SPC统计过程控制指导书
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1 范围
根据A20.1《统计技术应用管理程序》中5.3.4条款的规定，特制定本指导书。
本指导书规定了控制图的使用及过程能力的计算。
2 职责
2.1技术开发部负责控制图的制作、分析指导、制订纠正措施，以及进行过程能力的计算。
2.2 各车间负责控制图的具体使用。
3 管理内容与要求
3.1 术语
3.1.1 计量型控制图：指用于监视计量型数据控制图，本作业指导书仅应用RX控制图。
3.1.2 计数型控制图：指用于监视计数型数据控制图，本作业指导书仅应用P图。
3.1.3 PC值：无偏移时过程均值与规范中值一致时的过程能力指数。
3.1.4 PKC值：有偏移时过程均值与规范中值不—致的过程能力指数。
3.1.5 PP值：无偏移时过程均值与规范中值一致时的初始过程性能指数。
3.1.6 PKP值：有偏移时过程均值与规范中值不一致的初始过程性能指数。
3.2 在生产过程中统计技术作业指导书。
3.2.1 准备工作
3.2.1.1 确定测量系统、测量对象、测量方法、测量要求等。
3.2.1.2 在应用前应考虑以下情况有可能带来的不必要的变差：刀具更换，材料更换，操作者更换、检验员更换，设备故障、工装更换等，如出现应在控制图上做好记录。
3.2.2 RX图的制作。
3.2.2.1 确定样本容量(每个样本5个数据)即N=5；确定样本数量为25个，根据该工序生产节拍确定采样频率（即隔多长时间抽取一个样本或多少产量抽取一个样本）。
3.2.2.2 根据采样频率采集数据，每个样本的5个数据要连续获得，共获得125个数据，并将数据记录于控制图中的数据表中。 德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 3.2.2.3 计算每个样本中5个数据的均值X和极差R：
minmax543215/)(XXRXXXXXX
共得25个X值及25个R值。
3.2.2.4 根据X值及R值确定控制图的刻度（控制图应提前制好）。
3.2.2.5 将25个X值及25个R值分别描于X图及R图上，并连成折线。
3.2.2.6 计算平均极差R和过程均值X
25/)(25/)(2532125321XXXXXRRRRR
3.2.2.7 计算上下控制限（UCL及LCL）
X图：RAXUCLX2 RAXLCLX2
R图：RDUCLR4 RDLCLR3
当n=5时，58.02A，11.24D，03D
3.2.2.8 将中位线（R及X）和上下控制限（XUCL，XLCL，RUCL，RLCL）分别描于X图及R图上, RX图制作完成。
3.2.3 P图的制作
3.2.3.1 确定样本容量为每个样本200个数据，即N=200，确定样本数量为25个，即：K=25，根据该工序生产节拍确定采样频率（即隔多长时间抽取一个样本或多少产量抽取一样本）。
3.2.3.2 根据采样频率采集数据，每个样本的200个数据要连续获得。
3.2.3.3 计算每个样本内的不合格品率。
NnPp/
其中：p—不合格品率
Pn—每个样本内不合格品数，共得25个P值
N—样本容量 德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 3.2.3.4 根据P值确定控制图的刻度（控制图应提前制好）。
3.2.3.5 将25个P值描于控制图上，并连成折线。
3.2.3.6 计算平均不合格品率
)(25321PPPPP
3.2.3.7 计算上下控制限（UCL及LCL）
2121)/))-(1((3)/))-(1((3NPPPLCLNPPPUCLPP
N—样本容量
3.2.3.8 将中位线（P）和上下控制限（PUCL，PLCL）描于P图上，P图制作完成。
3.2.4 控制图的分析（包括RX图及P图）
3.2.4.1 当出现下列情况时，则说明过程出现异常。
a) 出现超过控制限的点。
b) 出现非随机图型：即不能使2/3的点位于中位线周围1/3的区域内。
c) 出现链：即连续7点位于中位线一侧或连续7点上升或下降。
3.2.4.2 出现上述异常，应进行分析原因并采取措施。
3.2.5 控制图用于长期监控
3.2.5.1 当过程不稳定因素已清除后，应剔除失控点数据，重新计算过程均值和控制限。
3.2.5.2 将重新计算的过程均值和控制限描于控制图上用于长期监控。
3.2.5.3 剔除失控点后，若样本数量小于20时，原有控制图即行废止，需重新采集数据并制图。
3.2.6 符合正态分布的计量型质量特性（对称公差及不对称双侧公差）的过程能力指数的计算方法及过程。
在进行计算计量型过程能力指数时必须是在过程受控的情况下进行的，且计量型质量特性过程能力指数越大说明过程能力越强。
3.2.6.1PC值及PKC值的计算方法。
a) 断续取125个数据（即隔一段时间抽取一个子组，共抽取25个子组）。
b) 对称公差计算方法： 德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 c) )6/()(固定标准差LSLUSLCP
)6/()2(固定标准差LSLUSLCPK
其中：USL—公差上限，LSL—公差下限，
—过程均值与规范中值差的绝对值。
固有标准差=2/dR
33.22d
d) 不对称公差计算方法：
固有标准差）（过程均值3/)(1USLCPK
)3/()(2固有标准差过程均值LSLCPK
1PKC与2PKC取较小值
3.2.6.2 PP值及PKP值的计算方法。
a) 连续取100—125个数据
b) 对称公差计算方法：
)6/()(总标准差LSLUSLPP，
)6/()2(总标准差LSLUSLPPK，
其中：USL—公差上限，LSL—公差下限，
—过程均值与规范中值差的绝对值。
总标准差=212))1()((NXXi
N为样本数量。
c) 不对称公差计算方法：
)3/()()3/()(21总标准差过程均值总标准差过程均值LSLPUSLPpkpk
1pkP与2pkP取较小值。
d) 若初始生产，产量不是100件，可采用单值－移动极差控制图进行计算。
3.2.7 非正态分布的计量型过程控制方法。
a) 可采用PPM计算及P图监视方法。 德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 b) 其过程能力指数可用PPM值或P平均来表示。
3.2.8 机器能力指数mkC的计算方法。
a) 连续取样30—50个，计算：
)8/()(总标准差LSLUSLCmk
其中：USL—公差上限，LSL—公差下限。
总标准差=21212)1/())((NKXi
K为规范中值。
b) 若为单边公差，则此能力指数无法计算，只能用pkP近似表示。
3.2.9 计数型质量特性过程能力指数计算方法。
在进行计算计数型过程能力指数时必须是在过程受控的情况下进行的，计数型质量特性过程能力指数越小说明过程能力越强。
3.2.9.1 利用P图所采集的数据进行计算。
3.2.9.2 利用P图直接表示过程能力。
3.2.10 各种控制图、分析计算资料及汇总文件由各生产厂质量保证组及制造技术开发部保存并归档。
X-R控制图.xls 德信诚培训网
更多免费资料下载请进： 好好学习社区 计量型控制图的分类特点和应用范围
类 型 优 点 缺 点 应 用 范 围
均值—极差图
X—R图 较简便，用途广；对子组内特殊原因敏感。 粗糙，用极差代替标准差时，分析误差大。 应用广泛；
均值—标准差图
X—S图 S较R更准确有效；特别对大样本时更好； 繁琐，大样本计算量大，无计算机时，不宜现场操作。 子组容量n≥10时，可用S代替R，可用于检测时间远比加工时间短的场合。
中位数—极差图
X—R图 最简便，用中位数代替均值，只需排序，无需计算，省事。 很粗糙。分析误差最大。 用于车间工人现场操作，
单值—移动极差图
X—MR图 以单值代替均值，用移动差代替极差，方便，对变差反映最灵敏。 检验水平粗糙，是计量型控制图中最粗糙的。 用于测量费用很高的场合和无需取多个样品的场合。如化验同一炉钢水的质量。
计数型控制图的分类特点和应用范围
类 型 优 点 缺 点 应 用 范 围
不合格品率图
P图 允许每批样本容量不一样大，可统一评价不同的样本质量水平。 仅可监视不合格品的比率，而不是数目。 广泛应用，特别是用于关键/特殊过程为佳
不合格品数图
Pn图 可监视过程中不合格品的数目。更直观，容易理解 每批（每个子组）的样本容量必须恒定。 控制一般过程。
不合格品数图
C图 可监视每个单位产品中不合格品的平均缺陷率。 每批（每个子组）的样本容量必须恒定。 用于连续生产的产品如每批布、每件产品上平均缺陷率。
单位不合格品数图
U图 可监视每个单位产品中不合格品的数目，样本 可大可小； 不同的时期用不同的样本容量 用于如每块板、每件产品上平均缺陷数。
从上述各种控制图的特点而言，这八种控制图各有各自的用途。最常用的是X—R图（又称X—Bar图），和P 图。对于生产车间而言，当遇上某个产品的某个参数控制不住时，首先会反映在P图上，其表现为废品率上升，从宏观角度分析P图是反映发展趋势的。但是，发现了问题，如何解决，这不是P 图能解决的，这时需要看X—Bar图。按着控制图的判断原则；识别过程是否处于正常状态，控制点是否在控制限内，即使在控制限内，还要看控制点的离散程度和发展趋势。我们的控制原则可以用通俗的语言，总结为“数据偏了，就要调（整）。数据散了，就要换”（换是指：换系统、人员、设备、工具、刀具、原料、方法等等）。
