XRD：●所有的衍射峰都有一定的宽度是因为：1.晶体不是严格的晶体；2.X射线不是严格的单色光；3.仪器设计造成。●XRD用途：1.精确测定晶胞参数——可反映晶体内部成分、受力状态等的变化，可用于鉴别固溶体类型、测量固溶度、测定物质的真实密度等等。2.物相定性分析——各衍射峰的角度位置所确定的晶面间距d以及它们的相对强度I/Io是物质的固有特性。因而呢过用于

材料研究方法复习X射线,SEM（扫描电子显微镜）,TA,DTA,DSC,TG,红外,拉曼1．X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？本质是一种波长很短的电磁波，其波长介于0.01-1000A。1895年由德国物理学家伦琴首先发现了X射线，1912年由德国物理学家laue揭示了X射线本质。2．试计算波长0.071nm（Mo-Kα）和0.

¾图谱信息的产生机理¾仪器构成及特点¾实际应用1、图谱解读2、研究方案设计俄歇电子谱（AES）¾俄歇电子的产生机制及其能量特征¾AES的定性、定量以及化学状态分析¾AES的点分析、线扫描、面扫描以及深度分析俄歇电子能量（谱峰位置）：定性分析和化学状态分析俄歇电子数目（谱峰强度）：定量分析65707580859095俄歇动能 / eV 计数 / 任意单位纯 S

《材料研究方法》课程♦学习目的及重要性♦课程讲义及参考书(记好课堂笔记)♦学习方法(多看期刊杂志和举一反三)♦课程实验(部分内容)♦课程进度及考试(笔试)原子吸收分光光度法一、方法原理二、仪器装置三、分析方法（标准曲线）四、干扰及消除五、实验技术六、分析例一、方法原理二、仪器装置三、分析方法（标准曲线）四、干扰及消除五、实验技术六、分析例原子吸收分光光度计有

一、X 射线谱（连续和特征）X 射线与物质相互作用 1、吸收限及其应用定义：吸收系数发生突变的波长激发K 系荧光辐射，光子的能量至少等于激出一个K 层电子所作的功W k h νk = Wk= hc/λk 只有 ν > νk 才能产生光电效应。所以： λk 从激发荧光辐射角度称为激发限。从吸收角度看称为吸收限。 吸收限λk 的应用 （1）滤波片的选择 主要目的

3.5 X射线物相定性分析

16XPS 的信息• 表面特性：XPS是一种表面灵敏的分析方法，具有很高的表面检测灵敏度，可 达到10-3原子单层，但体相检测灵敏度仅为0.1%左右。其表面采样深度为 2.0～5.

材料研究方法课后习题答案材料研究方法课后习题答案第一章绪论1. 材料时如何分类的？材料的结构层次有哪些？答：材料按化学组成和结构分：金属材料、无机非金属材料、高分子材料、复合材料材料的结构层次有：微观结构、亚微观结构、显微结构、宏观结构。2.材料研究的主要任务和对象是什么？有哪些相应的研究方法？答：任务：研究、制造和合理使用各类材料。研究对象：材料的组成、结

紫外光谱、荧光光谱在材料研究中的应用1、分子内的电子跃迁有哪几种，分别属于什么吸收带，吸收最强的跃迁是什么跃迁？答：电子类型：形成单键的σ电子；形成双键的π电子；未成对的孤对电子n电子。轨道类型：成键轨道σ、π；反键轨道σ*、π* ；非键轨道n。σ-σ* 跃迁k max³104强吸收带n-σ*跃迁实现这类跃迁所需要的能量较高n →π*跃迁k max＜100

有更为优良的功能。如在电子技术方面，涉及到半导体、电介质、超导体等材料。4、从块体材料到薄膜材料；纳米薄膜是一类具有广泛应用前景的新材料，如Fe2P薄膜具有优良的磁性能。5、从纯物

联想研发投入总额 （亿元） 47.5 45.7 27.2 21.0•2005年微软、IBM、英特尔、三星电子等电 子信息产业领导型企业研发投入绝对额都超过50亿美元，其中微软接近6

学术周总结学校的第十周是一年一度的学术周，每年这个时候都是知识大爆炸的时候，名师、教授、专家、学者，知识的交流和传播让我们的眼界更加开阔，让我们的心胸更加宽广。古语云，与善人居，如入芝兰之室，久而自芳也。学术氛围弥漫着整个学校，每一个学生都能感受到学术的芬香，映衬着春天盛开的花朵和青翠的林木，就像古时候的文人集会。暮春之初，会于会稽山阴之兰亭，修禊事也，群贤

材料研究方法复习1．X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？本质是一种波长很短的电磁波，其波长介于0.01-1000A。1895年由德国物理学家伦琴首先发现了X射线，1912年由德国物理学家laue揭示了X射线本质。2．试述连续X射线谱与特征X射线谱产生的机理连续X射线谱:从阴极发出的电子经高压加速到达阳极靶材时，由于单位时间内到达的

材料研究方法复习重点第三章XRDXRD这一章中布拉格方程必出一道题，布拉格方程是XRD的基本原理，是理解XRD的关键，所以怎么强调都不过分。应用分析题也必出题，而且可以不止一道，极有可能出两道题，还可能以分析题的形式存在。3.1X射线的物理基础这个内容去年考过。考X射线的物理性质确实挺出乎我的意料。因为这个知识点太简单了。历年考过的题有：1.X射线与物质相互

电子显微镜的发展电子枪 聚光镜 物 镜 投影镜1931年由鲁斯卡和诺尔建造的透射电镜首次超过了光学显微镜的极限分辨率1933年鲁斯卡在父母的资助下建造 的透射电镜，分辨率可以达到5

第五章物相分析及点阵参数精确测定一、定性分析材料的成分和组织结构是决定其性能的基本因素。化学分析、光光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析（电子探针）等均可测定样品的元素组成，但X 射线物相分析却可鉴别样品中的物相。物相包括纯元素、化合物和固溶体。当待测样由单质元素或其混合物组成时，X射线物相分析所指示出是元素，此时元素就是物相；但当元素相互组成化合

第五节复杂电子衍射花样一、多晶衍射花样的分析多晶体样品的电子衍射花样和X射线粉末照相法所得到的花样的几何特征非常相似，是由一系列不同半径的同心圆环所组成的。这种环形花样的产生，是由于受到入射束幅照的样品区域内存在着大量取向杂乱的细小晶体颗粒，d值相同的同一{hkl}晶面族内符合衍射条件的晶面组所产生的衍射束，构成以入射束为轴、2θ为半顶角的圆锥面，它与照相底

Attention：有的简答题我不好判断是概论还是研究方法，就都粘过来了，一般是前两个题属于概论一、专业笔试：总分100分，考试时间120分钟。题量大，时间紧，勉强做完。2013年：材料学院总共217名复试学生中，90分以上的约10人，70分以下的30人左右，80分以下的100人以上，70~80的人数最多。专业笔试占复试比重为35%，卷面分1分，相当于初试卷

References晶面（crystal plane）——晶体结构一系列原子所构成的平面。 在晶体中如果许多晶面同时平行于一个轴向,前者总称为一个晶带,后者为晶带 轴。 hu&#

红外光谱分析法及其应用简介一：红外光谱简介和特点材料研究方法有许多种，主要包括有成份谱分析法，衍射分析法，显微术分析法等红外光谱分析，是成份谱分析法中的一种方法。它的通过将一束不同波长的红外射线照射到物质的分子上，其中某些特定波长的红外射线被吸收，形成这一分子的红外吸收光谱。每种分子都有由其组成和结构决定的独有的红外吸收光谱，据此可以对分子进行结构分析和鉴定