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TTL集成逻辑门参数(cānshù)测试TTL集成(jí chénɡ)逻辑门参数测试实验(shíyàn)三 TTL与CM0S集成逻辑门的参数(cānshù)测试一、实验(shíyàn)目的1.掌握(zhǎngwò)TTL“与非门”主要参数的意义(yìyì)及测试方法。
2.掌握CMOS“与非门”主要参数的意义及测试方法。
3.掌握TTL器件、CMOS器件的使用规则。
二、实验原理在数字电路设计时，要使用各种门电路。
门电路的参数的好坏，在很大程度上影响整机的性能和可靠性。
本实验通过测试TTL型 74LS00和CMOS 型CD4011两种四２输入与非门的主要参数，掌握两类常用门电路的主要参数和测试方法。
74LS00和CD4011集成电路外引脚排列图如图3-1(a)、(b)所示。
79门电路的参数按时间特性分为两种：静态参(a)74LS00 (b) CD 4011图3-1 74LS00和CD4011集成电路外引脚排列图数和动态参数。
静态参数指电路处于稳定的逻辑(luó jí)状态下测得的参数；而动态参数则指逻辑状态转换过程中与时间有关的参数。
本讲义介绍的门电路参数和测试方法系根据“中国电子技术标准化研究所”出版(chūbǎn)的《标准集成电路数据手册》系列中《TTL电路》、《TTL 电路增补本》、《CMOS4000T》和《高速CMOS电路》材料编写，符合(fúhé)国家标准GB4589.1-84《半导体集成电路总规范》。
（一）TTL与非门主要参数1．推荐(tuījiàn)工作条件80常见(chánɡ jiàn)TTL门电路最佳工作条件如表3.1所示。
表3.1 推荐工作条件型号参数名称7400系列74LS00系列单位最小额定最大最小额定最大电源电压V CC4.555.5 4.55 5.5V 输入高电平电压V IH22V 输入低电平电压V IL0.80.8V输出高电平电流I OH-40-40μA输出低电平电流I OL168mA812．电源(diànyuán)电流包括输出(shūchū)低电平时电源电流I CCL、输出高电平时电源(diànyuán)电流I CCH。
实验一集成TTL门电路逻辑功能及参数测一、实验目的⒈理解集成TTL门电路逻辑功能及参数测试的必要性。
⒉熟悉TTL与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能。
⒊掌握TTL与非门电路的主要参数及其测试方法。
二、预习要求⒈复习TTL门电路的基本工作原理。
⒉认真阅读讲义，明确各参数的定义、测试条件及测试方法。
⒊熟悉掌握数字逻辑实验箱的使用方法。
⒋了解被测TTL门电路的管脚排列及其功能。
三、实验设备与器材⒈数字逻辑实验箱⒉万用表⒊7421四输入双与非门、T072与或非门、74LS136二输入端四异或门各一块。
四、实验内容及步骤⒈测试与非门的逻辑功能①先将7421四输入端双与非门，按缺口标志向左排列，放入实验箱多孔插座板上。
参照图14-1，再按图14-2所示接好线。
输入端分别接不同的逻辑开关K，输出接发光的二极管器L。
(2)改变逻辑开关，实现各输入端高、低电平的转换；用发光二极管观察输出端逻辑状态，并用万用表测出对应电平值。
图14-17421引脚排列图图14-2与非门接线图(3)记录不同输入和输出状态的对应关系。
列出真值表。
⒉测试与或非门的逻辑功能图14-3T072引脚排列图14-4与或非接线图(1)参照图14-3T072引脚排列，按图14－-4所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，用发光二极管观察输出状态。
(3)记录各输入与输出对应状态，并列出真值表。
⒊测试异或门的逻辑功能图14-574LS136引脚排列图14-6异或门接线(1)先将74LS136二输入端四异或门(集电报开路异或门)，插入实验箱多孔插座板上。
参照图14-5 74LS136引脚排列，按图14-6所示接好线。
(2)改变逻辑开关的状态，观察输出状态。
(3)记录各输入与之对应的输出状态，并列出真值表。
⒋测试TTL与非门电压传输特性图14-7 TTL与非门电压传输特性测试图图14-8 用JT-1测TTL与非门电压传输特性曲线方法一：(1)按图14-7TTL与非门电压传输特性测试图接好线。
实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
课程 数字电路 学号 姓名 成绩实验名称 实验一实验仪器的使用及集成门电路参数测试 一、实验目的 1、熟悉实验仪器；2、握TTL 门电路主要参数的定义和测试方法。
二、实验仪器 数字电路实验箱、集成电路（74LS00⨯2）、连接线若干。
三、预习要求（带预习报告进实验室） 复习TTL 门电路的逻辑功能。
四、实验电路工作原理74LS00是TTL 类型、肖特基结构、低功耗与非逻辑的门电路。
当输入端A 、B 有一个为低电平时，输出Y 为高电平；当输入端A 、B 均为高电平时，输出Y 为低电平。
图2中的14脚为电源端，7脚为接地端。
五、实验内容1、熟悉数字电路实验箱结构该实验箱表面设有工作电源V CC （5V ）、逻辑开关、LED 指示灯、单次脉冲、连续脉冲以及计数器、译码器显示电路等。
2、74LS00功能测试按图3的测试电路连线，将测试结果填入真值表表1中，验证逻辑功能是否正确。
图2 四2与非门引脚&A ：1、4、9、12B ：2、5、10、13Y ：3、6、8、11图1逻辑功能：AB Y =3、TTL 与非门74LS00参数测试（1）按图4测试电路连线，用万用表5V 档测量高电平输出电压V OH ，并且将测量结果填入表2中。
（2）按图5测试电路连线，用万用表0.5V 档测量低电平输出电压V OL ，并且将测量结果填入表2中。
4、用74LS00设计一个异或门，并且将验证结果填入表3中。
设计思路：首先将A 、B 的异或式转换成与非式，然后根据异或与非式按图2引脚图连线，最后将输入端A 、B 接高、低电平开关，输出接指示灯验证其功能。
设计参考（1）B A B A B A B A B A Y ⋅⋅⋅=+=⊕= 需要5个门，即二片74LS00实现。
（2）实验电路如图6所示。
（3）异或电路真值表如表3所示。
5V 图3 测试电路图4测试电路图5测试电路六、思考题（列表回答）1、与门、或门、与非门、或非门的多余端如何处理？2、在与门、或门、与非门、或非门中，有一个输入端分别接高电平，对输出有何影响？3、在与门、或门、与非门、或非门中，有一个输入端分别接低电平，对输出有何影响？七、对该实验的体会、看法以及在实验中遇到的问题和解决问题的过程。
第2章 数字电路与逻辑设计基本实验2.1 TTL 和CMOS 集成门电路参数测试2.1.1 实验目的1.了解TTL 和CMOS 逻辑门电路的主要参数及参数意义。
2.熟悉TTL 和CMOS 逻辑门电路的主要参数的测量方法。
3.掌握TTL 和CMOS 逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。
4.掌握数字电路与逻辑设计实验的基本操作规范。
2.1.2 实验仪器及器件2.1.3 实验原理逻辑门电路早期是由分立元件构成，体积大，性能差。
随着半导体工艺的不断发展，电路设计也随之改进，使所有元器件连同布线都集成在一小块硅芯片上，形成集成逻辑门。
集成逻辑门是最基本的数字集成元件，目前使用较普遍的双极型数字集成电路是TTL 逻辑门电路，它的品种已超过千种。
CMOS 逻辑门电路是在TTL 电路问世之后，所开发出的另一种广泛应用的数字集成器件。
从发展趋势来看，由于制造工艺的改进，CMOS 器件的性能有可能超越TTL 而成为占主导地位的逻辑器件。
CMOS 器件的工作速度可以接近TTL 器件，而它的功耗和抗干扰能力则远优于TTL 器件。
早期生产的CMOS 门电路为4000系列，随后发展为4000B 系列。
当前与TTL 兼容的CMOS 器件如74HCT 系列等，可与TTL 器件替换使用。
通过本次实验，希望同学们初步掌握数字电路集成芯片的使用方法及实验的基本操作规范。
GND1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 4A4B4Y3A3B3YV CCV SS1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 4A4B4Y3A3B3YV DD图2.1.1 74LS00管脚排列及逻辑符号 图2.1.2 CD4011B 管脚排列及逻辑符号（一）TTL与非门的参数本实验采用TTL双极型数字集成逻辑门器件74LS00，它有四个2输入与非门，封装形式为双列直插式，引脚排列及逻辑符号如图2.1.1所示，其中A、B为输入端，Y为输出端，Y 。
TTL逻辑门电路主要参数有：输入输出关系为AB1．电源特性参数I CCL、I CCHI CCL是指输出端为低电平时电源提供给器件的电流，即逻辑门的输入端全部悬空或接高电平时，且该门输出端空载时电源提供器件的电流；I CCH是指输出为高电平时电源提供给器件的电流，即输入端至少有一个接地，输出端空载时电源提供器件的电流。
实验二TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常ICCL ＞ICCH，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为PCCL ＝VCCICCL。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
ICCL 和ICCH测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压VCC只允许在＋5V±10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流IiL 和高电平输入电流IiH。
IiL是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，IiL相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望IiL小些。
福建农林大学计算机与信息学院信息工程类实验报告系：计算机系专业：计算机科学与技术年级： 07级姓名：学号：实验课程：数字电子技术基础实验室号：___ 实验设备号： 9 实验时间： 2008-12-2 指导教师签字：成绩：实验一 TTL门电路的逻辑功能和参数测试一、实验目的和要求1、掌握TTL器件的使用规则。
2、掌握TTL集成与非门的逻辑功能。
3、掌握TTL集成与非门的主要性能参数及测试方法。
二、实验原理本实验采用二输入四与非门74LS00（它的顶视图见附录），即一块集成块内含有四个相互独立的与非门，每个与非门有两个输入端。
1、TTL集成与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能框图如图1-1所示，当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出为高电平；只有输入端输入全都为高电平时，输出端才是低电平。
2、TTL集成与非门的主要参数有输出高电平VOH 、输出低电平VOL、输入短路电流Iis 、扇出系数N、电压传输特性和平均传输延迟时间tpd等。
（1）TTL门电路的输出高电平VOHVOH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非门工作管处于截止状态。
空载时，VOH的典型值为3.4~3.6V，接有拉电流负载时，VOH下降。
（2）TTL 门电路的输出低电平V OLV OL 是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。
空载时，它的典型值约为0.2V ，接有灌电流负载时，V OL 将上升。
（3）TTL 门电路的输入短路电流I is它是指当被测输入端接地，其余端悬空，输出端空载时，由被测输入端输出的电流值，测试电路图如图1-2。
（4）TTL 门电路的扇出系数N 0扇出系数N0指门电路能驱动同类门的个数，它是衡量门电路负载能力的一个参数，TTL 集成与非门有两种不同性质的负载，即灌电流负载和拉电流负载。
因此，它有两种扇出系数，即低电平扇出系数N OL 和高电平扇出系数N OH 。
实验一TTL各种门电路功能测试实验一、实验目的：1、熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。
2、熟悉万用表的使用方法。
二、实验设备及器件1、实验设备（1）S AC-DS4数字逻辑实验箱1个（2）数字万用表1块2、器件（1）74LS20双四输入与非门1片（2）74LS02四二输入或非门1片（3）74LS51双2-3输入与或非六1片（4）74LS86四二输入异或门1片（5）74LS00四二输入与非门2片三、实验内容与步骤1、与非门逻辑功能测试用74LS20双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录（1）按图1-1接线测试（2）按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1-1中表1-12、或非门逻辑功能测试用74LS02二输入四或非门进行实验，其引脚图见附录（1）按图1-2接线测试（2）按表1-2的要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将测试结果填入表1-2中表1-23、或非门逻辑功能测试用74LS51双23输入与或非门进行实验（1）图1-3接线测试图1-3（2）按表1-3要求用开关改变输入量A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果记入表1-3中。
表1-34、或门逻辑功能测试用74LS86二输入四异或门进行实验，其引脚图见附录（1）按图1-4接线测试图1-4（2）表1-4要求用开关改变输入量A、B状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果填入表1-4中。
表1-45、利用74LS00与非门实现“与电路”、“或电路”“或非电路”、“异或电路”，要写出各种电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在实验仪上加以验证。
四、实验要求1、将实验结果填入各相应表中。
2、分析各门电路的逻辑功能。
3、回答下理问题（1）与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态允许脉冲通过，是何状态禁止脉冲通过？（2）为什么异或门又称可控反相门？4、独立完成实验，交出完整的报告。
一、实验目得1、掌握TTL集成与非门得逻辑功能与主要参数得测试方法２、掌握TＴL器件得使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置得结构,基本功能与使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门７4LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立得与非门,每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(ａ)、(b)、(ｃ)所示、(b)(a) (c)图1 ７4LS２０逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门得逻辑功能与非门得逻辑功能就是:当输入端中有一个或一个以上就是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才就是低电平(即有“0”得“1”,全“1”得“0”、) 其逻辑表达式为 Y＝２、TTL与非门得主要参数(1) 输出低电平ＶOL:输出低电平就是指与非门得所有输入端都接高电平时得输出电平值。
测试电路如图２(a)所示。
(2)输出高电平ＶOH:输出高电平就是指与非门有一个以上输入端接低电平时得输出电平值。
测试电路如图2(ｂ)所示、(a) (ｂ)图２ VＯH、V OL测试电路图(3)低电平输出电源电流ＩCCL与高电平输出电源电流I CCH与非门处于不同得工作状态,电源提供得电流就是不同得。
I CCL就是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件得电流、ＩCCH就是指输出端空截,每个门各有一个以上得输入端接地,其余输入端悬空,电源提供给器件得电流。
通常ＩCCＬ>I CCH,它们得大小标志着器件静态功耗得大小。
器件得最大功耗为P CCL＝V CC I CCL。
手册中提供得电源电流与功耗值就是指整个器件总得电源电流与总得功耗。
IＣＣＬ与ＩCCH测试电路如图3(ａ)、(b)所示、［注意]:TＴL电路对电源电压要求较严,电源电压V CC只允许在+5V±1０%得范围内工作,超过5、5V将损坏器件;低于4、5V器件得逻辑功能将不正常、(a) (b) (c) (d)图3 TTL与非门静态参数测试电路图(4)低电平输入电流ＩｉL与高电平输入电流I iH。
实验1 TTL门电路逻辑功能测试一. 实验目的1.掌握常用TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法；2.熟悉数字电路实验箱的使用方法。
二. 实验原理1.门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。
本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。
2．集成电路外引线的识别使用集成电路前，必须认真查对识别集成电路的引脚，确认电源、地、输入、输出、控制等端的引脚号，以免因接错而损坏器件。
引脚排列的一般规律为：扁平和双列直插型集成电路：识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次1.2.3……。
扁平型多用于数字集成电路。
双列直插型广泛用于模拟和数字集成电路。
图 1 集成电路外引线的识别三序号名称型号与规格数量备注1数字电路实验箱1台2双踪示波器1台3万用表1台4数字信号发生器1台5集成芯片74LS002片二输入端四与非门四. 实验内容与步骤1.测试与非门的逻辑功能(1)在实验箱上选取一个14插座，按定位标记插好74L00集成块。
(2)将实验箱上＋5V直流电源接74LS00的14脚，地接7脚，将1、2脚接逻辑电平开关输出口，输出3脚接发光二极管显示。
(3)按照表1所示，改变74LS20的1、2、4、5脚输入值，观察并记录发光二极管显示情况（发光管亮，表示输出高电平“1”，发光管不亮，表示输出低电平“0”）。
2．测试逻辑电路的逻辑关系用74LS00按图2接线，将输入输出逻辑关系分别填入表2中。
表23．利用与非门控制输出用一片74LS00按图3接线，S 接任一电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。
4．用与非门组成其它门电路并测试验证用一片二输入端四与非门组成或非门画出电路图，测试并填表3。
Y= B A += B A• 表3图2Y图3五. 实验报告1．按各步骤要求填表并画逻辑图。
实验一 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一.实验目的1.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2.掌握TTL器件的使用规则3.进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二.实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图，符号及引脚排列如图2-1（a）（b）（c）所示。
图2-1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1.与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入段4中有一个或一个以上是低电平时，输入端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为Y=2.TTL与非门的主要参数（1）低电平输出电源电流%和高电平输出电源电流·与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的，是指所有输入端悬空，输出端空载是，电源提供器件的电流。
是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供器件的电流。
通常>，他们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为=。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
和测试电路如图2-2（A）（B）所示。
（注意）TTL电路对电源电压要求较严，电源电压只允许在+5V10%的范围工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5器件的逻辑功能将不正常。
图2-2 TTL与非门静态参数测试电路图（2）低电平输入电流和高电平输入电流。
是指被测输入端接地，奇遇输入端闲空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流。
在多级门电路中，相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望小一些。
是指被测输入端接高电平，其余输入端接地，输出端空载时，流入被测输入端的电流值。
在多级门电路中，它相当于前级门的拉电流负载能力，希望小些。
实验二（1）三态门电路设计班级姓名学号一、实验目的熟悉QuartusII仿真软件的基本操作，并用VHDL/Verilog语言设计一个三态门。
二、实验内容1、熟悉QuartusII软件的基本操作，了解各种设计输入方法（原理图设计、文本设计、波形设计）2、用VHDL语言设计一个三态门，最终在FPGA芯片上编程指令译码器，并验证逻辑实现。
三、实验方法1、实验方法：采用基于FPGA进行数字逻辑电路设计的方法。
采用的软件工具是QuartusII软件仿真平台，采用的硬件平台是Altera EPF10K20TI144_4的FPGA试验箱。
2、实验步骤：1、新建，编写源代码。
(1).选择保存项和芯片类型：【File】-【new project wizard】-【next】（设置文件路径+设置project name为stm）-【next】（设置文件名zlym.vhd—在【add】）-【properties】（type=AHDL）-【next】（family=FLEX10K；name=EPF10K10TI144-4）-【next】-【finish】(2).新建：【file】-【new】（第二个AHDL File）-【OK】2、写好源代码，保存文件（stm.vhd）。
3、编译与调试。
确定源代码文件为当前工程文件，点击【processing】-【start compilation】进行文件编译。
编译结果有一个警告，文件编译成功。
4、波形仿真及验证。
新建一个vector waveform file。
按照程序所述插入EN,A以及dataout)四个节点（EN,A为输入节点，dataout为输出节点）。
(操作为：右击-【insert】-【insert node or bus】-【node finder】（pins=all；【list】）-【>>】-【ok】-【ok】)。
任意设置EN,A的输入波形…点击保存按钮保存。
实验一TTL各种门电路功能测试实验序号实验题目 TTL各种门电路功能测试实验时间实验室1．实验元件（元件型号；引脚结构；逻辑功能；引脚名称）1.SAC-DS4数字逻辑实验箱1个2.数字万用表1块3.74LS20双四输入与非门1片4.74LS02四二输入或非门1片5.74LS51双2-3输入与或非门1片6.74LS86 四二输入异或门1片7.74LS00四二输入与非门2片（1）74LS20引脚结构及逻辑功能（2）74LS02引脚结构及逻辑功能（3）74LS51引脚结构及逻辑功能（4）74LS86引脚结构及逻辑功能（5）74LS00引脚结构及逻辑功能2．实验目的（1）熟悉TTL各种门电路的逻辑功能及测试方法。
（2）熟悉万用表的使用方法。
3．实验电路原理图及接线方法描述：（1）74LS00实现与电路电路图（2）74LS00实现或电路电路图（3）74LS00实现或非电路电路图（4）74LS00实现异或电路4．实验中各种信号的选取及控制（电源为哪些电路供电；输入信号的分布位置；输出信号的指示类型；总结完成实验条件）5．逻辑验证与真值表填写（1）74LS00实现与电路电路图逻辑分析逻辑运算过程分析：121Y =AB Y =Y =AB=AB真值表：（2）74LS00实现或电路电路图逻辑运算过程分析：12312Y =AA=A Y =BB=BY =Y Y =AB=A+B=A+B真值表：输入输出A B 2Y0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 11输入输出A B 3Y0 0 0 0 1 1 1 0 1 111（3）74LS00实现或非电路电路图逻辑运算过程分析：12312433Y =AA=A Y =BB=B Y =Y Y =AB=A+B Y =Y Y =(A+B)(A+B)=A+B真值表：（4）74LS00实现异或电路电路图逻辑运算过程分析：123142534Y =AA=A Y =BB=B Y =Y B=AB Y =Y A=BAY =Y Y =(AB)(BA)=AB+BA=AB+BA真值表：输入输出A B 4Y0 0 1 0 1 0 1 0 0 1 1 0输入输出A B 5Y0 0 0 0 1 1 1 0 1 116．实验总结（安全事注意项，操作要点，实验结果分析）注意事项：1、连接线路时要关闭电源，检查电路连接无误后方可打开电源。
ttl集成门电路实验报告第一部分介绍一、实验目的本次实验介绍如何在 TTL集成门电路中实现逻辑功能；熟悉TTL 集成门电路、掌握其特性与应用；二、实验内容1、实验仪器及元件实验仪器：电子仪表箱、多用测试电阻、示波器、波形发生器；探测仪器：示波器、波形发生器；元件：TTL集成门电路（AND、OR、NOT）。
2、实验环境本次实验采用室内实验室的平面布局，实验室设备齐全，实验室环境温暖，实验室室外的噪声不会影响实验效果。
第二部分实验步骤第一步：准备实验所需要的仪器和元件1、首先，将电源开关拨到“ON”位置，将电子仪表箱的检测开关拨到“OFF”位置；2、然后，将TTL集成门电路放入电子仪表箱，并将多用测试电阻安装在电子仪表箱上；3、接着，将示波器与波形发生器依照实验指导书的要求连接起来。
第二步：实验仪表的调整1、调整仪表的输出电压，将示波器的电压值调节至0.5V；2、调整仪表的输出频率，将波形发生器的频率调节至2Hz；3、调整仪表的输出波形，将波形发生器的波形调节至直流正弦波；4、调整仪表的偏置电流，将电子仪表箱的偏置电流调节至0mA。
第三步：实验过程1、启动实验，检查各仪表及元件的调整情况，确认正确无误；2、接着，连接TTL集成门电路，将其与检测仪器连接起来；3、然后，测试TTL集成门电路的输入输出特性，并比较实验结果；4、最后，将实验结果记录下来，并对其进行评价。
第三部分结论通过本次实验，我们学习了TTL集成门电路的介绍、特性及应用，运用TTL集成门电路实现了逻辑功能，实验结果与理论值相符，由此可见，TTL集成门电路在实验室中是一种有效的逻辑运算元件，具有可靠性和可靠性。
