X荧光射线分析仪精度管理型 快速 判定软件的介绍

无损检测技术中常用的数据处理与分析软件推荐无损检测技术是一种基于物理或化学原理的，不破坏被测物件完整性的检测方法。

在无损检测中，数据处理与分析是非常关键的环节。

合适的数据处理与分析软件可以帮助工程师对检测结果进行准确的评估和判定。

本文将推荐几款在无损检测领域中常用的数据处理与分析软件。

1. CIVA软件CIVA是由法国中子与射线检测中心（CEA URTOF）研发的一款无损检测多物理场模拟与分析软件。

该软件可以模拟自然射线、超声、电磁、涡流和磁粉等各种无损检测技术。

它具有先进的数值方法和模型，可以模拟各种材料的声学、电磁和机械响应。

CIVA软件提供了丰富的功能，包括数据处理、数据重建和结果分析等。

它可以对无损检测信号进行处理、分析和图形化展示，帮助用户快速准确地评估检测结果。

2. MATLAB软件MATLAB是一款广泛应用于科学和工程领域的数值计算和数据处理软件。

在无损检测中，MATLAB可以用于信号处理、图像处理和数据分析等方面。

它提供了丰富的函数和工具箱，可以用于滤波、傅里叶变换、小波变换和统计分析等。

MATLAB还具有强大的图形化功能，可以绘制出直观、清晰的图表和图像，帮助工程师更好地理解和分析检测结果。

3. LabVIEW软件LabVIEW是一款通用的系统工程软件，也被广泛用于无损检测领域。

它支持各种硬件和仪器的控制与数据采集，并提供了丰富的数据处理和分析功能。

LabVIEW可以通过可视化编程的方式快速搭建自定义的检测系统，实时采集和处理数据。

它还可以进行数据可视化，提供直观的图形界面和图表展示，方便工程师分析和解释检测结果。

4. GAGEtrak软件GAGEtrak是一款专业的测量设备管理软件，也适用于无损检测领域。

它可以帮助工程师管理和跟踪无损检测仪器，记录设备校准和维护历史。

GAGEtrak提供了一套完整的数据管理和分析工具，可以生成各种统计报表和图表，帮助用户评估仪器的性能和准确度。

x射线荧光光谱仪准确度等级x射线荧光光谱仪是一种常用的表面分析测试仪器，主要用于分析固体样品中的元素成分。

在使用x射线荧光光谱仪进行分析时，准确度是一个非常关键的性能指标。

准确度等级的确定涉及到多个方面的考量，包括仪器本身的设计和技术指标、样品的准备和处理、以及测试操作中的各种因素。

首先，准确度等级与仪器的设计和技术指标有关。

x射线荧光光谱仪的准确度可以通过不同的参数来评估，例如分辨率、定量能力和重复性等。

分辨率是指仪器能够分辨不同元素峰之间的距离，分辨率越高，可以准确分析更多的元素。

定量能力是指仪器可以准确测量样品中元素含量的能力。

重复性是指在相同条件下重复测试样品时，所得结果的一致性。

准确度等级应当根据仪器的技术参数来确定，并结合实际需求进行评估。

其次，准确度等级还与样品的准备和处理有关。

在使用x射线荧光光谱仪进行分析之前，通常需要对样品进行一系列的处理，例如研磨、压制成块、打磨光洁等。

样品的准备和处理直接影响着测试的准确性。

特别是当分析的样品复杂多样、组成异质性较大时，如何保证样品的均匀性和代表性成为关键。

因此，准确度等级的确定还需要考虑样品准备和处理的标准化和规范化程度。

最后，准确度等级还与测试操作中的因素有关。

在进行分析测试时，操作员的技术水平、实验环境的稳定性、仪器的校准和维护等因素都会对测试结果的准确性产生影响。

为了保证测试结果的准确性，需要在操作规程中明确各项操作步骤，确保操作员能够正确操作仪器，并在测试前进行校准和质控。

综上所述，x射线荧光光谱仪的准确度等级的确定需要综合考虑仪器本身的设计和技术指标、样品的准备和处理、以及测试操作的各个因素。

在实际应用中，应根据需求和实际情况，结合准确度的要求和仪器的性能来确定准确度等级，并确保测试过程的标准化和规范化，以提高测试结果的准确性。

同时，加强操作员的培训和质控，做好校准和维护工作，也是保证准确度的关键。

引言概述：X荧光光谱仪软件是一种用于分析物质的荧光光谱的工具。

本文是X荧光光谱仪软件操作详细说明的第二部分。

在本文中，我们将进一步介绍该软件的功能和操作方法，以帮助用户更好地理解和使用这一工具。

正文内容：1. 扫描模式：1.1 单次扫描模式：单次扫描模式是指只进行一次荧光光谱扫描。

用户可以通过设定起始波长和终止波长，选择扫描速度等参数来完成扫描。

同时，还可以设置激发波长和检测波长来获得所需的荧光光谱数据。

1.2 连续扫描模式：连续扫描模式允许用户连续进行多次扫描，以观察样品的变化趋势。

在连续扫描模式下，用户可以设定扫描时间和扫描间隔等参数，以满足实验要求。

1.3 闪烁扫描模式：闪烁扫描模式是一种特殊的扫描模式，适用于含有荧光杂质的样品。

用户可以选择合适的扫描波长范围和扫描速度，以获得更准确的荧光光谱数据。

2. 数据处理功能：2.1 基线校正：X荧光光谱仪软件提供基线校正功能，用于消除原始数据中的背景噪声。

用户可以选择合适的基线校正方法，如多项式拟合法或小波法，以获得更精确的光谱数据。

2.2 数据平滑：数据平滑功能可以使光谱数据更加平滑，减少噪音干扰。

用户可以选择不同的平滑方法，如均值平滑、中值平滑或高斯平滑等，以获得满意的结果。

2.3 数据峰识别和峰面积计算：X荧光光谱仪软件支持自动识别峰值并计算峰面积。

用户可以设定峰值识别的参数，如峰宽、峰高等，以便更精确地计算峰面积。

3. 数据导出和导入：3.1 数据导出：X荧光光谱仪软件支持将处理后的数据导出为常见的数据格式，如CSV、Excel等，以方便用户进行后续数据分析。

3.2 数据导入：用户可以将外部数据导入X荧光光谱仪软件进行分析和处理。

软件支持常见的数据格式，如CSV、Excel等，使用户能够灵活地使用已有数据进行分析。

4. 实验设置：4.1 仪器参数设置：X荧光光谱仪软件允许用户进行仪器参数设置，如灵敏度、增益、曝光时间等。

通过合理设置这些参数，用户可以获得更准确和可重复的荧光光谱数据。

X-射线荧光光谱仪(XRF)1、仪器介绍X-射线荧光光谱仪(XRF)，现有日本Rigaku公司生产的ZSX primus波长色散型XRF一台，及配套所必须的电源设备、冷循环水设备和前处理熔样机等。

X射线荧光光谱分析技术制样简单、分析快速方便、应用广泛，可用于测定包括岩石、土壤、沉积物等在内的各种地质样品的化学组成。

分析元素范围从Be(4)到U(92)，最常见的是用于主量元素分析，如SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3T、K2O、MgO、MnO、Na2O、P2O5、TiO2、LOI等元素。

2、仪器功能和技术参数：(1) 功能：定性分析、半定量分析和定量分析；(2) X射线管：4KW超薄端窗型(30μm)、铑靶X射线管；(3) 分光晶体：LiF(200)、Ge(111)、PET、RX25、LiF(220)；(4) 进样器：48位自动样品交换器；(5) 测角仪：SC：5-118度(2θ)；PC：13-148度(2θ)；(6) 分析元素范围：Be4-U92；(7) 线性范围：10-2 - 10-6；(8) 仪器稳定度：≤0.05%；(9) 测量误差：<5%。

3、应用和优势：XRF应用广泛，可用于岩石、矿物、土壤、植物、沉积物、冶金、矿业、钢铁、化工产品等样品中常量和痕量的定量分析。

具有快速方便、制样简单、无损测量、分析元素宽、灵敏度高等优点。

X-ray Fluorescence Spectrometer (XRF)1、I nstrument Introducation:The wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometer (XRF) is ZSX primus, made by Rigaku, Japan, with a set of instruments of electrical power unit, cold circulating water equipment and automatic fusion machine. XRF is widely used for geological element analysis, including rocks, soils, sediments, etc, which is simplicity and convenience of operation. Its analyzable elements range is from Be (4) to U (92). XRF is most common for the analysis of major elements, such as SiO2, Al2O3, CaO, Fe2O3T, K2O, MgO, MnO, Na2O, P2O5, TiO2 and LOI.2、Instrument Technical Parameters:(1) Fucation: qualitative analysis, semi-quantitative analysis and quantitative analysis;(2) X-ray tube: 4KW ultrathin end-window (30μm) Rh target X-ray tube;(3) Analyzing crystals: LiF(200), Ge(111), PET, RX25, LiF(220)；(4) Sample injector: 48-bit automatic sample changement;(5) Angular instrument: SC: 5-118°(2θ); PC: 13-148°(2θ).(6) Analyzable elements range: Be4-U92;(7) Linear range: 10-2 - 10-6;(8) Stability: ≤0.05%;(9) Analysis error: <5%.3、Application and advantageXRF is widely used to analy major elements and trace elements in geological rocks, minerals, soils, plants, sediments, metallurgy, mining industry, steel, chemical products, etc. It is fast, convenient, simple, nondestructive, widely used and high sensitivity.。

Axios X射线荧光光谱仪分析方法的制定步骤1.进入XRF-SYSTEM SET UP界面2.鼠标点《分析程序》《APPLICATION》《新建分析程序》《NEW APPLICATION》《输入分析方法名称》( 如rock)《道组》《输入所用道组名，如SUPERQ》执行《OK》3.进入如下界面，并按如下顺序设置：图1. 分析方法设置顺序图General (总设置) identification schems(编号方案) conditions(条件)Sample description(样品描述) preference(优先) compounds(化合物) channels(道) quantitative program(定量分析程序)qualitative program(定性分析程序)A.General和identification schems两项一般可以跳过，不用输入。

B.鼠标点conditions(条件)：XRF-vacuum lock time(s)(XRF真空锁定时间，系指样品杯放进样品室中，盖上盖板后预抽真空时间，粉末压片如水泥工业中生料可设定10秒，而钢铁或熔融片通常设4秒即可)。

delay time(s)(延迟时间，系指试样进入测量位置后再抽真空的时间，通常设置2秒)。

Spinner on(自旋)，通常设定自旋，以防止样品不均匀。

Measure in decreasing energy order，该项通常按能量从大到小进行测量，鼠标在方框中点一下，但若需测定氯或硫时，即不选用该项，应先测氯或硫。

图2.分析方法中‘条件’框图分析光路介质，通常选真空(Vacum)，液体样品选氦气(Heleum)。

狭缝罩具的选择取决于样品杯内孔径大小。

C.鼠标点样品描述(sample)，根据试样的物理状态可选用熔融块 (bead)、液体(liquid)、粉末压片 (presed power)、固体 (solid)等状态中的一种。

深圳华普通用科技有限公司
x射线荧光光谱仪
SPECTRO XEPOS内部采用高性能部件，可获得极佳的灵敏度和准确性。

采用偏振次级靶以确保最佳激发，12位样品自动交换器，预先安装好的应用软件包和智能软件模块，使SPECTRO XEPOS成为真正的多功能元素分析仪。

SPECTRO XEPOS配有预先安装好的应用包，包括：在工厂预先校正好的各种硬件和分析方法。

适合分析：土壤、污泥、油中添加剂、水泥、炉渣、耐火材料、电子元器件ROHS检测等。

XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、ROHS指令。

技术参数：
1.功率50W，最大电压50KV，最大电流2mA
2.50W端窗Pd靶X光管
3.硅漂移计数器，分辨率小于170eV
4.3位置次级靶自动转换系统，即3束X激发光源。

5.可选真空、充气、常压系统
主要特点：
1.偏振X光激发样品，具有极低的背景，极佳的灵敏度
2.真正意义的Na-U的全分析，无需滤光片。

3.分析的含量范围ppm级到100%
4.极为丰富的软件系统，提供各种方法及校正模式。

GE检测科技全新X-Cube 射线透视检测系统简单易用，操纵灵活，快速得到高质量图像高质，快速，灵活的Ｘ射线检测方案Ｘ－Ｃｕｂｅ已经是众所周知的在小空间里包含一套完整设备射线检测系统。

它包含稳定的Ｘ射线源，一套射线源操纵系统和一个置于屏蔽室内的工件承载台，一个便于操作的控制台，一个将Ｘ射线转换成标准视频图像的图像增强器和集成图像增强系统的ＶＩＴＡＰＬＵＳ。

不过，这个在领域内曾经大受肯定的产品现在已经被重新设计，以确保它可以更专注于提高用户的生产效率。

因此，全新的Ｘ－Ｃｕｂｅ在使图像共享更简单的同时，检测更加的迅速、灵活和便于使用。

许多全新的优势…•　全新的Ｘ－Ｃｕｂｅ在Ｘ射线检测过程中的每一步都更 加迅捷快速的驱动器是从Ｆａｎｕｃ的机器人系统中获取的，它意味着工件处理时间和开关门的时间会更快。

接触控制面板中的Ｘ－Ｔｏｕｃｈ技术同样来自于Ｆａｎｕｃ，它简化且加速了所有控制操纵流程。

自动的数字化图像处理提供了真正的时间节约。

因此，整体的周期时间大大地缩短了。

一个绝对测量系统确保在系统开始阶段无需重设至零。

测量系统在接通后即开始工作。

•　更高的灵活性，充分满足用户的多种检测需求标准上Ｘ－Ｃｕｂｅ可以在２２５ＫＶ或１６０ＫＶ　Ｘ射线管上使用，另外还有一系列可供选择的探测器。

因此，分辨率可以适应特定的用户需求。

•　图像质量增强和图像共享Ｘ－Ｃｕｂｅ集合了带通用Ｖｉｓｔａｐｌｕｓ图像增强系统的Ｖｉｓｔａｌｕｘ图像增强器。

它可以对高质量的图像进行实时积分和平均。

最新的集成应用工具可确保对检测结果的有效分析，包括显示参考图像，缺陷区域的面积计算和交互的图像测量。

图像增强软件是ＬＡＮ兼容，可以通过邮件发送图像，并可以实施远程专家评估或存储。

可以在工作站或其他相关地点中生成检测报告。

更快的周期时间更快的的设置时间更高的操纵灵活性旋转臂现在可以旋转扫过９０°面积。

更好的分辨率灵活性最新的图像增强系统最新的图像解释工具网络兼容• 更快的操作速度• 更好的灵活性• 加强的图像质量• 网络兼容性• 用户指导• 简易编程，更好的完成重复性任务• 小空间，简易安装• 低维护• 易于操作带有教、学的用户指导使X-Cube 更易操作。

最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对比
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X荧光光谱仪主要使用领域X荧光光谱仪原理仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。

能分析F(9)～U(92)之间所有元素。

样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。

无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。

测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度<13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。

精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03%附件信息：循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。

X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。

适合课题研究和生产监控。

X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。

波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。

波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。

lasx荧光软件使用说明lasx荧光软件是用于分析和检测各种样品中特定化合物的方法之一，用于从样品中提取、分析、测序以及其它与其相关的实验信息。

lasx 荧光软件可以利用c-bar程序实现各种过程如分离、测序、荧光定量和计算结果等功能，同时还可以采用荧光标记和荧光计数技术来控制这些过程。

lasx荧光软件也可以使用简单的荧光软件快速实现样品中特定化合物的荧光定量，例如，在实验中可以使用化学发光法分离甲基化化合物以获得甲基化产物成分所需要的荧光标记值。

lasx荧光软件也可以使用简单的荧光软件在实验室中测定荧光定量和荧光染色结果。

lasx荧光软件可以实现很多检测结果如酶活检测、酶活性检测等实验结果。

如在酶活性检测时lasx荧光软件可以检测酶活性和酶活水平；在酶活性检测时lasx荧光软件可以检测出酶活性水平。

1. lasx荧光软件的操作界面如下所示：l软件操作界面包括三个部分:1)分析步骤,2)检测结果（测量结果和定量结果),3)统计结果。

l在操作界面中首先要在分析步骤菜单栏找到“分析步骤”，选择目标污染物时按下回车键；对于酶活性检测过程，选择目标污染物时按下回车键；如酶活性和酶活水平都不确定时按照“酶活性评价（酶活度的定量或荧光定量）”操作选择靶细胞；如在酶活性检测过程中选择目标分子是根据荧光标记值）来进行计算，然后再分析检测结果及相关数据。

l将分析步骤菜单栏选中后，按下Ctrl+ V可打开“计算窗口”。

l将计算窗口中的程序导出到“荧光数据库”之中即可显示分析过程。

2. lasx荧光软件使用手册lasx荧光算法在实验室实验中的应用包括以下几方面：在测定酶活性时使用lasx荧光算法可以在小分子上标记上某一特定的酶活；可以测定样品中某些元素的荧光标记值；在酶的研究方面如酶活反应、活性转化和定量以及某些酶的测定可以通过lasx软件来实现；lasx软件可以定量特定的生物标志物进行染色或直接测量某一特定生物标志物的荧光定量分析以获得更多重要的信息, lasx软件还可以用于统计等目的。

最新X射线荧光光谱仪主要技术指标对
比
XRF型号S8 TIGER
ZSX
Primus/ Z
SX Primus II
AXIOS/
(AXIOS-ADVANCED)
ADVANT,XP+
项目
生产厂家
德国布鲁克AXS公司
（原德国西门子axs）日本理学公司
荷兰帕纳科公司
（原荷兰飞利浦公司）
赛默飞世尔
（原瑞士 ARL公司）
推出时间2007 2003 2004 2000 高最大功率 4 kW 4 kW 4 kW 4.2 kW
最大电流170 mA150 mA 125mA(160mA) 120 mA(140mA 选项) 压最大电压60 kV 60 kV 60 kV 60 kV (70Kv) 140
XRF1800
日本岛津公司
1997
4 kW
mA(150mA 选
项)
60 kV
量
很高的样品时，需要使
用
衰减器
不能
油箱式
外电压波动1%时
为 0 0005%
无
75um
管
玻璃
上照式，不能测液体
光
5位
4块路
设
无计
无
XRF1800
无
无
30mm, 20mm, 10mm,3mm,
0.5mm
最多可安装3个准直
器
（细、中、粗）10位，12种晶体可选
无
无
(注：范文素材和资料部分来自网络，供参考。

只是收取少量整理收集费用，请预览后才下载，期待你的好评与关注)。

X射线荧光分析软件一、X射线荧光光谱仪（XRF）的应用1、贵金属分析：珠宝店、典当、银行等行业2、合金分析：钢材、有色金属、金属材料等行业3、化合物分析：地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业4、RoHS分析：制造业有害元素分析等5、镀层厚度分析：电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等二、软件功能与优势1、定性分析2、模式识别3、重叠峰分离4、无标样、有标样FP法定量分析5、理论影响系数法定量分析6、背景FP法7、化合物定量分析8、镀层模式识别9、无标样、有标样薄膜FP法厚度定量分析10、薄膜背景FP法11、对不规则形状样品、微小样品的测试12、标样自最适合匹配一、XRF行业应用1、贵金属分析XRF分析无损、快速、高精度，非常适合贵金属（金、银、铂、钯、铑、铱等）检测，对主体成分精度能达0.1%。

广泛应用于珠宝店、典当、银行等行业。

2、合金分析XRF能够快速分析合金中主体和微量元素，含量分析范围从数ppm~100%。

适用于钢材、有色金属、金属材料等行业。

3、化合物分析XRF只能直接检测元素含量，经过改良的分析软件可以间接分析出氧化物、硫化物、金属无机化合物（如CuSO4、CaCO3等）。

适用于地质、矿产、陶瓷、塑胶等行业。

4、RoHS分析各种制造业产品中有害元素Pb、Hg、Cr、Cd、As、Sb、Se、Ba、Cl、Br 分析。

5、镀层厚度分析金属镀层、合金镀层、金属氧化物/磷化物/硫化物镀层等。

最多可分析6层镀层，厚度范围从0.01um~100um，相对误差<3%。

广泛用于电镀/离子镀、金属表面加工、电子、半导体、PCB、饰品等行业。

二、软件功能与优势1、定性分析1.1 一键式自动识别元素，对很弱的峰和严重影响的元素都能很好的识别，元素识别正确率在96%以上。

并能对元素的存在可能性进行分级。

例如图一：图中是一钢铁样品，其中含微量的Ti，其Ka峰几乎被Fe的逃逸峰湮灭，而Kb峰则完全被V的Ka峰覆盖，一般人工识别就很可能会遗漏元素Ti。

X荧光分析仪Genius IF简介仪器简介：Xenemetrix的Genius IF (二次靶激发) X射线荧光光谱仪（EDXRF）为元素分析市场提供了一个最经济有效的解决方案。

这款分析仪能够进行无损的定性定量分析，元素分析范围从C碳(6)~Fm镄（100），检测精度从PPM~百分比浓度的最高值。

超级XRF Genius IF 的主要部件包括：v.集成计算机系统v.高分辨率硅漂移（SDD）探测器v.带有可变光斑的强大X光管，以适应不同大小样品的测量v.8个二次靶及8款可定制的滤光片可以快速准确的测定微量和痕量元素Genius IF 同样可以在经典的直接激励模式下操作，这款光谱仪既可用于传统的实验室，同时紧凑坚固的结构设计也使得它成为移动实验室的理想选择。

它同样满足MIL 810E的冲击测试的要求。

硅漂移探测器(SDD):硅漂移探测器具有高分辨率和高计数率，分辨率低至123eV,具有更快的响应速度和最小化的操作时间。

SDD LE:超薄的探测器窗口提供性能优越的低能元素（轻元素）分析。

技术参数：测量范围：SDD系列：F(9) - Fm(100)； SDD LE 系列：C(6) - Fm(100) 元素含量分析范围：1ppm~100%X-光管：Rh/Ag/Mo/W/Pd 可选X-射线电压：50kV,50W激发模式：直接激发和二次靶激发稳定性：室温条件下精确到0.1%探测器：硅漂移探测器（SDD），避免使用液态氮滤光片：8款可选二次靶：1种（指定领域）分辨率：136ev±5ev自动成样：8个位置工作条件：空气/真空/氦气尺寸（L×W×H，cm）：内包装: 55 x 55 x 32, 外包装: 80 x 80 x 65重量：50kg (净重), 90kg (毛重)主要应用：采矿、金属冶炼、环境保护、石油化工、放射性物质检测、材料研究创新点：全球首台拥有二次靶激发模式的台式X射线荧光光谱仪，拥有专利技术的广角几何加上8个二次靶及8款可订制的滤光片，可准确测定微量和痕量元素，硅漂移 (SDD)探测器具有高能量分辨率和高计数率，能量分辨率低至123Ev.。

x射线荧光分析仪原理X射线荧光分析仪原理。

X射线荧光分析仪是一种常用的分析仪器，它通过测量样品受激发后发出的荧光X射线来分析样品的成分。

该仪器原理是基于X射线的吸收和再发射现象，利用不同元素的特征X射线能量来确定样品中各种元素的含量。

下面将详细介绍X射线荧光分析仪的原理。

首先，X射线荧光分析仪由X射线发生器、样品台、能谱仪和数据处理系统等组成。

X射线发生器产生高能X射线，照射到样品上时，样品中的原子会吸收X射线并发出荧光X射线。

能谱仪用于测量荧光X射线的能量和强度，数据处理系统则对测得的信号进行处理和分析。

其次，X射线荧光分析仪原理基于样品吸收入射X射线后，激发产生荧光X射线的过程。

当高能X射线照射到样品上时，样品中的原子内部电子会受到能量激发，从内层轨道跃迁到外层轨道，产生荧光X射线。

不同元素的原子结构和电子能级不同，因此产生的荧光X射线能量也不同，这就是X射线荧光分析的基本原理。

然后，X射线荧光分析仪利用能谱仪测量样品发出的荧光X射线的能谱图，根据不同元素的荧光X射线能谱特征，可以确定样品中各种元素的含量。

每种元素都有其特征性的X射线能谱线，通过测量这些能谱线的能量和强度，就可以准确地分析样品的成分。

最后，X射线荧光分析仪原理的核心在于利用不同元素的特征X 射线能谱来确定样品的成分。

通过测量和分析样品发出的荧光X射线，可以快速、准确地获得样品中各种元素的含量，广泛应用于材料科学、地质学、环境监测等领域。

综上所述，X射线荧光分析仪原理是基于X射线的吸收和再发射现象，利用不同元素的特征X射线能量来确定样品中各种元素的含量。

该原理的应用使得X射线荧光分析仪成为一种重要的分析工具，在科学研究和工业生产中发挥着重要作用。

ARL QUANT’X型X—射线荧光能谱仪一、目的要求：1、熟悉X—射线荧光能谱仪（EDXRF）的基本原理。

2、了解ARL QUANT’X型 X—射线荧光能谱仪的构造原理及性能。

3、学习ARL QUANT’X型 X—射线荧光能谱仪的操作方法。

二、基本原理：物质是由原子组成的，每个原子都有一个原子核，原子核周围有若干电子绕其飞行。

不同元素由于原子核所含质子不同，围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样，形成了原子核外不同的电子能级。

在受到外力作用时，例如用X-光子源照射，打掉其内层轨道上飞行的电子，这时该电子腾出后所形成的空穴，由于原子核引力的作用，需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充，这时原子处于激发态，其相邻电子层上电子补充到内层空穴后，本身产生的空穴由其外层上电子再补充，直至最外层上的电子从空间捕获一个自由电子，原子又回到稳定态（基态）。

这种电子从外层向内层迁移的现象被称为电子跃迁。

由于外层电子所携带的能量要高于内层电子，它在产生跃迁补充到内层空穴后，多余的能量就被释放出来，这些能量是以电磁波的形式被释放的。

而这一高频电磁波的频率正好在X波段上，因此它是一种X射线,称X-荧光。

因为每种元素原子的电子能级是特征的，它受到激发时产生的X-荧光也是特征的。

这些特征的X荧光具有特征的波长或能量，每种荧光的强度与物质中发出该种荧光元素的浓度相关。

为了区分混和在一起的各元素的X -荧光，常采用两种分光技术，一是通过分光晶体对不同波长的X-荧光进行衍射而达到分光目的，然后用探测器探测不同波长处X-荧光强度，这项技术称为波长色散光谱。

另一项技术是首先使用探测器接收所有不同能量的X-荧光，通过探测器转变成电脉冲信号，经前置放大后，用多道脉冲高度分析器（MPHA）进行信号处理，得到不同能量X-荧光的强度分布谱图，即能量色散光谱，简称X-荧光能谱。

对采集到的X-荧光能谱进行定性分析是指对X-荧光能谱中出现的峰位进行判断，根据能量位置确定被测物质所含的元素。

放射科常用影像学软件的操作与分析放射科影像学软件在医学影像诊断中扮演着至关重要的角色，它们不仅能够帮助医生准确、快速地进行影像诊断，还能够帮助医学研究人员进行科学研究。

本文将对放射科常用的影像学软件进行介绍，并详细讲解它们的操作和分析方法。

一、PACS系统PACS（Picture Archiving and Communication System）是放射科影像学中最常用的软件之一，它可以帮助医生存储、传输和查看医学影像。

在使用PACS系统时，医生可以通过输入患者信息或检查号来查看患者的影像，同时还可以进行放大、缩小、旋转等操作，以更清晰地观察病灶位置和形态。

操作方法：打开PACS软件后，选择“查询”选项，输入患者信息或检查号，点击“搜索”按钮即可查看相关影像。

在查看影像时，可以使用鼠标右键进行放大、缩小、旋转等操作，以便更好地观察病灶。

二、DICOM工具DICOM（Digital Imaging and Communications in Medicine）工具是一种用于处理医学影像数据的标准格式，它可以帮助医生在不同设备之间传输和查看影像。

在使用DICOM工具时，医生可以将不同设备产生的影像数据进行转换和处理，以便更好地进行病灶分析和诊断。

操作方法：打开DICOM工具后，选择“导入影像”选项，将需要处理的影像文件导入软件中。

然后选择“图像处理”选项，执行平滑、锐化、滤波等操作，最后点击“保存”按钮即可保存处理后的影像。

三、MIP/MPR软件MIP（Maximum Intensity Projection）和MPR（Multi-Planar Reconstruction）软件是用于生成三维影像的重要工具，它们可以帮助医生更清晰地观察病灶的立体结构。

在使用MIP/MPR软件时，医生可以根据需要进行不同方向的重建，以更全面地了解病变特征。

操作方法：打开MIP/MPR软件后，选择“三维重建”选项，设置重建方向和参数，点击“生成”按钮即可生成三维影像。

胸部X射线图像计算机辅助检测软件
药品名称：
通用名称：胸部X射线图像计算机辅助检测软件
英文名称：COMPUTER-AIDED DETECTION (CAD) SOFTWARE FOR CHEST RADIOGRAP HS
成份：
该产品由系统软件安全光盘和加密装置组成。

组成模块为系统配置模块(SYSTEM CONFIGURATION UTILITY),接收模块(RECEIVER MODULE),处理模块(PROCESSING PIPELINE MANAGER),发送模块(SENDER MODULE)以及ONGUARD应用模块(ONGUARD APPLICATION)。

适应症：
该产品是一个计算机辅助检测系统，用于识别和标记正面数字或数字化的X射线胸部图像感兴趣区域。

可识别特征为9-30MM的孤立性肺结节，该设备仅可作为医生对X射线图像进行初始诊断后的辅助工具。

用法用量：
暂无
不良反应：
暂无。

禁忌：
暂无。

注意事项：
暂无。

贮藏：
暂无
有效期：
暂无
标准文号：
国食药监械(进)字2013第3703390号。

M1-ORA X射线荧光光谱仪
仪器简介：
M1ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF）。

结构紧凑，占用空间小。

主要特点：
M1ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上
的所有元素。

上照式光管，光斑尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。

样品尺寸最大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。

采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。

采集的信号越多，分析结果越精确。

可以检测含量在0.5%以上的元素。

基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。

准确度高，精度达到0.2wt%。

对于没有预想到的元素也能够进行分析。

黄金成色分析可以用K（开）或质量百分比（%）表示。

XSpect软件包提供以下功能：
仪器控制、数据采集和处理
谱峰识别
组分定量分析，无标样法和基于标准样品的经验模型
报告输出
技术参数:
光源高性能微焦斑光管，钨靶，玻璃窗
电压、功率40kV、40W
探测器大面积正比计数器1100mm2感应面积
光斑尺寸0.3- 1.0mm准直管（出厂时设定）
样品观察高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍
样品台手动剪式样品升降台
定量分析基于标准样品的经验模型基于基本参数法的无标样模型
电源230V/50Hz,100W
尺寸355×330×330mm
重量26公斤。