第十一章 透射显微术电子像衬度原理
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电子显微图像衬度的原理
电子显微图像的衬度(pronounced Chang-du)是指影像中各个部分的对比程度。
影像中的对比度影响了我们对物体细节的观察和分析。
电子显微镜图像的衬度是通过调整电子束的衬度来实现的。
电子束是在显微镜中形成影像的关键部分。
电子束在其传播过程中会受到物质的散射和吸收。
由于样品的特性不同,电子束在物质中的传播路径和散射不同,这些差异会影响电子束的“亮度”。
衬度控制器的作用是调整电子束的出入角度,以便通过样品的散射和吸收获得所需亮度的电子束照明样品表面。
具有高衬度的样品区域看起来会比较亮,而具有低衬度的区域看起来就比较暗,从而形成明暗对比度。
因此,电子显微图像的衬度和样品对电子束的散射和吸收有关。
衬度的调整是通过控制电子束的出入角度来实现的,不同区域的亮度差异可以形成图像中的明暗对比度。
透射电子显微镜的工作原理
透射电子显微镜是一种利用电子束来观察样品内部结构的仪器。
它的工作原理基于电子的波粒二象性和探测电子与样品的相互作用。
1. 电子源:透射电子显微镜的关键部件是电子源,通常使用热阴极电子枪作为电子源。
热阴极通过加热产生的电子被电场加速形成电子束。
2. 电子加速:电子束通过一系列电场透镜和加速电场,以加速电子的速度。
通常,加速电压可达到数十至数百千伏,使电子的动能足够高,以达到穿透样品的要求。
3. 样品制备:为了观察样品的内部结构,需要将样品制备成非晶质薄片,通常使用切片机或离心切片法将样品切割成纳米至微米厚度的薄片。
然后,将薄片置于透射电子显微镜的样品台上。
4. 电子束透射:加速的电子束通过样品时,会与样品内的原子发生相互作用。
其中,部分电子会被散射,部分会被吸收。
透射电子会穿过样品并保持其原有的信息。
5. 透射电子检测:透射电子进入具有电磁透镜功能的物镜透镜,物镜透镜根据透射电子的波动性将其聚焦。
透射电子经过物镜透镜后进入投影平面,通过透射电子探测器的探测,最终形成透射电子显微图像。
6. 图像处理与观察:通过对透射电子显微图像进行图像增强,噪声滤波等处理,可以进一步恢复样品的细节信息。
最后,通过观察透射电子显微图像,可以获得关于样品内部结构和原子排列的信息。
总之,透射电子显微镜利用电子的波粒二象性以及电子与样品的相互作用,通过探测透射电子形成样品内部结构的显微图像。
这种显微镜技术在材料科学、纳米科学等领域有着重要的应用价值。
透射电子显微镜原理透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, 简称TEM)是一种利用电子束传递样品来获得细微结构的高分辨率显微镜。
它的原理是通过在真空中加速电子,将电子束通过光学透镜系统聚焦到样品上,并通过样品的透射情况来形成图像。
TEM的关键组件包括电子源、电子透镜系统、样品台、探测器和成像系统。
电子源产生的电子束经过一系列透镜系统(包括准直透镜、磁场透镜、投影透镜等),被聚焦到样品上。
样品位于一个特殊的样品台上,可以微调样品的位置和角度。
透射电子束通过样品后,部分电子被散射、散射和吸收。
散射电子和透射电子被探测器捕捉,并转化为电信号。
TEM的成像原理基于透射电子束与样品交互作用的差异。
样品内不同的区域对电子束有不同的散射、吸收和透射能力,导致不同的强度对比。
探测器会测量透射电子的能量和强度变化,并将其转换为光学图像。
最终,通过调节透射电子束的聚焦和探测参数,可以得到具有高分辨率的样品图像。
TEM具有极高的分辨率和能够观察样品内部结构的能力。
与光学显微镜相比,TEM利用电子束的波长远小于光的波长,可以克服光学显微镜的衍射极限。
因此,TEM可以观察更小的结构和更高的放大倍数。
此外,TEM还可以通过选定区域电子衍射(Selected Area Electron Diffraction, SAED)技术来研究晶体的晶格结构和材料的晶体学性质。
综上所述,透射电子显微镜通过控制电子束的聚焦和探测参数,利用透射电子与样品相互作用的差异,获得高分辨率的样品图像。
它是研究材料科学和纳米技术的重要工具。
透射电子显微镜衬度与样品特性关系肖国敏 20085029 生医1班0 透射电镜成像原理透射电镜的成象原理是由照明部分提供的有一定孔径角和强度的电子束平行地投影到处于物镜物平面处的样品上,通过样品和物镜的电子束在物镜后焦面上形成衍射振幅极大值,即第一幅衍射谱。
这些衍射束在物镜的象平面上相互干涉形成第一幅反映试样为微区特征的电子图象。
通过聚焦(调节物镜激磁电流),使物镜的象平面与中间镜的物平面相一致,中间镜的象平面与投影镜的物平面相一致,投影镜的象平面与荧光屏相一致,这样在荧光屏上就察观到一幅经物镜、中间镜和投影镜放大后有一定衬度和放大倍数的电子图象。
由于试样各微区的厚度、原子序数、晶体结构或晶体取向不同,通过试样和物镜的电子束强度产生差异,因而在荧光屏上显现出由暗亮差别所反映出的试样微区特征的显微电子图象。
电子图象的放大倍数为物镜、中间镜和投影镜的放大倍数之乘积,即M=M。
•Mr•Mp.1 衬度概念衬度是图象上不同区域间明暗程度的差别。
由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在,才使得我们能观察到各种具体的图像。
只有了解像衬度的形成机理,才能对各种具体的图像给予正确解释,这是进行材料电子显微分析的前提。
2 衬度与样品特性的关系2.1 非晶样品的象衬度非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,即质量厚度衬度(质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量),也叫质厚衬度。
质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。
质量厚度数值较大的,对电子的吸收散射作用强,使电子散射到光栏以外的要多,对应较安的衬度。
质量厚度数值小的,对应较亮的衬度。
2.2 晶体样品的衍射衬度及形成原理对于晶体薄膜样品而言,厚度大致均匀,原子序数也无差别,因此,不可能利用质厚衬度来获得图象反差,这样,晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像,简称“衍射衬度”由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。