TetraMAX介绍
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TetraMAX是一个高速、高性能的自动测试激励产生工具（ATPG automatic
test pattern generation），它能产生最大测试覆盖的测试激励，同时使用最少的测试向量，可以应用了范围广泛的设计类型和设计流图，也适用于百万门级设计。这是synopsys公司的测试工具，它可以和很多EDA工具一起来完成测试工作。
1. TetraMAX具有以下几个主要的ATPG能力：
能够读入以verilog、VHDL和EDIF格式的设计网表和STIL格式的测试协议信息；
能够生成各种标准和非标准的测试激励文件：WGL、STIL、VHDL、Fujitsu TDL、TI TDL91、Toshiba TSTL2；
提供ATPG模式的选择：Basic-scan ATPG、Fast-sequential ATPG、full-sequential ATPG；
支持以下的design-for-test（DFT）类型：
Various scan flip-flop types (multiplexed flip-flop,
master, slave,transparent latch, and so on)；
Internal, nondecoded three-state buses
Bus keepers
RAM and ROM models
Proprietary and standard test controllers (such as
IEEE 1149.1-compliant boundary scan)
产生和验证ATPG激励，避免bus contention和float conditions；
提供交互式的分析和调试工具GSV（graphical schematic viewer）；
提供连接verilog和VHDL仿真器；
提供一个整合的故障仿真器支持功能激励的故障仿真；
能够运行direct automated test equipment(ATE)诊断，允许你快速定位设计中的故障位置产生的测试错误；
2. TetraMAX的测试激励产生支持五种类型的故障模式：
Stuck-at faults:是测试激励产生的标准模式；
IDDQ faults：
Transition delay faults：
Path delay faults：
Bridging faults：
3. TetraMAX可以兼容大量的design-for-test工具
TetraMAX可以兼容大量的design-for-test工具象DFT compiler。使用了
DFT compiler和TetraMAX ATPG的设计流程简便并且结果有质量保证。
