下载文档原格式
本文针对手机电磁兼容测试中经常出现的问题，包括静电放电抗扰度试验、电快速瞬变脉冲群抗扰度试验、辐射骚扰及传导骚扰性能测试中经常发现的问题进行了分析，并提出了相应的改善手机电磁兼容性能的建议。
1 静电放电抗扰度试验1.1静电放电抗扰度试验常见问题静电放电抗扰度测试中出现的问题主要表现在以下几个方面。
(1)手机通话中断。
(2)静电放电导致手机部分功能失效，但静电放电过程结束后或者重新启动手机之后失效的功能可以恢复。
这些现象可能为：屏幕显示异常，如屏幕显示呈白色、出现条纹、显示出现乱码、显示模糊等等;通话效果出现问题，如啸叫声或者声音消失;按键功能或者触摸屏功能丧失;软件出现误告警，如在并没有出现插拔充电器的情况下频繁提示“充电已连接、充电器已移除”。
(3)手机自动关机或者重新启动现象。
这个问题既可能发生在通话过程中，也可能发生在待机过程中。
(4)静电放电导致手机失效或损坏。
由于部分器件损坏，手机的一些功能在重新启动后仍无法恢复，如摄像头功能;自动关机后无法再次开机的情况;与充电器相连接的情况下进行测试时，充电器也可能出现失效、损坏甚至爆炸等问题。
1.2静电放电问题的具体分析(1)通话中断：造成通话中断的主要原因是静电放电对手机内部的射频电路和/或基带电路造成影响，造成了通信信噪比的下降，信号同步出现问题，从而造成通话中断。
结构设计不合理也可能导致通话中断。
静电放电试验中需要使用较大面积的金属材质的水平耦合板，手机与水平耦合板之间仅放置一个厚度为0.5 mm的绝缘垫。
当天线或者大面积的金属部件距离这个水平耦合板距离过近时，可能产生相互耦合，导致移动电话机实际能达到的灵敏度大大下降，进行静电试验时通话更容易中断，严重时即使不施加静电干扰移动电话机都无法保持通话。
(2)自动关机或重启：基带电路的复位电路受到静电的干扰导致手机误关机或重启。
(3)手机失效或损坏：静电放电过程中高电压和高电流导致器件的热失效或者绝缘击穿。
抗干扰介损测试仪现场试验故障解决方法
背景
在介质介电损耗测试中，抗干扰性是一个关键的指标。
为了保证测量的精准性，需要使用高品质的抗干扰介损测试仪。
然而，即使使用了高品质的仪器，仍旧有可能在现场试验中显现故障。
本文将介绍在使用抗干扰介损测试仪进行现场试验中显现故障的解决方法。
故障描述
在一次现场试验中，使用抗干扰介损测试仪进行介质介电损耗测试时，显现了以下问题：
1.在进行测试时，仪器显示的测试结果不稳定，显现了大幅
度的波动。
2.仪器显示的数值与实际数值相差较大，误差较大。
解决方法
故障排查
在显现故障时，首先需要进行故障排查。
在本案例中，我们首先排出了以下可能的问题：
1.仪器所在位置有较强的电磁干扰；
2.仪器本身存在故障。
可能的原因
经过排查，我们认为故障可能是由以下原因导致的：
1.电缆连接不良，信号传输不稳定；
2.引入的电磁干扰干扰了仪器的测量；
3.介质本身存在故障，导致测试结果显现大的波动或误差。
解决方案
依据可能的原因，我们分别实行以下措施进行解决：
1.对电缆连接进行检查，确保连接良好；
2.对测试环境进行调整，削减电磁干扰；
3.假如检查结果表明介质本身存在故障，需要更换或修理介
质。
结论
在介质介电损耗测试中，美好的测试结果需要倚靠一台高品质的抗干扰介损测试仪。
当显现故障时，需要通过故障排查来找到问题的根源，并依据问题的不同，实行相应的解决方案。
只有这样，才能确保测试的精准性，同时降低试验过程中的风险。
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验问题及解决方法随着手机使用的普及和通信技术的飞速发展，办公室、机房、公共场所，电子产品无处不在，这些产品处于此种复杂化的电磁环境中，彼此正常工作显得尤为重要，而手机在此环境中能够正常工作且不会影响其它设备，其电磁兼容性尤为重要，因此必须对手机进行电磁兼容性进行测试，来保证手机的电磁兼容性能。
手机电磁兼容测试标准不同制式的手机电磁兼容测试时，选择不同的行业标准，依据的基础标准相同，见下表1。
表1 手机电磁兼容测试标准对于手机电磁兼容测试，下面是对于易出现问题项目的电快速瞬变脉冲群抗扰度试验进行的描述。
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验问题及解决方法1.电快速瞬变脉冲群抗扰度试验相关问题的具体情况电快速瞬变脉冲群产生的原理：当电感性负载（如继电器、接触器等）在断开时，由于开关触点间隙的绝缘击穿或触点弹跳等原因，在断开处产生的瞬态骚扰。
当电感性负载多次重复开关，则脉冲群又会以相应的时间间隙多次重复出现。
这种瞬态骚扰能量较小，一般不会引起设备的损坏，但由于其频谱分布较宽，所以会对移动电话机的可靠工作产生影响。
该试验是一种将由许多快速瞬变脉冲组成的脉冲群耦合到移动电话机的电源端口的试验。
试验脉冲的特点是：瞬变的短上升时间、重复出现和低能量。
该试验的目的就是为了检验手机在遭受这类暂态骚扰影响时的性能。
一般认为电快速瞬变脉冲群之所以会造成手机的误动作，是因为脉冲群对线路中半导体结电容充电，当结电容上的能量累积到一定程度，便会引起手机的误操作。
具体表现为在测试过程中移动电话机通信中断、死机、软件告警、控制及存储功能丧失等。
2.电快速瞬变脉冲群抗扰度试验相关问题的分析电快速瞬变脉冲波形通过充电器直接传导进手机，导致主板电路上有过大的噪声电压。
当单独对火线或零线注入时，尽管是采取的对地的共模方式注入，但在火线和零线之间存在差模干扰，这种差模电压会出现在充电器的直流输出端。
当同时对火线和零线注入时，存在着共模干扰，但对充电器的输出影响并不大。
传导干扰整改方案第一篇：传导干扰整改方案传导发射整改方案失败原因分析1.所选emi滤波器额定电流过大（35a），而负载额定电流仅为1a，共模电流流过滤波器的共模扼流圈所产生的磁场过小，因此未能有效滤除共模干扰；2.emi滤波器引线过长，离电源入口端较远，且线缆为普通线缆，在高频段易产生电磁耦合；3.输入引线与输出引线距离太近，在高频段两者相互耦合；4.滤波器及控制器接地效果较差；5.动力接插件接地电阻太大，造成电缆屏蔽层接地效果差。
6.码盘线延长线与航插线连接时，屏蔽层不是360°搭接，接地效果差；7.电源线与信号线同走航插线，容易耦合。
8.控制板地未与壳体连接9.电源输出端滤波电路过于简单。
整改方案1.emi滤波器换用屏蔽线缆，且尽量靠近电源输入口，并有效接地；2.控制器内部连接线采用屏蔽线缆，且屏蔽层有效接地；3.控制板卡接地线上加高频扼流圈；4.控制器有效接地；（底板去除氧化层或者用瘪铜线）5.试验对比出负载属性，选择滤波器结构；6.计算滤波器谐振点，确保其小于150khz；7.在板卡电源输入前加额定电流1a或3a的滤波器，并增加差模电容容值和共模电容容值观察滤波效果，而后，在滤波器后端增加一级共模扼流圈和共模电容，并调节共模扼流圈电感值和共模电容容值，观察滤波效果；8.在板卡电源输出端增加差模电容，若效果仍不满足要求，则进行割线，加入一级滤波电路；9.在控制器外部供电电缆上套磁环；整改所需器件清单第二篇：EMI传导与辐射超标整改方案传导与辐射超标整改方案开关电源电磁干扰的产生机理及其传播途径功率开关器件的高额开关动作是导致开关电源产生电磁干扰(emi)的主要原因。
开关频率的提高一方面减小了电源的体积和重量，另一方面也导致了更为严重的emi问题。
开关电源工作时，其内部的电压和电流波形都是在非常短的时间内上升和下降的，因此，开关电源本身是一个噪声发生源。
开关电源产生的干扰，按噪声干扰源种类来分,可分为尖峰干扰和谐波干扰两种;若按耦合通路来分,可分为传导干扰和辐射干扰两种。
EFT原理及解决方法本帖被fasten 从测试报告共享学习移动到本区(2008-05-20)瞬态脉冲骚扰及抑制方法瞬态脉冲骚扰及抑制方法2006-9-11 11:51:30未知来源供稿摘要：量度继电器、继电保护及自动化装置(以下简称继电器及装置)随着电子技术的发展已实现微机化及数字化。
在电力系统恶劣的电磁环境中经常受到电磁骚扰，出现电磁干扰的几率很大，严重影响量度继电器及装置的正常工作。
其中影响较大的是瞬态脉冲骚扰。
本文从分析瞬态脉冲骚扰产生的原因着手，总结出各种瞬态脉冲骚扰的特征，提出抑制的方法。
关键词：瞬态脉冲骚扰；原因及特征；抑制方法。
1 引言在电力系统的电磁环境中存在着一些短暂的高能量的脉冲骚扰源，这些骚扰对继电器及装置的正常工作有非常大的影响，严重时也要损坏元器件，甚至损坏设备以至于整个系统。
这些骚扰源就称为瞬态脉冲骚扰源。
产生瞬态脉冲骚扰源的原因有：雷电放电、静电放电、电力系统的开关动作过程等。
常见的瞬态脉冲骚扰源有电快速瞬变脉冲群骚扰、静电放电骚扰、浪涌(冲击)骚扰及1MHz(100kZHz)脉冲群骚扰等。
2 瞬态脉冲骚扰的产生原因2.1 瞬态脉冲骚产生的机理在开关断开电感负载电路的过程中，在电感上要产生反电势。
根据楞次定律：这个反电势应为。
反电势要向寄生电容C反向充电，随着充电电压的升高，当达到一定数值时，在触点之间要出现击穿现象，形成导电通路。
一旦出现导电通路时，电容C就要开始放电，使电压下降，当电压降到维持触点导通电压以下时，触点又将处于断开状态。
上述过程就要重复发生，此过程重复到触点的间距大至电容上电压不能使触点间再击穿为止。
当电容不能通过击穿触点放电时，就通过电感回路放电，直至电感中能量消耗完为止。
在上述过程中，电容C每次击穿触点时都要向电源回路反向充电，因此在电源回路上形成很大的脉冲电流，由于电源回路也有阻抗存在，脉冲电流通过电源回路时，在其两端就要形成脉冲电压，而共用此电源回路的其它的电路(或继电器及装置就要受到该脉冲电压的影响。
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验整改电快速瞬变脉冲群抗扰度试验是一种常用的电磁兼容性测试方法，用于评估电子设备的抗扰度能力。
该试验通过向被测设备施加电快速瞬变脉冲群，观察设备在这种脉冲干扰下的工作情况，以确定其是否能正常工作或是否具备一定的抗扰度能力。
然而，由于试验方法的特殊性和复杂性，往往会出现一些问题和不足之处，需要进行整改和优化。
针对电快速瞬变脉冲群抗扰度试验中可能存在的问题，需要进行整改。
一方面，试验过程中存在的电磁波辐射问题需要得到解决，以保证试验环境的电磁兼容性。
另一方面，试验设备的选型和设置也需要进行优化，以确保测试结果的准确性和可靠性。
此外，试验过程中可能出现的设备故障、数据采集和处理等问题也需要进行改进和完善。
为了解决上述问题，可以采取以下措施。
首先，对试验环境进行改造，增加电磁屏蔽设施，以减少试验过程中的电磁波辐射。
同时，在试验室内布置合理的电磁屏蔽材料，以提供一个低噪声的试验环境。
其次，对试验设备进行升级和调整，确保其满足试验要求，并具备较高的稳定性和可靠性。
此外，可以采用先进的数据采集和处理技术，提高试验过程中数据的采集速率和精度，确保试验结果的准确性。
在试验过程中，还应注意以下几个方面。
首先，要确保试验设备的合理连接和正确操作，避免人为因素对试验结果的影响。
其次，在试验前要对试验设备进行全面检查和测试，确保其正常工作和准确测量。
此外，还应采取合适的试验参数和方法，以保证试验结果的可比性和可靠性。
最后，在试验过程中要注意数据的记录和保存，以备后续分析和处理。
通过以上整改和优化措施，可以提高电快速瞬变脉冲群抗扰度试验的可靠性和有效性。
通过改善试验环境、升级设备和优化操作，可以减少试验误差和干扰，提高试验结果的可信度。
此外，还可通过改进数据采集和处理技术，提高试验效率和数据质量，为后续的分析和评估提供可靠的依据。
电快速瞬变脉冲群抗扰度试验的整改工作是保障电子设备抗扰度能力的重要环节。
随着汽车车载电子产品种类越来越多，加之许多重要的监视、控制系统功能为电子装置所代替，车辆安全行驶的性能也就与其工作的电磁环境密切联系了起来。
也就或其零部件的EMS 能力若太低，一旦受到内部或外部的电磁骚扰，轻者可能影响产品性能，重者则可能直接影响行车安全，致使人员损伤。
由于车辆及其零部件对安全性能要求非常高的特殊性，车辆的EMC标准的严酷程度往往高于一般电子产品数倍以上。
EMS 试验法是以外加骚扰能量到被测设备上的方式，来判定被测设备的抗扰度能力。
不同的干扰能量，须通过各种不同的试验方法，选择适合的耦合方式，才能将能量顺利的耦合到被测设备上。
外加干扰能量的传递路径主要分为辐射性与传导性两种，辐射性干扰是指骚扰能量不经由任何传输介质作为媒介，由空中传递到DUT (Device Under Test)或是DUT 的线路(电源及信号线路)，而传导性干扰则是经由电源线或信号线等线路，直接将干扰能量耦合或注入到DUT 或线路上。
外加骚扰能量的型态包含连续波与瞬态波两种，再依辐射性与传导性这两种耦合方式。
可将抗扰度试验方法细分为连续波（Continue Wave）传导、连续波辐射、瞬态传导(Transiet)及静电放电（ESD）四大类.本文主要介绍瞬态传导抗扰度试验的标准、试验方法和在大量的对具体车辆电子零部件进行的试验过程中发现的问题。
（一）特性说明瞬态现象发生的原因是一稳定的系统突然发生变化(稳态的改变：由一稳定状态突然改变至另一稳定状态)所引起的现象，在变化的过程中会产生瞬间、短暂的电流或电压脉冲现象，其瞬间脉冲的延续时间极短，从毫秒至微秒不等。
一般而言，瞬态现象会发生于车辆的线束上，大致可区分为感性负载变化、交流电源供应延迟、抛负载脉冲、切换过程所产生的瞬态波及供电电压下降等。
若以传输线理论来分析瞬态现象，可得知瞬间脉冲的发生与供应电压大小无关，供应电压大小仅与瞬间脉冲的振幅大小有关，并不是造成瞬间脉冲原因，瞬间脉冲发生的原因与稳态的改变、线束的电感及其分布电容、感性负载所造成的干扰信号有关，甚至线束的长度也会影响脉冲的宽度，一般常见之电抗性负载代表性产品如表2所示。
EMC-瞬态电压的抗扰度试验及防护1 种类浪涌（冲击）Surge：雷电，（开关）操作过电压电快速瞬变脉冲群Electrical fast transient/burst，EFT/B：切断电感性负载等引起静电放电Static electricity discharge 或Electrostatic discharge（ESD）：人体或机器静电放电2 抗扰度实验方法2.1 浪涌抗扰度实验标准：GB/T 17626.5-1999 电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验（等同采用IEC61000-4-5：1995）1）试验信号对应的短路电流波形为10/350μs。
2）抗扰度等级（试验信号电压）3）针对电源端口和非电源端口采用不同的信号源电阻和耦合方式对电源端口：线对线：2Ω(信号发生器的内阻)，耦合电容18μF线对地：2Ω(信号发生器的内阻)+10Ω, 耦合电容9μF（美国等国家用2Ω）对直流电源端口，如果不是连接到配电电源网络，视作其它端口对其它非屏蔽非对称端口：2Ω(信号发生器的内阻)+40Ω, 耦合电容0.5μF 或用放电管耦合（当电容耦合会影响被试设备工作时）对其它非屏蔽对称端口：如下图对屏蔽端口：（略）2.2电快速瞬变脉冲群抗扰度实验标准：GB/T 17626.4-1998 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验（等同采用IEC61000-4-4：1995）1）试验信号2）抗扰度等级（实验信号电压）3）耦合方式对电源端口：电容耦合，33nF耦合电容对其它端口：容性耦合夹或金属箔等2.3静电放电抗扰度实验标准：GB/T 17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验（等同采用IEC61000-4-2：1995）1）静电放电模型2）静电发生器等效电路及放电电流波形3）试验方法(1) 直接放电接触放电（优先选用）：外壳，允许用户维修的点空气放电（不能使用接触放电时）：表面涂漆，且制造厂家指明是绝缘层，则使用空气放电，否则，应穿入漆膜，进行接触放电。
4.1 综述电磁兼容所说的瞬态脉冲是指干扰脉冲是断续性的，一般具有较高的干扰电压，较快速的脉冲上升时间，较宽的频谱范围。
一般包括：静电放电、电快速瞬变脉冲群、浪涌冲击等。
由于它们具有以上共同特点，因此在试验结果的判断及抑制电路上有较大的共同点。
在此处先进行介绍。
4.1.1 瞬态脉冲抗扰度测试常见的试验结果说明对不同试验结果，可以根据该产品的工作条件和功能规范按以下内容分类：A：技术要求范围内的性能正常；B：功能暂时降低或丧失，但可自行恢复性能；C：功能暂时降低或丧失，要求操作人员干预或系统复位；D：由于设备（元件）或软件的损坏或数据的丧失，而造成不可恢复的功能降低或丧失。
符合A的产品，试验结果判合格。
这意味着产品在整个试验过程中功能正常，性能指标符合技术要求。
符合B的产品，试验结果应视其产品标准、产品使用说明书或者试验大纲的规定，当认为某些影响不重要时，可以判为合格。
符合C的产品，试验结果除了特殊情况并且不会造成危害以外，多数判为不合格。
符合D的产品判别为不合格。
符合B和C的产品试验报告中应写明B类或C类评判依据。
符合B类应记录其丧失功能的时间。
4.1.2常用的瞬态脉冲抑制电路：4.1.2.1 箝位二极管保护电路：图10二极管保护电路工作原理如图10。
使用2只二极管的目的是为了同时抑制正、负极性的瞬态电压。
瞬态电压被箝位在V++VPN~V--VPN范围内，串联电阻担负功率耗散的作用。
利用现有电源的电压范围作为瞬态电压的抑制范围，二极管的正向导通电流和串联电阻的阻值决定了该电路的保护能力。
本电路具有极好的保护效果，同时其代价低廉，适合成本控制比较严、静电放电强度和频率不十分严重的场合。
4.1.2.2 压敏电阻保护电路：压敏电阻的阻值随两端电压变化而呈非线性变化。
当施加在其两端的电压小于阀值电压时，器件呈现无穷大的电阻；当施加在其两端的电压大于阀值电压时，器件呈现很小电阻值。
此物理现象类似稳压管的齐纳击穿现象，不同的是压敏电阻无电压极性要求。
使用压敏电阻保护电路的特点是简单、经济、瞬态抑制效果好，且可以获得较大的保护功率。
4.1.2.3 稳压管保护电路：背对背串接的稳压管对瞬态抑制电路的工作原理是显而易见的。
当瞬态电压超过V1的稳压值时，V1反向击穿，V2正向导通；当瞬态电压是负极性时，V2反向击穿，V1正向导通。
将这2只稳压管制作在同一硅片上就制成了稳压管对，使用更加方便。
4.1.2.4 TVS（瞬态电压抑制器）二极管：这是最近发展起来的一种固态二极管，适用用于ESD保护。
一般选择工作电压大于或等于电路正常工作电压的器件。
TVS二极管是和被保护电路并联的，当瞬态电压超过电路的正常工作电压时，二极管发生雪崩，为瞬态电流提供通路，使内部电路免遭超额电压的击穿或超额电流的过热烧毁。
由于TVS二极管的结面积较大，使得它具有泄放瞬态大电流的优点，具有理想的保护作用。
但同时必须注意，结面积大造成结电容增大，因而不适合高频信号电路的保护。
改进后的TVS二极管还具有适应低压电路（＜5V ）的特点，且封装集成度高，适用于在印制电路板面积紧张的情况下使用。
这些特点决定了它有广泛的适用范围，尤其在高档便携设备的接口电路中有很好的使用价值。
下面将对静电放电、电快速瞬变脉冲群、浪涌冲击的测试及常见问题对策及整改措施分别展开进行探讨。
由于，这三个有较大的共同点，因此在测试及对策上都有较大共同点，下面将对静电放电问题展开详细深入的讨论，而在电快速瞬变脉冲群、浪涌冲击的讨论中出现的相同之处将不再重复探讨。
4.2 静电放电抗扰度测试常见问题对策及整改措施4.2.1静电放电形成的机理及其对电子产品的危害静电是两种介电系数不同的物质磨擦时，正负极性的电荷分别积累在两个物体上而形成。
就人体而言，衣服与皮肤之间的磨擦发生的静电是人体带电的主要原因之一。
静电源跟其它物体接触时，存在着电荷流动以抵消电压，这个高速电量的传送，将产生潜在的破坏电压、电流以及电磁场，这就是静电放电。
在电子产品的生产和使用过程中，操作者是最活跃的静电源，可能积累一定数量的电荷，当人体接触与地相连的元件、装置的时候就会产生静电放电。
静电放电一般用ESD表示。
ESD会导致电子设备严重地损坏或操作失常。
大多数半导体器件都很容易受静电放电而损坏，特别是大规模集成电路器件更为脆弱。
静电对器件造成的损坏有显性的和隐性的两种。
隐性损坏在当时看不出来，但器件变得更脆弱，在过压、高温等条件下极易损坏。
ESD两种主要的破坏机制是：由于ESD电流产生热量导致设备的热失效；由于ESD感应出高的电压导致绝缘击穿。
除容易造成电路损害外，ESD也会对电子电路造成干扰。
一般来说，造成损坏，ESD电火花必须直接接触电路线，而辐射耦合通常只导致失常。
在ESD作用下，电路中的器件在通电条件下比不通电条件下更易损坏。
ESD电路的干扰有二种方式。
一种是传导方式，若电路的某个部分构成了放电路径，即ESD接侵入设备内的电路,ESD 电流流过集成片的输入端，造成干扰。
ESD干扰的另一种方式是辐射干扰。
即静电放电时伴随火花产生了尖峰电流，这种电流中包含有丰富的高频成分。
从而产生辐射磁场和电场。
ESD产生的磁场随距离的平方衰减。
ESD产生的电场随距离立方衰减。
当距离较近时，无论是电场还是磁场都是很强的。
ESD 发生时，在附近位置的电路一般会受到影响。
ESD在近场，辐射耦合的基本方式可以是电容或电感方式，取决于ESD源和接受器的阻抗。
在远场，则存在电磁场耦合。
与ESD相关的电磁干扰（EMI）能量上限频率可以超过1GHz。
在这个频率上，典型的设备电缆甚至印制板上的走线会变成非常有效的接收天线。
因而，对于典型的模拟或数字电子设备，ESD会感应出高电平的噪声。
4.2.2 电子产品的静电放电测试及相关要求对不同使用环境、不同用途、不同ESD敏感度的电子产品标准对静电放电抗扰度试验的要求是不同的，但这些标准关于ESD抗扰度试验大多都直接或间接引用GB/T17626.2-1998 （idt IEC 61000-4-2:1995）：《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》这一国家电磁兼容基础标准，并按其中的试验方法进行试验。
下面就简要介绍一下该标准的内容、试验方法及相关要求。
4.2.2.1 试验对象：该标准所涉及的是处于静电放电环境中和安装条件下的装置、系统、子系统和外部设备。
4.2.2.2 试验内容：静电放电的起因有多种，但该标准主要描述在低湿度情况下，通过摩擦等因素，使操作者积累了静电。
电子和电气设备遭受直接来自操作者的静电放电和对临近物体的静电放电时的抗扰度要求和试验方法。
4.2.2.3 试验目的：试验单个设备或系统的抗静电干扰的能力。
它模拟：（1）操作人员或物体在接触设备时的放电。
（2）人或物体对邻近物体的放电。
4.2.2.4 ESD的模拟：图11和图12分别给出了ESD发生器的基本线路和放电电流的波形。
图11：静电放电发生器图12：静电放电的电流波形放电线路中的储能电容CS代表人体电容，现公认150pF比较合适。
放电电阻Rd为330Ω，用以代表手握钥匙或其他金属工具的人体电阻。
现已证明，用这种放电状态来体现人体放电的模型是足够严酷的。
4.2.2.5 试验方法该标准规定的试验方法有两种：接触放电法和空气放电法。
接触放电法：试验发生器的电极保持与受试设备的接触并由发生器内的放电开关激励放电的一种试验方法。
空气放电法：将试验发生器的充电电极靠近受试设备并由火花对受试设备激励放电的一种试验方法。
接触放电是优先选择的试验方法，空气放电则用在不能使用接触放电的场合中。
4.2.2.6 试验等级及其选择：试验电平以最切合实际的安装环境和条件来选择，表1提供了一个指导原则。
表1同时也给出了静电放电试验等级的优先选择范围，试验应满足该表所列的较低等级。
表1：试验等级选择接触放电空气放电安装条件环境条件等级电压kV 等级电压kV 抗静电材料合成材料相对湿度%RH1 2 1 2 √ / 352 4 2 4 √ / 103 6 3 8 / √ 504 8 4 15 / √ 10X* 特殊 X* 特殊 / / /注：*“X”是一个开放等级，必须在专用设备的规范中加以规定。
等级的选择取决于环境等因素，对具体的产品来说，往往已在相应的产品或产品族标准中加以规定。
4.2.2.7 试验环境对空气放电该标准规定了环境条件：环境温度：15℃~35℃、相对湿度：30%~60%RH、大气压力：86kPa~106kPa对接触放电该标准未规定特定的环境条件。
4.2.2.8 试验布置标准对试验布置也做出了详细的规定，图13所示为台式设备的试验布置示意图。
4.2.2.9 试验实施实施部位：直接放电施加于操作人员在正常使用受试设备时可能接触到的点或面上；间接放电施加于水平耦合板和垂直耦合板。
直接放电模拟了操作人员对受试设备直接接触时发生的静电放电情况。
间接放电则是对水平耦合板和垂直耦合板进行放电，模拟了操作人员对放置于或安装在受试设备附近的物体放电时的情况。
直接放电时，接触放电为首选形式；只有在不能用接触放电的地方（如表面涂有绝缘层，计算机键盘缝隙等情况）才改用气隙（空气）放电。
间接放电：选用接触放电方式。
试验电压要由低到高逐渐增加到规定值。
不同的产品或产品族标准对试验的实施可能根据产品的特点有特定的规定。
图13：台式设备静电放电布置示意图4.2.2.10 试验结果若静电放电测试通不过，可能产生如下后果：（1）直接通过能量交换引起半导体器件的损坏。
（2）放电所引起的电场与磁场变化，造成设备的误动作。
4.2.3 电子产品的静电放电对策及改进要点ESD通常发生在产品自身暴露在外的导电物体，或者发生在邻近的导电物体上。
对设备而言，容易产生静电放电的部位是：电缆、键盘及暴露在外的金属框架以及设备外壳上的孔、洞、缝隙等。
常用的改进方法是在产品ESD发生或侵入危险点，例如输入点和地之间设置瞬态保护电路，这些电路仅仅在ESD感应电压超过极限时发挥作用。
保护电路可以包括多个电流分流单元。
减小ESD产生的电磁干扰（EMI）影响电子产品或设备的方法：完全阻止ESD产生；阻止因ESD产生的EMI耦合到电路或设备以及通过设计工艺增加设备固有的ESD抗扰性。
有很多种电路可以达到ESD保护的目的，但选用时必须考虑以下原则，并在性能和成本之间加以权衡：速度要快，这是ESD干扰的特点决定的；能应付大的电流通过；考虑瞬态电压会在正、负极性两个方向发生；对信号增加的电容效应和电阻效应控制在允许范围内；考虑体积因素；考虑产品成本因素。
我们可以从以下几种抑制ESD干扰的方法中选择适用的对策：4.2.3.1 外壳设计：外壳在人手和内部电路间建立隔离层，阻止ESD的发生。
