广告进而访问网站,从而达到宣传产品或服务、提高品牌知名度、增加销售等目的。
具体工作流程如下:
1. 广告主选择相关的关键词:广告主通过广告平台选择与其产品、服务或品牌相关的关键词,例如,如果广告主是一家手机品牌,可能会选择关键词如“手机品牌”、“最新手机”、“高性
能手机”等。
2. 设定广告投放参数:广告主进一步设定广告的预算、地理位置、设备类型等投放参数,以确保广告投放的准确性和高效性。
3. 拍卖关键词排名:当用户在搜索引擎中输入相关关键词进行搜索时,搜索引擎会进行广告位的拍卖。
搜索引擎会根据广告主的出价、广告质量得分、广告与搜索关键词的匹配度等因素来决定广告的排名。
4. 广告展示与点击:当搜索引擎决定将广告展示在某个用户的搜索结果中时,用户会看到广告文字、图片或视频,如果用户对广告感兴趣,他们有可能会点击广告,进而访问广告主的网站。
5. 优化广告效果:广告主可以通过监测广告的点击率、转化率、用户行为等数据来评估广告的效果,并进行相应的调整和优化。
这样可以提高广告的点击率和转化率,进一步提升广告的效果。
总之,SEM通过在与产品或服务相关的关键词搜索中投放广告,吸引目标用户点击广告并访问网站,从而实现品牌宣传和拓展市场的目标。
SEM(扫描电子显微镜)的原理
SEM是一种通过高能电子束扫描样品表面并利用其所产生的
信号来形成图像的显微镜。
其原理是利用电子束与样品表面交互所产生的各种信号(如二次电子、反射电子、散射电子、背散射电子等)作为样品表面形貌信息的载体,经过放大和成像后形成对样品表面形貌的图像。
具体来说,SEM的主要原理包括:
1. 高能电子束的产生
SEM使用的电子束通常由热阴极或场发射型阴极产生。
电子
从阴极中发射出来后,经过加速管加速到几千伏至数十万伏的高能电子束。
2. 电子束的聚焦
SEM使用电磁聚焦系统将电子束聚焦到非常小的点上,从而
实现高分辨率成像。
聚焦系统通常由多组圆柱形或双凸透镜组成。
3. 样品表面的交互
高能电子束照射样品表面时,会与样品表面相互作用,产生各种不同的信号。
这些信号包括二次电子、反射电子、散射电子、背散射电子等,它们可以提供关于样品表面形貌、成分和结构的信息。
4. 信号的检测和处理
SEM的检测系统通常由二次电子检测器、反射电子检测器、消旋极检测器等多种类型的检测器组成。
这些检测器负责收集和处理样品表面产生的各种信号,经过放大和成像等处理后,成为最终的SEM图像。
综上所述,SEM主要通过高能电子束和样品表面信号的交互来实现图像的成像和分析。
它能够观察到样品表面微观结构的形貌、成分和表面化学性质等信息,具有广泛的应用价值。
SEM的工作原理与使用方法1、SEM的工作原理扫描电镜(SEM)是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。
在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。
如图1所示,这些信号主要包括二次电子、背散射电子、吸收电子、透射电子、俄歇电子、电子电动势、阴极发光、X 射线等。
扫描电镜设备就是通过这些信号得到讯息,从而对样品进行分析的。
图1 入射电子束轰击样品产生的信息示意图从结构上看,如图2所示,扫描电镜主要由七大系统组成,即电子光学系统、探测、信号处理、显示系统、图像记录系统、样品室、真空系统、冷却循环水系统、电源供给系统。
图2 扫描电子显微镜结构图图3 扫描电子显微镜成像原理图由图3,可以看出,从灯丝发射出来的热电子,受2-30KV电压加速,经两个聚光镜和一个物镜聚焦后,形成一个具有一定能量,强度和斑点直径的入射电子束,在扫描线圈产生的磁场作用下,入射电子束按一定时间、空间顺序做光栅式扫描。
由于入射电子与样品之间的相互作用,从样品中激发出的二次电子通过收集极的收集,可将向各个方向发射的二次电子收集起来。
这些二次电子经加速并射到闪烁体上,使二次电子信息转变成光信号,经过光导管进入光电倍增管,使光信号再转变成电信号。
这个电信号又经视频放大器放大,并将其输入到显像管的栅极中,调制荧光屏的亮度,在荧光屏上就会出现与试样上一一对应的相同图像。
入射电子束在样品表面上扫描时,因二次电子发射量随样品表面起伏程度(形貌)变化而变化。
故视频放大器放大的二次电子信号是一个交流信号,用这个交流信号调制显像管栅极电,其结果在显像管荧光屏上呈现的是一幅亮暗程度不同的,并反映样品表面起伏程度(形貌)的二次电子像。
SEM工作原理与使用方法SEM(扫描电子显微镜)是一种使用电子束对样品进行成像的显微镜。
与光学显微镜相比,SEM具有更高的分辨率和放大倍数,能够显示更小尺寸的样品细节。
SEM广泛应用于材料科学、生物学、化学和纳米技术等领域。
本文将介绍SEM的工作原理和使用方法。
SEM的工作原理:SEM使用电子束而不是光线来照射样品,并通过收集散射的电子来获得图像。
一般来说,SEM包括以下几个主要的部分:电子枪、聚焦系统、样品台、检测系统和显示系统。
1.电子枪:电子枪产生高速的电子束。
其工作原理是通过在热阴极附近加热产生的热电子,被高压枪芯电场加速并形成一个细束的电子束。
这个束被称为原始电子束。
2.聚焦系统:原始电子束经过由磁环组成的聚焦系统,通过调整磁场来聚焦电子束,使其具有更好的聚焦能力。
这样可以使电子束更加凝聚和集中,以准确地照射样品。
3.样品台:样品放置在样品台上。
样品台可以通过微调机械装置进行调整,以便将样品放置在正确的位置并获得最佳的成像效果。
常用的样品制备方法包括金属喷溅、真空蒸镀和冷冻切片等。
4.检测系统:电子束照射到样品上时,会发生与样品相互作用的散射。
检测系统主要包括接收和检测这些散射电子的装置。
这些散射电子被放大并转换为电子信号。
5.显示系统:收集到的电子信号经过处理,通过显示设备(如计算机显示器)以图像的形式呈现。
SEM的使用方法:1.样品制备:首先,样品需要被制备成薄片、薄片或粉末的形式。
然后,样品需要被金属喷溅、真空蒸镀或冷冻切片等方法进行表面处理。
2.调整SEM系统参数:选择合适的加速电压、工作距离和聚焦电流等参数,以获得适当的分辨率和成像深度。
不同的样品可能需要不同的参数设置。
3.放置样品:将制备好的样品放置在样品台上,并使用微调机械装置进行调整,使样品可以位于所需的位置。
4.获取图像:打开SEM系统,开始获取图像。
在整个过程中,可以根据需要调整聚焦、缩放和对比度等参数,以获得清晰的图像。
扫描电子显微镜(Scanning Electronic Microscopy, SEM)扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电镜的优点是,①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。
目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织性貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。
电子束与固体样品的相互作用扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。
通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得对是试样表面性貌的观察。
具有高能量的入射电子束与固体样品的原子核及核外电子发生作用后,可产生多种物理信号如下图所示。
电子束和固体样品表面作用时的物理现象一、背射电子背射电子是指被固体样品原子反射回来的一部分入射电子,其中包括弹性背反射电子和非弹性背反射电子。
弹性背反射电子是指倍样品中原子和反弹回来的,散射角大于90度的那些入射电子,其能量基本上没有变化(能量为数千到数万电子伏)。
非弹性背反射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹性散射,不仅能量变化,而且方向也发生变化。
非弹性背反射电子的能量范围很宽,从数十电子伏到数千电子伏。
从数量上看,弹性背反射电子远比非弹性背反射电子所占的份额多。
背反射电子的产生范围在100nm-1mm深度,如下图所示。
电子束在试样中的散射示意图背反射电子产额和二次电子产额与原子序束的关系背反射电子束成像分辨率一般为50-200nm (与电子束斑直径相当)。
背反射电子的产额随原子序数的增加而增加(右图),所以,利用背反射电子作为成像信号不仅能分析新貌特征,也可以用来显示原子序数衬度,定性进行成分分析。
二、二次电子二次电子是指背入射电子轰击出来的核外电子。
SEM的原理及应用1.电子源:SEM的电子源一般使用热阴极或场发射电子枪来产生电子束。
电子源产生高能电子,其能量取决于电子源的电压,一般为数千伏到数十千伏之间。
2.准直系统:SEM中的准直系统用于聚焦电子束,并将其限制在一个较小的角度范围内。
3.扫描系统:SEM的扫描系统包括扫描线圈和精密移动装置。
电子束在样品表面进行扫描时,扫描线圈会改变电子束的位置,使其在样品表面形成一系列的扫描点,从而得到样品的形貌信息。
SEM的应用可参考以下几个方面:1.表面形貌观察:SEM能够提供高分辨率的表面形貌信息,可以观察材料的微观结构、纹理、孔隙等。
这对于材料科学、化学工程以及半导体制造等领域的研究和制程优化至关重要。
2.元素分析:SEM结合能谱仪,可以进行定性和定量的元素分析。
能谱仪通过记录和分析样品表面所发射的特定能量的X光,可以确定样品中元素的类型和含量。
这对于材料的组成分析、表面污染的检测以及金属和合金的成分分析等十分重要。
3.断层观察:SEM可以通过样品的断层表面观察材料内部的微观结构,例如晶粒尺寸、晶界、裂纹等。
这对于材料的品质控制、故障分析和缺陷检测具有重要意义。
4.微纳加工和纳米技术研究:SEM可以用于观察和调整微纳米尺度的结构和器件,如纳米线、纳米颗粒、微电子元器件等。
同时,SEM也能够进行纳米尺度的焊接、抛光和刻蚀等工艺。
5.生物科学研究:SEM对生物样品的观察有着重要的应用价值。
通过SEM可以观察细胞、细胞组织、细菌等生物结构的形态学特征,进而研究生物的生长、分化和病理等方面。
除了以上应用,SEM还可以用于纳米药物传送系统的设计与评估、材料的力学性质研究、饮用水和环境中微小颗粒的检测等领域。
SEM的原理和应用使得其成为一种非常重要的显微分析工具,为科学研究和工业应用提供了强大的支持。
sem测试原理SEM(扫描电子显微镜)是一种高分辨率的显微镜,利用电子束照射样品表面,通过扫描和检测反射、散射、透射等电子信号来形成图像。
SEM测试技术在材料科学、生物医学、纳米技术等领域有着广泛的应用。
一、SEM测试的基本原理1.1 电子束的产生SEM测试中使用的电子束是由热阴极或冷阴极发射出来的。
热阴极发射电子需要加热到高温,而冷阴极则通过施加高压电场来发射电子。
1.2 电子束与样品的相互作用当电子束照射到样品表面时,会与样品原子和分子相互作用,产生多种反应。
主要包括:(1)弹性散射:电子束撞击样品表面原子后改变方向而不损失能量。
(2)非弹性散射:撞击后能量部分被转移给样品原子或分子,使其激发或离开原位。
(3)透射:当电子穿过薄层样品时,会因为与原子和分子的相互作用而发生能量损失。
(4)反射:部分电子束会被样品表面反射回来。
1.3 检测和成像SEM测试中,利用检测器检测样品表面反射、散射、透射等电子信号,并将其转换为电信号。
通过扫描电子束在样品表面的位置,记录各个位置处的电子信号强度,再将这些数据转换为图像。
图像中不同颜色或灰度代表不同强度的信号,从而形成样品表面的形貌和结构图像。
二、SEM测试的应用2.1 材料科学SEM测试可以观察材料表面形貌、缺陷、晶体结构等信息,对材料性能进行分析和评估。
例如,在金属材料疲劳破坏分析中,可以利用SEM观察裂纹扩展情况和断口形貌,以判断疲劳损伤机制。
2.2 生物医学SEM测试可以观察生物细胞、组织等微观结构,对病理学研究有重要意义。
例如,在肿瘤细胞形态学研究中,可以利用SEM观察肿瘤细胞表面形貌和微观结构,从而了解其生长、转移等特征。
2.3 纳米技术SEM测试可以观察纳米材料的形貌和结构,对纳米技术的研究和开发有重要意义。
例如,在纳米颗粒制备中,可以利用SEM观察颗粒形态和大小分布,以确定合适的制备条件。
三、SEM测试的优缺点3.1 优点(1)高分辨率:SEM测试具有高分辨率,可以观察到微小的表面细节和结构。