材料结构与表征
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材料形貌的微观结构分析与表征材料的微观结构是决定其性能和行为的关键因素之一。
通过微观结构的分析和表征,我们可以深入了解材料的组成、形貌和特性,从而为科学研究和工业应用提供有力的支持。
本文将探讨材料形貌的微观结构分析与表征的方法和意义。
一、形貌的微观结构分析材料的形貌是指材料的外部形状和内部结构特征。
传统的微观结构分析方法包括光学显微镜观察和扫描电子显微镜观察。
光学显微镜通过聚焦光线来观察材料的形貌,并且可以进行放大成像。
扫描电子显微镜则通过电子束来观察材料的形貌,并且可以获得更高的分辨率。
除了传统的显微镜方法外,还有一些先进的形貌分析技术被广泛应用。
例如,原子力显微镜可以通过探针与材料表面的相互作用来获取材料的形貌信息,具有非常高的分辨率和灵敏度。
透射电子显微镜可以通过透射电子束穿过材料来观察其内部结构,从而获得更为详细的形貌信息。
二、微观结构的表征材料的微观结构是指材料的晶体结构、晶粒尺寸、晶界分布等特征。
通过对微观结构的表征,我们可以了解材料的晶格结构、晶粒形貌以及晶体缺陷等信息。
X射线衍射是一种常用的微观结构表征方法。
通过照射材料的晶体,X射线会在晶格中发生衍射现象,从而提供关于晶体结构的信息。
同时,控制X射线的入射角度和衍射角度,可以计算出晶体的晶格参数和晶体的取向关系。
电子背散射衍射也被广泛用于微观结构的表征。
通过照射材料的定向薄片,电子束会在材料中发生背散射现象,从而提供关于晶体取向和晶粒形貌的信息。
利用电子背散射图样可以计算晶体的晶格参数以及晶界的方向和形貌。
除了X射线衍射和电子背散射衍射外,还有一些其他的微观结构表征方法,如拉曼光谱、核磁共振、质谱等。
这些方法可以提供关于材料微观结构的不同方面的信息,从而帮助我们深入了解材料的特性和行为。
三、微观结构分析与材料研究微观结构分析对于材料研究具有重要意义。
通过深入了解材料的微观结构,我们可以揭示材料的性能和行为背后的机制,从而为材料设计和制备提供指导。
掌握材料科学的一些基本概念材料科学是一门研究材料的科学,可以说是现代工业发展的重要组成部分。
在日常生活中,我们所接触的很多物质都是材料,比如塑料、玻璃、金属、木材等等。
而材料科学就是研究如何利用这些常见的物质,改造它们的性质以适应特定的需求。
在这篇文章中,我将介绍一些材料科学的基本概念,希望有助于读者更好地理解材料科学的本质。
一、材料的结构材料的结构指的是材料内在的微观结构。
对于晶体材料来说,它的结构由原子或者分子的周期性排列构成。
而对于非晶体材料,它的结构则是一种无序的固态结构。
了解材料的结构可以帮助我们更好地预测和解释材料的性质。
二、材料的性质材料的性质是指材料能够表现出来的各种物理、化学和力学特性。
材料的性质与其微观结构密切相关。
常见的材料性质包括密度、热容、热导率、电导率、杨氏模量、屈服强度等等。
三、材料的制备材料的制备是制造业中十分重要的一个环节。
它包括各种工艺过程,例如炼铁、冶金、合成、成型和加工等。
不同的制备工艺会对材料的结构和性质产生不同的影响,因此选择合适的制备工艺非常关键。
四、材料的表征材料的表征是指对材料进行物理、化学和结构分析的过程。
这些分析方法可以用来确定材料的组成、结构和性质等参数。
常见的表征方法包括扫描电镜、X射线衍射、拉曼光谱、电子探针等等。
五、材料的应用材料的应用非常广泛,涉及到各个行业领域。
比如对于医药行业而言,材料的应用主要在于研发新型药物、医疗设备和医用材料。
而对于航空航天行业来说,材料的应用则是指研发各种高强度、轻量化的材料,以提高航空器的性能和安全性。
综上所述,材料科学作为一门十分交叉的学科,涉及到物理学、化学、材料工程等多个领域。
通过了解材料的结构、性质、制备、表征和应用,我们可以更好地理解材料科学在现代工业中的作用,同时也有助于我们更好地应用和发展材料科学的实践。
材料结构表征及应用
材料结构表征及应用
材料结构表征是指材料结构特性之间的相互关系,它们决定了材料的性能。
材料结构表征包括材料的尺寸、形状、结构层次和热效应,这些结构特性可以通过材料的物理性能和机械性能来表示。
近年来,材料结构表征正变得越来越重要,在工业生产中得到了广泛应用。
材料结构表征对于提高材料性能和研发新材料至关重要。
材料结构表征可以更好地识别材料的特性,如耐磨性、耐腐蚀性和热稳定性,从而更好地满足应用材料的要求。
同时,材料结构表征还可以帮助研发新型材料,用于更多的应用领域。
材料结构表征在工业上被广泛应用,能够有效提高材料的性能。
它可以更准确地测量材料的厚度、宽度、形状和硬度,并用来检测材料表面缺陷、分析材料缺陷等,可以有效提高材料的效率和使用寿命。
同时,它还可以用来检测和控制工艺参数,如温度、时间和压力,以满足特定应用需求,并确保产品的高质量。
材料结构表征应用于许多不同领域,如航空航天、汽车制造、船舶制造、军事器材以及电子产品等,可以明显提升该领域的性能和效率。
此外,它还可以精确地测量金属材料、复合材料和非金属材料,以便在工业应用中更好地优化工艺,实现更高的性能。
材料结构表征是一项重要的技术,被广泛应用在工业生产中。
它提供了一种可靠的方式来测量材料的结构,可以明显提高材料的效率和使用寿命,满足工业需求,有助于提高整体的生产效率。
物理实验技术中的表面形貌与结构表征方法与实验技巧导语:在物理学中,对于材料的表面形貌与结构的表征是十分重要的。
通过对材料表面形貌与结构的研究,我们可以深入了解物质的性质和行为,为材料设计和应用提供有效的依据。
本文将介绍一些在物理实验中广泛使用的表面形貌与结构表征方法和实验技巧。
一、光学显微镜光学显微镜是一种通过光线对材料进行表面形貌观察的常用工具。
它可以通过调节物镜和目镜的放大倍数,实现对不同尺度的表面形貌观察。
在使用光学显微镜时,一些实验技巧可以提高观察效果。
首先,要将待观察的材料放置在平整的载玻片上,避免形成影响观察的倾斜和凹凸不平的表面。
此外,如果观察透明材料,可以使用倾斜角度来获得更多信息。
二、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种高分辨率的表面形貌观察工具,具有优秀的空间分辨率和深度感。
它通过扫描电子束在材料表面来观察样品的表面形貌。
在使用SEM进行观察时,一些实验技巧可以提高图像质量。
首先,样品的准备非常关键。
应该确保样品表面的平整度,并避免存在尖锐的边缘,以免损坏电子束发射源。
其次,合适的电子束发射电流和加速电压也会影响观察效果。
正确选择这些参数可以得到清晰、高对比度的图像。
三、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种观察材料内部结构和纳米尺度表面结构的强大工具。
TEM利用电子束穿透样品,通过探测电子束的散射来提供高分辨率的图像。
在使用TEM进行观察时,需要一些实验技巧来保证观察效果。
首先,样品制备非常重要。
样品应该被制成薄片,以保证电子束能够穿透并获得高分辨率图像。
其次,选择合适的对比度增强剂可以提高图像质量。
最后,通过控制透射电镜的衍射模式和聚焦,可以进一步改善图像质量和观察效果。
四、大角度X射线散射(SAXS)大角度X射线散射技术可以用来表征材料的纳米尺度结构。
通过利用X射线与材料相互作用产生的散射模式,可以获得材料内部的结构信息。
在进行SAXS实验时,需要注意一些技巧来提高实验效果。
材料组织结构的表征与分析材料科学是研究材料的性质和结构的学科,而材料的组织结构对其性质和性能有着重要影响。
因此,对材料组织结构的表征与分析是材料科学研究的重要内容之一。
本文将探讨材料组织结构的表征方法和分析技术。
一、显微结构分析显微结构分析是研究材料组织结构的基础方法之一。
光学显微镜是最常用的显微结构观察工具,通过对材料进行金相制样和显微观察,可以获得材料的晶粒大小、晶界分布、相组成等信息。
此外,透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)等高分辨率显微镜的应用,可以进一步观察材料的细微结构,如晶体缺陷、相界面等。
二、X射线衍射分析X射线衍射是一种非常重要的材料组织结构分析方法。
通过将X射线照射到材料上,利用材料晶体对X射线的衍射现象,可以得到材料的晶格参数、晶体结构和晶体取向等信息。
X射线衍射技术广泛应用于材料的晶体结构分析、相变研究和晶体取向分析等领域。
三、电子显微衍射分析电子显微衍射是一种利用电子束与材料相互作用的现象进行结构分析的方法。
通过电子束的散射现象,可以获得材料的晶格结构、晶体取向和晶体缺陷等信息。
电子衍射技术在材料科学领域中的应用十分广泛,尤其在纳米材料的研究中具有重要意义。
四、原子力显微镜分析原子力显微镜(AFM)是一种基于原子力相互作用的表面形貌观察技术。
通过探针与材料表面的相互作用力,可以得到材料的表面形貌、粗糙度和力学性质等信息。
AFM技术在材料科学研究中的应用非常广泛,尤其在纳米材料和薄膜的研究中具有独特的优势。
五、热分析技术热分析技术是通过对材料在不同温度下的物理和化学性质的变化进行分析的方法。
常用的热分析技术包括差示扫描量热法(DSC)、热重分析法(TGA)和热膨胀分析法(TMA)等。
这些技术可以用于研究材料的热稳定性、热分解行为和相变特性等。
六、电子能谱分析电子能谱分析是一种通过测量材料中电子能量分布来研究材料组织结构的方法。
常用的电子能谱分析技术包括X射线光电子能谱(XPS)和电子能量损失谱(EELS)等。
材料科学中的结构表征与性能分析材料科学是一门研究材料的结构、性质和性能之间关系的学科。
在材料科学中,结构表征和性能分析是非常重要的研究方法,用于揭示材料的内部结构以及其对外界环境的响应。
本文将讨论材料科学中的结构表征与性能分析的相关内容。
一、材料的结构表征1. 光学显微镜观察光学显微镜是最常用且简单的材料结构表征方法之一。
通过光学显微镜可以观察到材料的表面形貌和内部微观结构,如晶界、颗粒分布等。
此外,还可以对材料进行晶体学分析,确定晶体结构和晶体取向。
2. 扫描电子显微镜(SEM)SEM是一种高分辨率的表面成像技术。
它利用电子束与样品表面相互作用的方式,获得材料表面的形貌和微观结构信息。
与光学显微镜相比,SEM可以获得更高的放大倍数和更详细的细节。
3. 透射电子显微镜(TEM)TEM是一种通过物质对电子的散射来观察材料内部结构的技术。
通过透射电子显微镜可以获得材料的高分辨率图像,并对材料的晶体结构、晶界、缺陷等进行详细分析。
4. X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种通过材料对X射线进行衍射来确定材料晶体结构的方法。
XRD可以获得材料的晶体结构信息、晶格常数、晶体取向、影响材料性能的晶体缺陷等信息。
5. 核磁共振(NMR)核磁共振是一种通过观察核自旋在外加磁场下的行为来分析材料结构的方法。
核磁共振可以用于确定材料中不同原子核的类型和数量,了解材料的化学结构。
二、材料性能的分析1. 机械性能分析机械性能是材料重要的性能之一,包括强度、韧性、硬度、延展性等。
通过拉伸试验、硬度试验、冲击试验等可以测定材料的机械性能。
此外,还可以通过纳米压痕测试、微弯曲测试等方法对材料的力学性能进行研究。
2. 热性能分析热性能包括热膨胀系数、热导率、热稳定性等。
热膨胀系数可以通过热膨胀仪进行测量,热导率可以通过热导率仪进行测定。
热性能的分析可以为材料在高温环境下的应用提供重要的指导。
3. 导电性能分析导电性能是指材料对电流的导电能力。
材料结构的表征与分析材料结构是指材料内部的原子、分子或晶体的排列方式,对于材料的性能和特性具有重要影响。
因此,准确地了解和表征材料结构是材料科学与工程领域的关键任务之一。
本文将探讨材料结构的表征与分析的方法和技术。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是一种常用的表征材料结构的方法。
通过使X射线束入射到材料上并测量衍射角度和强度,可以确定材料的晶体结构和晶体学参数。
这种方法适用于具有规则晶体结构的材料,如金属、陶瓷和无机晶体材料。
通过X射线衍射,可以确定晶格参数、晶面间距和晶体取向等重要信息。
二、扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜(SEM)是一种用来观察材料表面形貌和分析微观结构的强大工具。
它使用高能电子束对样品进行扫描,通过检测样品在电子束作用下发射的次级电子或背散射电子,可以获得高分辨率的表面形貌图像。
此外,通过SEM配合能谱仪,还可以进行元素分析,获得材料的成分信息。
三、透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜(TEM)通过透射电子束对样品进行照射和观察,可获得更高分辨率的材料图像。
TEM适用于研究纳米级材料结构和纳米颗粒的形貌与成分。
它可以观察到晶体缺陷、晶体结构和点缺陷等微观细节,以及观察到材料的析出相、晶体形态和晶体取向。
四、原子力显微镜(AFM)原子力显微镜(AFM)通过扫描样品表面与探针之间的相互作用力,可以获得样品表面的三维形貌信息。
相比于传统的光学显微镜,AFM具有更高的分辨率和更强的表征能力,能够观察到纳米级别的表面特征和纳米结构。
此外,AFM还可以通过力-距离曲线,获取样品的力学性能和材料刚度等信息。
五、核磁共振(NMR)核磁共振(NMR)技术是一种用来研究原子核自旋状态和材料内部有关结构的方法。
通过在外部磁场和射频辐射的作用下,激发样品中的原子核共振信号,并通过分析共振信号的频率和强度,可以获得材料的化学成分、分子结构和局域环境等信息。
NMR技术广泛应用于化学、生物学和材料科学领域。
材料组织结构的显微分析与表征材料科学是研究材料性质与性能的一门学科,而材料的组织结构是决定其性质与性能的关键因素。
通过显微分析与表征技术,可以深入了解材料的内部结构与微观特征,为材料设计和工艺改进提供科学依据。
本文将介绍几种常见的显微分析与表征技术,以及它们在材料科学研究中的应用。
一、光学显微镜光学显微镜是最常用也是最基础的显微表征技术之一。
它利用可见光在材料表面反射或透射的原理,通过放大镜片来观察材料的形貌和结构。
光学显微镜适用于非金属材料的晶粒观察和颗粒大小测量,特别是对于透明材料和薄膜的研究有着重要的作用。
此外,光学显微镜还可以结合其他技术,如偏光显微镜和荧光显微镜,来研究材料的晶体结构和化学成分。
二、电子显微镜电子显微镜是一种利用电子束取代光束进行成像的显微表征技术。
相对于光学显微镜,电子显微镜具有更高的分辨率和放大倍数,可以观察到更细微的结构和更小的颗粒。
电子显微镜分为扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM),分别适用于表面形貌和内部结构的观察。
电子显微镜广泛应用于金属材料的析出相研究、纳米材料的形貌表征以及生物材料的细胞结构观察等领域。
三、X射线衍射X射线衍射是一种利用物质对X射线的散射来研究其结晶性质的技术。
通过测量材料对X射线的散射角度和强度,可以确定材料的晶胞参数和晶体结构。
X射线衍射广泛应用于金属、陶瓷和无机晶体材料的晶体学研究。
此外,X射线衍射还可以结合其他技术,如能谱分析和衍射成像,来研究材料的化学成分和表面形貌。
四、原子力显微镜原子力显微镜(AFM)是一种基于力的显微表征技术,可以在纳米尺度下观察材料的形貌和力学性质。
AFM利用微小的力探针扫描材料表面,通过检测力变化来绘制出材料的拓扑图像。
AFM适用于各种材料的表面形貌和力学性质的表征,对于纳米材料、生物材料和涂层材料的研究尤为重要。
综上所述,材料组织结构的显微分析与表征技术是材料科学研究中不可或缺的工具。
通过光学显微镜、电子显微镜、X射线衍射和原子力显微镜等技术,我们可以深入了解材料的内部结构和微观特征,为材料设计、工艺改进和性能优化提供科学依据。
材料结构表征及应用材料结构表征是材料科学领域中的重要研究内容,它涉及到材料的组成、结构、性能以及应用等方面。
材料的结构表征可以通过多种手段进行,例如X射线衍射、电子显微镜、原子力显微镜等,这些手段可以帮助科研人员深入了解材料的微观结构和性能,为材料的设计、制备和应用提供重要的参考依据。
X射线衍射是一种常用的材料结构表征手段,通过衍射图谱的分析可以得到材料的晶体结构信息,包括晶格常数、晶体取向、晶粒尺寸等。
电子显微镜则可以帮助科研人员观察材料的微观形貌和结构特征,包括晶粒形状、晶界分布、缺陷结构等。
原子力显微镜则可以实现对材料表面的原子尺度的观测,揭示材料表面的形貌和表面缺陷等信息。
除了以上提到的手段外,还有许多其他的材料结构表征手段,例如热分析技术、核磁共振、拉曼光谱等,这些手段可以从不同的侧面揭示材料的结构和性能信息。
通过综合运用这些手段,科研人员可以全面地了解材料的结构特征,为材料的应用提供更加可靠的支撑。
材料的结构表征不仅对于科研领域具有重要意义,也对于工业生产具有重要意义。
通过对材料结构的深入了解,可以实现对材料性能的精准调控,提高材料的性能指标,拓展材料的应用领域。
例如,通过对材料的晶体结构进行优化,可以实现对材料强度、硬度、导电性等性能的提升,从而提高材料的工程应用价值。
在材料科学领域,结构表征与应用是密不可分的。
只有深入了解材料的结构特征,才能实现对材料性能的准确把握,为材料的应用提供可靠的支撑。
因此,材料结构表征是材料科学研究中的重要环节,它为材料的设计、制备和应用提供了重要的科学依据。
总之,材料结构表征是材料科学研究中的重要内容,通过多种手段对材料的结构特征进行深入了解,可以为材料的应用提供可靠的支撑。
材料科学领域的研究人员应该不断探索新的结构表征手段,提高材料结构表征的准确性和可靠性,为材料的应用领域拓展提供更加有力的支持。
材料结构和性能的表征技术在现代材料科学中占据着极为重要的位置。
材料的结构和性能直接关系着材料在工程领域的应用效果,因此,如何准确、全面地表征材料的结构和性能成为了材料科学家们不断追求的目标。
在这篇文章中,我们将介绍几种常见的材料结构和性能表征技术,并探讨其优缺点。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是材料结构表征的一种重要手段,因其高分辨率、非破坏性分析等特点被广泛应用于材料研究领域。
它通过测量材料中的原子间距和晶体格点的形状、大小等参数,来确定晶体结构,从而得到材料的结构信息。
X射线衍射技术的优点在于其可观测性广泛,通过衍射谱可以得到材料的晶体结构、晶格常数、各向异性等信息。
而在实验中,由于X射线与材料依赖于不同的性质进行相互作用,因此,它是一种非常有前途的材料表征技术。
但是,X射线衍射技术的缺点也很明显:首先,这种技术对于样品的制备要求很高,必须对样品进行磨片处理来得到精确的晶面和光滑的表面。
其次,该技术所得的结果通常是定性的,也就是说并不能直观地获得晶体中原子的精确坐标等信息。
二、透射电子显微技术透射电子显微技术是一种获取材料微观结构信息的重要手段,是通过加速器来加速电子产生高速电子流,然后通过材料,透过不同衬底实现样品在几个电子的缩微像的测量。
这种技术的原理是在样品表面进行微小切片,然后通过衬底透射出去的电子进行成像,从而获得关于材料的结构和性能信息。
透射电子显微技术的优点在于其分辨率极高,结合样品制备和拍照等措施,可以获得非常精确的材料结构和性能信息,并能观测到细微的结构变化和构象关系等信息。
同时,透射电子显微技术也可广泛应用于研究如晶粒大小、晶体缺陷、材料相变等信息。
但是,该技术也存在一些不足之处。
由于样品制备和显微镜性能的限制,透射电子显微技术成像范围通常很小,无法同时获得大面积、高分辨率的信息。
同时,由于其操作成本较高,需要高昂的仪器设备和高水平的操作技术,因此难以广泛应用于实际生产和研究。
目录一XRD衍射分析 (2)二红外光谱 (3)三紫外光谱 (4)四光电子能谱分析(XPS) (5)五热重分析 (6)六差热分析 (7)七TEM (8)八SEM (9)九核磁共振 (9)十质谱分析 (10)十一拉曼光谱 (11)十二EXAFS (12)十三热滞回线 (13)十四IV曲线测量 (14)十五DSC 差示扫描量热法 (15)十六流阻抗谱 (16)十七磁力显微术 (16)十八AFM分析 (18)十九STM(扫描隧道显微镜) (20)一XRD衍射分析XRD即X-ray diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
工作原理X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。
在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。
X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。
晶体可被用作X光的光栅,这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用,从而影响散射的X射线的强度增强或减弱由于大量原子散射波的叠加,互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
满足衍射条件,可应用布拉格公式:2dsinθ=nλ表征内容应用已知波长的X射线来测量θ角,从而计算出晶面间距d,这是用于X射线结构分析;另一个是应用已知d的晶体来测量θ角,从而计算出特征X射线的波长,进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
用途目前X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。
主要应用有以下方面:1 物相分析是 X射线衍射在金属中用得最多的方面,分定性分析和定量分析。
前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较,确定材料中存在的物相;后者则根据衍射花样的强度,确定材料中各相的含量。
材料的五种表征方法一、引言材料的表征是指通过一系列实验和测试方法来获取材料的性质和特征的过程。
材料表征方法的选择取决于所研究材料的性质和研究目的。
本文将介绍五种常用的材料表征方法,包括结构表征、形貌表征、力学表征、热学表征和电学表征。
通过深入探讨这些表征方法,我们可以更好地理解材料的性能和应用。
二、结构表征结构表征是研究材料内部结构和组成的方法。
常用的结构表征方法包括X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)等。
1. X射线衍射(XRD)X射线衍射是一种分析材料结晶结构的方法。
通过照射材料表面的X射线,根据X 射线与晶体的相互作用产生的衍射图样,可以确定材料的晶体结构和晶格常数。
2. 扫描电子显微镜(SEM)扫描电子显微镜是一种观察材料表面形貌和微观结构的方法。
通过扫描电子束和样品表面的相互作用,可以获取高分辨率的材料表面形貌图像,并且可以分析材料的成分和晶体结构。
3. 透射电子显微镜(TEM)透射电子显微镜是一种观察材料内部结构和晶体缺陷的方法。
通过透射电子束和材料的相互作用,可以获取高分辨率的材料内部结构图像,并且可以分析材料的晶体结构、晶格缺陷和晶界等。
三、形貌表征形貌表征是研究材料表面形貌和微观结构的方法。
常用的形貌表征方法包括原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)和光学显微镜等。
1. 原子力显微镜(AFM)原子力显微镜是一种通过探针和材料表面之间的相互作用来观察材料表面形貌和表面力学性质的方法。
通过探针的运动和反馈信号,可以获取高分辨率的材料表面形貌图像,并且可以测量材料表面的力学性质。
2. 扫描隧道显微镜(STM)扫描隧道显微镜是一种通过电流和材料表面之间的隧道效应来观察材料表面形貌和电学性质的方法。
通过探针的运动和反馈信号,可以获取原子尺度的材料表面形貌图像,并且可以测量材料表面的电导率和电子结构。
3. 光学显微镜光学显微镜是一种观察材料表面形貌和显微结构的方法。
09030141第三组作业按我们的理解,材料表面成分和结构的表征即是材料的表面成分和结构的分析.表面成分分析包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布(横向和纵向)测定等。
表面成分分析技术主要有俄歇电子能谱(AES),X射线光电子能谱(XPS),二次离子质谱(SIMS),电子探针显微分析,离子探针显微分析等。
表面结构分析指研究表面晶相结构类型或原子排列,表面结构分析技术主要有X射线衍射、低能电子衍射(LEED)、光电子衍射(XPD)、中子衍射、扫描隧道显微镜和原子力显微镜等。
通过分析这些能谱图和衍射花样的特点,来表征材料表面的成分和结构.1. 表面成分分析1。
1俄歇电子能谱分析常规俄歇电子能谱分析(AES,Auger ElectronSpectroscopy)是利用入射电子束使原子内层能级电离,产生无辐射俄歇跃迁,俄歇电子逃逸到真空中,用电子能谱仪在真空中对其进行探测的一种分析方法。
在薄膜材料化学成分的分析方面,俄歇电子能谱是应用最为广泛的分析方法,它能对表面0.5~2 nm范围内的化学成分进行灵敏的分析,分析速度快,能分析从Li—U的所有元素,不仅能定量分析,而且能提供化学结合状态的情况.亦可用氩或其它惰性气体离子对试样待分析部分进行溅射刻蚀,从而得到材料沿纵向的元素成分分析。
俄歇电子能谱基本原理入射电子束和物质作用,可以激发出原子的内层电子。
外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量,可能以X光的形式放出,即产生特征X射线,也可能又使核外另一电子激发成为自由电子,这种自由电子就是俄歇电子。
对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射:特征X射线或俄歇电子。
原子序数大的元素,特征X射线的发射几率较大,原子序数小的元素,俄歇电子发射几率较大,当原子序数为33时,两种发射几率大致相等。
因此,俄歇电子能谱适用于轻元素的分析。
如果电子束将某原子K层电子激发为自由电子,L层电子跃迁到K层,释放的能量又将L层的另一个电子激发为俄歇电子,这个俄歇电子就称为KLL俄歇电子。
《材料结构与表征》考试大纲(金属部分)1. 热处理:是指将钢在固态下加热、保温和冷却,以改变钢的组织结构,获得所需要性能的一种工艺•热处理区别于其他加工工艺如铸造、压力加工等的特点是只通过改变工件的组织来改变性能,而不改变其形状。
只适用于固态下发生相变的材料,不发生固态相变的材料不能用热处理强化。
热处理原理:描述热处理时钢中组织转变的规律称热处理原理。
热处理工艺:根据热处理原理制定的温度、时间、介质等参数称热处理工-f-p乙。
加热是热处理的第一道工序。
加热分两种:一种是在A1以下加热,不发生相变;另一种是在临界点以上加热,目的是获得均匀的奥氏体组织,称奥氏体化。
2. 大晶系包含的点阵类型为什么不是28种,而是14种?划分点阵类型的原则有两个,分别是:1)晶胞的顶点、面心、体心均为等同点;2)不改变对称性。
根据条件1,每种晶系应该都包括4种点阵类型,即简单点阵、底心点阵、面心点阵、体心点阵。
似乎7大晶系应该共包括28种点阵类型。
但是,依据条件2,根据旋转对称性,这28种点阵类型中有14种是重复的。
3. 从晶体结构和堆垛模式说明为什么FCC和HCP如此相似。
根据FCC和HCP晶体的堆垛特点论证这两种晶体中的八面体和四面体间隙尺寸必相同。
1)主要从HCP和FCC两种晶体按密排面的堆垛次序来讨论。
HCP晶体的密排面为(0001)面。
从图1-15可以看出晶胞中部(处)2的密排原子层相对于底层错动了l[1010],而顶层又相对于中间层错动了,1010]。
3 3因此,沿[0001]方向看,底层和顶层原子是重合的。
也就是说,HCP晶体按密排面(0001)的堆垛次序是ABAB••…。
图1-15 HCP晶胞沿(0001 )面的堆垛FCC晶体的密排面是(111)面。
如图1-16所示,第二层(111)面上的W原子和第一层(111)面上的X、丫、Z原子相切,投影应该在XYZ三角形的重心上。
因此,第二层相对于第一层错动了丄[112]。
基本概念集锦
1、材料(materials):人类能用来制作有用物件的物质。
2、材料的四大家族
A. 金属材料
B. 无机非金属材料
C. 高分子材料
D. 复合材料
3、材料的结构与组成
第一层次:原子结构(电子构型、化学键、原子与电子性缺陷)。
第二层次:原子在空间的排列(单晶、多晶、非晶)。
第三层次:材料的显微组织形貌(各种缺陷)。
4、简正振动:
整个分子质心不变、整体不转动、各原子在原地作简谐振动且频率及相位相同、所有的原子都在同一瞬间通过各自的平衡位置,此时分子中的任何振动可视为所有上述简谐振动的线性组合。
将振动形式分成两类:
a. 伸缩振动(νs、νas)
b. 变形振动(又称弯曲振动或变角振动,用符号δ表示)
同一键型:
•反对称伸缩振动的频率大于对称伸缩振动的频率;
•伸缩振动频率远大于弯曲振动的频率;
•面内弯曲振动的频率大于面外弯曲振动的频率。
vas > vs >>δ面内>δ面外
5、分子吸收红外光谱的条件
(1)振动必须能够引起分子偶极矩的变化
(2)红外辐射光的频率与分子振动的频率相当
6、红外光谱信息区
① 4000~2500 cm-1 X—H伸缩振动区
② 2500~2000 cm-1 叁键、累积双键伸缩振动区
③ 2000~1500 cm-1 双键伸缩振动区
④ 1500~ 670 cm-1 单键振动(X—Y伸缩,X—H变形振动区)及指纹区
7、振动偶合:
当两个振动频率相同或相近的基团相邻并由同一原子相连时,两个振动相互作用(微扰)产生共振,谱带一分为二(高频和低频)。
8、Fermi(费米)共振:
当一振动的倍频或组频与另一振动的基频接近时,由于发生相互作用而产生很强的吸收峰或裂分分裂成两个不同频率的峰。
9、
1. >3200:O—H(1个峰,强,宽)或N—H(H个峰,中强,锐)
2. 3000左右:C—H
3. Ω≥4:苯环(单取代双峰、邻位单峰、间位三峰、对位单峰兰移)
4. 3050、1600、1500:苯环
5. 1700:C=O
6. -CH3:4个峰(2960、2870、1460、1380)
7. -CH2-:3个峰( 2930、2850、1460)
8. 异丙基:1385、1375等强双峰
9. C=C:单取代双峰,多取代单峰;顺式(690)、反式(970)
10. -(CH2)n-:n≥4时,720弱峰
10、红外光谱仪类型:
色散型:利用单色器作为色散元件(60年代)
干涉型:傅立叶变换红外光谱仪,利用光的干涉作用测定,没有色散元件(70年代)
11、
12、拉曼光谱:
当用一定频率的激发光照射分子时,一部分散射光的频率和入射光的频率相等,称为瑞利散射。
另外一部分散射光的频率和激发光的频率不等,称为拉曼散射(拉曼散射:光波在被散射后频率发生变化的现象。
)。
拉曼散射所导致的拉曼位移与入射光频率无关,而只取决于分子振动能级的变化,即只与散射分子本身的结构有关。
13、拉曼光谱发展史:
1923年,德国物理学家斯迈克尔(A.Semkal)在理论上预言了光的非弹性散射,指出光通过介质时,其频率和相位都会发生无规律的变化。
1928年,印度物理学家拉曼(C.V.Raman)发现了光的非弹性散射。
14、Raman位移:
Stokes线或反Stokes线的频率与入射光频率之差,称为Raman位移。
①当入射光子(hv0)把处于E0能级的分子激发到E0+hv0能级,因这种能态不稳定而跃回E1能级,其净结果是分子获得了E1与E0的能量差h,而光子就损失了这部分的能量,即使散射光频率小于入射光频率,产生Stokes线。
②当入射光子(hv0)把处于E1能级的分子激发到E1+hv0能级,因这种能态不稳定而跃回E0能级,这时分子就要损失掉E1与E0的能量差h,而光子获得了这部分的能量,结果是散射光频率大于入射光频率,这样就产生了反Stokes线。
15、红外与拉曼法则
(1)互排法则:凡有对称中心的分子,IR和Raman活性是相互排斥的。
(2)互允法则:一般来说,不具备对称中心的分子,其IR和Raman光谱的活性是可以并存的。
(3)互禁法则:少数分子的振动在IR和Raman中都是非活性的。
16、比较
17、拉曼光谱仪(激发光源、滤光器、单色器、检测装置)
激光:提供激发光源
滤光片:消除占优势的Rayleigh散射
单色器:将拉曼散射光分光并减弱杂散光
检测器:检测拉曼散射信号
18、核磁共振:
磁矩不为零的原子核,在外磁场作用下自旋能级发生塞曼分裂,共振吸收某一定频率的射频辐射的物理过程。
19、能级分裂:
顺磁场,能量低;逆磁场,能量高。
两者的能级差随H0增大而增大,这种现象称为能级分裂,或称塞曼分裂。
20、进动:
在静磁场中原子核绕其自旋轴旋转,而自旋轴又与静磁场保持某一夹角θ作旋进运动,使磁矩有趋向于外磁场方向的趋势。
这种运动方式就是进动(又称Lamor进动)。
21、共振吸收条件:
(1)ν0=ν:照射频率必须等于原子核进动频率。
(2)△m=±1:根据量子选律,跃迁只能发生在两个相邻能级间。
22、饱和:
当低能级的核吸收了射频辐射后,被激发至高能态,同时给出共振吸收信号。
但随实验进行,只占微弱多数的低能级核越来越少,最后高、低能级上的核数目相等,此时从低到高与从高到低能级的跃迁的数目相同,体系净吸收为0,共振信号消失!
23、弛豫:
由于受到核外电子云的屏蔽作用,无法通过碰撞释放能量。
处于高能态的核通过非辐射途径释放能量而及时返回到低能态的过程。
由于弛豫现象的发生,使得处于低能态的核数目总是维持多数,从而保证共振信号不会中止。
24、纵向弛豫T1:
受激态高能级磁核将能量传递给周围的介质粒子,自身回复到低能磁核的过程。
25、横向弛豫T2:
受激态高能级磁核将能量传递给同种低能级磁核,自身回到低能级磁核的过程。
26、弛豫时间:
驰豫过程所需的时间用半衰期T表示。
T越大,高能态寿命越长,驰豫效率越低。
27、自旋偶合:
核磁共振中,除了外磁场H0引起的核的能级裂分外,还存在由于相邻两个(组)磁性核自旋产生的次生场相互干扰引起的能级的进一步裂分,也称自旋裂分。
28、简单偶合的特征:
①服从n+1规律;
②遵守(a+b)n规则;
③符合“向心法则”
【解释】:
1、n+1规律:某类质子分裂的峰数目取决于邻近磁核所能给出不同磁矩的自
旋方式结合的数目,即某氢核与n个相邻氢偶合时将被分裂为n+1重峰,而与该基团本身的氢数无关。
2、(a+b)n规则:裂分峰的强度比符合(a+b)n展开式各项系数之比。
3、向心法则:相互偶合的两组峰为内高外低彼此相靠。
29、化学等价质子、磁等价质子、磁不等价质子
1、化学等价质子:
具有相同化学位移的质子
2、磁等价质子:
分子中若有一组自旋核,其化学位移相同,并且它们各个自旋核对组外任何一个磁核的偶合常数彼此也相同,那么这组核称为磁等价质子。
3、磁不等价质子:
化学等价但对组外质子的偶合作用不同的一组质子。
30、1H-NMR谱提供的信息
①峰的数目:分子中有多少种不同类型的氢。
②峰的位置:分子中氢的类别。
③峰的强度(积分高度):每种氢的数目。
④峰的裂分数目:邻近碳上氢原子的个数
31、13C-NMR谱的特点
①信号强度低。
②化学位移范围宽。
③偶合常数大。
④弛豫时间长。
32、13C-NMR谱的类型
1、质子非去偶谱
2、宽带去偶谱(全去偶谱)
3、偏共振去偶谱
4、选择氢去偶谱
33、质谱基本原理:
使试样中各组分在离子源中发生电离,生成不同质荷比的带正电荷的离子,经加速电场的作用,形成离子束,进入质量分析器。
在质量分析器中,再利用电场和磁场使发生相反的速度色散,将它们分别聚焦而得到质谱图,从而确定其质量。
34、质谱仪的结构
进样系统、离子源、质量分析器、检测器、数据系统
常用离子源:电子电离源(EI)、化学电离源(CI)、场致电离源(FI)、场解吸电离源(FD)、快原子轰击电离源(FAB)、电喷雾电离源(ESI)、大气压化学电离源(APC)等。
作用:将不同碎片按质荷比m/e分开
35、γH重排条件:
①含有C=O, C=N,C=S等碳碳双键;
②与双键相连的链上有γ碳,并在γ碳有H原子(γ氢);
③六元环过渡,γH转移到杂原子上,同时β键发生断裂,生成一个中性分子和一个自由基阳离子。