ATP消耗 和能量衰竭 缺氧性脑 损伤
神经元死亡(坏死)
再灌注损伤
氧自由基 兴奋性神经递质
细胞病理 性水肿
细胞凋亡
继发性神经元坏死
缺氧缺血时脑细胞代谢能量衰竭
缺氧/缺血 钠泵衰竭 Na+内流 细胞内Na+ 细胞内Cl-、H2O 细胞毒性脑水肿 细胞外K+ 膜去极化 谷氨酸释放 ATP 钙泵衰竭 Ca2+内流 细胞内Ca2+
80%由围生期窒息引起,其中重度窒息及宫 内窒息各占50%及40%。Victor Yu 报告,每
1000个活产足月儿约有6个发生 HIE.
中国:每年约1500万新生儿出生, 其中大约有5%发 生窒息,约75万,其中有1/3合并脑损伤(伤残、 智力低下等)。
美国:1岁以下的脑瘫有25-50%由窒息所致
(三)神经病理学改变
•脑水肿:早期主要病理改变 •选择性神经元坏死(包括凋亡和坏死) •出血:脑室、蛛网膜下腔、脑室质 •脑室周围白质软化 •脑梗死
HIE发病机理
细胞钙 再灌注后 因缺氧 超载引起神 主要由细胞 缺血所导致 经元的兴奋毒 因子引起的继 的脑能量衰竭 损伤 发损伤
原发损伤
继发损伤
原发性神经元坏死
脑水肿 凋亡 坏死
Na+, Ca2+, H2O 水肿,血管痉挛, 炎症,细胞聚集,
膜脂质过氧化 离子泵受损 氧自由基,EAA NO,炎症因子
继发性缺血
缺氧缺血后神经细胞的损伤、修复分子机制
神经破坏 基因表达
动态平衡
神经保护 基因表达
IL-1, IL-8,
NGF, BDNF,
TNF, iNOS
中性粒细胞 BBB break
病因
产前