Cgcgk技术
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精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时,双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量,以及如何判定检具是否合格,确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处,不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此,本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标,并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下,可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n,其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时,一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标,计算公式为Cg=KT/6S(1)C g K=Cg-|XE-|/3S(2)式中K——缩小系数,一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差,X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项:(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时,被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件,则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行,同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次,将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整,若检具在检验过程中发生故障,则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算,对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数,通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究问题的答复(2014-09-14 18:03:40)转载▼分类:质量工具与方法标签:cg——量具重复精度能力系数cgk——量检具准确精度能力系数Cgk 是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法。
进行Cgk分析的方法是:1:让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次;2:用这组数据计算出标准差和平均偏移值;3:确定被测产品的公差范围;4:用公式计算出Cgk(可能各公司的公式会不同)。
cgcgkmsa测量系统分析有网友询问有关MSA及偏倚研究和量具能力的Cg/Cgk研究方面的两个问题,现将相应答复分享给感兴趣同仁,以供参考。
问题一:有人说,如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候,就可以忽略MSA的影响,我听了非常震惊和困惑,因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础,如果测量系统就有偏差的话,测量结果很可能失真,也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象,您认为呢?我的答复:我对你的困惑表示理解。
我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。
有能力的过程不一定是稳定的过程,也就是说,即使Ppk大于2,也仅表示过程有能力,但相对来说过程本身的离散程度(即过程变异)比较小,这时为监控过程的稳定性(即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态),对测量系统所导致的测量变异更敏感。
MSA 的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异,以此来评估测量系统的质量。
如果测量结果呈现的变异太大,可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。
问题二:有人说,Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究,经过分析,我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了,我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司,因为我的理解不够深入,所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢?我的答复:目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受,只有Cg/Cgk 满足要求(如:Cg>=1.33、Cgk>=1.33)时才进一步通过测量生产件进行GRR(测量系统重复性和再现性)研究。
cgcgk分析报告1. 引言本报告旨在分析cgcgk的相关内容,并给出相应的分析结果。
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4. cgcgk的定义根据调研结果,cgcgk可以被定义为……5. cgcgk的应用领域cgcgk在多个领域都有广泛的应用,其中包括但不限于:•领域一:cgcgk在领域一中有着重要的应用,它可以……•领域二:cgcgk在领域二中也发挥着重要的作用,它可以……6. cgcgk的优势和劣势在分析cgcgk的过程中,我们发现了它的优势和劣势,具体如下:6.1 优势•优势一:cgcgk的优势之一是……•优势二:另一个优势是……6.2 劣势•劣势一:尽管有许多优势,cgcgk仍然存在一些劣势,比如……•劣势二:另一个劣势是……7. cgcgk的未来发展趋势基于对cgcgk的调研和分析,我们可以预测它在未来的发展趋势如下:•趋势一:cgcgk将在未来几年持续发展,并在领域中占据更重要的地位。
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通过对cgcgk 的研究,我们可以了解到它的背景信息、定义、应用领域、优势和劣势,以及未来的发展趋势。
希望本报告对您有所帮助。
9. 参考文献[参考文献1] [参考文献2] [参考文献3]注意:本文档仅为示例,具体内容和结构请根据实际情况进行调整。
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk应用技术Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CpkCgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍CgK, Cmk, Ppk, Cpk评级标准涉及Cp评价等级要求值状态处理方案A级 1.33≤Cp 稳定可考量缩小规格B级 1.0<Cp ≤1.33 一般必须加以注意,维持C 级0.83<Cp ≤1.0 危险检讨规格及作业标准D级Cp≤0.83 极差停机,重新调整后生产Cp=(Usl-Lsl)/6s; 单边Cp=Cpk=Cpu=Cpl=规格容许差/3s注:Cp 值越大,分布数据接近,但也有可能偏于中心值的分布规格U-L 中心值M密度高-----低u 密集命中密度高分散命中密度低密集命中密度高,但偏离大规格宽松,须缩小提高设备精度或放宽规格修改中心值,缩小规格范围Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍结束语:1. 通过以上各种能力指数的分析,可以针对工作需要选用或并用多种工具,了解4M等因素或制程能力,确保生产品质是否在掌握范围?2. 任何一种统计工具都要灵活运用,不可极端采纳。
3. 目前管制线一般采用+3s~-3s,直通率为99.73%作为基准线,来做SPC管制线以上报告,仅供参考。
cgcgk计算公式CGCGK是一种计算公式,它广泛应用于科学研究、数据分析和工程计算等领域。
这个公式的原理是通过一系列变量和运算符的组合,从输入的数据中得出一个结果。
本文将介绍CGCGK的计算原理、应用领域以及一些实际案例。
让我们来了解一下CGCGK的计算原理。
该公式由C、G、K三个变量组成,分别代表了不同的含义。
其中,C代表常数,G代表变量G,K代表变量K。
这三个变量之间通过加减乘除等运算符进行运算,从而得出最终结果。
具体的运算规则和优先级可以根据实际需求进行设置。
CGCGK的应用领域非常广泛。
在科学研究领域,它可以用于数据分析、模型验证和参数估计等方面。
例如,在天文学中,科学家可以使用CGCGK来计算天体的质量、轨道和运动速度等参数。
在物理学中,CGCGK可以用于计算物体的速度、加速度和力等物理量。
在生物学中,CGCGK可以用于分析基因的相关性和表达量等信息。
在工程计算领域,CGCGK也有着重要的应用。
例如,在工程结构设计中,CGCGK可以用于计算材料的强度、刚度和稳定性等指标。
在电子电路设计中,CGCGK可以用于计算电流、电压和功率等参数。
在城市规划中,CGCGK可以用于计算交通流量、排放量和能耗等指标。
下面,我们将通过一些实际案例来进一步说明CGCGK的应用。
首先,我们以天文学为例。
假设我们希望计算一个行星的质量。
我们可以将行星的半径、密度和引力常数作为输入数据,然后使用CGCGK公式进行计算,得出行星的质量。
同样的原理也适用于计算其他天体的质量,如恒星、星系等。
接下来,我们以工程结构设计为例。
假设我们需要设计一座桥梁,我们可以使用CGCGK公式来计算桥梁的强度。
我们可以将桥梁的材料弹性模量、截面面积和长度作为输入数据,然后使用CGCGK公式进行计算,得出桥梁的强度。
这样可以帮助工程师确定桥梁是否能够承受预期的荷载并保持结构稳定。
我们以电子电路设计为例。
假设我们需要设计一个放大器电路,我们可以使用CGCGK公式来计算电路的增益。
加工能力知识一、什么是CP 、CPK、CMK能力指数分类。
一般地,就研究的种类而言有设备能力指数Cm/CmK,过程能力指数Cp/CpK,和测量(量具)能力指数Cg/CgK,此外对于不是很稳定的或者新的过程还有潜在能力指数Pp/PpK之说。
1、CP是指过程能力指数,反映了过程加工质量满足产品技术要求的能力的程度,也即企业产品的控制范围满足客户要求的程度,它是公差范围和过程能力的比值。
C P=T/6σ≈T/6S=T U- T L/6S式中T——公差范围,σ——总体的标准偏差(整个制造过程的标准差)T U ——公差上限, TL——公差下限由于σ数值在实际工作中很难准确确定,因而一般采用样本标准偏差S来近似。
2、当给定双向公差,质量数据分布中心(X)与公差中心(M)不一致时,即存在中心偏移量(ε)时;即为CPK,C PK=T-2ε/6S=(1-K)C P式中ε=|M- X| K=2ε/T3、CMK为设备能力指数,它主要反映以目标值为中心的过程能力,强调任何偏离目标值的过程数据都是质量损失。
整个制造过程的变差是由设备、人、料、法、环、测等多种因素变差造成的,根据美国工业协会的统计,设备的标准差是整个过程的标准差的75%,所以CMK=T/4.5σ。
4、CP 、CPK与CMK的不同Cm/CmK为设备能力指数,Cp/CpK为过程能力指数,其分界线就是研究对象时间跨度的长短,短期研究的结果就是Cm/CmK,长期研究就是Cp/CpK。
从其本质上理解是,如果只是很短时间的检验产品的关键指标值,比如在设备验收的时候,那么我们基本上是使用同一个批次的零部件小批量的生产样品,因此它主要就是反映了设备能力的情况。
所以Cm/CmK,在设备验收的时候是个很重要的指标。
相对的,Cp/CpK则是在较长一段时间里持续取样测量,跨度超过一个月,由此计算出来的结果,就能涵盖人机料法环(5M)的全方面,反应的时一个工艺过程的情况。
5、CP 、CPK与CMK的计算1)通常CpK需要最少125组数据,每五组为一个子集团,共25个子集团,这是标准计算的要求,较严格的企业要求CpK大于1.67, 很多企业也接受大于1.33的结果。
Tgu=0.4×To+0.6×Tu+△X
Tg=Tgo- Tgu=0.2×(To-Tu)=0.2×T
此主题相关图片如下:
Cgk是用于评价一个测量设备的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方
法。
进行Cgk分析的方法是:
1:让一个操作者用这个测量设备在一个标准测试样品上的同一点连续测量25 次;
2:用这组数据计算出标准差和平均偏移值;
3:确定被测产品的公差范围;
4:用公式计算出Cgk(可能各公司的公式会不同)。
下面是一个计算的图示:
此主题相关图片如下:
上面那个我转的例子是在某一论坛(忘记了)发现的,应该有问题此主题相关图片如下:。
测量系统验收标准1. 评定方法 Ⅰ1.1 测量能力指数(Cg , Cgk )1.1.1 准备被评定的专用检测设备,无论采用比较测量方式还是绝对测量方式,事先都要置备一个相当于“基准”的样件,其 “基准值Xm ”,是经过可以溯源到国家标准的精密仪器测得的并处在公差范围以内。
当然,对于前一种情况,还得配一个标准件,用于检测设备的“置零”,其被测量的大小应为(趋近)名义值,并同样需由高精密的仪器所确认。
专用检测设备在进行测试前应按制造商说明书中所列操作程序调整、试运行。
测试应在制造商推荐的环境和工作条件下进行。
1.1.2 步骤在间隔很短的情况下,利用样件在专用检测设备连续测测量50次,记录每一次的测得值。
注意:在开始每一次测量前,工件都需重新装夹、定位;手动检测器具的操作者必须是同一个人。
在整个试验过程中,不允许对检测设备重新装夹、定位。
需指出:重复测量的次数n 主要还是依据检测的实际情况由用户与设备制造商共同确定。
鉴于50次连续测量往往要持续很长时间,若测试过程显示,经10次连续测量后得到的标准偏差还没有显著变化,一般就可将测量次数定为20次。
根据记录下的测量数据X i ,计算出平均值g X 和标准偏差Sg ,然后按以下公式求出测量能力指数Cg Cg =Sg T ⨯⨯42.0 上式中,T 为被测量的公差。
∑=--=ni g i g x x n S 12)(11 ∑=⋅=ni i g x n x 11 测量能力指数Cg 是专用检测设备重复性指标的表征,它反映了随机误差对测量过程的影响。
再依据试验开始前已获得的样件基准值x m 和g x 计算出偏倚B iB i = |g X -m X |由此,就能按以下公式求出测量能力指数C gkC gk =SgBi T ⨯-⨯21.0 测量能力指数Cgk 是检测设备准确度指标的一种量化表征,它综合反映了系统误差和随机误差共同对测量过程的影响。
1.1.3评定当 Cg ≥ 1.33 , Cgk ≥ 1.33 时,可对被评定的专用检测设备作出“通过”的结论,反之则不能通过。
具(数式量、数式具、合等)的生供商将按用要求制造的具成品交付用,双方于采用什么方法及指来定具量,以及如何判定具是否合格,确定具差有多大等往往存在不一致之,不同的用常常也会提出不同的收要求、方法及指。
此,本文介四种常用的具随机差的收定方法及指,并各种方法的适用性行分析。
二、四种评定方法介绍1. 定方法1在等精度量条件下,可采用n次量果的最大差(即极差)作差定指。
即n次等精度量分1_1、1_2、…、Ln,其中最大量Lmax,最小量Lmin, fl次量的极差Wn=Lmax-L min o采用极差法行定,一般取n=10,W<T/10(T工件被目公差)。
2. 定方法2采用量能力指数Cg或Cg K作定指,算公式C =KT/6SgCgK=Cg- | X E X | /3S式中K—小系数,一般取K=0.2KT—允的量果分布度6S—达到的量果分布度T一工件被目公差X E—件的尺寸X—平均量;S—准偏差,Xi —第i次量n—量次数采用Cg或Cg K行能力定注意以下事:(1)行能力前将具整到完好状。
(2)行能力,被件具随的校准件。
若无校准件,可采用符合受工序尺寸和精度要求的加工零件。
I * J(3)按具的定操作方法行,同一被件以相同的安装方法及安装方向重复安装量50次,将每次量数据于表中以算Cg 或CgK。
(4)在能力程中不允具的任何部位行整,若具在程中生故障,重新开始。
(5)一般具行Cg算,关具行CgK算。
(6)按式⑴、(2)算得到量能力損数,通常当Cg> 或g52可具合格。
1.33 C K3. 定方法3采用重复性(反映具本身的差)和再性(反映量生的差)指(即GR&R )行定,其方法是:由一定人数(2人以上)在同一台具上一定数量(通常5件以上)的合格工件行多次(如3次),将量数据填入特制表格,按定公式行算。
重复精度能力指数的算表达式精心整理GR&R = + A v式中E v——重复精度指数,反映检具变差Av——再现能力指数,反映评价人变差重复精度指数的计算公式为E』X Ki式中R——多人极差平均值Ki——试验次数系数,2次时:Ki =4.56 ;3次时:Ki=3.05 再现能力指数的计算公式为式中X DIFF--- 平均值的极差值K2——评价人数量系数,2人时:K2=3.65 ;3人时:K2=2.70 n——被测零件数•…厂r——测量次数上述三种指数在被测工件公差带中所占百分比分别为重复精度指数:重复精度指数/公差带X100=Ev/T(%) —•再现能力指数:再现能力指数/公差带X100=Av/T(%)总重复精度能力指数:总重复精度能力指数/公差带X100=GR&R/T(%)评定原则如下:⑴若GR&R(%)V10%,则检具合格,可以接收;(2) 若10%WGR&R(%)W30% ,则应对总误差中检具误差与人为误差各自所占比例进行分析,并结合检具应用重要性、检具成本、维修费用等相关因素进行综合考虑,以决定检具是否可以接收;(3) 若GR&R(%)>30%,则检具不合格,不能接收。
、弓丨言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时,双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量,以及如何判定检具是否合格,确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处,不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此,本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标,并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1. 评定方法1在等精度测量条件下,可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L i、L2、…、L n,其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n 次测量值的极差值W=L maX-L min。
采用极差法进行评定时,一般取n = 10,W/< T/10(T为工件被检项目公差)。
2. 评定方法2采用测量能力指数C值或CK值作为评定指标,计算公式为C g=KT/6SGK=G | X-X | /3S式中K——缩小系数,一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S――实际达到的测量结果分布宽度T――工件被检项目公差X E――样件的实际尺寸X—平均测量值S—标准偏差,X-一第i次测量值—n—测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项:(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时,被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件,则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行,同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次,将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整,若检具在检验过程中发生故障,则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行G值计算,对关键检具进行GK值计算。
⑹按式⑴、(2)计算得到测量能力指数,通常当C g> 1.33或C g K<2时可视为该检具合格。
随着过程能力指数系列的相关应用,紧跟在设备过程能力的出现以及应用之后,量检具过程能力Cg/Cgk也随着工业发展应运而生了。
Cg/Cgk是评估一个检测设备的测量能力是否满足被测质量特性的公差要求相匹配的方法。
它主要用来评估量具内部的变差对整个公差带的影响。
今天与大家一起分享量具测量能力的基本知识及五大常见误区。
误区1:Cg与Cp/Pp/Cm公式类似Cg主要是评估量具自身的重复性,重复性是量具对同一部件进行一致性测量的能力。
在符合要求的量具中甚至也会出现一些测量变异,但相对于部件公差而言变异太大,则表示该量具变化太大不适用于测量。
例如,如果某内孔直径的公差是5 mm,但参考标准件重复测量值也超过了5mm,则您将无法使用该量具确定内孔是否在公差范围内。
与公差相比,量具测量值的变异应小于公差。
cg——量具重复精度能力系数,其公式为其中,K为公差百分比,一般默认为20,T为公差带,s为测量值标准差,L 为整个过程散布相当于其标准差的倍数,一般默认为6。
此外,根据公司的标准不同,分母有取6s的情况,也有取4s的情况,以6s的情况应用较为普遍。
因此该公式可以简化为从简化公式看出,Cg的分子明显与其它不同,一般设置为公差带的20%。
Cg 值大于1.33 说明相对于公差范围而言该量具测量值的散布范围非常窄。
例如,如果使用默认值K 和L,Cg 度量为2 表示公差范围的20% 将覆盖测量值的整个散布范围两次。
此Cg 值表示量具在此公差范围内有效。
行业内一般由2种标准。
Cg≥1.33或者Cg≥1,具体要依据每个公司的各自标准要求。
误区2:Cgk与Cpk/Ppk/Cmk公式类似Cgk主要是用来评估量具自身的偏移。
还评估量具的偏倚,即量具平均测量值与官方参考值之间的差异,您的量具目标是“true”值。
一般采用T检验进行分析,如Minitab 使用不存在偏倚的原假设的t 检验分析偏倚。
实质上,此检验是用于确定平均测量值是否与参考值显著不同的样本 1 的 t 检验。
精心整理一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时,双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量,以及如何判定检具是否合格,确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处,不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此,本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标,并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法 1在等精度测量条件下,可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n 次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n,其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时,一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法 2采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标,计算公式为C g=KT/6S(1)C g K=C g-|X E-|/3S(2)式中K——缩小系数,一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差X E——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差,X i——第i次测量值n——测量次数采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项:(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时,被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件,则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行,同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次,将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整,若检具在检验过程中发生故障,则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算,对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数,通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
一、引言检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时,双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量,以及如何判定检具是否合格,确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处,不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此,本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标,并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍1.评定方法1在等精度测量条件下,可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n次等精度测量值分别为L1、L2、…、Ln,其中最大测量值为Lmax,最小测量值为Lmin ,则n次测量值的极差值Wn=Lmax-Lmin。
采用极差法进行评定时,一般取n=10,Wn≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2采用测量能力指数Cg 值或CgK值作为评定指标,计算公式为Cg=KT/6S (1)C g K=Cg-|XE-|/3S (2)式中K——缩小系数,一般取K=0.2KT——允许的测量结果分布宽度6S——实际达到的测量结果分布宽度T——工件被检项目公差XE——样件的实际尺寸——平均测量值S——标准偏差,Xi——第i次测量值n——测量次数采用Cg 值或CgK值进行能力检验评定时应注意以下事项:(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时,被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件,则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行,同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次,将每次测量数据记录于检验表中以计算Cg值或CgK值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整,若检具在检验过程中发生故障,则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行Cg 值计算,对关键检具进行CgK值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数,通常当Cg ≥1.33或CgK≤2时可视为该检具合格。
问题一:有人说,如果产品的Ppk是很充分的比如大于2.0的时候,就可以忽略MSA的影响,我听了非常震惊和困惑,因为我们一直听到的都是MSA是SPC的基础,如果测量系统就有偏差的话,测量结果很可能失真,也就极有可能造成Ppk大于2.0的假象,您认为呢?我的答复:我对你的困惑表示理解。
我们需要借助测量系统对过程的稳定性和过程能力两个方面进行评价和监控。
有能力的过程不一定是稳定的过程,也就是说,即使Ppk大于2,也仅表示过程有能力,但相对来说过程本身的离散程度(即过程变异)比较小,这时为监控过程的稳定性(即通过控制图判断过程是否处于统计受控状态),对测量系统所导致的测量变异更敏感。
MSA的目的是研究测量系统所测量的结果中呈现的变异,以此来评估测量系统的质量。
如果测量结果呈现的变异太大,可能会导致我们对过程的评价和监控做出错误的判断。
问题二:有人说,Cg/Cgk研究可以代替偏倚研究,经过分析,我发现Cg/Cgk分析结果比较简单明了,我也很想将Cg/Cgk推广到我们公司,因为我的理解不够深入,所以请您给我讲讲Cg/Cgk是否的确优于偏倚呢?我的答复:目前德系的公司更喜欢用量具能力指数Cg/Cgk基于被测特性的公差要求通过多次重复测量标准件来评价测量系统中量具的偏倚和测量标准件时的重复性是否可以接受,只有Cg/Cgk满足要求(如:Cg>=1.33、Cgk>=1.33)时才进一步通过测量生产件进行GRR(测量系统重复性和再现性)研究。
Cg/Cgk研究的实施过程与偏倚研究完全一样,只不过最后评价时评价的指标不一样而已。
在研究中,通常是在量具的实际的使用环境下,由同一个人重复测量标准件的同一位置n次(如:25次),通过测量值所构成的样本得到测量的均值、标准差和偏倚等:(这里:Xm是标准件的约定真值,通常可以校准获得;若没有标准件,可选用一个生产件作为参考件,但必须经过更高级的测量系统的测量或通过校准来标定其约定真值,通常是测量多次取其平均值。
cgk的合格范围【原创版】目录1.CGK 的含义2.CGK 合格范围的定义3.CGK 合格范围的具体内容4.CGK 合格范围的重要性5.总结正文CGK 的合格范围是指在中国大陆地区,具备一定文化水平、通过相关考试并取得合格证书的人员。
这里的 CGK 是指“具备良好知识、技能和素质的人才”,是对人才的一种评价和认证。
一、CGK 的含义CGK 是中国大陆地区对具备一定知识、技能和素质的人才的统称。
它是对个人综合素质的一种衡量,包括了知识、技能和素质三个方面。
知识是指个人所掌握的理论知识和实践经验;技能是指个人运用知识解决实际问题的能力;素质是指个人的道德品质、职业素养和人际交往能力等。
二、CGK 合格范围的定义CGK 合格范围是指通过相关考试、达到一定分数,并取得合格证书的人员。
这些人员具备一定的知识、技能和素质,能够在工作中胜任相关岗位。
三、CGK 合格范围的具体内容CGK 合格范围的具体内容包括以下几个方面:1.基础知识:包括语文、数学、英语等基本学科知识;2.专业知识:根据不同行业和岗位,要求具备相关的专业知识,如计算机、医学、法律等;3.技能要求:具备一定的实践操作能力,能够运用所学知识解决实际问题;4.素质要求:具备良好的道德品质、职业素养和人际交往能力等。
四、CGK 合格范围的重要性CGK 合格范围对于个人和社会都具有重要意义。
对个人而言,取得CGK 合格证书可以证明自己具备一定的知识、技能和素质,有助于提高个人竞争力,拓宽就业渠道。
对社会而言,CGK 合格范围有助于选拔和培养合格的人才,推动社会经济的发展。
五、总结CGK 合格范围是中国大陆地区对具备一定知识、技能和素质的人才的评价和认证。
它包括基础知识、专业知识、技能要求和素质要求等方面。
加工能力知识一、什么是CP 、CPK、CMK能力指数分类。
一般地,就研究的种类而言有设备能力指数Cm/CmK,过程能力指数Cp/CpK,和测量(量具)能力指数Cg/CgK,此外对于不是很稳定的或者新的过程还有潜在能力指数Pp/PpK之说。
1、CP是指过程能力指数,反映了过程加工质量满足产品技术要求的能力的程度,也即企业产品的控制范围满足客户要求的程度,它是公差范围和过程能力的比值。
C P=T/6σ≈T/6S=T U- T L/6S式中T——公差范围,σ——总体的标准偏差(整个制造过程的标准差)T U ——公差上限, TL——公差下限由于σ数值在实际工作中很难准确确定,因而一般采用样本标准偏差S来近似。
2、当给定双向公差,质量数据分布中心(X)与公差中心(M)不一致时,即存在中心偏移量(ε)时;即为CPK,C PK=T-2ε/6S=(1-K)C P式中ε=|M- X| K=2ε/T3、CMK为设备能力指数,它主要反映以目标值为中心的过程能力,强调任何偏离目标值的过程数据都是质量损失。
整个制造过程的变差是由设备、人、料、法、环、测等多种因素变差造成的,根据美国工业协会的统计,设备的标准差是整个过程的标准差的75%,所以CMK=T/4.5σ。
4、CP 、CPK与CMK的不同Cm/CmK为设备能力指数,Cp/CpK为过程能力指数,其分界线就是研究对象时间跨度的长短,短期研究的结果就是Cm/CmK,长期研究就是Cp/CpK。
从其本质上理解是,如果只是很短时间的检验产品的关键指标值,比如在设备验收的时候,那么我们基本上是使用同一个批次的零部件小批量的生产样品,因此它主要就是反映了设备能力的情况。
所以Cm/CmK,在设备验收的时候是个很重要的指标。
相对的,Cp/CpK则是在较长一段时间里持续取样测量,跨度超过一个月,由此计算出来的结果,就能涵盖人机料法环(5M)的全方面,反应的时一个工艺过程的情况。
5、CP 、CPK与CMK的计算1)通常CpK需要最少125组数据,每五组为一个子集团,共25个子集团,这是标准计算的要求,较严格的企业要求CpK大于1.67, 很多企业也接受大于1.33的结果。
精心整理一、引言
检具(读数式量规、读数式检验夹具、综合检测仪等)的生产供应商将按用户要求设计制造的检具成品交付用户时,双方对于采用什么方法及指标来评定检具质量,以及如何判定检具是否合格,确定检具误差有多大等问题往往存在不一致之处,不同的用户常常也会提出不同的验收要求、方法及指标。
为此,本文介绍四种常用的检具随机误差的验收评定方法及指标,并对各种方法的适用性进行分析讨论。
二、四种评定方法介绍
1.评定方法1
在等精度测量条件下,可采用n次测量结果的最大差值(即极差值)作为误差评定指标。
即n
次等精度测量值分别为L1、L2、…、L n,其中最大测量值为L max,最小测量值为L min,则n次测量值的极差值W n=L max-L min。
采用极差法进行评定时,一般取n=10,W n≤T/10(T为工件被检项目公差)。
2.评定方法2
采用测量能力指数C g值或C g K值作为评定指标,计算公式为
C
g
=KT/6S(1)
C g K=C
g
-|X
E
-|/3S(2)
式中K——缩小系数,一般取K=0.2
KT——允许的测量结果分布宽度
6S——实际达到的测量结果分布宽度
T——工件被检项目公差
X E——样件的实际尺寸
——平均测量值
S——标准偏差,
X i——第i次测量值
n——测量次数
采用C g值或C g K值进行能力检验评定时应注意以下事项:
(1)进行能力检验前应将检具调整到完好状态。
(2)进行能力检验时,被测件应为检具随带的校准件。
若无校准件,则可采用符合受检工序尺寸和精度要求的加工零件。
(3)检验应按该检具的规定操作方法进行,同一被测件应以相同的安装方法及安装方向重复安装测量50次,将每次测量数据记录于检验表中以计算C g值或C g K值。
(4)在能力检验过程中不允许对检具的任何部位进行调整,若检具在检验过程中发生故障,则检验应重新开始。
(5)对一般检具进行C g值计算,对关键检具进行C g K值计算。
(6)按式(1)、(2)计算得到测量能力指数,通常当C g≥1.33或C g K≤2时可视为该检具合格。
3.评定方法3
采用重复性(反映检具本身的误差)和再现性(反映测量产生的误差)指标(即GR&R值)进行评定,其方法是:由一定人数(2人以上)在同一台检具上对一定数量(通常为5件以上)的合格工件进行多次(如3次)检测试验,将测量数据填入特制表格,按给定公式进行计算。
总重复精度能力指数的计算表达式为
(3)式中E v——重复精度指数,反映检具变差
A v——再现能力指数,反映评价人变差重复精度指数的计算公式为
E v =×K
1
(4)
式中——多人极差平均值
K1——试验次数系数,2次时:K1=4.56;3次时:K1=3.05
再现能力指数的计算公式为
(5)式中DIFF——平均值的极差值
K2——评价人数量系数,2人时:K2=3.65;3人时:K2=2.70
n——被测零件数
r——测量次数
上述三种指数在被测工件公差带中所占百分比分别为
重复精度指数:重复精度指数/公差带×100
=E v/T(%)
再现能力指数:再现能力指数/公差带×100
=A v/T(%)
总重复精度能力指数:总重复精度能力指数/公差带×100=GR&R/T(%)
评定原则如下:
(1)若GR&R(%)<10%,则检具合格,可以接收;
(2)若10%≤GR&R(%)≤30%,则应对总误差中检具误差与人为误差各自所占比例进行分析,并结合检具应用重要性、检具成本、维修费用等相关因素进行综合考虑,以决定检具是否可以接收;
(3)若GR&R(%)>30%,则检具不合格,不能接收。
在进行GR&R测试时必须注意以下两点:
(1)被测工件必须为合格工件;
(2)被测工件上的检测部位(检测点)不能变动。
4.评定方法4
采用检测能力及其指数M cp值作为评定指标。
检测能力是指检具保证测量的准确可靠程度的能力,可表示为:检测能力=2U;检测能力指数M cp表示检测能力满足被测量对象测量准确度要求程度的量值,可表示为
M
cp
=T/2U(6)式中T——检测时被检参数允许变化的范围或公差
U——测量扩展(区间)不确定度
根据我国计量系统对计量器具精度选择要求的评审、确认方法,检测能力指数M cp是对应于检
验的误判率P
判
=m+n的能力指数(m为Ⅰ类误判率,即将合格误判为不合格的概率;n为Ⅱ类误判率,即将不合格误判为合格的概率)。
为保证在一定工序能力指数C p条件下加工的零件在检测时将m、n值控制在一定范围内,则必须保证选用的检具具有相应的M cp值。
换句话说,一定的C p结果和M cp条件必然产生对应的m、n值。
m、n值与C
p 和M
cp
的对应关系见表1。
m、n值(%)
M
cp
2345
表4W n/T值(%)
注:n=50时,取D n=4。
由W n/T(%)值及给定的工件被检项目公差值T即可求得允许使用检具的W n值;或由给定的K、n、C g、T值可求得同等精度时允许的W n值。
反之,亦可由已知的检具W n值和C g值来判断能否满足工件T值的检测要求。
现列举应用实例如下:
例1.某种电子塞规的测量重复性水平为10次重复测量的极差值
W n ≤0.001mm。
若订货方要求K=0.2,C
g
≥2时,由表4可查得W
n
/T=5.1%,
因此该电子塞规只能用于检测被检项目公差值T≥0.02mm的工件;若订货方要求K=0.2,C g≥1.33时,该电子塞规则可用于检测T≥0.013mm的工件。
例2.当被检项目公差值T=0.01mm时,经查表4及计算,求得与不同的C g值相对应的10次重复测量极差值W10和50次重复测量极差值W50见表
g
国标GB1958-80《形状和位置公差检测规定》中规定“测量精度用测量总误差来表示,测量总误差是形位误差的测得值与其真值之差。
”即测量总误差是以下三类误差的综合结果:
(1)以测得要素作为实际要素引起的误差(如布点引起的误差);
(2)由测量设备、测量温度、测量力等因素引起的误差;
(3)采用近似评定方法引起的误差。
极限测量总误差允许占给定公差值的10%~30%。
由于形位公差是单向公差,因此C g值计算公式为
C
g
=KT/3S=0.2/P(10)式中P——极限测量总误差占给定形位公差值的百分比
被测要素各公差等级允许的极限测量总误差百分比及相应的C g值见
表7。
表7极限测量总误差与相应的C g值
四、四种评定方法的适用性分析
(1)检具与其它计量器具一样,其测量误差亦可分为系统误差、随机误差和粗大误差。
粗大误差可采用多种判别法则予以剔除。
系统误差(如
(2)
误差,
GR&R
(3)
K)≥2
C
g
(4)
=1.33
C
g
W
10
要求C g
(5)
由表6
(6)。