正电子湮灭

正电子湮没寿命谱在材料科学中的应用正电子湮没寿命谱（positron annihilation lifetime spectroscopy, PALS）是一种研究物质内部空位和微观结构的非破坏性表征技术。

它利用正电子和负电子之间的湮灭过程，探测材料中正电子的寿命特性，得到关于材料空位和缺陷的信息。

在材料科学研究中，正电子湮没寿命谱具有广泛的应用，如材料缺陷诊断、微观结构表征、材料性能研究等领域。

一、正电子湮没寿命谱的基础原理正电子湮没寿命谱是基于正电子和负电子相遇时发生湮灭的过程实现的。

正电子是带正电荷的电子的反粒子，具有很高的动能和易于运动的特点。

正电子湮灭就是指正电子和负电子相遇后消失的过程，同时会产生两个γ光子。

当正电子在物质中的能量足够低，处于几电子伏特的水平时，它将与材料中的电子形成一个束缚态，这个过程我们称之为电子-正电子对的形成。

那么，正电子在被材料中活跃的空位捕获后形成类似原子态的寿命，寿命结束时，正电子和电子相遇发生湮灭。

正电子和负电子相遇的湮灭过程，释放出了两次能量相等, 频率为511 KeV 的γ射线，这些γ射线的能量被用来确定正电子和负电子的湮灭位置。

二、正电子湮没寿命谱在材料缺陷诊断中的应用在材料科学中，正电子湮没寿命谱有广泛的应用，应用最为广泛的领域之一是材料缺陷诊断。

材料中的缺陷局限在空间结构中，可以通过正电子湮没寿命谱进行精确的检测和表征。

考虑到正电子的动能和大小，只有当正电子可以和空位相遇时，才能发生湮灭。

因此，正电子湮没寿命谱可以检测材料中的空位和缺陷。

如材料中的空穴、氢气包裹和晶粒边界等，都可以通过正电子湮没寿命谱进行检测。

正电子湮没寿命谱可以测试材料的缺陷密度，缺陷类型和缺陷深度等信息。

对于材料的缺陷诊断，正电子湮没寿命谱具有很高的检测灵敏度。

三、正电子湮没寿命谱在材料微观结构表征中的应用除了材料的缺陷诊断，正电子湮没寿命谱还可以用于材料的微观结构表征。

正电子湮没寿命谱可以测量材料的密度、晶体结构和晶粒尺寸等参数，从而了解材料的物理性质。

正电子湮没技术什么是正电子湮没技术？正电子湮没技术是一种用于研究材料结构和性质的重要实验手段，它利用正电子（也称作反电子）与电子相遇并湮灭的现象，通过观察湮没产生的γ射线和湮没产物的运动信息，来获取有关材料的相关信息。

正电子湮没的基本原理正电子是带有正电荷的电子，它与电子相遇后会发生湮灭现象。

在湮灭过程中，正电子和电子的质量全部转换为能量，直接以γ射线的形式释放出来。

正电子湮没技术利用γ射线的特性，通过测量γ射线的能谱和湮没产物的动量信息，来研究材料的物理和化学性质。

正电子湮没技术的应用正电子湮没技术在材料科学和物理学的研究中有着广泛的应用。

材料表面和界面研究正电子湮没技术可以用来研究材料的表面和界面性质。

通过测量湮没产生的γ射线能谱和湮没产物的动量信息，可以确定材料表面的电子态密度和表面缺陷的分布情况。

这对于了解材料的物理和化学性质，以及表面缺陷对材料性能的影响具有重要的意义。

密封材料研究正电子湮没技术可以用来研究密封材料的性能。

密封材料在各种工程应用中起着关键的作用，因此了解其性能和结构非常重要。

正电子湮没技术可以通过测量材料中正电子的湮没行为，来获取关于材料母体结构和密封性能的信息。

纳米材料研究正电子湮没技术在纳米材料研究中有着重要的应用。

纳米材料具有独特的物理和化学性质，其性能受到尺寸效应和界面效应的影响。

正电子湮没技术可以用来研究纳米材料的电子态密度分布、表面缺陷、界面结构等相关信息，进而揭示纳米材料的特殊性质和性能。

正电子湮没实验的步骤正电子湮没实验通常包括以下几个步骤：1.正电子产生：通过激光或者放射性同位素的衰变，产生正电子。

2.正电子注入材料：将产生的正电子注入到待研究的材料中。

3.正电子湮没：正电子与材料中的电子相遇并湮灭，在湮灭过程中产生γ射线。

4.γ射线测量：通过γ射线探测器测量湮没产生的γ射线的能谱。

5.动量分辨：通过动量分辨设备测量湮没产物的动量信息。

6.数据分析：对测量到的能谱和动量信息进行分析，提取材料的相关性质。

正电子湮没技术基本原理陈志权自从1930年由英国物理学家P. Dirac从理论上预言了正电子的存在，以及1932年美国物理学家C.D. Anderson在宇宙射线中发现了正电子的存在以后[1]，正电子湮没谱学(Positron Annihilation Spectroscopy，PAS)首先在固体物理中得到了应用，并在六十年代后期得到了飞速发展。

它已在材料科学，特别是缺陷研究和相变研究中发挥了重大的作用。

正电子是电子的反粒子，除所带电荷与电子相等，符号相反之外，其它特性均与电子相同。

正电子进入物质后遇到电子会发生湮没，同时放射两个或三个湮没γ光子。

用核谱学方法探测这些湮没辐射光子，可以得到有关物质微观结构的信息[2]。

利用正电子湮没谱学研究材料具有许多优点。

它提供了一种非破坏性的探测手段，因为信息是由穿透材料湮没辐射所带出的。

它不需要特殊的样品制备。

另外，在某些应用中，它还可以做原位研究，如在升温过程中的化学反应动力学过程等等。

实验证明，正电子湮没谱学是研究金属、半导体、高温超导体、高聚物等材料中的微观结构、电荷密度分布、电子动量密度分布极为灵敏的工具[3-4]。

一、正电子在固体中的热化、扩散和捕获现象常规正电子源通常是具有β+衰变的放射性同位素，如22Na、64Cu等。

从放射源中发射出来的正电子(E<1MeV)进入固体材料后，首先将在约1ps内通过与物质中原子的各种非弹性散射作用（如电子电离、等离子体激发、正电子--电子碰撞、正电子--声子相互作用等元激发过程）迅速损失能量并慢化至热能(∼0.025eV)[5]。

其在材料中的深度分布近似满足下面的指数关系[6-7]:式中ρ为固体的密度，E max为入射正电子的最大能量。

对于最常用的正电子源22Na，其E max=0.545MeV，因此正电子在固体中的注入深度约为100µm左右，所以由正电子湮没所得到的是材料的体态信息。

热化后的正电子将在体内作扩散运动，其扩散长度为∼100nm，在扩散过程中如果遇到电子会与之发生湮没，放出两个或三个γ光子。

正电子湮没技术基本原理2.1前言在20世纪30年代发现了正电子，40年代起人们把它应用于固体物理研究，60年代末又将它广泛应用于材料科学，80年代又把它应用于表层和表面研究。

正电子湮没谱学实验技术主要有三种：多普勒能谱、寿命谱和角关联（其装置分别简称为多普勒仪、寿命谱仪和角关联装置）。

PAT之所以能得到迅速的发展是由于它具有许多独特的优点：（1）PAT研究是样品中原子尺度缺陷，这些缺少原子的缺陷在X衍射、电镜中研究颇为困难。

（2）PAT对样品的温度几乎是没有限制，如可以跨越材料的熔点或凝固点，而信息又是通过贯穿能力很强的γ射线携带出来的，因此易于对样品作高低温的动态原位测量，即一面升降温一面测量，或在测量时施加电场、真空、磁场、高气压等特殊环境。

（3）它对样品材料种类没有什么限制，可以是固、液或气，可以是金属、半导体、高分子或绝缘体，可以是多、单晶、液晶或非晶等，总而言之，凡是与材料电子密度及电子的动量有关的问题，理论上都可用PAT来研究。

（4)室温测量下的PAT的制样方法简便易行，仪器也不太复杂，使它容易得到推广。

2.2正电子和正电子湮没2.2.1物理量上表列出了正电子与电子的一些物理属性。

2.2.2正电子湮没正电子遇到物质中的电子时会发生湮没，这时正电子、电子的质量全都转变为γ光子的能量，湮没时主要发射2个γ光子，称为2γ湮没或双光子湮没。

对于实验室，用的最多是放射性同位素源，而其中最广泛使用的是Na 22，Na 22相对于其他正电子源有几个优点：①其半衰期长达2.6a ；②正电子产率高达90%；③在发射正电子的同时，还会伴随发射一个能量约为1.28MeV 的γ光子。

它的衰变方程为：ν++→+*+e Ne Na 2222 （1） )28.1(2222MeV Ne Ne γ+→* （2） 第（1）个方程衰变后的几个皮秒内，第（2）方程便衰变了。

一般从放射源发射出的正电子能量大约在几百千电子伏特到几兆电子伏特之间，正电子进入物质后，大约在s 1210-量级内动量降至kT 量级（室温下约为0.025eV ）。

正电子湮灭技术正电子湮没技术(Positron Annihilation Technique-PAT)是一门把核物理和核技术应用于固体物理与材料科学研究的新技术，近20多年来该技术得到了迅速发展。

正电子湮没技术包括多种实验方法，其中最常用的主要有3种，即正电子湮没寿命谱测量、2γ湮没角关联和湮没能量的Doppler展宽。

简言之，正电子湮没技术是通过入射正电子与材料中电子结合湮没来反映材料中微结构状态与缺陷信息的。

与其他现代研究方法相比，正电子湮没技术具有许多独特的优点。

首先，它对样品的种类几乎没有什么限制，可以是金属、半导体，或是绝缘体、化合物、高分子材料；可以是单晶、多晶、纳米晶、非晶态或液晶，只要是与材料的电子密度、电子动量密度有关的问题，原则上都可以用正电子湮没的方法进行研究。

第二，它所研究的样品一般不需要特殊制备，其制样方法简便易行。

另外，正电子湮没技术对材料中原子尺度的缺陷和各种相变非常灵敏。

如今正电子湮没技术作为一种新型的应用核分析技术，已广泛应用于材料科学、物理、化学、生物、医学、天文等领域，本文仅就正电子湮没技术在测试领域研究中的一些基本应用(原理)作一介绍。

正电子湮没无损测试技术是一种研究物质微观结构的方法，一种先进的材料微观结构－自由体积的探测和表征技术，可用于固体物理晶体缺陷与材料相结构与相结构转变的研究，目前已成为一种研究物质微观结构、缺陷、疲劳等的新技术与手段。

检测实施过程中，放射源作用材料时会产生带有正电荷的、尺寸与电子相当的质点，这种正电子可以被纳米大小的缺陷吸引而与电子相撞击。

在正负电子撞击过程中，两种质点湮没，从而放出一种伽玛射线。

伽玛射线能谱显示出一种清晰可辨的有关材料中的缺陷大小、数量以及型别的特征。

显然，这些特征可以标识最早阶段的损伤，即裂纹尚未出现的损伤；同时可以在不分解产品的情况下定量地评估其剩余寿命，笔者对该技术的原理及其应用进行了介绍。

正电子湮没无损测试所采用的正电子源最初来自于放射源的β＋源，通过放射源的作用在材料中产生正电子。

正电子湮没寿命测量实验报告姓名：***学号：*************专业：********************正电子在物质中湮没寿命的测量1930年Dirac预言了正电子的存在，Anderson于1932年在宇宙射线中发现了正电子，揭开了研究物质与反物质的序幕，正电子素的发现加深了对正电子物理的研究，也形成了一门独立的课题正电子淹没谱学。

正电子淹没技术是研究材料的微观结构，物质内部的电子动量分布的重要手段,尤其慢正电子在研究材料的表面特性方面具有重要意义。

在无损检测微观缺损，缺陷浓度，位形，物质相变过程，材料的辐照效应方面具有广泛应用。

由于测量设备简单，灵敏度较高，这种技术正成为固体物理,金属物理,半导体物理,非晶态物理,表面物理等领域的新型探测手段,并有着广阔的发展前途。

本实验就是通过测量正电子在样品中的湮没寿命，获得与样品结构相关的一些信息。

实验目的1、了解正电子湮没寿命测量的基本原理以及正电子在物质中湮灭的物理过程；2、掌握利用符合法测量正电子寿命方法3、了解多道时间谱仪的工作原理，初步掌握多道时间谱仪的使用方法；4、初步掌握使用计算机解谱的数学方法实验仪器1、22Na、60Co放射性源各一个2、样品（2片）3、BaF2闪烁体光电倍增管探测器（2个）4、高压电源5、恒比微分甄别器CFD（2个）6、时符转换器TAC7、快符合电路8、门及延迟发生器9、多道分析器和PC实验原理1.正电子在物质中的湮没寿命正电于是电子的反粒子，除电荷和磁矩符号不同外，其它特性与电子相同。

当正电子与电子相遇时发生“湮没”，它们全部质量对应的能量为2m0c2以电磁辐射能的形式发射出来。

湮没过程的绝大多数是发射两个能量相等(51lkeV)，方向相反的γ光子，如图1所示。

发射单个光子或三个光子的湮没过程的几率极小（根据计算发射两个光子与三个光子的湮没几率之比为372∶1）。

湮没过程中发射的γ光子，通常称为湮没辐射。

目录正电子湮没谱学简介.................................................................................- 2 - 正电子湮没寿命谱......................................................................................- 6 - 正电子湮没多普勒展宽能谱.......................................................................- 8 - 正电子湮没角关联谱................................................................................ - 10 - 慢正电子束流技术.................................................................................... - 11 - 脉冲慢正电子束 ....................................................................................... - 13 - 装置配件 .................................................................................................. - 14 - 文献分析 .................................................................................................. - 18 -正电子湮没谱学简介e+和e−具有相等的静止质量m0=9.1×10-31kg，所带电荷的数值都为单位电荷e=4.8×10-10静电单位，但电荷性质相反，二者具有相等的磁矩ge/(2m0c)。

正电子湮灭正电子湮灭仪正电子湮没技术（PAT）是一项相对较新的核物理技术。

它利用凝聚态物质中正电子的湮没辐射来揭示物质的微观结构、电子动量分布和缺陷状态等信息，从而提供一种非破坏性的研究方法，受到人们的青睐。

目前正电子湮没技术已进入固体物理、半导体物理、金属物理、原子物理、表面物理、超导物理、生物学、化学和医学等诸多领域。

特别是在材料科学研究中，正电子在微缺陷和相变研究中发挥着越来越重要的作用。

正电子湮灭技术的发展概况正电子湮没是一种核技术，可以研究气体、液体和固体（晶体或非晶），因此研究领域非常广泛。

由于正电子主要与物质中的活跃电子相互作用，因此获得的信息能更好地反映物质的电子结构和化学环境的变化。

它提供了比光谱、质谱、核磁共振和电子自旋共振更多的信息。

该技术不仅需要亚纳秒电子技术，而且设备和数据处理简单，易于建立和掌握。

此谱法的缺点是，各种物质的谱数据可能相类似，因而特征性差些。

另外，至目前为止，这方面工作还是处在探索和建立规律的阶段，有待完善理论工作以指导应用。

正电子湮没技术的基本原理一种研究物质微观结构的方法。

正电子是电子的反粒子,两者除电荷符号相反外,其他性质（静止质量、电荷的电量、自旋）都相同。

正电子进入物质在短时间内迅速慢化到热能区,同周围媒质中的电子相遇而湮没,全部质量(对应的能量为2mec2)转变成电磁辐射──湮没γ光子。

50年代以来对低能正电子同物质相互作用的研究，表明正电子湮没特性同媒质中正电子―电子系统的状态、媒质的电子密度和电子动量有密切关系。

随着亚纳秒核电子学技术、高分辨率角关联测量技术以及高能量分辨率半导体探测器的发展，可以对正电子的湮没特性进行精细的测量，从而使正电子湮没方法的研究和应用得到迅速发展。

现在，正电子湮没技术已成为一种研究物质微观结构的新手段。

正电子的性质1928年dirac在求解相对论性的电子运动的dirac方程时预言正电子的存在，1932年andersan在威尔逊云室研究宇宙射线时发现了正电子。

正电子湮灭谱测试
正电子湮灭谱（PES）测试是一种量子化学的实验，用于研究分子的电子结构和化学反应机理。

它通过检测正电子湮灭事件发生的能量和角度，可以测量分子电子态的能量和振动结构。

正电子湮灭谱测试的原理是，当一个正电子与分子中的核碰撞时，电子会从分子中湮灭，释放出能量。

这些能量，即电子湮灭的能量，是由正电子的能量转变为电子湮灭的角度和能量组成的。

正电子湮灭谱测试可以检测电子湮灭过程中释放的能量和角度，从而测量分子电子态的能量和振动结构。

正电子湮灭谱测试的典型实验装置包括一个正电子源，用于产生撞击分子的正电子；一个电子检测器，用于检测湮灭电子的能量和角度；一个谱仪，用于计算和显示湮灭电子的能量和角度；以及一个控制系统，用于控制测试过程。

正电子湮灭谱测试的结果可以用来研究分子的电子结构和化学反应机理。

它可以用来检测分子的振动模式，从而推断分子的结构和反应机理，以及研究物质的性质。

此外，正电子湮灭谱测试还可用于探索物质结构的变化，以及研究新的材料和分子的性质。

总之，正电子湮灭谱测试是一种量子化学的实验，用于研究分子的电子结构和化学反应机理。

它可以检测电子湮灭的能
量和角度，从而测量分子电子态的能量和振动结构。

研究人员可以利用正电子湮灭谱测试探索分子的结构和反应机理，以及研究新的材料和分子的性质。