光谱灯谱线轮廓和超精细结构的测定
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光谱检测流程
1. 准备样品:根据需要检测的样品种类,选择不同的样品处理方法,如加热、稀释或提取等。
2. 准备光谱仪:根据需求选择不同的光谱仪和检测条件,如波长范围、分辨率等。
3. 校正光谱仪:使用标准物质进行光谱仪的校准和标定,以保证检测准确性。
4. 放置样品:将样品放置在光谱仪中,使其与光线相接触。
5. 收集光谱:启动光谱仪,开始收集光谱数据。
这个过程中,光谱仪被用来捕捉产生的光谱。
6. 处理数据:将收集到的光谱数据进行处理,使用各种软件和算法来解析和分析这些数据,以得出分析结果。
7. 数据解释:将分析结果与相关的理论知识进行比较和解释,以得到样品的结构和化学性质等信息。
8. 报告分析结果:根据需要,生成报告、图表和图像等结果,以传达分析结果和推理。
光谱分析实验报告摘要:光谱分析是一种重要的分析技术,可用于检测和识别物质的成分和性质。
本实验旨在通过使用光谱仪对不同光源的光谱进行测量和分析,探讨光谱的特性以及光谱分析在实际应用中的意义。
通过实验数据的处理和分析,我们验证了光谱分析技术的可靠性和准确性。
引言:光谱分析是通过测量物质与电磁波的相互作用所产生的光谱来分析物质的成分和性质的技术方法。
光谱分析可分为有线谱和连续谱两类。
有线谱主要是指通过某些特定物质经过加热或电激发后,产生了带有明显谱线的电磁辐射。
连续谱则是指没有明显的谱线,而是展现出一个连续的能量分布。
本实验主要关注有线谱的研究。
实验步骤:1. 准备工作:将光谱仪放置在稳定的台面上,并且确保仪器处于稳定的状态。
2. 校准光谱仪:使用标准光源进行光谱仪的校准,以确保测量结果的准确性。
3. 测量样品光谱:选择不同的样品,将其置于光源下,并使用光谱仪进行测量。
4. 数据记录与处理:将测量到的光谱数据记录下来,并进行数据处理和分析。
结果与讨论:在实验中,我们选择了几种不同的光源,包括白炽灯、荧光灯和LED灯等,并使用光谱仪测量了它们的光谱。
对于白炽灯,我们观察到其光谱主要集中在可见光的红、绿、蓝三个频段,并且能够看到红光的强度最高,而蓝光的强度最低。
对于荧光灯,我们观察到其光谱主要集中在可见光的蓝、绿两个频段,并且能够看到蓝光的强度最高。
对于LED灯,我们观察到其光谱主要集中在可见光的红、绿、蓝三个频段,并且能够看到绿光的强度最高。
通过对比不同光源的光谱,我们可以发现它们的光谱分布是不同的,这是由于不同的物质结构和能级跃迁导致的。
光谱分析的原理就是通过测量物质的光谱特征来识别物质的成分和性质。
光谱分析在现实生活中有着广泛的应用。
例如,在环境监测中,光谱分析可用于检测大气中的污染物,如二氧化氮和臭氧等;在食品安全检测中,光谱分析可用于鉴别食品中的添加剂和农药残留;在矿产资源勘探中,光谱分析可用于寻找矿石中的有价值的金属元素等。
超光谱成像仪的精细光谱定标郑玉权【期刊名称】《光学精密工程》【年(卷),期】2010(018)011【摘要】为了精细标定棱镜色散超光谱成像仪1 024×80光谱像元的中心波长和响应带宽,建立了一套光谱定标装置,提出了实现1 nm光谱定标精度的定标方法.首先,介绍了产生谱线弯曲与谱线倾斜的原因,确定了精细光谱定标的方法和数据处理算法;然后,利用光谱定标装置测定了全部光谱响应像元的离散单色光响应值,利用高斯方程拟合了相对光谱响应曲线;最后,建立了中心波长矩阵表和带宽矩阵表,采用多项式拟合算法确定了空间视场像元的色散方程和光谱通道谱线弯曲方程,实验测定了温度变化谱线漂移结果.另外,还对光谱定标精度对辐射定标精度的影响进行了分析.光谱定标结果表明:超光谱成像仪的光谱定标精度达到了±1 nm,各谱段带宽平均为8.75 nm;色散方程及谱线弯曲与设计结果相符,谱线弯曲值为14~19 nm,平均值为17 nm;1 nm的定标精度对辐射定标精度的影响分别小于1%(3000 K黑体)和0.25%(6000K黑体),满足超光谱成像仪1 nm光谱定标精度的要求.【总页数】8页(P2347-2354)【作者】郑玉权【作者单位】中国科学院,长春光学精密机械与物理研究所,吉林,长春,130031【正文语种】中文【中图分类】TP73;TH744.1【相关文献】1.基于大气吸收带的超光谱成像仪光谱定标技术研究 [J], 张春雷;向阳2.推帚式高光谱成像仪光谱定标及精度控制研究 [J], 谢佩;马艳华;李生红;葛明锋3.基于天宫一号高光谱成像仪的替代光谱定标方法精度对比分析 [J], 张雅琼;张文娟;陈正超;张兵4.超光谱成像光谱仪的光谱定标 [J],5.空间调制干涉光谱成像仪光谱定标技术研究 [J], 高静;计忠瑛;崔燕;石大莲;周锦松;相里斌;王忠厚因版权原因,仅展示原文概要,查看原文内容请购买。
光谱的测量原理和应用1. 引言光谱是指将物质发射、吸收或散射光按照波长进行分解和测量的方法。
光谱的测量原理和应用广泛应用于物理、化学、生物学等领域。
本文将介绍光谱的测量原理和一些常见的应用案例。
2. 光谱的测量原理光谱的测量原理基于物质对不同波长的光的吸收、散射和发射特性。
常见的光谱测量方法包括衍射光谱仪、干涉光谱仪和光栅光谱仪。
2.1 衍射光谱仪衍射光谱仪是利用光的衍射现象进行测量的一种方法。
它通过将入射光束进行衍射,然后通过光学元件将衍射光束聚焦到检测器上,进而测量出不同波长的光的强度。
衍射光谱仪具有高分辨率和较大的波长范围的特点,常用于红外光谱和紫外光谱的测量。
2.2 干涉光谱仪干涉光谱仪是利用光的干涉现象进行测量的一种方法。
它通过将光束分成两个相干的光束,其中一个光束经过样品或被测物体后再重新合成,然后测量合成光束的强度变化来分析样品的光谱信息。
干涉光谱仪具有较高的精度和分辨率,常用于光学薄膜的测量和光学显微镜的应用。
2.3 光栅光谱仪光栅光谱仪是利用光的色散性质进行测量的一种方法。
它利用光栅的特殊结构,将入射的光分散成不同波长的光线,然后通过光学元件将分散后的光线聚焦到检测器上,从而获得光谱信息。
光栅光谱仪具有较高的分辨率和波长范围,常用于光谱分析和光学测量。
3. 光谱的应用光谱的测量原理为很多领域的研究和应用提供了基础。
以下是一些常见的光谱应用案例。
3.1 化学分析光谱在化学分析中广泛应用。
通过测量物质在不同波长下的吸收或发射特性,可以确定物质的成分和浓度。
常见的化学分析光谱包括紫外-可见吸收光谱、红外光谱和拉曼光谱。
3.2 材料表征光谱在材料表征中具有重要的应用价值。
通过测量材料在不同波长下的吸收、散射或发射特性,可以获取材料的结构和性能信息。
常见的材料表征光谱包括透射电子显微镜光谱、X射线衍射光谱和核磁共振光谱。
3.3 生物医学研究光谱在生物医学研究中也有着重要的应用。
通过测量生物组织或细胞在不同波长下的吸收或发射特性,可以研究生物体的结构和功能。
氢原子光谱的精细结构
氢原子光谱的精细结构是由兰姆发现的。
原子光谱的每一条谱线,实际上是由两条或多条靠得很近的谱线组成的。
这种细微的结构称为光谱线的精细结构。
在氢原子的发射光谱中,有一个系列的发射谱线处在可见光波段,称为巴尔末系,分别位于红光、绿光、蓝光、紫光区域,这四条线的产生是电子分别从第三、第四、第五、第六激发态跃迁到第二激发态时释放出来的。
人们后来发现,氢原子光谱的巴尔末系,并不是简单的四条线,如果用更为精确的光谱仪对氢原子的光谱进行分光,就会出现每条光谱线其实并不是一条,而是两条,中间有细小的裂痕的情况。
这个发现就被称为氢原子光谱的精细结构。
实验四扫描Fabry-Perot标准具及其在塞曼效应等高分辨率光谱检测中的应用一、实验目的了解F-P标准具的原理;掌握其调整、使用方法;利用气压扫描法测定标准具的主要技术指标;应用该仪器测定塞曼效应等。
二、实验仪器、材料气压扫描Fabry-Perot标准具、单频He-Ne激光器及其电源、硅光电池探测器、函数记录仪或PC机、扩束平行光管、电磁铁及其电源、特斯拉计、笔形汞灯及其电源、聚光透镜。
三、原理1.F-P干涉仪的简要描述F-P干涉仪的核心是两个平面性和平行性极好的高反射光学镜面,它可以是一块玻璃或石英平行平板的两个面上镀制的镜面,也可以是两块相对平行放置的镜片,即为空气间隔,如图1所示。
前一种形式结构简单,使用时无需调整,比较方便,体积也小,但由于材料的均匀性和两面加工平行度往往达不到很高水平,故性能不如后者优良。
用固定间隔来定位的F-P干涉仪又常称为F-P标准具。
间隔圈常用热膨胀系数小的石英材料(或零膨胀微晶玻璃)。
它在三个点上与平镜接触,用三个螺丝调节接触点的压力,可以在小范围内改变二镜面的平行度,使之达到满意的程度。
使用时常在干涉仪的前方加聚光透镜,后方则用成象透镜把干涉图成象于焦平面上,如图2所示。
图 1 F-P干涉仪的多光束干涉1实验四 扫描Fabry-Perot 标准具及其应用2图 2 法布里-珀罗标准具的使用F -P 干涉仪采用多光束干涉原理,关于多光束干涉的详细理论可参阅有关专著,我们在此就直接利用有关的一些关系式。
设每一镜面的反射率都为R ,透射率为Τ,吸收散射等引起的损耗率为τ,则有1T R =τ++ -----------------------------------------------------(1) 图1中相邻两光束的光程差为α-=β=∆22sin n h 2cos nh 2 ------------------------------------(2) 其中h 为镜面间隔距离,n 为镜间介质折射率,α为入射光束投射角,β为光束在镜面间的投射角。
干涉条纹定域在无穷远,在反射中光强分布由下式决定:()()[]()()()[]()2sin R 14R 112sin T R 14T R 11R I I 22220R Φτ-+τ--Φ+τ-++τ--= ------------------- (3)在透射光中光强分布为()()[]()2sin R 14R 11T 1I I 2220T Φτ-+τ--τ-= ------------------------------ (4) 其中0I 为入射角为α的入射光强;而Φ为相邻光束的相位差,来自由(2)式表示的光程差∆和两次反射时的相位差变1δ、2δ:212δ+δ+λ∆π=Φ ------------------------------------------------ (5) 其中1δ、2δ对金属膜可认为常数,对介质膜来说它们是零,下面我们不予考虑。
所以对一定波长的单色光,Φ因入射角α而变。
可见干涉极大的角分布是以镜面法线为轴对称分布的。
在图1的成象透镜焦面上得到一套同心环。
干涉图的圆心位置在通过透镜光心的F -P 镜面法线上。
当镜面的吸收率可 忽略时,(3)、(4)式简化为:近代物理实验3()2sin R 4R 12sin R 4I I 2220R Φ+-Φ= ---------------------------------------- (6)()()2sin R 4R 1R 1I I 2220T Φ+--= ---------------------------------------- (7)它们的分布图如图3所示,可见反射光是亮背景上的暗环,透射光是暗背景上的亮环,两者是互补的,其和等于入射光强)(I 0α。
图 3 透射光和反射光根据(4)或(7)式透射光强在光程差满足以下条件的角方位上有极大值:α-=β=∆=λ22sin n h 2cos nh 2m------------------------------- (8) 其中m 为干涉级次,是正整数。
2.F -P 干涉仪的技术参数F -P 干涉仪作为光谱仪器,其主要参数是:(1)角色散和线色散;(2)不重迭光谱范围;(3)峰值透过率;(4)衬比因子;(5)分辨率、仪器宽度和细度。
其中(3)、(4)、(5)三项是衡量F -P 干涉仪质量的主要指标,而尤以(5)为最重要。
把(8)式对λ微分,可得角色散为:小时)和当λαλα-≈⎥⎦⎤⎢⎣⎡λλ-α-ααλ-=λαd dn ( n d dn n sin n sin cos 1d d 22 ----------------------------- (9) 可见角色散与镜间距离和反射膜性质无关,当入射角α→0时,∞→λαd d 负号表示λ增大时,相应的透射光束α变小。
玻璃平行平板(5.1n ≈)F -P 标准具比空气板标准具的角色散约大2n 倍。
实验四 扫描Fabry-Perot 标准具及其应用4在成象透镜焦面上所得干涉圈的线色散显然为:rf f d d f d dr 2λ-≈λα-≈λα⋅=λ ---------------------------------------- (10) 式中f 为透镜焦距,r 为干涉环半径。
把(8)式对m 微分,把λ作为常数,再令1m =∆,可得相邻干涉级次间的角间隔sin h 2cos sin h 2sin n 1n 221m αλ-−−→−ααα-λ-=α∆==∆时 ---------------------- (11) 焦面上单色光相邻干涉环的间距为:hr2f sin h 2f f r 21m λ-−−→−αλ-=α∆⋅=∆α=∆小时 ------------------------ (12) 可见镜间距离增大时,干涉环的间隔距离就缩小;成象透镜焦距f 增大时,干涉环间隔迅速增大。
为了得到便于观察的干涉图,需选用焦距适当的成象透镜。
当采用有限空间分辨率的探测器探测时,应采用适当焦距的透镜来获得必要的线色散,可以看出,把探测器置于干涉环中心(0→α,0r →)是有利的。
不重迭光谱范围亦称自由光谱区,就是当一个波长λ的第m 级次干涉极大与另一波长(FSR λ∆+λ)的第(1m -)级次重迭时,两者的波长差FSR λ∆,由上面的讨论,应有d d 1m FSR =∆α∆=λ∆λα --------------------------------------------- (13) 根据(9)和(11)式d dn n sin n h 2sin n 22222FSR ⎥⎦⎤⎢⎣⎡λλ-α-α-λ=λ∆ ---------------------------------(14) 分母中第三项不大,可忽略,小角度时α2sin 也很小。
这时: h2 nh 221n 2FSR λ−−→−λ≈λ∆=时 ---------------------------------------- (15) 若用频率表示,则为h2c nh 2c 1n FSR −−→−=ν∆=时 若用波数表示,则为 h 21 nh 211n FSR −−→−=ν∆=时 ---------------------------------------- (16) 与波长无关,只取决于镜间光程。
如果入射光中各谱线成分的间隔大于不重迭区时,就会发生干涉图重迭,不能确定它们干涉级次的相对高低,从而不能确定其波长差。
相反,如果入射光中的谱线间隔比自由光谱区小得多,就不易被分辨开。
所以镜间距应根据研究近代物理实验5对象的光谱范围来选择。
例如,塞曼效应中,汞5461Å谱线的塞曼分裂可达0.75Å,故选用2mm 的镜间隔。
由(4)和(7)式可见,干涉仪的峰值透过率为()()[]1 R 11T 1I I T 0220T m ax m ax −−→−τ--τ-===τ ------------------------------- (17) 可见,随着τ趋向零,1T max →,而当τ一定时,随反射率R 的增大,max T 减小,如图4所示。
为了不过分损失透射强度,反射率不能取太高。
透射光极小值则为:()()[]() 0)( I R 1T I I R 11T 1I 022T m in 022T m in =τ⋅+=⋅τ-+τ-= -------------------------------------- (18)干涉仪的重要指标之一 衬比因子C(亦称对比度)为:()[]()[] R -1R 1R 11R 11I I C 2022T m in T m ax ⎪⎭⎫ ⎝⎛+−−→−τ--τ-+==→τ -------------------------- (19)图 4 max T 与τ和R 的关系可见对比度主要取决于反射率R ,随R 增大而急剧增大。
由于最小透射Tmin I 并不是零,所以强谱线的背景透射可能淹没弱谱线的透射峰,对比度反映了谱线之间可能的最大隔离程度。
一般F -P 干涉仪对于理想单色光透射光强减到峰值一半所对应的相位宽度Φδ=∆Φ2是不大的,(7)式分母中两项相等时就是求得Φδ的条件,其中取实验四 扫描Fabry-Perot 标准具及其应用622m sin 2sin Φδ±≈⎪⎭⎫ ⎝⎛Φδ+π=Φ 可得 ()RR 122-=Φδ=∆Φ --------------------------------------------- (20) 透射峰半高处宽度除以相邻峰间距就是细度。
相邻级次的干涉峰相应于2π位相差,所以F -P 干涉仪的细度为:()R 1R 2F R -π=∆Φπ= ------------------------------------------------ (21) 可见细度由反射率决定而与h 无关,这里是假定两镜面是理想的平行平面,故R F 称为反射率细度。
图5曲线1表示(21)式所示的R F ~R关系。
细度越大,分辨紧邻谱线的能力当然越强,但不能靠无限制地提高R 来提高细度。
细度严重地受限于镜面的平面度和平行度。
平行度往往可以调整,尽量调到最佳,但平面度却受限于工艺技术,不可能达到理想状态,这往往是限制细度的主要原因。
图 5 F 和R 关系由于有平面误差和平行误差。
所以在全孔径范围内,h 是坐标(x,y)的函数。
镜面的平面平整度通常用全孔径范围内以波长λ表示的最大起伏M λ来表示,例如30λ、100λ、200λ等。
用单色平行光束垂直镜面投射时,由于各处h 略有差别,就不能同时满足干涉透射峰的条件。
如果h 的起伏较大,扫描过程中透射光只以等厚条纹的形式出现,扫过全孔径。