常规工程连接器Q-test测试说明

  • 格式:pdf
  • 大小:486.09 KB
  • 文档页数:22

下载文档原格式

  / 22
  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

CONNECTOR DIVISION

APPLE連接器產品常规Q-test测试说明

EIA-364 (美国电子工业学会)

EIA-364(

CONNECTOR DIVISION

1. Low Level Contact Resistance (LLCR) 低阶接触阻抗

2. Insulation Resistance 绝缘阻抗

3. Dielectric Withstanding Voltage 耐电压

4Temperature rise

电气性能 4. Temperature rise温升

5. 其它电气特性:电磁干扰泄露衰减;特性阻抗;插入损耗;反射系数,

电压驻波比;串扰,传输延迟;时滞。。。

1. Mating/ unmating Force 插拔力

2. Durability 寿命测试

3. Contact retention force 端子保持力

4. Contact normal force

常规三机械性能端子正向力

5. Vibration振动测试

6.Physical shock振动冲击测试

大测试

1. Heat Soak 热储存测试

2. Thermal Cycling 热循环测试

3. Thermal Shock 冷热冲击测试

环境性能

冷热冲击测

4. Humidity Cycling 温湿度组合循环测试

5. Temperature Life 高温测试

6.Salt Spray 盐雾测试

7. Resistance to Soldering Heat 耐焊接热

CONNECTOR DIVISION

1.Low Level Contact Resistance (LLCR) 低阶接触阻抗测试

1定义:

1.

任何金屬表面可能有a.灰塵b.氧化物c.油污等雜質, 當兩金屬表面接觸後該介質

會影響電流之流通, 一般稱之為接觸阻抗. 高品质的连接器应当具有低而稳定的接触阻抗,连接器的接触阻抗从几毫欧到数十毫欧不等。

2.目的:

在不破坏端子表面的氧化膜的情况下,测试结合的两个端子之间的接触阻值,以作为连接器端子的总体性评估.

3. 方法:

a)以四线量测法量测结合端子之电阻值b)测试电流:100mA max b)测试电流100mA max c)测试电压:DC 20mV max

备注:常规CR测试电流和电压: DC 5V ;1A .4.参考标准:EIA-364-23

5测试仪器微欧姆机5.

测试仪器:微欧姆机

(设备自身就应具备四线法测试功能,它应有四个外接插孔。至于从插孔出来的引线是不是以两个测试夹子的形势就没有太多的约束,只要保证测试时样品上有横流,电压两个回路即可。一般用鳄鱼夹(注意单个鳄鱼夹的两个夹子分别对应电流和电压)进行测试。)

Microsoft EIA 364 23B

Microsoft fice Excel 工作

CONNECTOR DIVISION 2. Insulation Resistance (IR) 绝缘阻抗测试

1.定义:

用绝缘材料隔开两部分导体之间的电阻称绝缘电阻.

绝缘电阻测试有时被指定为追加测试,用以确保耐压测试中绝缘体不被损坏。

绝缘阻抗衡量连接器接触件之间和接触件与外壳之间绝缘性能的指标,其值

越大越好。其数量级为数百兆欧至数千兆欧。

越大越好其数量级为数百兆欧至数千兆欧

2.原理:

在连接器的绝缘部分施加电压,从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现

出来的电阻值。

3.方法:

a)测试位置为最靠近之相邻两端子或端子与铁壳,如果是同轴连接器则为内部与外部

)测试位置为最靠近之相邻两端子或端子与铁壳如果是同轴连接器则为内部与外部

之端子,

b)测试时间:2分钟

c)测试电压:500Vdc 或特别规定

或)测试样品连接到测试仪, 测试电压从零逐渐上升到最大值(通常情况下是500 V dc)。

一旦电压到达最大值, 保持一个时间(通常是5 秒) ,然后记录电阻值。

4.参考标准:EIA-364-21

5.测试仪器:耐压测试仪

EIA 364 21C

CONNECTOR DIVISION 3. Dielectric Withstanding Voltage 耐电压测试

1.目的:

评估连接器之安全额定电压及承受瞬间脉冲电压之安全性,进一步评估连接器的

绝缘材料与其组成绝缘间隔是否适当.

2.原理:

在连接器接触件与接触件之间接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间

在连接器接触件与接触件之间,接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间,

观察样品是否有击穿或放电现象。

3. 方法:

a)测试点为最为相近的相邻端子,及shell与最接近shell的端子

b)测试时间:电压500VAC 并持续1分钟

c)在耐电压过程中,漏电流若没有特别的规定,不可以超过5mA,一般以0.5mA

)在耐电压过程中漏电流若没有特别的规定不可以超过5A般以05A

为测试要求.

4.参考标准:EIA-364-20

5.测试仪器:耐压测试仪

EIA 364 20C

CONNECTOR DIVISION 4. Temperature Rise 温升测试

1.目的:

评估当端子通额定电流在规定的时间内,其温升不得超过规定值.

2. 方法:

a)采取快速模拟实验方法,即测试样品控制电路通以额定电压,主电路通以额定电流.

b)测试时间:5小时

c)除特别规定外,一般温升变化的最大值为不超过室温300度.

3.参考标准:EIA-364-70

4.测试仪器:资料收集器