光波导传输损耗的测量
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实验二光纤损耗及断点的检测一、实验目的:了解光纤损耗的检测手段,认识光时域反射计,熟悉使用方法,利用光时域反射计检测光纤的损耗和断点。
二、实验仪器:1.光时域反射计OTDR 一台2.1550 nm波长的单模光纤若干3.打印机Epson5700 一台4.跳线两根5.法兰盘两个三、实验原理:检测光纤损耗的基准方法是剪断法,剪断法的精度较高,但是这种方法属于破坏性测量,不适合现场使用,为了克服这一弱点,提出了两种替代方法插入法、背向散射法,其中背向散射法只需要光纤的一端测试,方法十分简单,很适合现场测量,特别是可用来测光纤的长度及确定故障点位置,所以这种方法应用广泛。
用这种方法测量光纤损耗的仪器称为光时域反射计(Optical time domain reflectometer),本实验即介绍利用OTDR对光纤损耗及断点的检测。
光时域反射计利用反射测量技术测量光波导(如光纤)特性的一种仪器,光纤中反射光造成光反射的原因有光缆的端部、光纤的断裂处、接头、连接器界面、裂纹、碎裂,或传输媒质的其它各向异性特点和不连续性。
从理论上分析主要是瑞利散射和菲涅尔反射。
1.瑞利散射在光纤中存瑞利散射,瑞利散射是由于光纤自身的缺陷和掺杂成分的不均匀性所产生的。
瑞利散射光的特点是散射光波长与入射光波长相同,散射光功率与该点入射光功率成正比。
散射光沿各方向皆有,但只有小部分在光纤数值孔径内的光会沿光纤轴向传播。
如在光纤输入端注入大功率窄脉冲光信号,在光脉冲沿着光纤传播时,各点的散射光部分将被返回到光纤的输入端。
离光纤输入端近的地方散射回来的光较强,而离输入端远的地方散射回来的光较弱。
离光纤输入端近的地方散射回来的光先返回至光脉冲输入端。
2.菲涅耳反射光在传输过程中通过折射率不同的介质的界面产生的反射称为菲涅耳反射。
根据菲涅耳定理,功率为in P 的光垂直入射时,反射功率T P 与in P 有如下关系:)(1212n n n n P P in T +-=其中21n n 、分别为不连续处两侧折射率。
微纳光波导倏逝场耦合结构及其特性研究一、本文概述随着纳米科技的飞速发展,微纳光波导作为一种重要的光学元件,在集成光学、光子晶体、生物传感等领域展现出了广阔的应用前景。
微纳光波导的倏逝场耦合结构是其中的一项关键技术,其研究对于提高光波导的性能、拓展其应用范围具有重要意义。
本文旨在深入探讨微纳光波导倏逝场耦合结构的基本原理、设计方法及其特性,以期为相关领域的研究和实践提供理论支持和技术指导。
本文将首先介绍微纳光波导的基本概念和原理,包括其结构特点、光传输机制等。
在此基础上,重点分析倏逝场耦合结构的工作原理,探讨其在微纳光波导中的实现方式。
随后,本文将详细阐述微纳光波导倏逝场耦合结构的设计方法,包括材料选择、结构优化等,并分析其在实际应用中的性能表现。
本文将总结微纳光波导倏逝场耦合结构的研究现状和发展趋势,展望其未来的应用前景。
通过本文的研究,期望能够为微纳光波导倏逝场耦合结构的设计和优化提供理论支撑,推动相关技术的进一步发展,为实现高效、稳定的光子集成和光通信奠定坚实基础。
二、微纳光波导的基本理论微纳光波导,作为光学领域的重要分支,其在光通信、光传感、光信号处理等方面具有广泛的应用前景。
其核心理论基于波动光学和电磁场理论,通过精确控制光波在纳米尺度上的传播行为,实现光信号的高效传输和处理。
光波导的基本原理是,当光波在介质中传播时,受到介质折射率变化的引导,使得光波能够沿着特定的路径传播。
微纳光波导的尺寸通常在微米或纳米量级,这使得其能够在非常小的空间内实现对光波的有效控制。
微纳光波导的主要特性包括其模式特性、色散特性以及耦合特性。
模式特性描述了光波在波导中的传播方式,如横电波(TE模)和横磁波(TM模)等。
色散特性则涉及到光波在波导中传播速度与波长的关系,这对于光通信系统的性能至关重要。
耦合特性则描述了光波在不同波导之间或波导与外部环境之间的能量交换过程,是实现光信号处理和传感的关键。
为了深入理解微纳光波导的传输特性,需要引入一些关键参数,如有效折射率、模场直径和传输损耗等。
简明光波导模式理论光波导模式理论是光学领域中的重要理论之一,它主要研究光在波导结构中的传播模式和特性。
在本文中,我们将简要介绍光波导模式理论的基本概念、原理、种类和特点,以及在光电子学、光通信等领域的应用,并分析其优缺点及改进方向。
1、光波导模式理论的基本概念和原理光波导模式理论主要研究光在波导结构中的传播模式和特性。
波导结构是指能够约束和引导光波传播的介质层或光纤。
根据麦克斯韦方程组和波动光学理论,光波导模式理论可描述为在波导结构中传播的光波的电磁场分布和传播常数之间的关系。
在光波导中,光波的电磁场分布在横向和纵向两个方向上,因此光波导模式理论包括横向模态和纵向模态。
横向模态是指光波在波导结构横截面上的场分布,它包括多种模式,如基模、高阶模、辐射模等。
纵向模态是指光波在波导结构长度方向上的场分布,它描述了光波的传播行为,包括相速度、群速度、衰减等参数。
2、光波导模式的种类和特点根据光波在波导结构中的传播特性和横向模态,光波导模式可分为多种类型。
其中,常见的类型包括:(1)基模(Fundamental Mode):基模是波导结构中最基本的横向模态,它的场分布具有对称性,并且在横向方向上具有最小的光强分布。
基模的传播常数较小,具有最小的衰减系数。
(2)高阶模(Higher-order Mode):高阶模是波导结构中除基模以外的其他模态,它的场分布具有非对称性,并且在横向方向上具有较大的光强分布。
高阶模的传播常数较大,具有较大的衰减系数。
(3)辐射模(Radiation Mode):辐射模是波导结构中不限制光波传播的模态,它的场分布不受波导结构的限制,并且可以向外部辐射能量。
辐射模的传播常数最小,衰减系数也最小。
3、光波导模式在光电子学、光通信等领域的应用光波导模式理论在光电子学、光通信等领域具有广泛的应用价值。
例如,在光电子器件方面,光波导模式理论可用于分析器件的性能和使用条件。
在光纤通信方面,光波导模式理论可用于研究光的传输和信号处理。
光电探测器在通信中的应用近年来,随着科技的不断进步和人们对通信技术的需求越来越大,光电探测器在通信领域的应用也变得越来越广泛。
光电探测器作为光通信系统的核心部件,发挥着至关重要的作用。
本文将介绍光电探测器的基本原理、常见类型以及在通信中的应用。
光电探测器是一种能够将光信号转化为电信号的器件。
其基本原理是利用光的能量将入射光子转化为电子,并通过电子的运动来产生电流。
根据光电探测器的不同结构和工作原理,可以分为光电二极管、光电倍增管、光电二极管阵列等几种类型。
光电二极管是最常见的一种光电探测器,它利用半导体的PN结构,当光子入射到PN结上时,光子的能量会激发电子-空穴对的产生,并产生电流。
光电二极管具有响应速度快、噪声低等优点,广泛应用于数据通信、光纤传感等领域。
光电倍增管是一种能够将低能量光信号放大的探测器。
它由光阴极、光电子倍增管、阳极等组成。
当光子入射到光阴极上时,光阴极会发射出光电子,经过倍增管的电子倍增过程,最终形成一个很大的电流信号。
光电倍增管具有高增益、高灵敏度等特点,广泛应用于光通信系统中的弱光检测和光波导测量。
光电二极管阵列是一种由多个光电二极管组成的阵列结构。
它可以同时接收多个光信号,具有高分辨率、大动态范围等特点。
光电二极管阵列广泛应用于光通信系统中的光分时复用技术、光时钟信号的检测等方面。
光电探测器在通信领域有着广泛的应用。
首先,它可以作为接收器件,将光信号转化为电信号后再进行处理和解码。
在光纤通信中,光电探测器是接收光信号的重要组成部分。
它可以将传输的光信号转化为电信号,再经过放大、过滤等处理,最终恢复出原始的数据信息。
其次,光电探测器还可以用于光通信系统中的光波导测量。
通过测量光的强度和相位等参数,可以准确地获得光波导的性能指标,如传输损耗、色散特性等。
光电探测器在这方面的应用可以实现对光波导性能的实时监测和优化调节。
此外,光电探测器还常用于光纤传感领域。
通过测量光信号的强度、相位等参数,可以实现对光纤传感器中所测物理量的准确测量。
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法光通信用高速直接调制半导体激光器是光纤通信中常用的一种光源。
为了确保其性能稳定和可靠,需要对其进行一系列测量和测试。
以下是关于光通信用高速直接调制半导体激光器的50条测量方法,并进行详细描述:1. 光谱测量:使用光谱仪对激光器的输出光谱进行测量,以确定其中心波长和光谱纯度。
2. 输出功率测量:使用功率计测量激光器在给定电流和温度下的输出功率。
3. 波长调谐测试:控制激光器的温度和电流,测量其输出波长随温度和电流的变化情况。
4. 相位噪声测试:使用频谱分析仪测量激光器的相位噪声,以评估其可用于调制和解调的性能。
5. 调制带宽测试:通过测量激光器输出光的响应速度来评估其调制带宽。
6. 脉冲响应测试:通过输入脉冲信号,并测量激光器输出光的时间响应来评估其响应速度和脉冲特性。
7. 直接调制混频测试:将激光器输出光与微波信号混合,测量混频信号的特性,如幅度、频率和相位。
8. 噪声谐波测试:测量激光器输出光的噪声谐波情况,以评估其噪声特性。
9. 直接调制耦合效率测试:测量激光器输出光的耦合效率,即将光耦合到光纤中的能力。
10. 跳模测试:通过测量激光器输出光的跳模特性来评估其输出光的稳定性和功率峰值。
11. 温度稳定性测试:通过控制激光器的温度并测量输出光功率的变化来评估其温度稳定性。
12. 效率测试:测量激光器的效率,即输入电功率与输出光功率之间的比值。
13. 相位与频率特性测试:通过输入调制信号并测量其在激光器输出光中引起的相位和频率变化来评估其调制特性。
14. 灯丝电流测试:测量激光器灯丝电流以确定激光器的工作状态。
15. 泵浦电流测试:测量激光器泵浦电流以评估其性能和稳定性。
16. 泵浦功率测试:测量激光器泵浦功率以评估其工作状态和光输出特性。
17. 高温性能测试:将激光器暴露于高温环境中并测量其输出性能,以评估其高温运行能力。
18. 耐受性测试:测量激光器对温度变化、振动、湿度等外部环境因素的耐受能力。
光波导偏振相关损耗光波导偏振相关损耗光波导是现代光电子学领域中不可或缺的基本元件。
在信号传输过程中,偏振相关损耗是一项非常重要的指标。
本文将从理论和实验两个层面,结合作者的相关研究经验,介绍光波导偏振相关损耗的相关知识。
1. 理论模型在光波导中,偏振相关损耗主要分为两种:模式耦合损耗和极化转换损耗。
模式耦合损耗指的是偏振与模场分布差异导致的能量耗散,主要由不同模式的交叉“耦合”所致。
极化转换损耗指的是材料或结构的非对称性因素导致所谓极化模式的相互转换引起的能量损耗。
在理论模型中,可以通过数学方程描述这两种损耗的量化关系。
通过物理模型的建立可以清楚的了解光波导中偏振相关损耗的成因和影响因素。
2. 实验验证实际上,光波导中偏振相关损耗的研究更多是通过实验验证。
在实验中,可以通过两种方式来评估偏振相关损耗:一种是激光器光束入射波导中,通过比较出射处不同波长的吸收损耗,评估不同偏振下的损耗值;另一种是通过光学显微镜技术,直接测量波导中偏振依赖的光场分布,展示偏振相关损耗分布。
实验中,偏振相关损耗的量化非常复杂,往往需要结合复杂的测试设备和实验条件。
研究人员需要在不同测试条件下模拟实验环境和光波导材料的特性,同时对实验结果进行回归分析和误差分析,确保测试结果的可信度。
因此,实验验证的结果对于理论建模和实际工程应用都具有重要的指导意义。
3. 影响因素光波导偏振相关损耗的大小和受到以下因素的影响:(1) 光波导材料的折射率差异性;(2) 波导结构的设计和制备精度;(3) 材料的非线性光学效应;(4) 材料的吸收特性和散射特性;(5) 材料的温度、压力等环境因素。
因此,在实际应用中,设计和优化光波导结构的过程中需要考虑这些因素,以充分考虑偏振相关损耗对光学设备性能的影响。
本文介绍了光波导偏振相关损耗的理论模型和实验验证。
通过深入分析光波导中偏振相关损耗的成因和影响因素,可以帮助光学设计和工程应用中更好地优化光学器件结构和性能,实现更有效地信号传输。
表征薄膜光学损耗
薄膜光学损耗是指光在通过薄膜时能量的减少,它会影响光的透过率和反射率。
薄膜光学损耗可以通过多种方式进行表征,以下是其中一些常见的方法:
1. 光学透过率测量:通过测量光通过薄膜前后的强度,可以计算出薄膜的光学透过率。
透过率越低,表明薄膜的光学损耗越高。
2. 反射率测量:通过测量光在薄膜表面的反射率,可以计算出薄膜的光学损耗。
反射率越高,表明薄膜的光学损耗越高。
3. 椭圆偏振仪测量:椭圆偏振仪可以测量光的偏振状态,从而提供关于薄膜光学损耗的信息。
它可以测量薄膜的折射率、消光系数和厚度等参数。
4. 光谱仪测量:光谱仪可以测量光的光谱分布,从而提供关于薄膜光学损耗的信息。
它可以测量薄膜的吸收光谱和反射光谱等参数。
5. 光学显微镜观察:通过光学显微镜观察薄膜的表面形貌和结构,可以了解薄膜的光学损耗机制。
例如,薄膜中的缺陷、杂质和晶粒边界等都会导致光学损耗的增加。
薄膜光学损耗可以通过光学透过率测量、反射率测量、椭圆偏振仪测量、光谱仪测量和光学显微镜观察等方式进行表征。
这些方法可以提供关于薄膜光学损耗的不同信息,有助于深入了解薄膜的光学性质和损耗机制。
南昌大学实验报告学生姓名:刘vv 学号:55023110vv 专业班级:vvvvvv实验日期:2014/9/24 实验成绩:光波导传输损耗的测量波导薄膜中导波光的传输损耗是评价介质平板波导的一个重要参数。
传统的测量光波导传输损耗的方法如截断法(Cut-Off Method)和滑动棱镜法(Prism Sliding Method)在测量准确性和方便性方面均存在着较大的问题,难以获得广泛的应用。
采用CCD数字成像器件,通过数字成像对光波导内部的传输光强进行测量,可计算得到波导的传输损耗,该方法具有无损、高精度快速测量等优点。
[实验目的]1.了解CCD数字成像法测量波导传输损耗的原理及实际的测量光路;2.掌握用于去除散粒噪声的中值滤波图像处理技术;3.通过传输曲线的拟合计算传输衰减系数。
[实验原理]1.损耗机理光波导器件传输损耗主要由以下因素产生:波导材料的散射和吸收引起的损耗;基片的表面光洁度受到抛光工艺的限制;界面的不规则导致导模与辐射模间的耦合而引起的损耗;波导表面弯曲,引起能量辐射造成损耗。
2.测量原理真实波导由于界面不平整以及波导内部杂质散射,使导模转变为辐射模。
可以认为:某一位置散射出来的光强主要受到该点的传输光强、界面不平整程度、杂质多少的影响。
整块波导是在特定条件下一次性制备,后两个因素的影响可以认为在整块波导中平均分布,即使由于杂质大小有涨落而出现某点散射光特别强,也可以在后期图像处理中采用数字滤波技术加以消除。
因此,散射光强将只和该处的实际传输光强成正比。
据此,可以采用数字成像器件CCD对传输线上各点的散射光强进行记录,转换成内部传输光强,拟合出传输衰减曲线并计算衰减系数。
CCD摄像头介绍电荷耦合器件(Charge Coupled Device )简称CCD 。
它是七十年代以来发展起来的一种新型高集成度半导体器件。
其基本结构是紧密排列的MOS 电容阵列。
工作时,这种MOS 电容在时序脉冲的作用下,实现电荷的存储和转移。
导波检测方案导波检测是一种重要的技术,可以在光纤通信系统中用于探测光信号的传输效率和质量。
本文将介绍导波检测的原理、方法和应用,并设计了一个基于此方案的实验。
一、导波检测的原理导波检测是利用导波结构的光波导特性来实现信号的传输和检测。
光波导是一种将光束引导在其中传输的结构,可以有效地减少光的衰减和损耗。
在光纤通信系统中,光波导常常被用作信号的传输通道。
导波检测的原理是利用光波导中的光信号受到的传输损耗来检测信号的强度。
当光信号经过光波导时,会受到一定的衰减。
通过测量光信号的衰减程度,就可以得到信号的传输效率。
二、导波检测的方法1. 光功率检测法光功率检测法是导波检测的一种常用方法。
该方法通过测量光波导中的光功率来判断信号的强弱。
光功率通常是以dBm为单位进行测量的,可以通过光功率计来进行测量。
光功率检测法需要在光波导的起始端和终止端分别安装光功率计设备。
当光信号通过光波导传输时,光功率计会测量起始端和终止端的光功率差,并计算出信号的传输损耗。
2. 反射法反射法是另一种常用的导波检测方法。
该方法通过测量光信号在光波导中的反射程度来判断信号的强度。
反射程度通常是以dB为单位进行测量的,可以通过光反射计来进行测量。
反射法需要在光波导的终止端安装光反射计设备。
当光信号通过光波导传输到终止端时,部分光信号会发生反射。
光反射计会测量反射光信号的强度,并计算出信号的反射程度。
三、导波检测的应用导波检测在光纤通信系统中具有广泛的应用。
其中,最常见的应用是用于光纤网络的监测和性能评估。
在光纤网络中,导波检测可以用于判断信号的传输效率和质量。
通过监测光波导中的光功率和反射程度,可以及时发现信号传输中的问题,如光信号衰减、光波导损耗等,并及时采取措施进行修复。
导波检测还可以用于光纤网络的性能评估。
通过对光波导中光信号的传输损耗和反射程度进行测量,可以评估光纤网络的信号传输效率和质量,为网络的优化和升级提供依据。
四、基于导波检测的实验设计为了验证导波检测的有效性和可靠性,我们设计了一个基于导波检测的实验。
光波导的控制方案
光波导的控制方案包括以下几个方面:
1. 温度控制:光波导的传输性能受温度的影响较大,因此需要对光波导进行温度控制,以保持其传输性能稳定。
常用的控制方法包括温度传感器监测和温度控制装置调节光波导周围的温度。
2. 光强控制:光波导中的光强度会对传输性能产生影响,因此需要对光强进行控制。
常用的控制方法包括光强传感器监测和可调节光衰减器等装置控制光强度。
3. 折射率控制:光波导的折射率会影响光的传输速度和传输损耗等性能,因此需要对折射率进行控制。
常用的控制方法包括改变光波导的材料组成和结构,如改变材料的折射率,或通过施加外界电场调节光波导的折射率。
4. 偏振控制:光波导中的光一般具有两个正交方向的偏振态,可以通过控制偏振来实现对光的路由和分光等功能。
常用的控制方法包括由电光效应产生的电光调制器来调节光波导中的偏振。
5. 电信号控制:光波导器件一般需要外界电信号来控制其工作状态,如改变光的传输方向、分光比、相位等。
常用的控制方法包括通过驱动电路和外部电信号对光波导中的电光调制器或切换器等器件进行控制。
以上是光波导的一些常见的控制方案,具体的控制方案要根据具体的光波导器件和应用需求进行选择和设计。
光学计测量计的原理和应用1. 前言光学计测量计是一种利用光学原理进行测量的仪器。
它通过测量光的属性来获得目标物体的相关参数,广泛应用于工业生产、科学研究、医学诊断等领域。
本文将对光学计测量计的原理和应用进行详细介绍。
2. 光学计测量计的原理光学计测量计的原理基于光的传播和反射特性。
通过对光的衍射、干涉、散射等现象进行分析,可以得到被测量对象的相关参数。
光学计测量计的原理主要包括以下几个方面:2.1 波长测量原理光学计测量计可以通过测量光的波长来获得被测量对象的相关参数。
这是基于光的衍射现象,根据衍射光的角度和波长之间的关系,可以计算出被测量对象的特定尺寸或形状。
2.2 相位测量原理相位测量是光学计测量计的重要原理之一。
通过测量光波的相位差,可以得到被测对象的形状和表面的信息。
相位测量主要依靠干涉现象,通过比较两束光的相位差来确定物体的形状。
2.3 散射测量原理散射是光学计测量计原理中的另一个重要方面。
通过测量光在物体表面发生的散射现象,可以获得物体的表面粗糙度、颗粒大小等参数。
散射测量主要利用光的散射强度和角度之间的关系来进行分析。
3. 光学计测量计的应用光学计测量计在工业生产、科学研究和医学诊断等领域具有广泛的应用。
以下列举了一些常见的应用场景:3.1 表面粗糙度测量光学计测量计可以通过测量光在物体表面的散射强度来评估物体的表面粗糙度。
这在许多工业领域中非常重要,例如金属加工、半导体制造等。
3.2 形状测量光学计测量计可以通过测量光波的相位差来获得被测对象的三维形状信息。
这在制造业中广泛应用于检测零件的形状精度和测量产品的尺寸。
3.3 光波导测量光波导是一种将光波导引到特定方向的器件。
光学计测量计可以用于测量光波导的传输损耗和耦合效率。
这在光纤通信领域具有重要应用。
3.4 光学薄膜测量光学计测量计可以用来测量光学薄膜的反射率、透射率和薄膜层厚度等参数。
这在光学器件制造和光学镀膜领域非常重要。
3.5 位移测量光学计测量计可以通过测量光波的位移来测量物体的位移或震动。
rl反射损耗测试原理
RL反射损耗测试是一种用于衡量光纤连接中反射损耗的方法。
其原理可以简述如下:
1. 光纤连接中的反射损耗是光信号从一个连接器或连接点反射回来的光信号的损耗。
2. RL反射损耗测试根据反射光信号的功率来评估连接的质量。
测试设备向连接器或连接点发出一个特定波长的光信号,并测量反射回来的信号的功率。
3. 反射光信号的功率可以通过测试设备的光功率计来测量。
通常,测试设备使用一个组合插入损耗/光功率计头来完成反射
损耗测试。
4. 反射损耗的单位通常是分贝(dB)。
测试结果表示反射光
信号的功率损失相对于发出的信号功率的比值。
5. 较低的RL值表示较好的连接质量,较高的RL值表示较差
的连接质量。
通常,要求RL值在一定范围内,以确保连接的
性能和可靠性。
总而言之,RL反射损耗测试通过测量光信号的反射功率来评
估连接的质量,从而确保光纤连接的性能和可靠性。
南昌大学实验报告
学生姓名:刘vv 学号:55023110vv 专业班级:vvvvvv
实验日期:2014/9/24 实验成绩:
光波导传输损耗的测量
波导薄膜中导波光的传输损耗是评价介质平板波导的一个重要参数。
传统的测量光波导传输损耗的方法如截断法(Cut-Off Method)和滑动棱镜法(Prism Sliding Method)在测量准确性和方便性方面均存在着较大的问题,难以获得广泛的应用。
采用CCD数字成像器件,通过数字成像对光波导内部的传输光强进行测量,可计算得到波导的传输损耗,该方法具有无损、高精度快速测量等优点。
[实验目的]
1.了解CCD数字成像法测量波导传输损耗的原理及实际的测量光路;
2.掌握用于去除散粒噪声的中值滤波图像处理技术;
3.通过传输曲线的拟合计算传输衰减系数。
[实验原理]
1.损耗机理
光波导器件传输损耗主要由以下因素产生:波导材料的散射和吸收引起的损耗;基片的表面光洁度受到抛光工艺的限制;界面的不规则导致导模与辐射模间的耦合而引起的损耗;波导表面弯曲,引起能量辐射造成损耗。
2.测量原理
真实波导由于界面不平整以及波导内部杂质散射,使导模转变为辐射模。
可以认为:某一位置散射出来的光强主要受到该点的传输光强、界面不平整程度、杂质多少的影响。
整块波导是在特定条件下一次性制备,后两个因素的影响可以认为在整块波导中平均分布,即使由于杂质大小有涨落而出现某点散射光特别强,也可以在后期图像处理中采用数字滤波技术加以消除。
因此,散射光强将只和该处的实际传输光强成正比。
据此,可以采用数字成像器件CCD对传输线上各点的散射光强进行记录,转换成内部传输光强,拟合出传输衰减曲线并计算衰减系数。
CCD摄像头介绍
电荷耦合器件(Charge Coupled Device )简称CCD 。
它是七十年代以来发展起来的一种新型高集成度半导体器件。
其基本结构是紧密排列的MOS 电容阵列。
工作时,这种MOS 电容在时序脉冲的作用下,实现电荷的存储和转移。
CCD 具有工作电压低、功耗小、体积小、抗电磁能力干扰强、噪声低、灵敏度高等一系列特点,在摄像、模拟信号处理和数字存储等领域发挥着日益重要的作用。
CCD 的主要应用之一是作为固体成像器件,其成像原理如下。
光子入射于CCD 阵列上产生电子-空穴对,电子在存储电极的作用下,会聚成电荷包,电荷包的分布与景物光强成正比,相当于把外景成像在器件上。
当时钟脉冲电压加到电极上时,电荷包从一个存储单元转移到另一个存储单元,并从输出二极管依次输出。
CCD 的这种自扫描特性使得只需定时加入行同步和帧同步信号就可以实现实时的视频信号输出,从而达到摄像的目的。
3.图像噪声的消除
在波导传输线静态数字照片上,对传输光强分布进行研究,发现波导杂散光十分明显,如图1,杂散光相当于噪声必须消除,否则将给传输衰减系数的计算带来很大的误差。
消除数字图像噪声的方法有很多种,本文采用的是均值滤波算法。
该算法相当于一个低通滤波器,图像上的每一点均被周围点的加权平均值来代替。
即:
(2.1)
ν (m ,n )和y (m ,n )分别是处理前和处理后的图像, W 是一个确定大小的窗口,a (k ,l )是各点的权重函数。
通常的空间均值滤波对各点设置相同的权重,由(2.1)可得
(2.2)
即:(,)1w a k l N =,w N 是窗口W 中的像素数目。
对应于窗口大小为3的空间均值滤波掩
R e l a t i v e I n t e n s i t y
图1 CCD 拍摄原始图
(a)原始照片 (b)传播路径上的散射光强分布
模图如图2。
4.传输损耗的计算
经过空间均值滤波的处理,得到了一条传输衰减曲线。
有损耗的导模功率随传播距离的衰减可表示为:
(2.3) 其中P0是z=0处的初始入射光强,P z是z=z处的传输光强,衰减系数α定义为:
(2.4)
(2.5) L就是所关心的光波导传输损耗。
因此我们所需要拟合的是一条指数衰减曲线。
通过参数变换,可将非线性回归转化为线性回归,设待拟合曲线方程为:
(2.6) 令:
(2.7) 则:
(2.8)
根据线性回归的回归系数计算公式计算出a’、b’后,即可得到待定系数a、b,从而计算出传输衰减系数。
[实验仪器及装置]
实验仪器:半导体激光器(650nm)、偏振棱镜,透镜,透镜耦合实验台;待测离子交换光波导片;数字成像CCD和数据采集系统(包括电脑、专用软件)。
实验装置如图3所示。
图2 空间均值滤波掩模(,)
a k l
图3 实验系统与光路
[实验内容与测量]
为了能够更方便地进行波导传输损耗的测量,本实验设计了一个专用测量软件如图4所示。
该软件把数字图像处理、衰减曲线拟合及波导损耗计算集成在一起,对波导传输损耗进行测量。
图3 光波导传输损耗测量计算机工作界面
1.波导传输线的调整
实验光路如图3,调整光路,区分传输模和辐射模的不同,调出波导的传输模。
2.波导传输线拍摄
用CCD对波导内传输线进行拍摄。
CCD把拍摄到的景物转换成视频信号输出,图像采集卡对信号进行帧提取,并以数据文件的形式存储在计算机的硬盘上。
图像板还能对输入信号进行实时处理并回显,为拍摄提供了监视手段,这一切都是利用软件通过对端口编程来实现的。
3.图像的定标
将保存的波导传输线静态数字照片调出,在波导传输线上选中两点,测量两点间对应的波导片上的距离,输入计算机。
4.图像噪声的消除
在波导传输线静态数字照片上,对传输线的光强分布进行滤波,消除波导杂散光带来的噪声,减少传输衰减系数的计算带误差。
用鼠标选定传输线滤波的范围,点击“滤波”菜单按钮,计算机采用均值滤波算法依照程序对图像进行滤波处理,消除图像的噪声。
5.传输损耗的计算
点击“分布”菜单按钮,提取已经过滤波的选定图像的光强分布,测量程序采用线性回归方法给出回归系数和波导的传输损耗。
通过软件计算得回归系数为0.783,波导的传输损耗为0.501DB/cm
[注意事项]
1. 入射光束不可太弱也不宜过强。
光束太弱,传输线亮度太低,有可能低于CCD的阈值光强或被背景噪声淹没。
光束过强,有可能使CCD的响应饱和,影响拟合精度;
2. CCD探头不宜离波导太近,否则探头通过波导的玻璃衬底所成像也会被拍摄下来,从而带来不必要的噪声。
CCD除镜头外最好用黑布包裹,减小反射光干扰;
3. 在靠近棱镜与波导的耦合点附近,由于散射光特别强,传输线显得又粗又亮。
这显然不能真实反映波导内部光场强度,因此最好用黑纸条将这一部分遮起来。
[思考题]
1.光波导传输损耗有哪些因素引起的?
答:光波导器件传输损耗主要由以下因素产生:波导材料的散射和吸收引起的损耗;基片的表面光洁度受到抛光工艺的限制;界面的不规则导致导模与辐射模间的耦合而引起的损耗;波导表面弯曲,引起能量辐射造成损耗。
2.实验中采用最小二乘法拟合,确定光波导传输损耗,请写出具体的拟合计算方法。
答:消除数字图像噪声的方法有很多种,本文采用的是均值滤波算法。
该算法相当于一个低通滤波器,
图像上的每一点均被周围点的加权平均值来代替。
即:
ν (m ,n )和y (m ,n )分别是处理前和处理后的图像, W 是一个确定大小的窗口,a (k ,l )是各点的权重函
数。
通常的空间均值滤波对各点设置相同的权重,由(2.1)可得
(2.2)
即:(,)1w a k l N =,w N 是窗口W 中的像素数目。
经过空间均值滤波的处理,得到了一条传输衰减曲线。
有损耗的导模功率随传播距离的衰减可表示为:
(2.3)
其中P 0是z=0处的初始入射光强,P z 是z=z 处的传输光强,衰减系数α定义为:
(2.4)
(2.5)
L 就是所关心的光波导传输损耗。
因此所需要拟合的是一条指数衰减曲线。
通过参数变换,可将非线性回归
转化为线性回归,设待拟合曲线方程为:
(2.6)
令:
(2.7)
则:
(2.8)
根据线性回归的回归系数计算公式计算出a ’、b ’后,即可得到待定系数a 、b ,从而计算出传输衰减系数。
3.如何在实验中区分辐射模和导模在波导片上产生的亮线?
答:由于散射光强只与实际传输光强成正比,而导模光强比辐射模光强要强,因此应尽量使亮线看起
来很亮。
[实验小结]
通过本次实验,我学习了CCD 数字成像法测量波导传输损耗的方法,充分认识到了该方法有别于传统测量方法的无损、高精度、快速测量等优点;也掌握了均值滤波算法消除图像噪声的方法,这使得损耗测量的误差大大减小;同时,学习通过传输曲线的拟合计算传输衰减系数,专用测量软件极大地提高了计算精度与速度。
并且,本次实验使我复习了导波光学的相关知识,加深了对导波光学的认识与理解。